一种能够低温变温测试的测试探针台及其操作方法与流程

1.本发明涉及探针领域，尤其涉及一种能够低温变温测试的测试探针台及其操作方法。


背景技术：

2.芯片中的集成电路是微处理器或多核处理器的核心，可以控制计算机到手机到数字微波炉的一切，集成电路变得无处不在，计算机、手机和其他数字电器成为社会结构不可缺少的一部分。这是因为，现代计算、交流、制造和交通系统，包括互联网，全都依赖于集成电路的存在。虽然设计开发一个复杂集成电路的成本非常高，但是当分散到通常以百万计的产品上，每个集成电路的成本最小化。集成电路的性能很高，因为小尺寸带来短路径，使得低功率逻辑电路可以在快速开关速度应用。这些年来，集成电路持续向更小的外型尺寸发展，使得每个芯片可以封装更多的电路。这样增加了每单位面积容量，可以降低成本和增加功能，见摩尔定律，集成电路中的晶体管数量，每1.5年增加一倍。总之，随着外形尺寸缩小，几乎所有的指标改善了，单位成本和开关功率消耗下降，速度提高。但是，集成纳米级别设备的ic也存在问题，主要是泄漏电流。
3.随着经济的高速发展，芯片检测的探针台需求量越来越高，一般探测台只能对芯片进行快速检测，但是很多时候需要模拟现实环境，很多设备需要在超低温环境下进行芯片检测，普通设备难以在超低温情况下稳定工作。
4.因此，有必要提供一种能够低温变温测试的测试探针台及其操作方法解决上述技术问题。


