检测装置、检测方法及检测系统与流程

本发明是关于一种检测装置，特别是关于一种检测一目标芯片的状态信息的检测装置。

背景技术：

1、一般而言，使用者在开发芯片的应用程序的过程中，需要随时注意芯片的功耗。当芯片的实际功耗与规格参考值有落差时，使用者通常会认为芯片故障或发生异常。然而，大多数的原因只是出自芯片的系统的错误设定，或是芯片所连接的外部实体电路具有缺陷。因此，使用者需要花费很长的测试时间，才能找出真正的问题所在。

技术实现思路

1、本发明的一实施例提供一种检测装置，用以检测一目标芯片，并提供一检测结果。检测装置包括一传输接口、一存储器以及一处理器。传输接口耦接目标芯片。存储器储存一检测程序。处理器执行检测程序，用以读取目标芯片的状态信息，并产生检测结果。

2、本发明的另一实施例提供一种检测系统，包括一目标芯片、一转换器以及一检测装置。目标芯片具有复数接脚及一暂存电路。转换器耦接目标芯片。检测装置通过转换器，检测目标芯片，用以产生一检测结果，并包括一传输接口、一存储器以及一处理器。传输接口耦接转换器。存储器储存一检测程序。处理器执行检测程序，用以读取目标芯片的状态信息，并产生结果。

3、本发明的另一实施例提供一种检测方法，包括重置一目标芯片；判断目标芯片是否进入一待机模式；当目标芯片进入待机模式时，检测目标芯片，用以产生检测结果；输出检测结果。

4、本发明的检测方法可经由本发明的检测系统来实作，其为可执行特定功能的硬件或软件，亦可以通过程序方式收录于一纪录媒体中，并结合特定硬件来实作。当程序被电子装置、处理器、电脑或机器载入且执行时，电子装置、处理器、电脑或机器变成用以实行本发明的检测装置或检测系统。

技术特征：

1.一种检测装置，用以检测一目标芯片，并提供一检测结果，其特征在于，该检测装置包括：

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，该处理器读取该目标芯片的一暂存电路所储存的一第一信息，用以判断该目标芯片是否进入一待机模式，当该目标芯片进入该待机模式时，该处理器读取该暂存电路所储存的一第二信息，用以读取该目标芯片的每一接脚的脚位信息。

3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，当该目标芯片未进入该待机模式时，该处理器周期性读取该暂存电路所储存的该第一信息，直到该目标芯片进入该待机模式。

4.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，更包括：

5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，该处理器根据该暂存电路所储存的该第二信息，判断该目标芯片的每一接脚是否操作于一特定模式，当该目标芯片的一特定接脚操作于一特定模式时，该处理器根据该特定接脚的电平，决定是否在该检测结果中，凸显该特定接脚。

6.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于：

7.一种检测方法，其特征在于，包括：

8.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，当一显示装置的一游标指向特定接脚的接脚编号时，该显示装置更呈现一提醒视窗。

9.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，检测该目标芯片的步骤更包括：

10.一种检测系统，其特征在于，包括：

技术总结
本发明公开了一种检测装置、检测方法及检测系统，其中检测装置用以检测一目标芯片，并提供一检测结果。检测装置包括一传输接口、一存储器以及一处理器。传输接口耦接目标芯片。存储器储存一检测程序。处理器执行检测程序，用以读取目标芯片的状态信息，并产生检测结果。

技术研发人员：许咏庆
受保护的技术使用者：新唐科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/31