一种集成电路测试座的制作方法

1.本实用新型涉及集成电路技术领域，具体是一种集成电路测试座。


背景技术：

2.集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，集成电路芯片的出现是电子技术快速发展的象征。
3.集成电路在生产或者使用前常需要进行测试作业，通常将集成电路芯片的引脚插入到测试座的定位卡槽中，利用卡槽中的测试弹簧和探针与芯片的引脚电性连接，并将测试座与计算机连接，以进行测试作业。
4.但是现有的测试座缺少对测试探头进行保护的措施，测试探头直接固定在测试座表面，潮湿空气、灰尘等易导致测试探头使用寿命降低。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试座，以解决上述背景技术中提出的问题。
6.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
7.一种集成电路测试座，包括测试座，所述测试座表面铰动连接有盖板，所述盖板底壁固定安装有压块，所述测试座表面开设有放置槽，所述测试座内开设有多组放置腔，所述放置腔内设置有多组测试探头，所述放置槽底壁向内开设有与放置腔连通的通孔，所述测试座内设置有与测试探头相互配合的控制机构，所述控制机构包括有压杆与伸缩组件，所述伸缩组件一端与测试探头相连接，所述伸缩组件另一端与压杆相连接，所述压杆位于放置槽内，所述所述测试座内设置有与通孔相连接的防尘机构，所述防尘机构包括有密封组件与调节组件，所述密封组件与通孔相连接，所述调节组件位于测试座内并且与密封组件相连接。
8.作为本实用新型进一步的方案：所述伸缩组件包括有放置腔内滑动安装的滑动板，所述滑动板与测试探头相连接，所述测试座内开设有位于放置腔一侧的控制腔，所述控制腔底壁固定安装有挤压弹簧，所述挤压弹簧伸缩端固定连接有滑块，所述压杆底端延伸至控制腔内并且与滑块固定连接，所述滑块侧壁固定连接有牵引绳，所述牵引绳远离滑块的一端延伸至放置腔内并且与滑动板固定连接，所述滑动板底壁设置有缓冲组件，所述缓冲组件与测试探头相连接。
9.作为本实用新型进一步的方案：所述缓冲组件包括有滑动板底壁固定安装的缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的伸缩端固定连接有底板，所述测试探头与底板固定连接，所述滑动板表面开设有与测试探头相互配合的安装孔。
10.作为本实用新型进一步的方案：所述密封组件包括有通孔侧壁向内开设的固定
槽，所述固定槽内固定安装有连接弹簧，所述连接弹簧的伸缩端固定连接有密封板，所述密封板延伸出固定槽并且与通孔相互卡接，所述密封板与调节组件相连接。
11.作为本实用新型再进一步的方案：所述调节组件包括有测试座内的开设的线槽，所述线槽一端与固定槽连通，所述线槽另一端与放置腔连通，所述密封板侧壁固定安装有控制线，所述控制线远离密封板的一端穿过线槽延伸至放置腔内并且固定连接有与滑动板相互配合的控制块。
12.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过设置由滑动板、控制腔、挤压弹簧、滑块、牵引绳组成的伸缩组件与压杆相互配合，可以对测试探头的位置进行调整，通过设置由密封组件、调节组件组成的防尘机构与通孔相互配合，可以对测试探头进行密封保护，解决了现有的测试座缺少对测试探头进行保护的措施，测试探头直接固定在测试座表面，潮湿空气、灰尘等易导致测试探头使用寿命降低的问题。
附图说明
13.图1为一种集成电路测试座的结构示意图。
14.图2为图1中a的放大结构示意图。
15.图3为图1中b的放大结构示意图。
16.其中：测试座1、盖板2、压块3、放置槽4、测试探头5、控制机构6、压杆61、伸缩组件62、滑动板622、控制腔623、挤压弹簧624、滑块625、牵引绳626、缓冲组件7、缓冲弹簧71、底板72、安装孔73、防尘机构8、密封组件81、固定槽811、连接弹簧812、密封板813、调节组件82、线槽821、控制线822、控制块823、放置腔9、通孔10。
具体实施方式
17.需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
18.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
19.以下结合具体实施例对本实用新型的具体实现进行详细描述。
