。此外，必须考虑正被测试的容器的尺寸和形状，特别是在X射线源7 (S卩，其在平面11之下的距离)和检测器4的特定定位中。
[0035]图2示意性示出根据本发明的系统的平面顶视图。多个容器I沿着运输路径10行进。这个运输由包括入口部分2a、沿着绕着轴3的圆的弧的测试部分2b和出口部分2c的运输装置实现。入口部分2a限定运输入口路径，测试部分2b限定运输测试路径，以及出口部分2c限定运输出口路径。虽然入口部分2a和出口部分2c已被示为线性传送机，在方便时，任何已知的方便布置(例如弓形的、旋转的或蜗杆传动的)是可能的。测试部分2b可通过任何方便的已知手段(例如星形齿轮)来运输容器，然而，下面在图3的上下文中更详细地讨论好的实施例。
[0036]当系统正在操作时，X射线源7被设置在由测试部分2b上的容器的底部的通过限定的，运输测试路径之下，即平面11 (参见图P)之下的轴3上。X射线源7布置成在单个不间断的弧中以被考虑为平行于上面提到的平面11的至少180°测量的弧角α发射X射线，弧角α在所示实施例中是大约300°。为了实现此，X射线源可以是被提供屏障的全向X射线源，或它可以是定向α光束X射线源。可提供例如包括铅薄片或混凝土块或类似的X射线吸收材料的辐射屏蔽装置(未示出)以防止X射线从该系统逸出。
[0037]多个成像X射线检测器4a_4f (共同地被引用为4)被设置在轴3周围，并布置成使得从X射线源7接收X射线辐射。虽然在这里示出六个检测器，但是可使用任何方便的数目。这些检测器每个具有面向X射线源7布置的感测表面4s (参见图1)，并可具有任何已知的类型，例如直接半导体检测器(直接对X射线辐射敏感)、基于闪烁板的平板检测器和半导体检测器(闪烁器将X射线辐射转换成可见光，且然后例如电荷耦合设备检测器之类的常规半导体检测器检测这个可见光)或任何其它已知类型的成像X射线检测器。此外，每个检测器4a-4f可由在方便时布置的多个单独的检测器组成。成像X射线检测器4a-4f的输出4\-4?.。连接到处理单元5的输入5 i。输入51可表示多个单独的平行输入，每个成像X射线检测器4a-4f —个输入，或可以是所有成像X射线检测器4a-4f所共有的单个多重输入。
[0038]处理单元5分析从成像X射线检测器4a_4f获取的图像数据以识别在容器I中或在容器I的内含物中的瑕疵。所需的图像处理是技术人员已知的。当处理单元5基于分析图像数据检测到瑕疵时，它基于由运输装置控制器6提供的、可与传送机速度、容器计数等有关的信息将这个结果分配给相关的容器，并在其输出6。处由运输装置控制器6输出，并在输入5」处输入到处理单元5。例如起源于适当的传感器的诸如速度信息或容器计数信息的信息在6i处被输入到运输装置控制器6。处理单元5和运输装置控制器6可在同一单元中实施，和/或传感器信息可直接地而不是经由运输装置控制器6被输入到处理单元5中。
[0039]一旦结果已被分配给具有瑕疵的容器，则处理单元5就在5。处输出结果并在其输入民处将它输入到拒绝机构R中，以便在正确的时刻启动拒绝机构R来拒绝有瑕疵的容器。
