专利名称：测量移动通讯系统中驻波比的方法
技术领域：
本发明涉及测试移动通讯系统中基地站的基地站测试单元，更具体地说，涉及可以测试基地站射频单元的测量发射天线和接收天线驻波比的方法。
一般说，例如码分多重存取(下文称为CDMA)的移动通讯系统结构有若干基地站，移动站和BSM(基地站管理器)。其基地站与移动站射频连接，因而使每个基地站能与PSTN(公共电话交换网络)连接。为了使基地站与PSTN连接顺利，需要定期地检查和诊断基地站是否产生异常状态或基地站工作是否正常。为了满足这种要求。需要具有监示和诊断基地站异常状态存在/不存在和基地站工作不正常的功能的测试基地站的基地站测试单元。
用于测试基地站的基地站测试单元可以用于基地站的多种测试功能。具体地说，其中在具有外界天线的基地站射频单元出现故障时，上述测试装置用于测试在天线上是否有损坏或在基地站射频单元中是否有损坏。表示基地站射频单元存在/不存在和基地站损坏的系统特征值是电压驻波比(下文称为VSWR)。因此，可以运用测量VSWR测试基地站射频单元。例如，VSWR对应于用电压表示在发射路径中产生的驻波比大小的值，这值可以运用驻波比的最大值与最小值之比求得。
然而，在先有技术中存在测量VSWR的限制，只有当用于测量VSWR的硬件和用于控制硬件的控制器是分开安装时才行。
本发明的目的是提供一种不需要另一测试装置的测试移动通讯系统中基地站射频单元的测量VSWR的方法。
本发明的另一目的是提供一种使用终端测试移动通讯系统基地站的射频第一终端单元的正向特征和反射特征的方法。
本发明的还有另一目的是提供使用终端测量移动通讯系统基地站中发射天线和接收天线VSWR的方法。
为了达到这些和其他目的，本发明使用包含在基地站中的测试终端产生给定的测试信号，在让产生的测试信号通过天线时分别切换正向路径和反射路径，测量正向信号强度和反射信号强度，使用所述测得的信号的强度计算发射天线和接收天线的VSWR。
根据本发明的第一方面，本发明提供测量至少包括一个发射天线的移动通讯系统中基地站发射天线驻波比的一种方法，该方法包括以下步骤(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将产生的测试信号送往发射天线；(b)当测试信号送往发射天线时，测量发射天线的正向信号和反射信号的强度；和(c)求得正向信号强度和反射信号强度之间差值，使用求得的差值计算发射天线的驻波比。
此外，根据本发明的第二方面，本发明运用测量至少包括发射天线和可变衰减器的移动通讯系统中基地站发射天线驻波比的方法可以达到这些目的，该方法包括以下步骤(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将产生的测试信号送往发射天线；(b)当测试信号送往发射天线时，测量发射天线的正向信号和反射信号的强度；(c)调节可变衰减器，使正向信号强度等于反射信号强度；和(d)利用调节后的信号强度，计算发射天线驻波比。
此外，根据本发明的第一方面，本发明提供测量至少包括一个接收天线的移动通讯系统中基地站接收天线驻波比的一种方法，该方法包括以下步骤(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将产生的测试信号送往接收天线；(b)当测试信号送往接收天线时，测量接收天线的正向信号和反射信号的强度；和(c)求得正向信号强度和反射信号强度之间差值，使用求得的差值计算接收天线的驻波比。
此外，根据本发明的第一方面，本发明提供测量至少包括接收天线和可变衰减器的移动通讯系统中基地站接收天线驻波比的方法可以达到这些目的，该方法包括以下步骤(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将产生的测试信号送往发射天线；(b)当测试信号送往接收天线时，测量接收天线的正向信号和反射信号的强度；(c)调节可变衰减器，使正向信号强度等于反射信号强度；和(d)利用调节后的信号强度，计算接收天线驻波比。
通过阅读以下结合附图的详细说明，将能更好地理解本发明，对本发明更完整的评价及其许多优点将会显而易见，附图中相同标号表示相同或类似部件，附图中
