磁超声检测信号中的磁导率、电导率、表面状态变化引起的信号衰减，当量补偿修正实际检测时的超声缺陷回波信号幅值，提高检测准确度，所述方法有标定和实测两个过程，
所述标定过程为，
a.制作对比试样，所述对比试样与被检金属工件的材质、形状完全相同；
b.将电磁超声检测探头置于磁化后的对比试样表面上的一个检测点，将该检测点设定为参考检测点，电磁超声检测仪采用非等幅系列脉冲激励信号T激励电磁超声检测探头，所述非等幅系列脉冲激励信号T是由多个不同幅度的脉冲激励信号组成；电磁超声检测探头在对比试样内激励产生相应的非等幅系列超声底波信号R，所述非等幅系列超声底波信号R是由多个不同幅度的超声底波信号组成；所述非等幅系列超声底波信号R由电磁超声检测探头采集并传输至电磁超声检测仪，电磁超声检测仪记录非等幅系列超声底波信号R ；
C.以非等幅系列脉冲激励信号T的幅值为横坐标，以非等幅系列超声底波信号R的幅值为纵坐标，制作该检测点的激励-底波曲线图1 ;
d.将电磁超声检测探头依次置于对比试样表面上的其它检测点，重复步骤b、步骤C，制作出每一个检测点的激励-底波曲线图；
e.对比分析对比试样上的所有检测点的激励-底波曲线图，当检测点与参考检测点的磁导率、电导率、表面状态相同时，相同的非等幅系列脉冲激励信号T将产生相同的非等幅系列超声底波信号R，该检测点的激励-底波曲线与参考检测点的激励-底波曲线i吻合；当检测点与参考检测点的磁导率、电导率、表面状态不同时，由于磁导率、电导率、表面状态不同引起的信号衰减，相同的非等幅系列脉冲激励信号T将产生不同的非等幅系列超声底波信号R，该检测点的激励-底波曲线ii与参考检测点的激励-底波曲线i相对出现偏离；由此，得到磁导率、电导率、表面状态不均匀的对比试样不同检测点的超声底波信号幅值相对变化规律；记录对比试样的每一个检测点相对于参考检测点的激励-底波曲线偏离值AL，所述偏离值AL即为磁导率、电导率、表面状态变化引起的信号衰减值；
所述实测过程为，
f.将电磁超声检测探头置于磁化后的被检金属工件表面上的一个检测点，电磁超声检测仪采用一个选定幅度的脉冲激励信号激励电磁超声检测探头，电磁超声检测探头在被检金属工件内激励产生超声信号，当被检金属工件中有缺陷时，将产生超声缺陷回波信号K，此时的超声缺陷回波信号K为磁导率、电导率、表面状态变化引起信号衰减后的超声缺陷回波信号K;电磁超声检测仪采用标定过程中得到的该检测点相对于参考检测点的激励-底波曲线偏离值AL对超声缺陷回波信号K进行当量补偿修正，得到超声缺陷回波修正信号K'。
[0014]上述实施例仅用来进一步说明本发明的一种提高电磁超声检测精度的方法，但本发明并不局限于实施例，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均落入本发明技术方案的保护范围内。
【主权项】
1.一种提高电磁超声检测精度的方法，其特征在于:采用非等幅系列脉冲激励标定方法，得到电磁超声检测中磁导率、电导率、表面不均匀的金属工件的超声底波信号幅值相对变化规律，以此来抑制电磁超声检测信号中的磁导率、电导率、表面状态变化引起的信号衰减，当量补偿修正实际检测时的超声缺陷回波信号幅值，提高检测准确度，所述方法有标定和实测两个过程， 所述标定过程为， a.制作对比试样，所述对比试样与被检金属工件的材质、形状完全相同； b.将电磁超声检测探头置于磁化后的对比试样表面上的一个检测点，将该检测点设定为参考检测点，电磁超声检测仪采用非等幅系列脉冲激励信号激励电磁超声检测探头，所述非等幅系列脉冲激励信号是由多个不同幅度的脉冲激励信号组成；电磁超声检测探头在对比试样内激励产生相应的非等幅系列超声底波信号，所述非等幅系列超声底波信号是由多个不同幅度的超声底波信号组成；所述非等幅系列超声底波信号由电磁超声检测探头采集并传输至电磁超声检测仪，电磁超声检测仪记录非等幅系列超声底波信号； c.以非等幅系列脉冲激励信号的幅值为横坐标，以非等幅系列超声底波信号的幅值为纵坐标，制作该检测点的激励-底波曲线图； d.将电磁超声检测探头依次置于对比试样表面上的其它检测点，重复步骤b、步骤C，制作出每一个检测点的激励-底波曲线图； e.对比分析对比试样上的所有检测点的激励-底波曲线图，当检测点与参考检测点的磁导率、电导率、表面状态相同时，相同的非等幅系列脉冲激励信号将产生相同的非等幅系列超声底波信号，该检测点的激励-底波曲线与参考检测点的激励-底波曲线吻合；当检测点与参考检测点的磁导率、电导率、表面状态不同时，由于磁导率、电导率、表面状态不同引起的信号衰减，相同的非等幅系列脉冲激励信号将产生不同的非等幅系列超声底波信号，该检测点的激励-底波曲线与参考检测点的激励-底波曲线相对出现偏离；由此，得到磁导率、电导率、表面状态不均匀的对比试样不同检测点的超声底波信号幅值相对变化规律；记录对比试样的每一个检测点相对于参考检测点的激励-底波曲线偏离值，所述偏离值即为磁导率、电导率、表面状态变化引起的信号衰减值； 所述实测过程为， f.将电磁超声检测探头置于磁化后的被检金属工件表面上的一个检测点，电磁超声检测仪采用一个选定幅度的脉冲激励信号激励电磁超声检测探头，电磁超声检测探头在被检金属工件内激励产生超声信号，当被检金属工件中有缺陷时，将产生超声缺陷回波信号，此时的超声缺陷回波信号为磁导率、电导率、表面状态变化引起信号衰减后的超声缺陷回波信号；电磁超声检测仪采用标定过程中得到的该检测点相对于参考检测点的激励-底波曲线偏离值对超声缺陷回波信号进行当量补偿修正，得到超声缺陷回波修正信号。
【专利摘要】本发明公开了一种提高电磁超声检测精度的方法，采用非等幅系列脉冲激励标定方法，得到电磁超声检测中磁导率、电导率、表面不均匀的金属工件的超声底波信号幅值相对变化规律，以此来抑制电磁超声检测信号中的磁导率、电导率、表面状态变化引起的信号衰减，当量补偿修正实际检测时的超声缺陷回波信号幅值，提高检测准确度。
【IPC分类】G01N29-04, G01N29-30
【公开号】CN104614444
【申请号】CN201510084233
【发明人】林俊明
【申请人】爱德森（厦门）电子有限公司
【公开日】2015年5月13日
【申请日】2015年2月16日