20.如图1、图2所示，为本实用新型的一个实施例提供的一种集成电路测试座的结构图，包括测试座1，所述测试座1表面铰动连接有盖板2，所述盖板2底壁固定安装有压块3，所述测试座1表面开设有放置槽4，所述测试座1内开设有多组放置腔9，所述放置腔9内设置有多组测试探头5，所述放置槽4底壁向内开设有与放置腔9连通的通孔10，所述测试座1内设置有与测试探头5相互配合的控制机构6，所述控制机构6包括有压杆61与伸缩组件62，所述伸缩组件62一端与测试探头5相连接，所述伸缩组件62另一端与压杆61相连接，所述压杆61位于放置槽4内，所述所述测试座1内设置有与通孔10相连接的防尘机构8，所述防尘机构8包括有密封组件81与调节组件82，所述密封组件81与通孔10相连接，所述调节组件82位于测试座1内并且与密封组件81相连接，在使用时，所述测试探头5处于放置腔9内，所述密封
组件81对通孔10进行密封保护，当需要对电路板进行测试时，将电路板放至放置槽4内，所述电路板与压块3相互配合对压杆61进行按压处理，所述压杆61与伸缩组件62相互配合控制测试探头5穿过通孔10延伸至放置槽4内并且与电路板进行电性连接测试，测试结构后，在放置槽4内将电路板取出，所述压杆61与伸缩组件62相互配合控制测试探头5重新移至放置腔9内，所述调节组件82与密封组件81相互配合重新控制通孔10处于密封状态。
21.如图1、图2、图3所示，作为本实用新型的一种优选实施例，所述伸缩组件62包括有放置腔9内滑动安装的滑动板622，所述滑动板622与测试探头5相连接，所述测试座1内开设有位于放置腔9一侧的控制腔623，所述控制腔623底壁固定安装有挤压弹簧624，所述挤压弹簧624伸缩端固定连接有滑块625，所述压杆61底端延伸至控制腔623内并且与滑块625固定连接，所述滑块625侧壁固定连接有牵引绳626，所述牵引绳626远离滑块625的一端延伸至放置腔9内并且与滑动板622固定连接，所述滑动板622底壁设置有缓冲组件7，所述缓冲组件7与测试探头5相连接，在使用时，电路板放至放置槽4内对压杆61进行按压，所述压杆61推动滑块625在控制腔623内竖直向下移动，所述滑块625与牵引绳626相互配合拉动滑动板622在放置腔9内竖直向上移动进而控制测试探头5向上移动至放置槽4内与电路板进行电性连接测试。
22.如图1、图3所示，作为本实用新型的一种优选实施例，所述缓冲组件7包括有滑动板622底壁固定安装的缓冲弹簧71，所述缓冲弹簧71的伸缩端固定连接有底板72，所述测试探头5与底板72固定连接，所述滑动板622表面开设有与测试探头5相互配合的安装孔73，在使用时，通过缓冲弹簧71与底板72相互配合，可以对测试探头5与电路板之间的挤压力进行调节，避免测试探头5发生损伤。
23.如图1、图2所示，作为本实用新型的一种优选实施例，所述密封组件81包括有通孔10侧壁向内开设的固定槽811，所述固定槽811内固定安装有连接弹簧812，所述连接弹簧812的伸缩端固定连接有密封板813，所述密封板813延伸出固定槽811并且与通孔10相互卡接，所述密封板813与调节组件82相连接，在使用时，通过调节组件82拉动密封板813在固定槽811内进而可以便捷的调整密封板813与通孔10之间的相对位置，可以便捷的控制通孔10的开合状态。
24.如图1、图2所示，作为本实用新型的一种优选实施例，所述调节组件82包括有测试座1内的开设的线槽821，所述线槽821一端与固定槽811连通，所述线槽821另一端与放置腔9连通，所述密封板813侧壁固定安装有控制线822，所述控制线822远离密封板813的一端穿过线槽821延伸至放置腔9内并且固定连接有与滑动板622相互配合的控制块823，在使用时，所述滑动板622推动控制块823在放置腔9内移动，所述控制块823与控制线822相互配合拉动密封板813进行移动。
25.本实用新型的工作原理是：在使用时，所述测试探头5处于放置腔9内，所述密封组件81对通孔10进行密封保护，当需要对电路板进行测试时，将电路板放至放置槽4内，所述电路板与压块3相互配合对压杆61进行按压处理，所述压杆61与伸缩组件62相互配合控制测试探头5穿过通孔10延伸至放置槽4内并且与电路板进行电性连接测试，测试结构后，在放置槽4内将电路板取出，所述压杆61与伸缩组件62相互配合控制测试探头5重新移至放置腔9内，所述调节组件82与密封组件81相互配合重新控制通孔10处于密封状态。
26.上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明，但是本专利并不限于上述实施方
式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利宗旨的前提下做出各种变化。