一种可拉伸压缩柔性薄膜透射光谱测试夹持装置

文档序号:34003576发布日期:2023-04-29 19:34阅读:17来源:国知局
一种可拉伸压缩柔性薄膜透射光谱测试夹持装置

本技术专利涉及薄膜测试,具体涉及一种可拉伸压缩柔性薄膜透射光谱测试夹持装置。


背景技术:

1、具有广谱光响应的光子材料是目前制造高性能太阳能相关器件的研究前沿,比如tio2、cspbbr3是一种被广泛研究的光敏材料,已广泛应用于太阳能电池和光催化等太阳能收集和转换设备中。二维光子纳米结构的非凡光学特性也激发了我们对这类材料进行光电转换的探索,特别是层间充电器转移进一步导致在可见光光谱范围内产生额外的载流子,已经被观察到和报道,这使得这类纳米结构对光伏和光电探测器应用非常有吸引力

2、为了研究这类光电材料,常采用光谱测试技术来表征这类材料,为了体现柔性光电材料,尤其是薄膜状态下的耐折弯的物理性能,表征材料韧性以及抗弯曲耐久力,通常情况下,需要制作专门的应力引入装置对弯曲后的薄膜材料相关性质的测试。目前传统薄膜光谱测试夹具大多只能对单一薄膜进行测试,若针对不同弯曲程度的薄膜,则需要更换不同的夹具,并且调节焦点位置十分不便,本实用新型采用一种可水平移动的可调固定面板,调节可调固定面板位置即可实现薄膜角度的转变,光纤长度可通过移动准直透镜支架进行调节,光纤高度可通过螺栓分别固定在不同的固定测试孔来调节,薄膜高度可通过螺栓固定在不同的螺栓孔来调节,相对于其它薄膜夹具,本实用新型结构简单,安装方便,具有更好的通用性,降低了测试成本,极大的提升了工作效率。


技术实现思路

1、本实用新型所要解决的技术问题是,提供一种通用方便的可拉伸压缩柔性薄膜透射光谱测试夹持装置。

2、本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种可拉伸压缩柔性薄膜透射光谱测试夹持装置,包括底座ⅰ、线性滑轨ⅰ、准直透镜支架、底座ⅱ线性滑轨ⅱ、和可调固定面板;底座ⅰ上设有线性滑轨ⅰ,准直透镜支架成对滑动安装在线性滑轨ⅰ上,准直透镜支架可在线性滑轨ⅰ上滑动,准直透镜支架上设有四个固定测试孔,固定测试孔分别连接入射光纤和透射光纤,底座ⅱ置于两准直透镜支架之间并且横跨底座ⅰ,底座ⅱ上设有线性滑轨ⅱ,可调固定面板成对滑动安装在线性滑轨ⅱ上,可调固定面板可在线性滑轨ⅱ上滑动,可调固定面板上设有卡槽以及第三螺栓孔,带薄膜的柔性基底插入卡槽中,通过螺栓来固定带薄膜的柔性基底在卡槽内的高度。

3、本实施方式中,所述底座ⅰ和底座ⅱ中间分别设有第一螺栓孔和第二螺栓孔,可通过螺栓固定防止底座ⅰ和底座ⅱ滑移。

4、与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

5、本实用新型结构简单,安装方便,采用一种可水平移动的可调固定面板,调节可调固定面板的位置即可实现薄膜角度的转变,光纤长度可通过移动准直透镜支架进行调节,光纤高度可通过螺栓分别固定在不同的固定测试孔来调节,薄膜高度可通过螺栓固定在不同的螺栓孔来调节,具有更好的通用性,降低了测试成本,极大的提升了工作效率。



技术特征:

1.一种可拉伸压缩柔性薄膜透射光谱测试夹持装置,其特征在于:包括底座ⅰ(1)、线性滑轨ⅰ(2)、准直透镜支架(3)、底座ⅱ(4)、线性滑轨ⅱ(5)、可调固定面板(6);所述底座ⅰ(1)上设有线性滑轨ⅰ(2),准直透镜支架(3)成对滑动安装在线性滑轨ⅰ(2)上,准直透镜支架(3)可在线性滑轨ⅰ(2)上滑动,所述准直透镜支架(3)上设有四个固定测试孔(3-1),固定测试孔(3-1)分别连接入射光纤和透射光纤,底座ⅱ(4)置于两准直透镜支架(3)之间并且横跨底座ⅰ(1),所述底座ⅱ(4)上设有线性滑轨ⅱ(5),可调固定面板(6)成对滑动安装在线性滑轨ⅱ(5)上,可调固定面板(6)可在线性滑轨ⅱ(5)上滑动,所述可调固定面板(6)上设有卡槽(6-1)以及第三螺栓孔(6-2),带薄膜的柔性基底插入卡槽(6-1)中,通过螺栓来固定带薄膜的柔性基底在卡槽(6-1)内的高度。

2.根据权利要求1所述的可拉伸压缩柔性薄膜透射光谱测试夹持装置,其特征在于:所述底座ⅰ(1)和底座ⅱ(4)中间分别设有第一螺栓孔(1-1)和第二螺栓孔(4-1),可通过螺栓固定防止底座ⅰ(1)和底座ⅱ(4)滑移。


技术总结
一种可拉伸压缩柔性薄膜透射光谱测试夹持装置,包括底座Ⅰ、准直透镜支架、底座Ⅱ和可调固定面板;底座Ⅰ上设有线性滑轨Ⅰ,准直透镜支架成对滑动安装在线性滑轨Ⅰ上,准直透镜支架可在线性滑轨Ⅰ上滑动,准直透镜支架上设有四个固定测试孔,固定测试孔分别连接入射光纤和透射光纤,底座Ⅱ置于两准直透镜支架之间并且横跨底座Ⅰ,底座Ⅱ上设有线性滑轨Ⅱ,可调固定面板成对滑动安装在线性滑轨Ⅱ上,可调固定面板可在线性滑轨Ⅱ上滑动,可调固定面板上设有卡槽以及第三螺栓孔,带薄膜的柔性基底插入卡槽中,通过螺栓来固定带薄膜的柔性基底在卡槽内的高度。本技术能够调整弯曲薄膜程度,方便对不同弯曲程度的薄膜进行测试。

技术研发人员:董辉,吴回港,齐家庆
受保护的技术使用者:湘潭大学
技术研发日:20221014
技术公布日:2024/1/11
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