一种面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法与流程

技术特征：

1.一种面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法，其特征在于：包括，

2.如权利要求1所述的面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法，其特征在于：

3.如权利要求1所述的面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法，其特征在于：

4.如权利要求1所述的面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法，其特征在于：

5.如权利要求4所述的面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法，其特征在于：

6.如权利要求5所述的面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法，其特征在于：

7.如权利要求6所述的面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法，其特征在于：

8.如权利要求1所述的面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法，其特征在于：

9.如权利要求8所述的面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法，其特征在于：

10.如权利要求9所述的面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法，其特征在于：

技术总结
本发明公开了一种面向传输性能的微波器件拼缝宽度的确定方法，涉及微波器件技术领域，使用修改后的器件模型对实验器件的运行状态进行测试，获取测试数据；由测试数据构建实验器件的状态系数，并计算拼缝宽度与状态系数间的相关度，若相关度超过相关度阈值，依次对各个实验器件进行测试，构建实验器件的性能系数，依据性能系数与异常阈值的关系，构建实验器件的异常值对实验器件做筛选；获取优化后的验证模型，由验证模型对相应的目标器件的运行状态进行测试，由测试数据构建优化系数，依据优化系数为实验器件确定相应的拼缝宽度。通过构建优化模型对器件做整体性筛选，确定出的拼缝宽度可实践性更高，对器件的运行带来的影响尽量缩小。

技术研发人员：杨思川
受保护的技术使用者：北京中科飞鸿科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/25