专利名称:便携式数字电路测试仪的制作方法
本实用新型是一种测试数字电路的电子仪器。
随着电子工业的飞跃发展，数字集成电路日益广泛地应用于各个领域，使用量急剧增长。由于集成电路品种多、外形各异、逻辑功能复杂和接脚毫无规律等原因，使设计和制造一种通用的集成电路测试仪带来了较大的困难。目前，国内外的集成电路测试仪通常采用两种方法，一是比较法，它采取把需测集成电路和标准电路进行比较的方法，例如国营南昌无线电仪器厂生产的NY3122型数字集成电路测试仪；二是计算法，它采取把被测电路输出信号按频带压缩理论压缩成特征值，是近期国内外普遍采用的方法，例如美国IST公司的370A数字集成电路测试仪。由于采取以上方法制造的集成电路测试仪电路结构复杂，成本高，目前只能测试24个接脚以下的集成电路，并且不能用数字显示失效的接脚编号和失效性质(逻辑或电平)，因而不能被普遍采用。
本实用新型的目的是提供一种能测试28接脚以下各种数字电路，且能显示出发生失效的接脚编号，具有测试容量大、成本低、体积小、操作简单的便携式数字电路测试仪。
本实用新型采取以下技术方案实现1.扫描比较电路。为了简化仪器的电路结构，降低成本，并能显示失效性质和失效的接脚编号，本仪器采用对被测电路和标准电路的各个接脚进行同步扫描测试比较。来鉴别被测电路是否失效。在测试中，信号发生器〔1〕发生脉冲信号，通过扫描控制器〔2〕控制电子选择开关〔10〕、〔11〕，对标准电路〔8〕和被测电路〔9〕的各个对应接脚进行同步扫描测试。在确定的状态下，经过对所有接脚的扫描比较测试，CP计数器〔3〕达到了预定数值后，发出一个状态改变信号发给序列、状态发生器〔4〕，CP信号及状态经过电平变换器〔7〕变换成被测电路所需标准电平信号，使标准电路〔8〕和被测电路〔9〕改变测试状态，电子选择开关〔10〕、〔11〕在扫描控制器〔2〕的控制下进行新状态的扫描比较测试。当所有状态都进行扫描测试后，如果被测电路输出电平和逻辑输出与标准相符，则由序列状态发生器〔4〕发出信号，合格显示器〔5〕显示出合格信号，同时信号发生器〔1〕停止发送信号，整个测试结束。在每次扫描测试中，如果被测电路〔9〕的输出逻辑与标准电路〔8〕的输出逻辑不同，由电平变换器〔12〕和电平鉴别器〔13〕输出的信号通过逻辑比较器〔14〕比较后，使失效显示器〔15〕显示出逻辑失效信号；如果被测电路〔9〕的输出电平不符合标准时，电平鉴别器〔13〕发出信号，使失效显示器〔15〕显示出电平失效信号。在失效显示器〔15〕显示出失效信号的同时，使得信号发生器〔1〕停止发出信号，扫描控制器〔2〕停止扫描，扫描显示器〔6〕即显示出失效接脚的编号。
2.测试卡电路。为了有效地解决不同类型、不同品种电路的兼容测试问题，本仪器将各种标准电路装在带有测试条件的电路板接插件上，构成各种测试卡。当测试不同种类的电路时，只要变换测试卡就能实现，既利于自动测试，又为新品种扩展测试带来方便。
3.归一化技术。由于集成电路种类很多，接脚排列毫无规律，各个接脚都有可能是输入、输出，电源或空脚，为了减少人工判别的工作量，本仪器在测试时每一个接脚都看成输出端进行测试，即称为归一化技术。
本实用新型与现有技术相比，具有以下优点1.电路结构简单，成本低；2.测试容量大，便于新品种扩展测试；3.显示直观，不仅能显示电路是否合格，而且能显示电路是逻辑失效还是电平失效，以及显示失效接脚的编号。
4.体积小、重量轻、便于携带、操作简便。
图1是本仪器的电路方框图；图2是电子扫描测试原理示意图。
