夹着第2薄膜F2的外周缘部分的状态安装，将第2薄膜F2固定。
[0036]该弹性体圈6例如是橡胶带。
[0037]此外，第I薄膜Fl及第2薄膜F2可以采用例如称作mylar (注册商标)薄膜的聚酯薄膜等树脂薄膜，优选的是透明而不出现杂质的厚度几μ m的较薄的薄膜。
[0038]在第I环状部件3的下部外周形成有缺口状的台阶部3b。
[0039]第2环状部件4在上部形成有向半径方向外方突出而扩径的第I凸缘部4b，在第3环状部件5上，也在上部形成有向半径方向外方突出而扩径的第2凸缘部5b。S卩，弹性体圈6设在第I凸缘部4b与第2凸缘部5b之间。
[0040]试样设置用夹具10是在向X射线分析用试样保持器I设置X射线分析用的试样S时使用的夹具，如图5及图6所示，具备夹具主体11和透明板部12，所述夹具主体11为板状，具有至少第I环状部件3的下部能够嵌入的设置孔11a，所述透明板部12将设置孔Ila的下部开口部覆盖而设置。
[0041]上述透明板部12是透明的玻璃板或塑料板，在表面上形成有表示设置孔Ila的中心的标记M。该标记M例如是描绘在透明板部12的表面上的十字线的交点等。
[0042]另外，上述设置孔Ila与第I环状部件3的台阶部3b的直径对应而为内径，被设定为底部支承部3c能够嵌入的圆形。
[0043]接着，参照图6对使用试样设置用夹具10将试样S向X射线分析用试样保持器I安设的方法进行说明。
[0044]首先，如图6所示，将第I环状部件3的下部(底部支承部3c)向试样设置用夹具10的设置孔Ila嵌入。此时，成为将下部的台阶部3b卡止到设置孔Ila的上部外周端上并将底部支承部3c插入在设置孔Ila内的状态，第I环状部件3被定位。
[0045]接着，在第I环状部件3之上覆盖第I薄膜F1，再从第I薄膜Fl的上方将第2环状部件4向第I环状部件3内推入并将第I薄膜Fl向第I环状部件3的内侧推入。由此，将第2环状部件4的下部开口部覆盖而张设第I薄膜Fl。此时，第2环状部件4的下端抵接在第I环状部件3底部支承部3c上而被支承。
[0046]在该状态下，将试样S向张设在第2环状部件4的下部开口部处的第I薄膜Fl上载置。此时，由于能够经由第I薄膜Fl视觉辨认透明板部12的标记M，所以以标记M为记号，将试样S置于设置孔Ila的中央。
[0047]另一方面，在第3环状部件5的下部开口部覆盖第2薄膜F2，在第3环状部件5的外周面将第2薄膜F2的周缘部分用弹性体圈6固定。此时，用比张设的第I薄膜Fl松的张力将第2薄膜F2固定。
[0048]接着，在载置试样S后，将固定着第2薄膜F2的第3环状部件5从上方向第2环状部件4内推入。此时，通过用第I薄膜Fl和第2薄膜F2夹着试样S将位置固定，将试样S安设到X射线分析用试样保持器I上。
[0049]另外，由于通过弹性体圈6使第2薄膜F2的张力比第I薄膜Fl弱而固定，所以能够在将第I薄膜Fl平坦地张设的原状下在第3环状部件5内以第2薄膜F2成为凸的方式夹持试样S。由此，能够不使第I薄膜Fl挠曲而保持试样S，能够维持作为基准面的第I薄膜Fl的位置，所述基准面决定试样S与X射线管的距离。
[0050]在将这样安设了试样S的X射线分析用试样保持器I向X射线分析装置安装时，如图1所示，向在作为试样基座的保持器安装部2上形成的保持器用孔2a安装，与保持器安装部2 —起向X射线分析装置内放入。另外，在保持器安装部2的保持器用孔2a的上部外缘上，设有将台阶部3b卡止且第I环状部件3的下部能够嵌入的台阶部状的凹部2b，仅通过设置到保持器用孔2a中，将X射线分析用试样保持器I定位。
[0051 ] 对于这样安设在X射线分析装置中的试样S，在X射线分析时，从保持器用孔2a的下方经由第I薄膜Fl照射一次X射线X。
[0052]另外，在将多个X射线分析用试样保持器I分析、测量的情况下，如图7所示，使用能够安装多个X射线分析用试样保持器I的试样转换器(保持器安装部)100。S卩，向形成在试样转换器(sample changer) 100上的多个保持器用孔2a安装各X射线分析用试样保持器I。