技术实现要素：

5.本发明提供一种能够低温变温测试的测试探针台及其操作方法，解决了很多时候需要模拟现实环境，很多设备需要在超低温环境下进行芯片检测，普通设备难以在超低温情况下稳定工作的问题。
6.为解决上述技术问题，本发明公开了能够低温变温测试的测试探针台，包括水平稳定平台，所述水平稳定平台的顶部固定连接有保护罩组件，所述保护罩组件包括与水平稳定平台顶部固定连接的保护环，所述保护环的顶部开设有连接槽，所述连接槽的内表面活动连接有密封圈，所述密封圈的顶部固定连接有隔热保护罩，所述隔热保护罩两侧的中间均固定连接有同步板，所述同步板的底部固定连接有衔接折板，所述水平稳定平台的顶部固定连接有放置组件，所述水平稳定平台底部连通有冷气输入组件，所述保护罩组件内壁的顶部固定连接有移动组件，所述水平稳定平台底部的两侧均固定连接有支撑底座。
7.优选的，所述水平稳定平台两侧的顶部均固定连接有侧面托板，所述侧面托板的顶部通过旋转轴转动连接有竖直轴。
8.优选的，所述竖直轴的表面固定连接有下压折板，所述下压折板表面的一侧固定连接有操作手柄。
9.优选的，所述放置组件包括与水平稳定平台顶部中间固定连接的放置块，所述放置块顶部的中间开设有芯片放置槽，所述芯片放置槽内壁底部的两侧均固定连接有放置板，所述芯片放置槽内壁的两侧固定连接有夹持弹片。
10.优选的，所述冷气输入组件包括与水平稳定平台底部连通的主体引导管，所述主体引导管的底部连通有单向导通管，所述单向导通管内壁的顶部固定连接有通过槽板，所述通过槽板的底部固定连接有限制引导杆，所述单向导通管内壁的两侧均固定连接有固定挡板，所述固定挡板底部的一侧固定连接有密封弹簧，所述密封弹簧的底端固定连接有伴随板，所述伴随板的一侧固定连接有活动套，所述活动套的内表面与限制引导杆的表面活动连接，所述活动套的底部固定连接有密封块，所述单向导通管内壁的底部固定连接有密封隔离圈，所述单向导通管的底部连通有衔接螺纹管。
11.优选的，所述移动组件包括与保护罩组件内壁顶部中间固定连接的轨道板，所述轨道板的表面开设有轨道槽，所述轨道板的表面活动连接有移动套，所述移动套内壁的两侧均固定连接有动力轮。
12.优选的，所述移动套底部固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆的底端固定连接有探针。
13.本发明同时公开了一种能够低温变温测试的测试探针台的操作方法，具体包括如下步骤：
14.步骤1：将衔接螺纹管与外界液氮连通，将芯片放置在放置块中芯片放置槽表面，芯片表面两侧被夹持弹片稳定夹持；
15.步骤2：开启衔接螺纹管向单向导通管中输入降温液体液氮，液氮推动密封块移动，密封块移动同时带动伴随板移动，伴随板挤压固定挡板一侧的密封弹簧，活动套在限制引导杆表面滑动，液氮直接流向通过槽板，最终通过主体引导管最终进入隔热保护罩的内壁；
16.步骤3：开启移动套内壁的动力轮，动力轮在轨道槽中滚动，进而带动伸缩杆移动至合适位置，伸长伸缩杆带动探针对芯片进行检测，；
17.步骤4：手持操作手柄，围绕侧面托板转动竖直轴，将下压折板与衔接折板分离，上拉同步板，将密封圈与连接槽分离，将隔热保护罩取下，对芯片放置槽中芯片拿取放置，然后将隔热保护罩复原，继续工作，当装置工作完全结束，将装置复原。
18.与相关技术相比较，本发明提供的能够低温变温测试的测试探针台及其操作方法具有如下有益效果：
19.本发明提供一种能够低温变温测试的测试探针台及其操作方法，通过冷气输入组件的设置，装置能够通过衔接螺纹管向装置整体内部供应液氮，装置内部降温效果较为明显，并且通过单向导通管输入，能够有效避免液氮回流，提高了产品的供应效果，隔热保护罩内部低温效果显著，通过保护罩组件的设置，装置能够通过隔热保护罩直接将检测环境隔绝，有效的保证了装置的工作效率，并且相关结构简单，易于维护和操作，通过放置组件的设置，装置能够保证将芯片稳定夹持，避免检测时芯片发生晃动，提高了装置检测稳定性和可靠性，并且通过放置块直接引入液氮，能够有效快速的降低芯片周围温度，方便后续操作，通过移动组件的设置，装置能够通过动力轮的自由运行，带动移动套以及相关结构在轨道板表面自由移动，进而带动探针工作至工作位点，方便操作。
附图说明
20.图1为本发明提供的能够低温变温测试的测试探针台及其操作方法的一种较佳实施例的结构示意图；
21.图2为保护罩组件的结构示意图；
22.图3为图2所示的a部放大示意图；
23.图4为单向导通管的结构剖视图；
24.图5为动力轮的结构剖视图。
25.图中标号：1、水平稳定平台；2、保护罩组件；21、保护环；22、连接槽；23、密封圈；24、隔热保护罩；25、同步板；26、衔接折板；27、侧面托板；28、竖直轴；29、下压折板；210、操作手柄；3、放置组件；31、放置块；32、芯片放置槽；33、放置板；34、夹持弹片；4、冷气输入组件；41、主体引导管；42、单向导通管；43、通过槽板；44、限制引导杆；45、固定挡板；46、密封弹簧；47、伴随板；48、活动套；49、密封块；410、密封隔离圈；411、衔接螺纹管；5、移动组件；51、轨道板；52、轨道槽；53、移动套；54、动力轮；55、伸缩杆；56、探针；6、支撑底座。
