者对后者进行修正，可获得更为精确的测量结果。
[0017]作为优选，当所述的光源组采用LED光源作为检测用光源，所述的光源电参数监测装置监测光源组中LED光源的工作电参数，根据LED光源电参数与LED光源结温以及LED光源发光光谱的依赖关系，推算LED光源的实际发光光谱，并修正光测量装置的测量结果。鉴于LED光源的输出特性，其结温与电参数之间有着密切的联系，通过电参数与光学参数的转换，可推算出LED光源的实际发光光谱，修正光测量装置的测量结果。
[0018]综上所述，本发明利用组合LED光源作为检测用光源，在仅设置一个光谱仪作为光测量装置的情况下，通过配置光源电参数监测装置，监测检测用光源的电参数波动情况，待光源稳定发光后选择合适的时间窗口开启信号采集测量工作，并可利用监测结果修正光测量装置测得的数据，同时还可配合温度控制装置，通过温度控制装置与光源电参数控制装置的反馈调节机制实现对LED光源的稳定输出，提高测试精度。可广泛适用于各种物体光学特性的测量，具有操作便捷、应用范围广、测量精度高等特点。
【【附图说明】】
[0019]附图1是白色大功率LED光通量与CCT的温度依赖特性曲线；
[0020]附图2是实施例1的示意图；
[0021]附图3、4是实施例2的示意图；
[0022]附图5是实施例3的示意图；
[0023]附图6是实施例4的示意图；
[0024]附图7是实施例5的示意图。
[0025]1-光源组；11-1-LED白光源；11_2_LED补光源；2_光测量装置；3_光源电参数监测装置；4_被测样品；5_温度控制装置；6_积分球；7_光陷阱；8_被测透射样品。
【【具体实施方式】】
[0026]实施例1
[0027]如图1所示，本实施例公开了一种物体光学特性测量装置的工作原理示意图，包括光源组1、光测量装置2、光源电参数监测装置3，光源组I中包括LED光源，且由恒流驱动。工作时，向光源组I中通入恒流电流，光源电参数监测装置3监测光源组I的电压波动，在通电的初始阶段，LED的输出性能会显著上升，经过一段较短的时间后，输出性能变化将趋于平稳，此时选择平稳阶段中一个合适的时间窗口开启光测量装置3进行信号采集测量工作，测量结束后，利用监测获得的数据修正光测量装置2测得的光谱数据。
[0028]实施例2
[0029]与实施例1不同的是，本实施例还包括温度控制装置5。如图3和4所示，工作时，向光源组I中通入恒流电流，光源电参数监测装置3监测光源组I的电压波动，并将实测电压信息反馈至温度控制装置5，温度控制装置5根据实测结果调节(加热或制冷)光源组I中开启光源的温度，光源电参数监测装置3再次监测调整温度后光源组I中开启光源的电压波动情况，经过光源电参数监测装置3与温度控制装置5的多次反馈与调节后，光源组I中开启光源的电压波动趋于稳定(Vf= V F(O))，此时开启光测量装置2对被测样品4进行光学特性测量。
[0030]实施例3
[0031]如图5所示，本实施例中公开了一种物体光学特性测量装置，包括光源组1、光测量装置2、光源电参数监测装置3、积分球5和光陷阱6，光源组I由四个独立光源组成，分别为一个LED白光源11-1、红色LED、绿色LED和蓝色LED等三个独立补光源11_2，光源组I位于与被测样品4法线之间夹角为8°的入射方向上，光测量装置2位于积分球5的水平出射口上，光源组I和测量装置2与被测样品4构成8/d的颜色测量几何条件；光测量装置2为光谱辐射计。
[0032]测量时，单独开启光源组I中LED白光源11-1，或同时开启LED白光源11_1和一个或者多个独立LED补光源11-2，照射到被测样品4上，被测样品4的反射光线经积分球5充分漫反射后，被光测量装置2接收、测量，其中被测样品4的镜面反射光线被位于与光源组I所在方向对称的光陷阱6吸收，以消除镜面反射的影响。
[0033]本实施例还包括用以监测光源组I中各个独立光源电参数波动的光源电参数监测装置3，测量结束后可以利用监测获得的数据校正测量装置测得的光谱数据。本实施例系统结构简单、紧凑，测试结果重复性和一致性高，测量速度快，适用于工业产线及现场快速和实验室测量。
[0034]实施例4
[0035]如图6所示，本实施实现d/Ο的透射测量。包括光源组1、光测量装置2、光源电参数监测装置3、积分球5和被测透射样品7，测量时，光源组I位于与积分球5水平出光口呈90°的入射方向上，被测透射样品7位于积分球5的水平出射口上，光测量装置2位于被测透射样品7之后的光路上，光源电参数监测装置4设置用以监测光源组I中各个独立光源的电参数波动。
[0036]实施例5
