一种多层介质的介电常数提取方法与流程

文档序号:37633687发布日期:2024-04-18 17:47阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种多层介质的介电常数提取方法,其特征在于,所述介电常数从所述多层介质的第一层介质层开始逐层提取,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种多层介质的介电常数提取方法,其特征在于,当i=2时,表示当前多层介质具有两层介质层,两层介质的二层透射系数t(1-2)和二层反射系数r(1-2)的计算具体包括:

3.根据权利要求2所述的一种多层介质的介电常数提取方法,其特征在于,当3≤i<n时,表示当前多层介质至少具有三层介质层,多层介质的i层透射系数t(1-i)和i层反射系数r(1-i)的计算具体包括:

4.根据权利要求3所述的一种多层介质的介电常数提取方法,其特征在于:

5.根据权利要求4所述的一种多层介质的介电常数提取方法,其特征在于:n层介质的n层透射系数t(1-n)和n层反射系数r(1-n)的获取具体包括:

6.根据权利要求1所述的一种多层介质的介电常数提取方法,其特征在于:第i层介质层的介电常数数值的计算具体包括:

7.根据权利要求1所述的一种多层介质的介电常数提取方法,其特征在于,第i层介质层的相位差的获取具体包括:

8.根据权利要求7所述的一种多层介质的介电常数提取方法,其特征在于:

9.根据权利要求1所述的一种多层介质的介电常数提取方法,其特征在于,第i层介质层的特征矩阵的获取具体包括:

10.根据权利要求9所述的一种多层介质的介电常数提取方法,其特征在于:


技术总结
本发明公开了一种多层介质的介电常数提取方法,包括以下步骤:通过测量装置测量当前i层介质的i层透射系数S21(1‑i)和i层反射系数S11(1‑i),同时获取第i层介质层的厚度;根据第i层介质层的平面电磁波穿过第i层介质层的相位差与特征矩阵计算得到i层介质的i层透射系数T(1‑i)和i层反射系数R(1‑i);根据测量的i层透射系数S21(1‑i)和i层反射系数S11(1‑i)与计算的i层透射系数T(1‑i)和i层反射系数R(1‑i)的对应关系,通过数值方法求解得到第i层介质层的介电常数数值。本发明通过测量的透射系数和反射系数与计算的透射系数和反射系数逐层求解得到每层介质层的介电常数数值,实现高精度的提取多个涂层的介电常数,提取求解介电常数数值后,可把保险杠设计到更优,以获得更好的雷达性能。

技术研发人员:叶秀美,伍小军
受保护的技术使用者:惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/4/17
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