一种单晶硅压力传感器性能检测装置的制作方法

本发明涉及单晶硅压力传感器性能检测，具体为一种单晶硅压力传感器性能检测装置。

背景技术：

1、单晶硅压力传感器是一种常见的单晶硅压力传感器类型，广泛应用于各种领域，包括工业、医疗、汽车等。在使用单晶硅压力传感器时，良好的防摔和防压性能可以确保可靠性和准确性、提高安全性、降低维修和更换成本与提高产品品质，总之，对单晶硅压力传感器的防摔和防压性能进行检测是非常重要的。

2、传统的检测装置仅可以针对防摔性能或防压性能进行检测，但单晶硅压力传感器在使用过程中既可能发生摔落也可能受到较大的压力，从而损坏单晶硅压力传感器结构或影响其工作性能，导致输出数据不准确或无法正常工作，因此仅对单晶硅压力传感器进行单一的防摔性能或防压性能检测，无法确保单晶硅压力传感器是否可以在恶劣环境中正常工作，影响单晶硅压力传感器的正常使用，从而需要频繁进行维修或更换，导致维修和更换成本增大，若将单晶硅压力传感器经过防摔性能检测后，再次另外进行防压性能检测，需要另外设置装置对其进行移动，增加检测时间，导致检测装置的效率较低，且提高了检测装置的成本。

技术实现思路

1、鉴于上述问题，本申请实施例提供一种单晶硅压力传感器性能检测装置，以解决相关技术中单晶硅压力传感器仅可以进行防摔性能或防压性能的检测，从而对单晶硅压力传感器是否可以在恶劣环境中正常工作判断失误，影响单晶硅压力传感器正常使用且检测装置的效率较低以及成本较高的技术问题。为了实现上述目的，本申请实施例提供如下技术方案。

2、本申请实施例的第一方面提供一种单晶硅压力传感器性能检测装置，包括输送单元与检测单元,检测单元设于输送单元上，用于对单晶硅压力传感器的性能进行检测；所述输送单元包括工作台，工作台上端开设有圆柱槽,圆柱槽内固定安装有电动推杆,圆柱槽的深度与收缩后的电动推杆长度相同，电动推杆伸缩端固定安装有定位板,定位板上设置有对单晶硅压力传感器进行输送的输送架，定位板中部设置有对单晶硅压力传感器进行限位导向的限位架，工作台上端固定安装有对经过防摔性能检测的单晶硅压力传感器进行推动的推件架；所述检测单元包括直角支架，工作台上端固定安装有直角支架，直角支架下端固定安装有施压气缸，施压气缸伸缩端固定安装有对单晶硅压力传感器进行防压性能检测的施压架，直角支架竖直段前端固定安装有对施压架表面进行清理的清理架,工作台上端且位于施压架左右两侧分别设置有对经过防摔性能检测的单晶硅压力传感器以及经过防压性能检测的单晶硅压力传感器表面进行检测的破裂检测架。

3、根据本发明的实施例，所述工作台上端前后对称固定安装有防脱板,防脱板相对端固定安装有防护橡胶，后侧的防脱板上端与直角支架固定连接。

4、根据本发明的实施例，所述定位板下端固定安装有金属尺,工作台上固定安装有涡卷弹簧,涡卷弹簧末端与金属尺末端固定连接，金属尺上端为零刻度线起始端。

5、根据本发明的实施例，所述输送架包括链轮柱，定位板左右对称转动连接有链轮柱，链轮柱通过齿链带传动连接，齿链带表面固定安装有支撑板，支撑板之间通过销轴转动连接，定位板前端通过电机座固定安装有电机一，电机一输出轴通过联轴器与左侧的链轮柱固定连接。

6、根据本发明的实施例，所述限位架包括双向螺杆,双向螺杆前后对称以螺纹连接的方式连接有圆形块,圆形块外端固定安装有椭圆环,椭圆环内环壁以滑动配合的方式连接有由多个限位块通过销轴转动连接构成的挤压带,限位块与相邻的支撑板之间以滑动配合的方式相连接。

7、根据本发明的实施例，所述推件架包括矩形块，工作台上端固定安装有矩形块,矩形块右端固定安装有电动伸缩杆一,电动伸缩杆一伸缩端固定安装有梯形推动块,工作台右端固定安装有收集盒。

8、根据本发明的实施例，所述施压架包括圆台块,施压气缸伸缩端固定安装有圆台块,施压气缸前端固定安装有压力显示仪,压力显示仪前端固定安装有摄像机。

9、根据本发明的实施例，所述清理架包括电动伸缩杆二,直角支架竖直段前端固定安装有电动伸缩杆二,电动伸缩杆二伸缩端固定安装有清理刷。

10、根据本发明的实施例，所述破裂检测架包括检测平台板,工作台上端且位于施压架左右两侧均设置有检测平台板,两个防脱板上端且位于检测平台板正上方共同固定安装有分别与检测平台板对应的水平板,水平板下端固定安装有超声波检测仪器。

11、从以上技术方案可以看出，本发明具有以下优点：1、本发明中，通过防脱板防止单晶硅压力传感器摔落至工作台表面由于受到冲击而飞出工作台，通过防护橡胶防止单晶硅压力传感器飞至防脱板表面再次受到冲击，影响检测结果，从而保证防摔性能检测的准确性，且单晶硅压力传感器不会飞出工作台，从而增加工人的后续拾取收集工序，提高检测装置的检测效率。

