专利名称：X-射线衍射仪低温装置的制作方法
技术领域：
本实用新型是一种用于X－射线、光谱等测量物质结构低温相变的装置。
目前所使用的X－射线衍射仪低温装置，结构较为复杂。因此，操作比较费时、费工、费液氮。且样品是通过传导来进行降温的。又因无单色器，又有四层防热辐射铝膜，这样衍射的强度小、背底干扰大、微小峰不易检测。
本实用新型的任务在于提供一种节省调整测量时间、简化操作步骤的X－射线衍射仪低温装置。
X－射线衍射仪低温装置是一个由双层柱状围起的容器构成，双层中间呈密封的真空状态。距底面大约31cm处的一个测面上，有一个放样品的孔(图1，b)，使容器内外相通。在容器的上方有一个可以活动的密封塞(图1，a)。
本实用新型的主要优点在于X－射线衍射仪低温装置制做成本低廉，操作调整极为简单；且省工、省时、省液氮；衍射强度大、背底干扰小。
图1是本实用新型的主视图。
图2是本实用新型的从主视图的背面剖视图。
以下结合
本实用新型的实施过程本实用新型是用于测量物质结构低温相变的，在本装置(图1)的侧面有一个连接容器内外的孔(图1，b)，把所要测的样品放在孔处(图1，b)，用低温胶密封好；然后把本装置固定在X－射线衍射仪的θ轴上，这样可保证样品的满足衍射条件。在容器的内壁上可涂一层汞。在容器内倒入液氮后，马上就能做实验。由于样品的不同，在不同的温度下，其相的组成是不一样的，所以，就可用该装置测定在不同温度下样品的结构相变。
权利要求1.一种X-射线衍射仪低温装置，其特征在于它是由一个双层柱状围起的容器构成。
2.根据权利要求1所述的X－射线衍射仪低温装置，其特征在于其中的容器呈密封的真空状态。
3.根据权利要求1所述的X－射线衍射仪低温装置，其特征在于其中的容器侧面有一个内外相通的孔。
4.根据权利要求1或2所述X－射线衍射仪低温装置，其特征在于容器的上方有一个可以活动的密封塞。
5.根据权利要求3所述的X－射线衍射仪低温装置，其特征在于容器的上方有一个可以活动的密封塞。
专利摘要一种用于X-射线、光谱等测量物质结构低温相变的X-射线衍射仪低温装置。它节省了在测量调整过程的时间、简化了操作步骤；本装置的制作成本低廉、操作调极为简单；且省工、省时、省液氮，衍射强度大、背底干扰小。此装置可以用于国内外生产的各种X-射线衍射仪上。
文档编号G01N23/20GK2045852SQ8920076
公开日1989年10月11日 申请日期1989年1月16日 优先权日1989年1月16日
发明者高忠民 申请人:吉林大学