图1和2是表示应用本发明测量驻波比方法的CDMA系统基地站结构的方块图；图3是表示测试图1和2所示基地站的基地站测试单元结构的详细方块图；图4是表示运用测试呼叫测量发射天线驻波比过程的流程图；图5是表示运用测试终端测试方式测量发射天线驻波比过程的流程图；图6是表示运用测试呼叫或衰减单元和测试终端测试方式测量发射天线驻波比过程的流程图；图7是表示运用测试呼叫测量接收天线驻波比过程的流程图；图8是表示运用测试终端测试方式测量接收天线驻波比过程的流程图；图9是表示运用测试呼叫或衰减单元和测试终端测试方式测量接收天线驻波比过程的流程图；图10是表示根据本发明的补偿发射输出过程的流程图。
以下结合附图具体地叙述本发明的最佳实施例。
首先，要提一下附图中相同标号表示具有相同功能的相同或等同部件。还有，在以下说明中，为了更透彻理解本发明，提到一些例如包含电路和频率的具体部件的特定细节。然而，本专业的技术人员显然明白本发明可以不用这些特定细节而实施。会冲淡本发明主题的有关已知功能和结构的叙述在以下说明中加以省略。而且，将在下文解释的、考虑本发明功能所定义的用词可能不同于根据芯片设计者或用户的用意或实践所定义的，对于上述用词的定义将要根据全文内容作出。
图1和图2是表示应用本发明的测量驻波比方法的CDMA通讯系统基地站结构的方块图。
参阅图1和2，本发明的基地站包括一个发射终端(TX)100A，和二个分集结构的接收终端(RX1和RX2)100B和100C。即，可以看出，是以适合于安装在全向单元(omni-cell)的基地站作为例子叙述本发明的测量VSWR方法的。然而，要注意本发明的测量VSWR方法当用于将基地站分为α单元，β单元和γ单元的扇面单元时性能是相同的。
在图1和2中，发射终端100A和接收终端100B和100C分别包含发射机(XCVR)110，定向耦合器(D/C)120，和天线(Ant0，Ant1，和Ant2)。发射机110被共同连接到作为控制基地站系统的处理器的BCP(BTS〔基地站发射机子系统〕控制处理器)而受到控制。而且，MAP 310和CCP 320也与BCP 300连接，MAP(维护管理个人计算机)310是用于测试，维护，管理，和操作基地站用的个人计算机，而CCP(呼叫控制处理器)320是用于执行呼叫处理的处理器，其在BSC(基地站控制器)中作为BCP 300的上级处理器。此外，作为本发明特征单元的基地站测试单元BTU 200与BCP 300连接，它执行按照本发明测量VSWR的操作。
BTU 200至少有发射路径/接收路径开关单元(射频开关单元RF S/W)210，测试终端(TM终端移动站)230，控制电路单元(BCIUBTU控制处理器)250，和发射功率检测单元(TPDUTX功率检测单元)270。在图1所示的情况下，BTU 200仅包含上面所述单元。然而，在图2中，BTU 200除了上述单元外还包括衰减单元(ATTU)290。这意味一方面本发明的测量VSWR方法可以使用衰减单元290进行，而另一方面该方法也可以不使用衰减单元290进行。上述部件的详细说明将在图3的说明中给出。还未说明的BSM(基地管理器)执行基地站的测试，维护和管理，并且可以以工作站计算机的形式来实施。
图3是表示测试图1和2所示基地站的基地站测试单元结构的详细方块图，该结构在BTU 220中包括衰减单元290。应当指出，基地站测试单元在韩国专利申请No.94-30254《蜂窝式基地站测试装置》中公开，并已在1994年11月17日由与本发明的同一受让人Samsung电子公司提交。
参阅图3，发射路径开关单元210A响应来自BCIU 250的发射路径开关控制信号的输入进行切换，选择发射定向耦合器(TXDC)的正向组合终端(FWD)或反射组合终端(RFL)的信号，并向内部BTU 200的方向发送所选择信号。接收路径开关单元210B和210C响应第一和第二接收路径开关控制信号进行切换，并将接收的信号向定向耦合器RXDC1和2发送。此时，在基地站安装在扇面单元的情况下，每个路径开关单元具有与每个扇面(α扇面，β扇面和γ扇面)对应的路径开关结构。即，当基地站安装在扇面单元时，发射路径开关单元210A的每个开关(RSWA)211至213分别连接在α扇面，β扇面和γ扇面的定向耦合器和组合器221之间。与此不同，第一接收路径开关单元210B的每个开关(RSWB)214至216分别连接在分路器222和α扇面，β扇面和γ扇面的定向耦合器之间，而第二接收路径开关单元210C的每个开关(RSWC)217至219分别连接在分路器223和α扇面，β扇面和γ扇面的定向耦合器之间。分路器222和分路器223可以用4通道分路器代替。