本实用新型可采取以下方案实施由二输入端的四个与非门和电阻、电容构成环形振荡器作为信号发生器〔1〕。扫描控制器〔2〕由四位二进制同步加法计数器组成，它将来自信号发生器〔1〕的信号转换成8421码控制电子选择开关〔10〕、〔11〕，并通过萤光数码管组成的扫描显示器〔6〕显示出来，同时，扫描控制器〔2〕还输出一个信号给由四位二进制同步加法计数器组成的CP计数器〔3〕，CP计数器〔3〕发出CP脉冲通过电平变换器〔7〕向标准电路〔8〕和被测电路〔9〕输出CP脉冲(对时序电路而言，若组合电路则不必使用)，当CP脉冲到达预定数值时，发出一个状态脉冲给序列状态发生器〔4〕；由二个双四位二进制同步加法计数器组成的序列状态发生器〔4〕——最大可产生216的各种可能下的不同组合测试信号，此信号通过电平变换器〔7〕向标准电路〔8〕和被测电路〔9〕，提供各种测试所需的不同组合标准电平信号，电平变换器〔7〕由开关三极管及可调电压源组成，其作用是把序列状态发生器〔4〕产生的信号转换成被测电路所需要的标准测试电平，由于各类电路的标准测试电平不同，故可以通过选择开关控制可调电压源，获得所需的标准测试电平。
扫描测试技术的实现如图2所示，电子选择开关〔10〕、〔11〕分别用四块八通道模拟转换器4051组成，为了便于显示被测电路〔9〕失效的接脚编号，在扫描控制器〔2〕的控制下，对被测电路〔9〕和标准电路〔8〕的上下两排接脚分两组同时对被测电路上排和下排进行扫描测试比较，由两组逻辑比较器和电平鉴别器控制失效显示器〔15〕。失效显示器〔15〕由四个六反相缓冲变换器分别驱动四个发光二极管，显示被测电路的上、下排接脚的电平失效和逻辑失效。逻辑比较器〔14〕由两组异或门组成，当被测电路与标准电路的逻辑输出相一致时，异或门输出低电平，如果被测电路与标准电路的逻辑输出不一致时，异或门输出高电平，使失效显示器〔15〕中指示上排逻辑失效或下排逻辑失效的发光二极管发光，指示出电路的逻辑失效，同时由数码管显示扫描状态，一旦扫描控制器停止扫描，此时显示器则显示该失效脚的脚号。
为了便于变换测试不同品种的集成电路，标准电路直接安装在带测试条件的测试卡上，只要改换测试卡就能进行不同种类电路的测试。
权利要求
1.一种测试数字电路的便携式数字电路测试仪，由信号发生器[1]，扫描控制器[2]，CP计数器[3]，序列状态发生器[4]，合格显示器[5]，扫描显示器[6]和失效显示器[15]等组成，其特征在于信号发生器[1]发出的信号通过扫描控制器[2]控制电子选择开关[10]、[11]，对标准电路[8]和被测电路[9]的各个接脚进行同步扫描测试比较，电平变换器[12]和电平鉴别器[13]的输出信号经逻辑比较器[14]控制失效显示器[15]进行失效显示；CP计数器[3]到达预定数值时发出状态变化脉冲，序列状态发生器[4]发出的各种组合信号通过电平变换器[7]变换成被测电路所需的各种标准测试信号，并控制合格显示器[5]；扫描显示器[6]由扫描控制器[2]控制显示失效接脚编号。
2.根据权利要求
1中所述的测试仪，其特征在于电子选择开关〔10〕、〔11〕分别由控制标准电路〔8〕和被测电路〔9〕的上、下两排接脚进行同时扫描测试的四块八通道模拟转换器组成。
3.根据权利要求
1中所述的测试仪，其特征在于标准电路安装在带测试条件的接插板上组成测试卡。
专利摘要
本实用新型是一种测试数字电路的电子仪器。本测试仪采用扫描测试比较方法和测试卡技术，使电路结构大为简化，成本大大下降。本测试仪的测试容量大，便于新品种扩展测试。显示直观，操作方便，可以测试28接脚以下的各种集成电路。由于体积小、重量轻，故便于携带。
文档编号G01R31/28GK86205229SQ86205229
公开日1987年8月26日 申请日期1986年7月17日
发明者屠锡余 申请人:屠锡余导出引文BiBTeX, EndNote, RefMan