测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法与流程

本发明涉及测试设备，特别涉及一种测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法。

背景技术：

1、在工厂大批量生产热敏器件的过程中，难免存在一些热敏器件的感应灵敏度低，性能差的现象，因此在热敏器件出厂之前，需要对每个热敏器件进行优劣检测。而现有的热敏器件由模拟热敏器件逐渐转型到数字化热敏器件，数字化热敏器件的波动性区别于模拟热敏器件，工作人员需要对应研发一种关于数字化热敏器件的批量测试设备以对热敏器件进行优劣检测。然而，市场上大部分数字探头测试设备只能单次测试单个热敏器件的内部热敏模块，无法对大批量热敏器件同时进行测试，从而导致大批量热敏器件的测试效率降低。

技术实现思路

1、本发明的主要目的是提出一种测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法，旨在提高对批量热敏器件的测试效率。

2、为此，本发明提出一种一种测试装置控制方法，所述测试装置上设置有驱动组件、加热组件、采样件和采样件固定放置板；所述采样件固定放置板用于放置n个待测件，n大于等于1，包括以下步骤：

3、步骤s100、测试装置获取到第一指令时，控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板移动至第一位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的n个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

4、步骤s200、控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的n个待测件辐射热能；

5、步骤s300、经所述采样件获取n个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；

6、步骤s400、根据至少一个所述检测参数，确定n个待测件的工作性能并进行提示。

7、可选地，所述以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的n个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态的步骤具体为：

8、步骤s110、控制所述驱动组件带动所述采样件移动，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的n个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。

9、可选地，所述步骤s100还包括：

10、步骤s120、控制所述驱动组件带动所述加热组件移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的n个待测件的热敏模块处于预设接触状态。

11、可选地，在所述步骤s200和所述步骤s300之间，所述测试装置控制方法还包括：

12、步骤s500、所述采样件在预设时间内获取到所述n个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述加热组件与所述n个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态和所述采样件与所述n个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

13、步骤s600、所述采样件在预设时间内无法获取所述n个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述加热组件与所述n个待测件的内部热敏模块处于非预设接触状态和/或所述采样件与所述n个待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态，并控制所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置。

14、可选地，所述测试装置还包括遮挡组件，所述遮挡组件设置于所述加热组件和所述采样件固定放置板之间，所述控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的多个待测件辐射热能的步骤具体为：

15、步骤s210、控制所述加热组件工作；

16、步骤s220、控制所述遮挡组件动作，以使所述加热组件对所述采样件固定放置板上未被所述遮挡组件遮挡的位置辐射热能。

17、可选地，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：

18、控制所述第一遮挡件以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件处于所述第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡；

19、所述步骤s300具体为：

20、步骤s310、在所述第一遮挡件处于所述第一动作状态时，或所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述n个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定n个待测件的受热均匀程度参数。

21、可选地，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：

22、控制所述第一遮挡件以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件处于第三动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡，所述第三动作状态为半遮挡；

23、所述步骤s300具体为：

24、步骤s320、在所述第一遮挡件处于所述第一动作状态时，或所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述n个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定n个待测件的受热响应强度参数。

25、可选地，所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置，所述控制所述遮挡组件动作的步骤具体为：

26、控制所述第一遮挡件处于第二动作状态，以及控制所述第二遮挡件处于所述第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡；

27、所述步骤s300具体为：

28、步骤s330、在所述第一遮挡件处于所述第二动作状态时，经所述采样件获取所述n个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定n个待测件的受热稳定性程度参数。

29、可选地，如以上内容所述的测试装置控制方法，在所述步骤s200之前，所述测试装置控制方法还包括：

30、控制所述驱动组件带动所述加热组件移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的n个待测件的热敏模块紧贴。

31、可选地，如以上内容所述的测试装置控制方法，在步骤s400之前，所述测试装置控制方法还包括：

32、步骤s100、所述测试装置获取到第二指令时，控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置；

33、其中，在所述采样件固定放置板处于第二位置时，所述采样件固定放置板上的n个待测件的采样接口凸与采样件处于第二接触状态。

34、可选地，如以上内容所述的测试装置控制方法，所述测试装置控制方法还包括：

35、步骤s700、控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述加热组件和所述采样件移动，直至所述加热组件与所述n个待测件的内部热敏模块处于第二接触状态。

36、本发明还提出一种测试装置，所述测试装置包括：

37、测试装置主体，所述测试装置主体上设置有用于放置n个待测件的采样件固定放置板；

38、加热组件，所述加热组件设置于所述测试装置内；

39、驱动组件，所述驱动组件设置于所述测试装置内；

40、采样件，所述采样件设置于所述测试装置内；

41、所述驱动组件，用于带动所述采样件固定放置板移动至第一位置；

42、电控组件，所述电控组件获取到第一指令时，控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板移动至第一位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的n个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的多个待测件辐射热能；经所述采样件获取n个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；所述电控组件获取到第二指令时，控制所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的n个所述待测件的采样接口凸出部分处于第二接触状态；根据至少一个所述检测参数，确定n个待测件的工作性能并进行提示；控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述加热组件和所述采样件移动，直至所述加热组件与所述n个待测件的内部热敏模块处于第二接触状态。