衰减单元290包括可变衰减器291，用于响应来自BCIU250发射衰减控制信号而衰减从发射路径开关单元210A接收到的基地站射频单元发射信号的增益，并输出经衰减的增益；固定衰减器293，用于按预定的增益固定地衰减所接收的射频信号RF的增益，输出经衰减的增益，并使射频信号的电平连接方便；可变衰减器294，用于响应来自BCIU 250的接收衰减控制信号而衰减固定衰减器293的输出，并且输出经衰减的输出信号；双工器292，用于通过连接在可变衰减器291，固定衰减器293，和测试终端230中间而把发射路径的射频信号和接收路径的射频信号分离，并将分离的信号发送到测试终端230；以及分路器295，用于将从可变衰减器294的输出端输出的信号分路送到第一和第二接收路径开关单元210B和210C，输出经分路的信号。上述可变衰减器291和294有总共60dB衰减范围，最大步长1dB，而所述分路器可以使用2通道分路器。
控制电路单元(BCIUBTU控制处理器)250作为控制BTU200总体运行的部件，输出发射路径开关控制信号，第一和第二接收路径开关控制信号，发射/接收衰减控制信号和测试控制信号。所输出的信号加到发射路径开关单元210A，接收路径开关单元220B和220C，可变衰减器291和294，和测试终端230，因此测试射频路径类似于真实传播环境结构。而且，BCIU 250分析输入的数据并且向上级处理器(BCP)300输出测试结果数据。
测试终端(TM)230响应来自BCIU 250的测试控制信号输出测试呼叫，并输出与接收信号对应的数据至BCIU 250。测试终端230除执行本发明上述功能以外，还执行测试，诊断和监示基地站的功能。通常，便携式无线电话机(例如，Samsung制造的SCH-100手提式电话机)用作测试终端。
图4和10是表示通过将基地站测试单元BTU 200连接到具有如图1至3所示结构的基地站以便测量VSWR方法的流程图。本发明测量VSWR方法从大方面分别为测量发射天线VSWR的方法(如图4至6所示)和测量接收天线VSWR方法(如图7至9所示)。同时，每个方法可以按图1或2的结构进行。换言之，测量发射天线和接收天线的VSWR的方法又将分为使用衰减单元290和不使用衰减单元290加以说明。此外，不使用衰减单元290意指运用固定校准的VSWR测量发射天线和接收天线的VSWR，而使用衰减单元290意指运用可变的VSWR值测量发射天线和接收天线的VSWR。本发明在测量VSWR时使用包含在基地站中的测试终端(TM)230，测量终端230可以用具有独立产生测试信号能力的测试终端或不具有独立产生测试信号能力的测试终端代替。当使用不具有独立产生测试信号能力的测试终端测试VSWR时，测试终端230接收来自外部的给定测试信号的输入，产生测量VSWR的测量呼叫。对比之下，当使用具有独立产生测试信号能力的测试终端测试VSWR时，测试终端230响应来自外部的请求测量VSWR的输入信号而改变工作方式，进入测试方式并产生测试信号。
以下首先参考图4至6说明测量发射天线VSWR的方法。
图4是表示使用测试呼叫测量发射天线驻波比的过程的流程图，它是由图1所示的结构来执行的。即，图4所示流程图是通过测试终端230，而不使用衰减单元290用固定RSSI值测量发射天线VSWR的情况。
在图4步骤401，BCP 300控制基地站测试单元(BTU)200的BCIU250，使得能够产生用于选择给定射频(RF)信号的发射路径开关控制信号，这样，把所产生的发射路径开关控制信号输出到射频开关单元(RF S/W)201A的开关单元211至213中的一个。从而响应所产生发射路径开关控制信号而选择了用于测量的扇面的反射路径。一旦如下所述选好发射路径，BCP 300控制测试终端(TM)230，在步骤402产生具有对应频率的测试呼叫。此后，BCP 300在步骤403使用测试终端230测量RSSI(接收信号强度指示)。由此，检测发射天线反射路径的RSSI。
