一种带有清洁功能的半导体芯片测试治具的制作方法

本技术涉及半导体芯片测试治具，具体为一种带有清洁功能的半导体芯片测试治具。

背景技术：

1、随科技发展，半导体芯片已经得到广泛应用，在完成半导体芯片的大批生产后，为保证半导体芯片的品质，一般会选择部分产品进行抽检，其中主要检测有开路/短路测试。

2、现有的半导体芯片测试治具在使用过程中，一般先通过人工手持清洁毛刷对半导体芯片表面的灰尘或杂质进行手动清理，然后再放在测试治具的放置台上，且通过测试治具上现有结构的手动升降传动组件带动检测板下移，使得带多个金属探针进行下移至芯片表面进行检测，上述清洁方式导致检测效率大大降低，其次，不方便对用于检测的带有多个金属探针的检测板进行拆换，以至于只能针对单种型号规格的半导体芯片进行检测使用，使用范围受限，为此，我们提出一种带有清洁功能的半导体芯片测试治具。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种带有清洁功能的半导体芯片测试治具，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种带有清洁功能的半导体芯片测试治具，包括在测试治具主体上固定的h形支架，h形支架上通过手动升降传动组件连接有安装板，安装板的下方设有固定在测试治具主体上且便于放置半导体芯片的放置台，所述安装板上通过卡紧组件连接有底部带多个金属探针的检测板，检测板的后侧壁上固定有u形杆，u形杆滑动套设在两个对称设置的滑杆外侧，滑杆固定在h形支架上，u形杆与测试治具主体之间连接有清洁组件，u形杆的两端均活动插设在检测板的后侧壁凹槽内。

3、作为优选，所述卡紧组件包括固接在检测板顶端的插块，插块的竖截面呈工形结构，安装板上开设有便于插块进行插入的插入通道，插块的顶端卡槽内卡接有倒l形卡杆，倒l形卡杆的底端卡接部设有斜面。

4、作为优选，所述倒l形卡杆活动套设在t形方杆的外侧，t形方杆固定在安装板的顶端，倒l形卡杆的顶端设有套设在t形方杆外侧的弹簧。

5、作为优选，所述清洁组件包括在u形杆的两侧壁上均铰接的铰接杆，铰接杆的底端均铰接在同一个n形移动杆，n形移动杆的底端两侧均固定有竖截面呈倒t形结构的滑块，滑块均滑动连接在测试治具主体上开设的滑槽内。

6、作为优选，所述n形移动杆的外侧活动套设有底部带刷毛的清洁板，清洁板的顶端转动连接有手拧螺柱，手拧螺柱螺旋连接在n形移动杆上。

7、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

8、1、利用卡紧组件，能够方便对带有多个金属探针的检测板进行拆换，使得检测不同型号规格的半导体芯片时，可以对检测板进行更换使用，大大提高该半导体芯片测试治具的使用范围；

9、2、利用清洁组件，在检测板下移时，且配合多个部件的作用，进而使得n形移动杆带动清洁板底端的刷毛进行移动，进而能够对放置台上的半导体芯片表面进行清理，同时，通过扭动手拧螺柱，可以针对不同厚度的半导体芯片进行调节清洁板的高度，进一步扩大该半导体芯片测试治具的适用范围。

技术特征：

1.一种带有清洁功能的半导体芯片测试治具，包括在测试治具主体(1)上固定的h形支架(2)，h形支架(2)上通过手动升降传动组件(3)连接有安装板(4)，安装板(4)的下方设有固定在测试治具主体(1)上且便于放置半导体芯片的放置台(7)，其特征在于：所述安装板(4)上通过卡紧组件(5)连接有底部带多个金属探针(61)的检测板(6)，检测板(6)的后侧壁上固定有u形杆(62)，u形杆(62)滑动套设在两个对称设置的滑杆(63)外侧，滑杆(63)固定在h形支架(2)上，u形杆(62)与测试治具主体(1)之间连接有清洁组件(8)，u形杆(62)的两端均活动插设在检测板(6)的后侧壁凹槽内。

2.根据权利要求1所述的一种带有清洁功能的半导体芯片测试治具，其特征在于：所述卡紧组件(5)包括固接在检测板(6)顶端的插块(51)，插块(51)的竖截面呈工形结构，安装板(4)上开设有便于插块(51)进行插入的插入通道，插块(51)的顶端卡槽内卡接有倒l形卡杆(52)，倒l形卡杆(52)的底端卡接部设有斜面。

3.根据权利要求2所述的一种带有清洁功能的半导体芯片测试治具，其特征在于：所述倒l形卡杆(52)活动套设在t形方杆(53)的外侧，t形方杆(53)固定在安装板(4)的顶端，倒l形卡杆(52)的顶端设有套设在t形方杆(53)外侧的弹簧(54)。

4.根据权利要求1所述的一种带有清洁功能的半导体芯片测试治具，其特征在于：所述清洁组件(8)包括在u形杆(62)的两侧壁上均铰接的铰接杆(81)，铰接杆(81)的底端均铰接在同一个n形移动杆(82)，n形移动杆(82)的底端两侧均固定有竖截面呈倒t形结构的滑块(84)，滑块(84)均滑动连接在测试治具主体(1)上开设的滑槽内。

5.根据权利要求4所述的一种带有清洁功能的半导体芯片测试治具，其特征在于：所述n形移动杆(82)的外侧活动套设有底部带刷毛(85)的清洁板(83)，清洁板(83)的顶端转动连接有手拧螺柱(86)，手拧螺柱(86)螺旋连接在n形移动杆(82)上。

技术总结
本技术公开了一种带有清洁功能的半导体芯片测试治具，涉及半导体芯片测试治具技术领域，包括在测试治具主体上固定的H形支架，H形支架上通过手动升降传动组件连接有安装板，安装板的下方设有固定在测试治具主体上且便于放置半导体芯片的放置台，所述安装板上通过卡紧组件连接有底部带多个金属探针的检测板，检测板的后侧壁上固定有U形杆，U形杆滑动套设在两个对称设置的滑杆外侧，此带有清洁功能的半导体芯片测试治具，区别于现有技术，利用卡紧组件，能够方便对带有多个金属探针的检测板进行拆换，使得检测不同型号规格的半导体芯片时，可以对检测板进行更换使用，大大提高该半导体芯片测试治具的使用范围。

技术研发人员：孙帅伟
受保护的技术使用者：苏州格丽明电子科技有限公司
技术研发日：20230423
技术公布日：2024/1/15