一种电子元件测试用万用表装置的制作方法

本申请涉及电子元件测试设备，更具体地说，涉及一种电子元件测试用万用表装置。

背景技术：

1、万用表是电子元件测试领域使用广泛的测试仪器，在进行对单独的电子元件进行测试时，一般都是把电子元件放置在桌面上，然后再将万用表的表笔插头插入至万用表上对应的表笔插孔内，再用万用表表笔测试端分别接触电子元件的阴阳引脚，随后，万用表的显示屏上会显示出被测电子元件电路的电学参数数值。

2、当前，万用表在完成对电子元件的测试任务并处于闲置状态时，万用表的表笔插孔暴露于空气中，空气中的灰尘和湿气容易进入万用表表笔插孔内，使得表笔插孔内部积灰或者生锈，进而造成表笔插头与插孔连接处之间的接触不良，进而引发测量误差，影响万用表对于电子元件测试结果的准确性。

3、鉴于此，我们提出一种电子元件测试用万用表装置。

技术实现思路

1、要解决的技术问题：本申请的目的在于提供一种电子元件测试用万用表装置，解决了上述背景技术中所提出的技术问题。

2、技术方案：本申请技术方案提供了一种电子元件测试用万用表装置，包括万用表主体，万用表主体表面于每个表笔插孔位置对应处均设有拦截保护结构；拦截保护结构包括密封连接于万用表主体表面且处于对应表笔插孔上方的罩盖，罩盖顶部设有盖板槽，盖板槽内通过扭簧铰接有翻盖板，翻盖板上连接有把手；罩盖上设有透气的透膜组件，透膜组件包括膜构件和唤醒构件；膜构件包括透气且能阻止环境中灰尘与湿气中的水分进入罩盖内部的防水透气膜，罩盖上贯穿开设有与防水透气膜相适配的膜槽，且防水透气膜固定连接于膜槽的内部，防水透气膜的底部均匀布设有多个能对罩盖内聚集的表笔插孔运行所产生热能进行感应监测处理的热感应单元；唤醒构件，用以在防水透气膜表面黏附有吸水结块的灰尘，导致罩盖内聚集的热能散热受阻，进而使得罩盖内聚集的热能超过热感应单元的感应临界值后，能向电子元件测试人员发出警示信号。

3、作为本申请文件技术方案的一种可选方案，热感应单元包括固定连接于防水透气膜底部的膜底罩壳，膜底罩壳外壁涂覆有一层气凝胶隔热涂料层；膜底罩壳内填充有氮气层，膜底罩壳内还密封滑动连接有气体活塞，且气体活塞处于氮气层的上方，气体活塞的底部连接有底端与膜底罩壳内腔底壁相连接的复位弹簧；气凝胶隔热涂料层侧壁上方固定连通有引气管道，膜底罩壳内还连接有一个限制气体活塞活动行程的限位环；膜底罩壳侧壁壁厚内部设有能将聚集于罩盖内部的热能传导至氮气层处的引热体。

4、作为本申请文件技术方案的一种可选方案，限位环处于引气管道与膜底罩壳连接处的下方。

5、作为本申请文件技术方案的一种可选方案，引热体包括固定连接于膜底罩壳壁厚内部的金属中空导热针；金属中空导热针内腔底壁上连接有内部吸收有水分的吸水材料层。

6、作为本申请文件技术方案的一种可选方案，金属中空导热针的底端穿入膜底罩壳内腔与氮气层接触后穿过膜底罩壳底部，且金属中空导热针底端由膜底罩壳底部伸出。

7、作为本申请文件技术方案的一种可选方案，金属中空导热针顶端穿过防水透气膜并由防水透气膜顶面伸出。

8、作为本申请文件技术方案的一种可选方案，唤醒构件包括环形中空灯座，环形中空灯座内腔之中密封滑动连接有环状塞座，环形中空灯座顶部连接有环状提示灯；环状提示灯底部连接有绝缘底筒，绝缘底筒底端穿过环形中空灯座顶部并伸入至环形中空灯座内腔之中，绝缘底筒内腔之中分别设有上触发端子和下触发端子，且上触发端子与绝缘底筒内腔顶壁相连接，下触发端子处于上触发端子下方，下触发端子底部连接有分别连接有弹性带和推杆；弹性带的底端与绝缘底筒内腔底壁相连接，推杆底端贯穿穿过绝缘底筒底端并与环状塞座顶部相连接；环形中空灯座侧壁上方固定连通有在环状塞座上移时，方便环状塞座将环形中空灯座内腔中的气体挤压排出的排气管。

9、作为本申请文件技术方案的一种可选方案，罩盖顶部开设有与环形中空灯座相适配且环设于膜槽外周的环槽，且环形中空灯座固定连接于该环槽内部；排气管远离环形中空灯座一端贯穿穿过罩盖侧壁并与大气相连通。

10、作为本申请文件技术方案的一种可选方案，引气管道远离其所连接膜底罩壳的一端分别穿入罩盖与环形中空灯座的壁厚并与环形中空灯座内腔底端相连通。

11、有益效果：本申请技术方案中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：1.本装置通过拦截保护结构中透气的透膜组件将环境中的灰尘和湿气中的水分与表笔插孔隔离，使得本装置无论处于闲置或者使用状态时，外界环境中灰尘、湿气中水分杂都难以侵入至表笔插孔内部，这样不仅能有效避免因灰尘和湿气侵入而造成表笔插头与插孔之间的接触不良，进而引发测量误差的情况出现，使得电子元件测试结果的准确性得到保障。