在步骤404，BCP 300控制BCIU 250和产生发射路径开关控制信号，使得可以借助于所产生的发射路径开关控制信号而选择用于测量的扇面的正向路径。当如上所述选好发射路径时，在步骤405 BCP300使用测试单元230检测发射天线正向路径的RSSI(正向RSSI)。
在步骤406，在如上所述检测反射路径和正向路径的RSSI以后，BCP 300得到在上述步骤403和405产生的两个RSSI的差值(正向RSSI-反射RSSI)。在此情况下，所得到的值对应于回程损耗。在步骤407，BCP 300按照下列公式1的关系，运用上述所得到的回程损耗计算VSWR。在步骤408，BCP 300在获得VSWR以后通过解除测试呼叫而结束获得发射天线VSWR的操作。
〔公式1〕回程损耗＝200 Log |Γ|Γ=VSWR-1VSWR+1]]>图5是表示使用测试终端的测试方式测量发射天线驻波比过程的流程图，它是由图1所示的结构来执行的。即，图5所示流程图是通过测试终端230，而不使用衰减单元290用固定频率值测量发射天线VSWR的情况。此处，测试终端230具有一旦设置为正常方式时产生测试呼叫的能力。
在图5步骤501，BCP 300控制基地站测试单元(BTU)200的BCIU250，使得能够产生用于选择给定射频(RF)信号的发射路径开关控制信号，这样，把所产生的发射路径开关控制信号输出到射频开关单元(RF S/W)201A的开关单元211至213中的一个。从而响应所产生的发射路径开关控制信号而选择了用于测量的扇面的反射路径。一旦如下所述选好发射路径，BCP 300控制测试终端(TM)230变化到测试方式，在步骤502把待调谐的频率调谐到测试频率。此后，BCP 300在步骤503使用测试终端230测量RSSI(接收信号强度指示)。由此，检测发射天线反射路径的RSSI。
在步骤504，BCP 300控制BCIU 250和产生发射路径开关控制信号，使得可以借助于所产生的发射路径开关控制信号而选择用于测量的扇面的正向路径。当如上所述选好发射路径时，在步骤505 BCP300使用测试单元230检测发射天线正向路径的RSSI(正向RSSI)。
在步骤506，在如上所述检测反射路径和正向路径的RSSI以后，BCP 300得到在上述步骤503和505产生的两个RSSI的差值(正向RSSI-反射RSSI)。在此情况下，所得到的值对应于回程损耗。在步骤507，BCP 300按照下列公式1的关系，运用上述所得到的回程损耗计算VSWR。在步骤508，BCP 300在获得VSWR以后通过解除测试呼叫而结束获得发射天线VSWR的操作。
图6是表示使用测试呼叫或衰减单元和测试终端的测试方式来测量发射天线驻波比的过程的流程图，它是由图2中所描绘的结构来执行的。即，图6所示流程图是通过测试终端230运用非固定频率值测量发射天线VSWR，同时由衰减单元290决定测试单元230频率值的情况。
在图6步骤601，BCP 300控制基地站测试单元(BTU)200的BCIU 250，使得能够产生用于选择给定射频(RF)信号的发射路径开关控制信号，这样，把所产生的发射路径开关控制信号输出到射频开关单元(RF S/W)201A的开关单元211至213中的一个。从而响应所产生的发射路径开关控制信号而选择了用于测量的扇面的反射路径。一旦如下所述选好发射路径，BCP 300把测试终端(TM)230变化到测试方式，在步骤602把待调谐的频率调谐到测试频率(或产生具有对应频率的测试呼叫)和将衰减单元290的可变衰减器291衰减值设置为“0”。此后，在步骤603，BCP 300使用测试终端230测量RSSI(接收信号强度指示)。由此，检测发射天线反射路径的RSSI。
在步骤604，BCP 300控制BCIU 250和产生发射路径开关控制信号，使得可以借助于所产生的发射路径开关控制信号而选择用于测量的扇面的正向路径。当如上所述选好发射路径时，在步骤605 BCP300使用测试单元230检测发射天线正向路径的RSSI(正向RSSI)。
在步骤606，在如上所述检测反射路径和正向路径的RSSI以后，BCP 300控制衰减单元290的可变衰减器291，使得在上述步骤603和605产生的两个RSSI相互相等。即，BCP 300产生可变衰减控制信号，把两个RSSI的差值(正向RSSI-反射RSSI)调节到零。在此情况下，所调节的值对应于回程损耗。在步骤607，BCP 300按照公式1的关系，运用上述所得到的回程损耗计算VSWR。在步骤608，BCP 300在获得VSWR以后通过解除测试方式(或测试呼叫)而结束获得VSWR的操作。
