专利名称：医用放射性同位素污染探测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及医用放射性同位素污染的探测装置，特别是涉及γ放射性污染的探测装置。
目前，在医疗单位使用放射性同位素越来越多，因此就存在如何准确探测放射性同位素污染的问题，尤其是γ放射性污染的准确探测问题。
但是，用目前常用的这类装置是不能进行准确探测的。例如使用的NaI(T1)晶体来探测γ辐射，只有当Er≥150Kev时，晶体的发光效率和能量的响应才呈线性关系(见
图1)。用这种晶体测量Er＜150Kev的γ放射性污染或者根本测不出来，或者探测效率极低。但不幸的是，在医用放射性同位素污染探测领域，碰到的放射性同位素的Er常常是低于100Kev，例如用得最多的碘－125，Er＝27Kev。
因此，本发明的任务就在于改进已有的NaI(T1)闪烁体，提高其低能端的探测效率，从而能够准确探测医用放射性同位素的污染。
为了提高低能端的探测效率，在按照本发明的探测装置中使了一种复合晶体，即将有机晶体NaI(T1)晶体合理地组合在一起，二者相互作用的结果，使它们总的探测效率随能量的响应在较宽的范围内趋于一条直线。
现在参照附图详细介绍本发明的实施例，其中图1是NaIT1)闪烁体的γ探测效率(η1)随能量(Er)的响应曲线；图2是有机晶体的γ探测效率(η2)随能量(Er)的响应曲线；图3是本发明的复合晶体的γ探测效率(η3)随能量(Er)的响应曲线；
图4是本发明的探测装置的示意图。
由图1可知，使用NaI(T1)晶体测不出Er＜100Kev的γ射线。由图2可知，有机晶体的低能探测效率较好，甚至于可以低至几个Kev。因此，可以设想将图1和图2的曲线迭加起来就可以得到如图3所示的较宽范围平坦的响应曲线，也就是说，可以将NaI(T1)晶体和有机晶体联合起来使用，二者取长补短，既可得到更为满意的医用γ放射性污染探测的效果。其中的可以有两个有机晶体可以位于NaI(T1)晶体的两测，或者只有一块有机晶体，位于NaI(T1)晶体的一侧。
图4就是本发明的最佳实施例的一般布置示意图，其中标号1－－－铝箔2－－－有机晶体3－－－有机晶体4－－－NaI(T1)晶体5－－－密封物6－－－硅脂铝铂的作用是屏蔽可见光，一般μm薄的铝箔即可不漏光，但不影响甚至几个Kev的γ射线的穿透，几个Kev的γ射线穿过铝箔1射到晶体2，3，4上，在本实施力中，铝箔厚度为8－12μm；NaI(T1)晶体为φ40mm×1mm晶体；有机晶体2为φ55mm×1mm；有机晶体3为φ55×9mm；其中封装物5为丙酮。
使用本发明的探测装置可在5.9Kev～500Kev的能量区间内准确进行测量γ放射性污染。
放射性同位素的能量(Kev)探测效率(η)5.93227398139122383644041240
权利要求1.一种医用放射性同位素污染测量装置，它包括铝箔(1)用于屏蔽可见光，它还包括NaI(T1)晶体(4)，密封物(5)，其特征在于它还包括有晶体(2，3)。
2.一种如权利要求1所述的探测装置，其特征在于，其中所说的有机晶体(2)(3)位于所说NaI(T1)晶体的两侧。
3.一种如权利要求1所述的探测装置，其特征在于，其中所说的有机体(2)(3)位于所说的NaI(T1)晶体的一侧。
4.一种如权利要求1，2或3所术的探测装置，其特征在于，其中所说的NaI(T1)晶体为φ40mm×1mm晶体，所说的有机晶体为φ55mm×1mm和φ55mm×9mm晶体。
专利摘要医用放射性同位素污染探测装置是用于放射性医学中测量放射性同位素污染的一种探测装置。本实用新型包括铝箔，有机晶体，碘化钠晶体，密封物，硅脂构成一种完整的新型探测装置。具有测量低能γ射线和探测效率高，线性好特点。
文档编号G01T1/00GK2035890SQ88213410
公开日1989年4月12日 申请日期1988年9月20日 优先权日1988年9月20日
发明者赵长河 申请人:中国人民解放军海军总医院