[0037]如图7所示，与实施例4不同的是，本实施例实现45/0的颜色测量，光源组I由一个LED白光源11-1与一个紫色LED光源11_2组成，测量时，光源组I位于与被测样品4法线之间夹角为45°的入射方向上，发出的光线经被测样品4反射后被设置被测样品4法线上(即0° )的光测量装置2接收和测量。
[0038]本实施例中，被测样品主要选择反射紫光，测试时，在开启LED白光源11-1照射的同时，通过补加紫光光源11-2来增加紫光区域的光谱灵敏度。
[0039]需要强调的是，以上仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
【主权项】
1.一种物体光学特性测量装置，其特征在于，包括光源组(I)、光测量装置(2)和光源电参数监测装置(3)，所述的光源组(I)发出特定光谱的光线并照射到被测样品(4)上，光测量装置⑵接收来自光源组⑴并经被测样品⑷作用后的光线，光源电参数监测装置(3)监测光源组(I)中光源的工作电参数。
2.如权利要求1所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源组(I)中至少包括一个LED光源(11)。
3.如权利要求1和2所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源组(I)至少包含一个LED白光源(11-1)和一个LED独立补光源(11_2)，所述的LED白光源(11_1)和LED独立补光源(11-2)组合发光形成所需的光线照射至被测样品(4)上。
4.如权利要求1所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源组(I)包括一个以上独立窄波源，所述的一个以上独立窄波源发出分立的窄波段光谱，利用窄波段光谱校正光源组(I)的组合波段光谱。
5.如权利要求2和3所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源组(I)中的LED光源(11)采用恒流驱动。
6.如权利要求1和2所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，还包括温度控制装置(5)，所述的温度控制装置(5)设置在光源组(I)上，所述的温度控制装置(5)利用LED光源结电压与结温的关联关系控制LED光源的工作温度。
7.如权利要求1和6所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源电参数监测装置(3)与温度控制装置(5)电连接，温度控制装置(5)根据光源电参数监测装置(3)测得的光源电参数信息以制冷或者加热的方式控制光源的工作温度。
8.如权利要求1所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光测量装置(2)在待光源组(I)的光源点亮且稳定后开启信号采集测量工作。
9.如权利要求1所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光测量装置(2)为光谱辐射计或者光谱辐射测量模块。
10.如权利要求1所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源电参数监测装置(3)监测光源组(I)中光源的工作电参数，根据光源电参数与光源发光光谱的依赖关系，推算出光源的实际发光光谱，并修正光测量装置(2)的测量结果。
11.如权利要求1和2和10所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源电参数监测装置(3)监测光源组(I)中LED光源的工作电参数，根据LED光源电参数与LED光源结温以及LED光源发光光谱的依赖关系，推算LED光源的实际发光光谱，并修正光测量装置(2)的测量结果。
【专利摘要】本发明通过配置光源电参数监测装置，监测在光源电参数的波动情况，测试时，待光源稳定发光后选择合适的时间窗口开启光测量装置进行信号采集测量工作，并可利用监测结果修正光测量装置测得的数据；同时还可配合温度控制装置，通过温度控制装置与光源电参数控制装置的反馈调节机制实现对光源的稳定输出，在降低成本的同时，提高了测试精确度，可广泛适用于测量各种物体光学特性，具有操作便捷、应用范围广、成本低、测量精度高等特点。
【IPC分类】G01N21-25
【公开号】CN104792710
【申请号】CN201510170696
【发明人】潘建根, 黄英
【申请人】杭州远方光电信息股份有限公司
【公开日】2015年7月22日
【申请日】2015年4月13日