具体实施方式
26.下面结合附图和实施方式对本发明作进一步说明。
27.请结合参阅图1、图2、图3、图4和图5，其中，图1为本发明提供的能够低温变温测试的测试探针台及其操作方法的一种较佳实施例的结构示意图；
28.图2为保护罩组件的结构示意图；图3为图2所示的a部放大示意图；图4为单向导通管的结构剖视图；图5为动力轮的结构剖视图。本发明公开了一种能够低温变温测试的测试探针台，包括水平稳定平台1，水平稳定平台1的顶部固定连接有保护罩组件2，保护罩组件2包括与水平稳定平台1顶部固定连接的保护环21，保护环21的顶部开设有连接槽22，连接槽22的内表面活动连接有密封圈23，密封圈23的顶部固定连接有隔热保护罩24，隔热保护罩24两侧的中间均固定连接有同步板25，同步板25的底部固定连接有衔接折板26，水平稳定平台1的顶部固定连接有放置组件3，水平稳定平台1底部连通有冷气输入组件4，保护罩组件2内壁的顶部固定连接有移动组件5，水平稳定平台1底部的两侧均固定连接有支撑底座6。
29.水平稳定平台1两侧的顶部均固定连接有侧面托板27，侧面托板27的顶部通过旋转轴转动连接有竖直轴28。
30.竖直轴28的表面固定连接有下压折板29，下压折板29表面的一侧固定连接有操作手柄210。
31.放置组件3包括与水平稳定平台1顶部中间固定连接的放置块31，放置块31顶部的中间开设有芯片放置槽32，芯片放置槽32的内表面设置液氮喷头，芯片放置槽32内壁底部的两侧均固定连接有放置板33，芯片放置槽32内壁的两侧固定连接有夹持弹片34。
32.冷气输入组件4包括与水平稳定平台1底部连通的主体引导管41，主体引导管41的底部连通有单向导通管42，单向导通管42内壁的顶部固定连接有通过槽板43，通过槽板43的底部固定连接有限制引导杆44，单向导通管42内壁的两侧均固定连接有固定挡板45，固定挡板45底部的一侧固定连接有密封弹簧46，密封弹簧46的底端固定连接有伴随板47，伴随板47的一侧固定连接有活动套48，活动套48的内表面与限制引导杆44的表面活动连接，
活动套48的底部固定连接有密封块49，单向导通管42内壁的底部固定连接有密封隔离圈410，单向导通管42的底部连通有衔接螺纹管411。
33.移动组件5包括与保护罩组件2内壁顶部中间固定连接的轨道板51，轨道板51的表面开设有轨道槽52，轨道板51的表面活动连接有移动套53，移动套53内壁的两侧均固定连接有动力轮54，动力轮54内部设置无刷电机，类似电动自行车后轮。
34.移动套53底部固定连接有伸缩杆55，伸缩杆55的底端固定连接有探针56。
35.本发明同时公开了一种能够低温变温测试的测试探针台的操作方法，具体包括如下步骤：
36.步骤1：将衔接螺纹管411与外界液氮连通，将芯片放置在放置块31中芯片放置槽32表面，芯片表面两侧被夹持弹片34稳定夹持；
37.步骤2：开启衔接螺纹管411向单向导通管42中输入降温液体液氮，液氮推动密封块49移动，密封块49移动同时带动伴随板47移动，伴随板47挤压固定挡板45一侧的密封弹簧46，活动套48在限制引导杆44表面滑动，液氮直接流向通过槽板43，最终通过主体引导管41最终进入隔热保护罩24的内壁；
38.步骤3：开启移动套53内壁的动力轮54，动力轮54在轨道槽52中滚动，进而带动伸缩杆55移动至合适位置，伸长伸缩杆55带动探针56对芯片进行检测，；
39.步骤4：手持操作手柄210，围绕侧面托板27转动竖直轴28，将下压折板29与衔接折板26分离，上拉同步板25，将密封圈23与连接槽22分离，将隔热保护罩24取下，对芯片放置槽32中芯片拿取放置，然后将隔热保护罩24复原，继续工作，当装置工作完全结束，将装置复原。
40.与相关技术相比较，本发明提供的能够低温变温测试的测试探针台及其操作方法具有如下有益效果：
41.通过冷气输入组件4的设置，装置能够通过衔接螺纹管411向装置整体内部供应液氮，装置内部降温效果较为明显，并且通过单向导通管42输入，能够有效避免液氮回流，提高了产品的供应效果，隔热保护罩24内部低温效果显著，通过保护罩组件2的设置，装置能够通过隔热保护罩24直接将检测环境隔绝，有效的保证了装置的工作效率，并且相关结构简单，易于维护和操作，通过放置组件3的设置，装置能够保证将芯片稳定夹持，避免检测时芯片发生晃动，提高了装置检测稳定性和可靠性，并且通过放置块31直接引入液氮，能够有效快速的降低芯片周围温度，方便后续操作，通过移动组件5的设置，装置能够通过动力轮54的自由运行，带动移动套53以及相关结构在轨道板51表面自由移动，进而带动探针56工作至工作位点，方便操作。
42.以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。