下面，将参阅图7至9说明测量接收天线VSWR的方法。
图7是表示使用测试呼叫测量接收天线驻波比的过程的流程图，它是由图1所示的结构来执行的。即，图7所示流程图是通过收发机(XCVR)110，而不使用衰减单元290用固定RSSI值测量接收天线VSWR的情况。
在图7步骤701，BCP 300控制基地站测试单元(BTU)200的BCIU 250，使得能够产生用于选择给定射频(RF)信号的接收路径开关控制信号，这样，把所产生的接收路径开关控制信号输出到射频开关单元(RF S/W)201B和201C的开关单元214至219中的一个。从而响应所产生的接收路径开关控制信号而选择了用于测量的扇面的反射路径。一旦如下所述选好发射路径，BCP 300停止测试终端(230)的闭环电源控制，控制测试终端(TM)300，在步骤702产生具有对应频率的测试呼叫。此后，BCP 300在步骤703使用收发机(XCVR)110测量RSSI(接收信号强度指示)。由此，检测接收天线反射路径的RSSI。
在步骤704，BCP 300控制BCIU 250和产生接收路径开关控制信号，使得可以借助于所产生的接收路径开关控制信号而选择用于测量的扇面的正向路径。当如上所述选好发射路径时，在步骤705 BCP300使用XCVR 110检测接收天线正向路径的RSSI(正向RSSI)。
在步骤706，在如上所述检测反射路径和正向路径的RSSI以后，BCP 300得到在上述步骤703和705产生的两个RSSI的差值(正向RSSI-反射RSSI)。在此情况下，所得到的值对应于回程损耗。在步骤707，BCP 300按照公式1的关系，运用上述所得到的回程损耗计算VSWR。在步骤708，BCP 300在获得VSWR以后通过解除测试呼叫而结束获得接收天线VSWR的操作，并启用测试终端230的闭环电源控制功能。
图8是表示使用测试终端的测试方式测量接收天线驻波比过程的流程图，它是由图1所示的结构来执行的。即，图8所示流程图是通过收发机(XCVR)110、而不使用衰减单元290用固定RSSI值测量接收天线VSWR的情况。
在图8步骤801，BCP 300控制基地站测试单元(BTU)200的BCIU 250，使得能够产生用于选择给定射频(RF)信号的接收路径开关控制信号，这样，把所产生的接收路径开关控制信号输出到射频开关单元(RF S/W)201B和201C的开关单元214至219中的一个。从而响应所产生的接收路径开关控制信号而选择了用于测量的扇面的反射路径。一旦如下所述选好发射路径，在步骤802 BCP 300将测试终端(TM)230设置为测试方式，以便产生测试终端230的给定输出，并且在步骤803使用XVCR 110测量RSSI值。由此，检测接收天线反射路径的RSSI。
在步骤804，BCP 300控制BCIU 250和产生接收路径开关控制信号，使得可以借助于所产生的接收路径开关控制信号而选择用于测量的扇面的正向路径。当如上所述选好发射路径时，在步骤805BCP 300使用XCVR 110检测接收天线正向路径的RSSI(正向RSSI)。
在步骤806，在如上所述检测反射路径和正向路径的RSSI以后，BCP 300得到在上述步骤803和805产生的两个RSSI的差值(正向RSSI-反射RSSI)。在此情况下，所得到的值对应于回程损耗。在步骤807，BCP 300按照公式1的关系，运用上述所得到的回程损耗计算VSWR。在步骤808，BCP 300在获得VSWR以后通过解除测试方式而结束获得接收天线VSWR的操作。
图9是表示使用测试呼叫或衰减单元和测试终端的测试方式来测量接收天线驻波比过程的流程图，它是由图2中所描绘的结构来执行的。即，图9所示流程图是通过收发机(XCVR)110运用非固定RSSI值测量接收天线VSWR，同时由衰减单元290决定收发机110的RSSI值的情况。