[0040]图3示意性示出在图2的线A-A上的截面。在这个图中，限定运输测试路径的运输装置的该部分由下运输装置8a和上运输装置Sb构成。这些装置中的每个包括在轴3周围的圆形路径上可移动的、可选地绕着其自己的轴Iax可旋转的多个杆9a、9b。至少下杆9a沿着其自己的轴，S卩，在图3上向上和向下是可移动的(d)。杆9a、9b可在方便时由凸轮、电动机、液压系统或气动装置的任何组合控制。在每个杆9a和/或9b的自由端处的是用于酌情地分别支撑每个容器的顶部或底部的支撑10a、10b。在所示的实施例中，支撑10a、1b由具有高摩擦系数的软材料(例如天然橡胶、硅橡胶或类似物)的垫制成，以便轻柔地夹持容器I。因此，当在如图2中所示的完整系统的上下文中观看时，例如下运输装置8a的下杆9a可延伸以将容器I夹持在下支撑1a和上支撑1b之间，并由此从入口部分2a收集容器I。酌情地执行杆9a、9b的相对的移动以将容器I存放在出口部分2c上。上杆9b在方便时可以是可延伸的，或可以具有固定的长度。替代地，上杆9b可以是可延伸的，并且下杆9a是固定的。
[0041]在图3a_3c中示出用于支撑容器I的其它替代的实施例。
[0042]在图3a中，可省略下运输装置8a，并且上运输装置Sb的杆9b被提供包括容器从其悬挂的夹具的支撑10b，以便只在其上末端处保持每个容器。替代地，夹具1b可以是吸舟悲晉
目.0
[0043]在图3b中，上运输装置8b被省略，且下运输装置由在杆9a的自由端上的杯型容器保持器1a组成。作为替代，这个杯形容器保持器可包括夹持或夹紧装置。
[0044]在图3c中，下支撑1a由星形齿轮1d和对应的定子1c组成，对应的定子1c包括圆周边缘10e，星形齿轮布置成绕着轴3旋转，且容器I被容纳在星形齿轮1d的齿之间的空隙中。
[0045]作为另一替代，可组合上面提到的实施例，例如下支撑1a可由垫构成，且上支撑1b可由吸盘或夹具构成，或杯型下支撑1a可与吸盘、夹具或垫型上支撑1b成对。
[0046]如上面讨论的，X射线源7被设置在中心轴3上和由容器I的底部采取的路径所限定的平面11之下。成像X射线检测器4a至4f (图2)以及4b、4f (图3)位于平面11之上。根据图3，线12b和12f分别与成像X射线检测器4b和4f的感测表面交叉，并且也与运输路径和X射线源交叉。在所示实施例中，这些线12b和12f分别垂直于成像X射线检测器4b到4f的感测表面，然而这并不需要是该情况。在其之上发射X射线辐射的垂直平面(即，包括轴3)中的弧角Θ可由屏障或类似物限制。
[0047]如在图4上更清楚地示出的，所示几何结构允许容器I的底角c内部被X射线研究，而没有由例如运输装置的下支撑1a引起的干扰。在图4中，容器I已被示为拥有凹底部，且在底角c内部中外物可能被发现，因此它是需要被研究的容器I的最重要部分。为此，下支撑1a在不多于容器的底部的面积的50%上延伸，使容器的底部的圆周自由地由X射线研究而没有潜在的干扰以及因此的由于下支撑1a引起的图像质量的损失。
[0048]现在将参考图2和3详述如所述的系统的操作的方法。
[0049]待测试的容器I沿着运输装置的入口部分2a被引入。当它们到达入口部分2a的末端时，它们由运输装置8获得并进入测试部分2b。容器I然后进一步沿着在成像X射线检测器4a-4f和X射线辐射源7之间的测试部分2b被运输。这可根据下面方案之一来实施:
a.容器I以实质上恒定的速度在测试部分2b周围被运输；
b.容器I以实质上恒定的速度在测试部分2b周围被运输,并同时绕着其自己的轴以实质上恒定的角速度旋转；
c.容器I逐步在测试部分2b周围被运输，并且每步导致容器被呈送到相应的成像X射线检测器4a_4f ；
d.容器I逐步在测试部分2b周围被运输，并且每步导致容器被呈送到相应的成像X射线检测器4a-4f ;并且每个容器在被呈送到每个成像X射线检测器之间经历绕着其自己的轴的逐步角旋转；
e.容器I以与成像X射线检测器4a-4f的数目相等的数目的批次被带到测试部分