1.一种用于辐照环境下的线圈材料检测方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，各所述性能参数信息包括：线圈的最高使用温度参数信息、线圈散热系数参数信息、线圈质量参数信息以及导线击穿电流参数信息。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用预设实验方法针对采用各所述线圈材料制备的传感器进行实验，确定与各所述线圈材料对应的热效应阈值系数，具体包括：
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用预设实验方法针对采用各所述线圈材料制备的传感器进行实验，确定与各所述线圈材料对应的光电效应阈值系数，具体包括：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于同一材料对应的各所述性能参数信息、所述热效应阈值系数、所述光电效应阈值系数、预设热效应关系式以及预设光电效应关系式对各所述线圈材料的热效应特性以及光电效应特性进行检测，得到与各所述线圈材料对应的热效应特性的第一结果以及光电效应特性的第二结果，具体包括：
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于与各所述线圈材料对应的所述第一结果以及所述第二结果进行辐照特性检测，得到与各所述线圈材料对应的辐照环境下的线圈材料特性检测结果，具体包括：
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述当第一结果为所述第一实际工作温度小于所述热效应阈值系数与所述最高使用温度参数信息的乘积，并且第二结果为所述最大电流值大于或者等于所述导线击穿电流参数信息与所述光电效应阈值系数的乘积时或者，当第一结果为所述第一实际工作温度大于或者等于所述热效应阈值系数与所述最高使用温度参数信息的乘积，并且第二结果为所述最大电流值小于所述导线击穿电流参数信息与所述光电效应阈值系数的乘积时，基于所述第一实际工作温度、所述最高使用温度参数信息、所述最大电流值、所述导线击穿电流参数信息进行检测，得到与各所述线圈材料对应的辐照环境下的线圈材料检测结果，具体包括：
8.一种用于辐照环境下的线圈材料检测装置，其特征在于，包括：
9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述权利要求1-7任一项所述用于辐照环境下的传感器线圈材料特性判断的步骤。
10.一种电子设备，其特征在于，至少包括存储器、处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器在执行所述存储器上的计算机程序时实现上述权利要求1-7任一项所述用于辐照环境下的传感器线圈材料特性判断的步骤。