芯片测试机的制作方法

本申请涉及芯片测试，特别是涉及一种芯片测试机。

背景技术：

1、在芯片测试的过程中，ate(automated test equipment)会向被测试芯片的输入管脚发送一系列的时序，而在芯片的输出管脚比较输出时序，由此判断测试芯片是否满足其功能，狭义上的测试pattern就是芯片的真值表。

2、在测试芯片的时序特征的同时，有时还需要对芯片运行状态下的其他参数进行测试，但是芯片的时序特征测试的实时性要求极高，往往需要占用一台测试机的大部分计算资源，导致无法进行其他测试。传统技术中一般采用多台测试机同时运行的方式，以达到同时进行时序特征测试和其他测试的目的，但是这种方式成本较高，且多台测试机的配合难度大。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种芯片测试机。

2、第一方面，本申请提供了一种芯片测试机，其特征在于，包括应用编程接口、上位机驱动和测试头，所述测试头包括业务fpga，所述上位机驱动与所述业务fpga连接，其中：

3、所述上位机驱动响应所述应用编程接口下发的第一指令，生成触发启动命令；

4、所述业务fpga响应所述触发启动命令，调取并运行测试向量，在检查到所述测试向量中的无限循环微指令时，将所述业务fpga中的状态寄存器设置为重复执行状态；

5、所述应用编程接口通知所述上位机驱动轮询所述状态寄存器，在获取所述重复执行状态时触发所述上位机驱动；

6、所述上位机驱动控制所述业务fpga执行预设测试。

7、在其中一个实施例中，所述业务fpga包括主控模块、微指令模块以及输入输出模块，其中：

8、所述主控模块响应所述触发启动命令，依次启动所述微指令模块和所述输入输出模块运行所述测试向量；

9、所述微指令模块在运行并查询所述测试向量过程中，当查询到所述测试向量中的无限循环微指令时，改为处于重复状态，并将重复状态信息发送至所述输入输出模块；

10、所述输入输出模块根据所述重复状态信息，重复执行与所述无限循环微指令同一周期的测试波形。

11、在其中一个实施例中，所述输入输出模块将重复状态信息发送至所述主控模块；

12、所述主控模块将所述状态寄存器设置为重复执行状态。

13、在其中一个实施例中，所述应用编程接口包括非阻塞启动测试向量接口；用户通过所述非阻塞启动测试向量接口向所述上位机驱动下发所述第一指令。

14、在其中一个实施例中，所述应用编程接口包括查询测试向量状态接口；用户通过所述查询测试向量状态接口查询所述测试向量的运行状态。

15、在其中一个实施例中，所述上位机驱动还向所述应用编程接口通知所述状态寄存器的寄存器状态信息。

16、在其中一个实施例中，所述预设测试包括ppmu测试及/或tmu测试。

17、在其中一个实施例中，所述应用编程接口包括第一阻塞测试接口及/或第二阻塞测试接口；

18、用户通过所述第一阻塞测试接口，驱动所述上位机驱动控制所述业务fpga执行ppmu测试；及/或，

19、用户通过所述第二阻塞测试接口，驱动所述上位机驱动控制所述业务fpga执行tmu测试。

20、在其中一个实施例中，所述应用编程接口包括继续运行接口；

21、待所述预设测试执行完成后，所述上位机驱动响应用户通过所述继续运行接口下发的继续运行指令，生成触发持续命令；

22、所述业务fpga响应所述触发持续命令，继续运行所述测试向量的后续测试波形；所述后续测试波形为所述无限循环微指令的下一周期波形。

23、在其中一个实施例中，所述应用编程接口包括测试结果查询接口；

24、所述上位机驱动响应用户通过所述测试结果查询接口下发的测试结果查询指令，生成测试信息查询命令；

25、所述业务fpga响应所述测试信息查询命令，向上位机驱动反馈目标测试信息，所述上位机驱动通过所述测试结果查询接口反馈所述目标测试信息。

26、上述芯片测试机，包括应用编程接口、上位机驱动和测试头，所述测试头包括业务fpga，所述上位机驱动与所述业务fpga连接，所述上位机驱动响应所述应用编程接口下发的第一指令，生成触发启动命令；所述业务fpga响应所述触发启动命令，调取并运行测试向量，在检查到所述测试向量中的无限循环微指令时，将所述业务fpga中的状态寄存器设置为重复执行状态；所述应用编程接口通知所述上位机驱动轮询所述状态寄存器，在获取所述重复执行状态时触发所述上位机驱动；所述上位机驱动控制所述业务fpga执行预设测试。解决了无法通过一台芯片测试机在进行芯片测试时，无法执行其他测试任务的问题。实现了当检测到无限重复微指令时，持续运行测试向量的同时，可以执行预设测试功能，让出测试机计算资源，并且仅需一台测试机运行，无需多台测试机配合运行，极大降低测试成本。

技术特征：

1.一种芯片测试机，其特征在于，包括应用编程接口、上位机驱动和测试头，所述测试头包括业务fpga，所述上位机驱动与所述业务fpga连接，其中：

2.根据权利要求1所述的芯片测试机，其特征在于，所述业务fpga包括主控模块、微指令模块以及输入输出模块，其中：

3.根据权利要求2所述的芯片测试机，其特征在于，所述输入输出模块将重复状态信息发送至所述主控模块；

4.根据权利要求1-3任一项所述的芯片测试机，其特征在于，所述应用编程接口包括非阻塞启动测试向量接口；用户通过所述非阻塞启动测试向量接口向所述上位机驱动下发所述第一指令。

5.根据权利要求1-3任一项所述的芯片测试机，其特征在于，所述应用编程接口包括查询测试向量状态接口；用户通过所述查询测试向量状态接口查询所述测试向量的运行状态。

6.根据权利要求1-3任一项所述的芯片测试机，其特征在于，所述上位机驱动还向所述应用编程接口通知所述状态寄存器的寄存器状态信息。

7.根据权利要求1-3任一项所述的芯片测试机，其特征在于，所述预设测试包括ppmu测试及/或tmu测试。

8.根据权利要求7所述的芯片测试机，其特征在于，所述应用编程接口包括第一阻塞测试接口及/或第二阻塞测试接口；

9.根据权利要求8所述的芯片测试机，其特征在于，所述应用编程接口包括继续运行接口；

10.根据权利要求9所述的芯片测试机，其特征在于，所述应用编程接口包括测试结果查询接口；

技术总结
本申请涉及一种芯片测试机。包括：所述上位机驱动响应所述应用编程接口下发的第一指令，生成触发启动命令；所述业务FPGA响应所述触发启动命令，调取并运行测试向量，在检查到所述测试向量中的无限循环微指令时，将所述业务FPGA中的状态寄存器设置为重复执行状态；所述应用编程接口通知所述上位机驱动轮询所述状态寄存器，在获取所述重复执行状态时触发所述上位机驱动；所述上位机驱动控制所述业务FPGA执行预设测试。实现了当检测到无限重复微指令时，持续运行测试向量的同时，可以执行预设测试功能，让出测试机计算资源，并且仅需一台测试机运行，无需多台测试机配合运行，极大降低测试成本。

技术研发人员：李震,陈化良,尤春明
受保护的技术使用者：杭州长川科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/21