12、2.向上翻转翻盖板，再将万用表表笔插头穿过盖板槽并插入至万用表主体上的表笔插孔内，从而方便测试人员在测试电子元件前将表笔插头快速插入至插孔内部。

13、3.在测试电子元件过程中，表笔插头与插孔之间所产生热能不断扩散至罩盖内，再由透气的防水透气膜将热量散出，使得透膜组件中的膜构件在将外界环境中灰尘、湿气中水分拦截过滤下的同时，还能保障对表笔插孔处的散热性能。

14、4.在测试电子元件过程中，表笔插头与插孔连接处所产生热能不断传递至罩盖内，热能通过透气的防水透气膜发散至环境中的同时，聚集在罩盖内的热能还能通过引热体中的金属中空导热针不断传导至吸水材料层处，吸水材料层内所吸收的水分不断吸收热能后蒸发，蒸发的水蒸气在与金属中空导热针内腔壁接触后遇冷液化，顺着金属中空导热针内腔壁再次流向吸水材料层，并再次被吸水材料层所吸收，从而有利于进一步提高膜构件对于表笔插孔处的散热性能，提升本装置测试的运行稳定性。

15、5.当本装置在长时间使用后，防水透气膜表面所拦截下的灰尘吸水形成硬块粘结在防水透气膜表面并对防水透气膜透气孔道产生堵塞，导致电子元件测试时，表笔插头与插孔连接处所产生热能扩散至罩盖内部后难以通过防水透气膜的透气孔道散失从而聚集在罩盖内部，热量通过金属中空导热针被不断传导至氮气层处，由于防水透气膜透气孔道受堵，当氮气层气压超过感应临界值后，受热体积发生膨胀的氮气层推动气体活塞上移，气体活塞再将膜底罩壳内腔处于气体活塞上部的空气通过引气管道不断挤压注入至唤醒构件的环形中空灯座内部，环形中空灯座内部气压不断增大后推动下触发端子上移与上触发端子接触后触发环状提示灯开启，提示测试人员需要及时将堵塞在防水透气膜透气孔道处的杂质清理掉，保障膜构件在电子元件测试时对于表笔插头与插孔连接处的透气散热性能不受影响，方便测试人员进行故障排查。

技术特征：

1.一种电子元件测试用万用表装置，其特征在于：包括万用表主体（1），所述万用表主体（1）表面于每个表笔插孔位置对应处均设有拦截保护结构；

2.根据权利要求1所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述热感应单元包括固定连接于防水透气膜（202）底部的膜底罩壳（208），膜底罩壳（208）外壁涂覆有一层气凝胶隔热涂料层（215）；

3.根据权利要求2所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述限位环处于引气管道（213）与膜底罩壳（208）连接处的下方。

4.根据权利要求2所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述引热体包括固定连接于膜底罩壳（208）壁厚内部的金属中空导热针（205）；

5.根据权利要求4所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述金属中空导热针（205）的底端穿入膜底罩壳（208）内腔与氮气层（217）接触后穿过膜底罩壳（208）底部，且金属中空导热针（205）底端由膜底罩壳（208）底部伸出。

6.根据权利要求4所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述金属中空导热针（205）顶端穿过防水透气膜（202）并由防水透气膜（202）顶面伸出。

7.根据权利要求2所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述唤醒构件包括环形中空灯座（206），环形中空灯座（206）内腔之中密封滑动连接有环状塞座（207），环形中空灯座（206）顶部连接有环状提示灯（204）；

8.根据权利要求7所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述罩盖（201）顶部开设有与环形中空灯座（206）相适配且环设于膜槽外周的环槽，且环形中空灯座（206）固定连接于该所述环槽内部；

9.根据权利要求8所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述引气管道（213）远离其所连接膜底罩壳（208）的一端分别穿入罩盖（201）与环形中空灯座（206）的壁厚并与环形中空灯座（206）内腔底端相连通。

技术总结
本申请公开了一种电子元件测试用万用表装置，属于电子元件测试设备技术领域，包括万用表主体，万用表主体表面于每个表笔插孔位置对应处均设有拦截保护结构，盖板槽内通过扭簧铰接有翻盖板，翻盖板上连接有把手，罩盖上设有透气的透膜组件，透膜组件包括膜构件和唤醒构件。本电子元件测试用万用表装置通过拦截保护结构中透气的透膜组件将环境中的灰尘和湿气中的水分与表笔插孔隔离，使得本装置无论处于闲置或者使用状态时，外界环境中灰尘、湿气中水分杂都难以侵入至表笔插孔内部，这样不仅能有效避免因灰尘和湿气侵入而造成表笔插头与插孔之间的接触不良，进而引发测量误差的情况出现，使得电子元件测试结果的准确性得到保障。

技术研发人员：王斌,夏雷,杨林杰,路晋博
受保护的技术使用者：黄河科技集团网信产业有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/12