43、可选地，所述加热组件包括发热棒和温度控制组件；所述发热棒和所述温度控制组件电连接；

44、所述温度控制传感器，用于控制所述发热棒产生热能。

45、可选地，所述测试装置还包括隔热组件；

46、所述加热组件设置于所述隔热组件的内部；

47、所述隔热组件，用于包裹所述加热组件。

48、可选地，所述测试装置还包括：

49、导热组件，所述导热组件设置于所述加热组件和所述采样件固定放置板之间；

50、所述导热组件，用于将所述加热组件的热能传导至所述采样件固定放置板。

51、可选地，所述测试装置还包括遮挡组件；

52、所述遮挡组件包括第一遮挡件和第二遮挡件，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置；

53、所述第一遮挡件，用于产生载波并以第一预设频率进行第一动作状态和第二动作状态之间的交替切换工作；

54、所述第二遮挡件，用于进行第一动作状态和第三动作状态之间的交替切换工作。

55、可选地，所述驱动组件的数量为三个，分别为第一驱动组件、第二驱动组件和第三驱动组件；

56、所述第一驱动组件上设置有所述采样件固定放置板，所述第二驱动组件上设置有所述加热组件，所述第三驱动组件上设置有所述采样件；

57、所述第一驱动组件，用于驱动所述采样件固定放置板从第一位置移动至第二位置或从第二位置移动至第一位置；

58、所述第二驱动组件，用于驱动所述加热组件沿高度方向移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的n个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态或第二接触状态；

59、所述第三驱动组件，用于驱动所述采样件沿高度方向移动，以使所述采样件固定放置板上的n个待测件的采样接口凸与采样件处于预设接触状态或第二接触状态。

60、可选地，所述第一驱动组件包括：

61、第一驱动电机；

62、第一运动滑块，所述第一运动滑块与所述第一驱动电机驱动连接，所述第一运动滑块与所述采样件固定放置板连接；

63、所述第一驱动电机，用于驱动所述第一运动滑块带动所述采样件固定放置板从第一位置移动至第二位置或从第二位置移动至第一位置。

64、可选地，所述第二驱动组件包括：

65、第二驱动电机；

66、第二运动滑块，所述第二运动滑块与所述第二驱动电机驱动连接，所述第二运动滑块与所述加热组件连接；

67、所述第二驱动电机，用于驱动所述第二运动滑块带动所述加热组件沿高度方向移动，以使所述加热组件与所述n个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态或第二接触状态。

68、可选地，所述第三驱动组件包括：

69、第三驱动电机；

70、第三运动滑块，所述第三运动滑块与所述第三驱动电机驱动连接，所述第三运动滑块与所述采样件连接；

71、所述第三驱动电机，用于驱动所述第三运动滑块带动所述采样件沿高度方向移动，所述采样件固定放置板上的n个待测件的采样接口凸部分与采样件处于预设接触状态或第二接触状态。

72、可选地，所述测试装置还包括触发组件，所述触发组件设置于所述测试装置主体的侧面。

73、可选地，所述测试装置还包括显示组件，所述显示组件与所述测试装置电连接。

74、本发明还提出一种批量热敏器件测试方法，基于以上内容所述的测试装置，包括以下步骤：

75、步骤s1000、准备所述测试装置，并将所述测试装置上电；

76、步骤s2000、触发所述触发组件，以使所述测试装置获取到第二指令并控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从第一位置移动至第二位置；

77、步骤s3000、将n个热敏器件放置在所述采样件固定放置板上，以使所述n个热敏器件的采样接口凸出部分向下放置；

78、步骤s4000、触发所述触发组件，以使所述测试装置获取到第一指令并控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板移动从第二位置移动至第一位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的n个所述热敏器件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；控制所述加热组件工作，以对所述采样件固定放置板上的多个热敏器件辐射热能；经所述采样件获取n个热敏器件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；

79、步骤s5000、触发所述触发组件，以使所述测试装置获取到第二指令并控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从第一位置移动至第二位置，以使所述采样件固定放置板上的n个热敏器件的采样接口凸与采样件处于第二接触状态；根据至少一个所述检测参数，确定n个热敏器件的工作性能并进行提示。

80、本发明公开一种测试装置控制方法，测试装置上设置有驱动组件、加热组件、采样件和采样件固定放置板；采样件固定放置板用于放置n个待测件，n大于等于1，包括以下步骤：步骤s100、测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件开始工作，以使驱动组件带动采样件固定放置板移动至第一位置，以使采样件与采样件固定放置板上的n个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。步骤s200、控制加热组件工作，以对采样件固定放置板上的多个待测件辐射热能；步骤s300、经采样件获取n个待测件的采样接口凸出部分输出的至少一个检测参数；步骤s400、根据至少一个检测参数，确定n个待测件的工作性能并进行提示。本发明提高了对批量待测件的测试效率。