在图9步骤901，BCP 300控制基地站测试单元(BTU)200的BCIU 250，使得能够产生用于选择给定射频(RF)信号的接收路径开关控制信号，这样，把所产生的接收路径开关控制信号输出到射频开关单元(RF S/W)201B和201C的开关单元214至219中的一个。从而响应所产生的接收路径开关控制信号而选择了用于测量的扇面的反射路径。一旦如下所述选好发射路径，在步骤902，BCP 300将测试终端(TM)230设置为测试方式(或产生测试呼叫)，从而产生测试终端230的给定输出，并且在步骤903使用XVCR 100测量RSSI值。由此，检测接收天线反射路径的RSSI(反射RSSI)。
在步骤904，BCP 300控制BCIU 250和产生接收路径开关控制信号，使得可以借助于所产生的接收路径开关控制信号而选择用于测量的扇面的正向路径。当如上所述选好发射路径时，在步骤905BCP 300使用XCVR 110检测接收天线正向路径的RSSI(正向RSSI)。
在步骤906，在如上所述检测反射路径和正向路径的RSSI以后，BCP 300控制衰减单元290的可变衰减器291，使得在上述步骤903和905产生的两个RSSI相互相等。即，BCP 300产生可变衰减控制信号，把两个RSSI的差值(正向RSSI-反射RSSI)调节到零。在此情况下，所调节的值对应于回程损耗。在步骤907，BCP 300按照公式1的关系，运用上述所得到的回程损耗计算VSWR。在步骤908，BCP 300在获得VSWR以后通过解除测试方式(或测试呼叫)而结束获得VSWR的操作。
图10是表示补偿根据本发明发射输出的过程的流程图。
在图10的步骤1001，BCP 300控制BTU 200和通过用于选择射频信号的射频开关单元(RF S/W)210选择用于测量的扇面的正向路径。在步骤1002，BCP 300检查是否存在建立在所选择的扇面的频率的呼叫，并且当不存在建立在所选择的扇面的频率的呼叫时，使用BTU 200的TPDU 270调谐至基地站的发射频率。此后，BCP 300在步骤1003使用BTU 200的TPDU 270，调谐至基地站的发射频率，并且在步骤1004测量基地站发射输出。在步骤1005，当存在建立在所选择扇面的频率的呼叫时，BCP 300不补偿发射输出。另外，当不存在建立在所选择扇面的频率的呼叫时，BCP 300开始补偿发射输出。在步骤1006，BCP 300计算现行基地站发射输出，将计算值与测量的发射输出值比较，以比较的差值补偿发射输出。
由上述可知，在使用包含在基地站中的测试终端产生测试信号以后，即使没有另一种测试单元，通过测量反射信号的RSSI和正向信号的RSSI，本发明也可以获得发射天线和接收天线的VSWR。运用上述方法获得的VSWR，其优点在于可以准确地监示和诊断基地站异常状态存在/不存在和基地站的损坏情况。
尽管已经举例说明和描述了本发明的最佳实施例，但是，显然，本专业的技术人员可以作出各种变化和修改，雷同方案可以替代本发明的各部分，但并不偏离本发明真实范围。此外，可以作出许多修改，适用本发明列举的特定情况，而并不偏离本发明的中心范围。因此，我们的意图是本发明并不限于作为实现本发明的最好方式而公开的特定实施例，本发明包括属于所附的专利要求书范围内的所有实施例。
权利要求
1.测量至少包括一个发射天线的移动通讯系统中基地站发射天线驻波比的一种方法，其特征在于包括以下步骤(a)使用包含在所述基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将所述产生的测试信号发送到所述发射天线；(b)当把测试信号发送到所述发射天线时，测量所述发射天线的正向信号和反射信号的强度；和(c)求得所述正向信号强度和所述反射信号强度之间的差值，使用所述求得的差值计算所述发射天线的驻波比。
2.根据权利要求1的方法，其特征在于在所述步骤(a)中所述测试终端没有产生所述测试信号的能力，所述测试终端响应测量所述发射天线驻波比的要求而从外部输入给定的测试呼叫，产生输入的呼叫作为所述测试信号，最后将所述产生的测试信号发送到所述发射天线。
3.根据权利要求1的方法，其特征在于在所述步骤(a)中所述测试终端有产生所述测试信号的能力，所述测试终端响应测量所述发射天线驻波比的要求而将方式变换为测试方式，产生所述测试信号，最后将所述产生的测试信号发送到所述发射天线。