12、2、本发明中，通过金属尺与涡卷弹簧相配合，使金属尺对定位板与工作台之间的距离进行测量，便于准确的调整定位板与工作台之间的距离，便于快速准确的得知防摔性能检测的数据，且成本较低。

13、3、本发明中，通过转动双向螺杆，使前后两侧的圆形块相向移动，带动椭圆环相向转动，使挤压带对单晶硅压力传感器进行限位的同时不会干涉单晶硅压力传感器的移动，从而对单晶硅压力传感器进行导向，使单晶硅压力传感器沿着规划的路线移动。

14、4、本发明中，通过电动伸缩杆一带动梯形推动块移动，从而推动单晶硅压力传感器移动，并利用惯性使单晶硅压力传感器移动至梯形推动块中部，以便于进行防压性能的检测，使通过防摔性能的单晶硅压力传感器可以迅速进行防压性能的检测，通过收集盒对经过防摔试验与防压试验的单晶硅压力传感器进行收集。

15、除了上面所描述的本申请实施例解决的技术问题、构成技术方案的技术特征以及由这些技术方案的技术特征所带来的有益效果外，本申请实施例提供的基于一种单晶硅压力传感器性能检测装置所能解决的其他技术问题、技术方案中包含的其他技术特征以及这些技术特征带来的有益效果，将在具体实施方式中作出进一步的详细说明。

技术特征：

1.一种单晶硅压力传感器性能检测装置，其特征在于：包括输送单元(1)与检测单元(2),检测单元(2)设于输送单元(1)上，用于对单晶硅压力传感器的性能进行检测；

2.根据权利要求1所述的一种单晶硅压力传感器性能检测装置，其特征在于：所述工作台(11)上端前后对称固定安装有防脱板(111),防脱板(111)相对端固定安装有防护橡胶(112)，后侧的防脱板(111)上端与直角支架(21)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种单晶硅压力传感器性能检测装置，其特征在于：所述定位板(14)下端固定安装有金属尺(141),工作台(11)上固定安装有涡卷弹簧(142),涡卷弹簧(142)末端与金属尺(141)末端固定连接，金属尺(141)上端为零刻度线起始端。

4.根据权利要求1所述的一种单晶硅压力传感器性能检测装置，其特征在于：所述输送架(15)包括链轮柱(151)，定位板(14)左右对称转动连接有链轮柱(151)，链轮柱(151)通过齿链带(152)传动连接，齿链带(152)表面固定安装有支撑板(153)，支撑板(153)之间通过销轴转动连接，定位板(14)前端通过电机座固定安装有电机一(154)，电机一(154)输出轴通过联轴器与左侧的链轮柱(151)固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种单晶硅压力传感器性能检测装置，其特征在于：所述限位架(16)包括双向螺杆(161),双向螺杆(161)前后对称以螺纹连接的方式连接有圆形块(162),圆形块(162)外端固定安装有椭圆环(163),椭圆环(163)内环壁以滑动配合的方式连接有由多个限位块通过销轴转动连接构成的挤压带(164),限位块与相邻的支撑板(153)之间以滑动配合的方式相连接。

6.根据权利要求1所述的一种单晶硅压力传感器性能检测装置，其特征在于：所述推件架(17)包括矩形块(171)，工作台(11)上端固定安装有矩形块(171),矩形块(171)右端固定安装有电动伸缩杆一(172),电动伸缩杆一(172)伸缩端固定安装有梯形推动块(173),工作台(11)右端固定安装有收集盒(174)。

7.根据权利要求1所述的一种单晶硅压力传感器性能检测装置，其特征在于：所述施压架(23)包括圆台块(231),施压气缸(22)伸缩端固定安装有圆台块(231),施压气缸(22)前端固定安装有压力显示仪(232),压力显示仪(232)前端固定安装有摄像机(233)。

8.根据权利要求1所述的一种单晶硅压力传感器性能检测装置，其特征在于：所述清理架(24)包括电动伸缩杆二(241),直角支架(21)竖直段前端固定安装有电动伸缩杆二(241),电动伸缩杆二(241)伸缩端固定安装有清理刷(242)。

9.根据权利要求2所述的一种单晶硅压力传感器性能检测装置，其特征在于：所述破裂检测架(25)包括检测平台板(251),工作台(11)上端且位于施压架(23)左右两侧均设置有检测平台板(251),两个防脱板(111)上端且位于检测平台板(251)正上方共同固定安装有分别与检测平台板(251)对应的水平板(252),水平板(252)下端固定安装有超声波检测仪器(253)。

技术总结
本发明涉及单晶硅压力传感器性能检测技术领域，具体为一种单晶硅压力传感器性能检测装置，包括输送单元与检测单元，本发明通过输送单元对传感器进行输送，控制其运动轨迹，使其顺利进入检测单元，通过输送单元与检测单元的配合，对传感器进行防摔性能或防压性能的检测，使通过防摔性能检测的传感器迅速进行防压性能的检测，不通过防摔性能检测的传感器直接被收集，通过对数据的改变，以便于检测出传感器防摔性能与防压性能，整个检测过程中在一个装置上完成，降低检测成本，无需另外准备装置对传感器进行移动，提高检测装置的效率，同时降低检测装置的成本。

技术研发人员：郭伟,史硕朝,杜永春
受保护的技术使用者：浙江中电自控科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15