4.测量至少包括所述发射天线和可变衰减器的移动通讯系统中基地站发射天线驻波比的一种方法，其特征在于包括以下步骤(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将产生的测试信号送往发射天线；(b)当测试信号送往发射天线时，测量发射天线的正向信号和反射信号的强度；(c)调节可变衰减器，使正向信号强度等于反射信号强度；和(d)利用调节后的信号强度，计算发射天线驻波比。
5.根据权利要求4的方法，其特征在于在所述步骤(a)中所述测试终端没有产生所述测试信号的能力，所述测试终端响应测量所述发射天线驻波比的要求而从外部输入给定的测试呼叫，产生输入的呼叫作为所述测试信号，最后将所述产生的测试信号发送到所述发射天线。
6.根据权利要求4的方法，其特征在于在所述步骤(a)中所述测试终端有产生所述测试信号的能力，所述测试终端响应测量所述发射天线驻波比的要求而将方式变换为测试方式，产生所述测试信号，最后将所述产生的测试信号发送到所述发射天线。
7.测量至少包括所述接收天线和收发机的移动通讯系统中基地站接收天线驻波比的一种方法，其特征在于包括以下步骤(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将产生的测试信号发送到所述接收天线；(b)当把所述测试信号发送到所述接收天线时，测量所述接收天线的正向信号和反射信号的强度；和(c)求得正向信号强度和反射信号强度之间差值，使用求得的差值计算发射天线的驻波比。
8.根据权利要求7的方法，其特征在于在所述步骤(a)中所述测试终端没有产生所述测试信号的能力，所述测试终端响应测量所述接收天线驻波比的要求而从外部输入给定的测试呼叫，产生输入的呼叫作为所述测试信号，最后将所述产生的测试信号发送到所述接收天线。
9.根据权利要求8的方法，其特征在于当测量所述接收天线的驻波比时，停止所述测试终端的闭环电源控制功能。
10.根据权利要求7的方法，其特征在于在所述步骤(a)中所述测试终端有产生所述测试信号的能力，所述测试终端响应测量所述接收天线驻波比的要求而将方式变换为测试方式，产生所述测试信号，最后将所述产生的测试信号发送到所述接收天线。
11.根据权利要求10的方法，其特征在于当测量所述接收天线驻波比时，所述测试终端产生和发送具有给定功率强度的测试信号。
12.测量至少包括所述接收天线、收发机和可变衰减器的移动通讯系统中基地站接收天线驻波比的一种方法，其特征在于包括以下步骤(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试用的信号，并将产生的测试信号送往接收天线；(b)当把测试信号发送到所述接收天线时，测量所述接收天线的正向信号和反射信号的强度；(c)调节可变衰减器，使所述正向信号强度等于反射信号强度；和(d)利用调节后的信号的强度，计算所述接收天线的驻波比。
13.根据权利要求12的方法，其特征在于在所述步骤(a)中所述测试终端没有产生所述测试信号的能力，所述测试终端响应测量所述接收天线驻波比的要求而从外部输入给定的测试呼叫，产生输入的呼叫作为所述测试信号，最后将所述产生的测试信号发送到所述发射天线。
14.根据权利要求13的方法，其特征在于当测量所述接收天线的驻波比时，停止所述测试终端的闭环电源控制功能。
15.根据权利要求12的方法，其特征在于在所述步骤(a)中所述测试终端有产生所述测试信号的能力，所述测试终端响应测量所述接收天线驻波比的要求将方式变换为测试方式，产生所述测试信号，最后将所述产生的测试信号发送到所述接收天线。
16.根据权利要求15的方法，其特征在于当测量所述接收到线的驻波比时，所述测试终端产生和发送具有给定功率强度的测试信号。
全文摘要
一种测量VSWR而不使用另外的测试装置从而测试移动通讯系统基地站中射频单元的方法。测量至少包括一个发射天线的移动通讯系统基地站中发射天线驻波比的方法包括以下步骤:(a)使用包含在基地站中的给定测试终端产生测试信号,并将产生的测试信号发送到发射天线;(b)当测试信号送往发射天线时,测量发射天线的正向信号和反射信号的强度;(c)求得正向信号强度和反射信号强度之间的差值,运用求得的差值计算发射天线的驻波比。
文档编号G01R29/10GK1195260SQ9810387
公开日1998年10月7日 申请日期1998年2月10日 优先权日1997年3月31日
发明者高光日, 金完洙, 朴珍洙 申请人:三星电子株式会社