[0053]这样，在本实施方式的X射线分析用试样保持器I中，由于用在第2环状部件4和第3环状部件5各自的下部开口部处张设的第I薄膜Fl和第2薄膜F2将X射线分析用的试样S夹持，所以试样S被一对薄膜夹住而不会偏移，并且由于薄膜较薄，所以不易给X射线测量带来影响，能够进行准确的测量。此外，通过将第I薄膜Fl的位置安设到试样S与X射线管的距离的最优位置，能够总是使试样S与X射线管的距离成为一定。进而，由于将试样S夹在一对薄膜间,所以对试样S的大小及形状限制较少,能够安设多种多样的试样S。
[0054]此外，由于在第2环状部件4的上方且第3环状部件5的外周面上具备以夹着第2薄膜F2的外周缘部分的状态安装且将第2薄膜F2固定的弹性体圈6，所以能够用弹性体圈6调节第2薄膜F2的张力程度。
[0055]进而，由于在第I环状部件3的下部外周上形成有缺口状的台阶部3b，所以通过在X射线分析装置的保持器安装部2设置将台阶部3b卡止且第I环状部件3的下部能够嵌入的台阶部状的凹部2b，能够进行与X射线照射口的定位，容易使试样S对准于目标位置，还能够再次向相同位置配置试样S。
[0056]在该试样设置用夹具10中，由于在透明板部12上形成有表示设置孔Ila的中心的标记M，所以在将张设有第I薄膜Fl的第I环状部件3及第2环状部件4嵌入在设置孔Ila中的状态下，能够以能够经由第I薄膜Fl目视的透明板部12的标记M为记号，将试样S载置到第I薄膜Fl上。因而，通过使用该试样设置用夹具10，容易在X射线分析装置的机外将试样S安设到与X射线束的中心对应的测量位置。
[0057]另外，本发明的技术范围并不限定于上述实施方式，在不脱离本发明的主旨的范围内能够加以各种变更。
[0058]例如，在上述实施方式中，使第I?第3环状部件为圆筒状部件，但也可以为椭圆筒状或方筒状等筒状部件。
[0059]在上述实施方式中，使设在透明板部上的标记为十字线，但只要能够视觉辨认试样的目标设置位置，也可以是其他标记。例如也可以是较小的圆形状的标记等。
[0060]附图标记说明
I…X射线分析用试样保持器；2…保持器安装部；3…第I环状部件；3b…台阶部；4…第2环状部件；5…第3环状部件；6…弹性体圈；10…试样设置用夹具；11…夹具主体；Ila…设置孔；12...透明板部；100…试样转换器；F1...第I薄膜；F2...第2薄膜；M…标记；S...试样。
【主权项】
1.一种X射线分析用试样保持器，其特征在于， 具备第I环状部件、第2环状部件和第3环状部件； 所述第2环状部件在与上述第I环状部件之间夹着第I薄膜的状态下嵌入插入在上述第I环状部件内，将下部开口部覆盖而张设上述第I薄膜； 所述第3环状部件在与上述第2环状部件之间夹着第2薄膜的状态下嵌入插入在上述第2环状部件内，将下部开口部覆盖而张设上述第2薄膜； 用在上述第2环状部件和上述第3环状部件各自的下部开口部处张设的上述第I薄膜和上述第2薄膜将X射线分析用的试样夹持。
2.如权利要求1所述的X射线分析用试样保持器，其特征在于， 上述第3环状部件形成得比上述第2环状部件高； 在上述第2环状部件的上方且上述第3环状部件的外周面上，具备弹性体圈，所述弹性体圈以夹着上述第2薄膜的外周缘部分的状态安装，将上述第2薄膜固定。
3.如权利要求1所述的X射线分析用试样保持器，其特征在于， 在上述第I环状部件的下部外周上形成有缺口状的台阶部。
4.一种试样设置用夹具，在向权利要求1所述的X射线分析用试样保持器设置X射线分析用的试样时使用，其特征在于， 具备夹具主体和透明板部； 所述夹具主体为板状，具有上述第I环状部件的下部能够嵌入的设置孔； 所述透明板部将上述设置孔的下部开口部覆盖而设置； 在上述透明板部上形成有标记，所述标记表示上述设置孔的中心。
【专利摘要】提供一种能够消除试样的偏移并使试样与X射线管的距离为一定、进而能够对应于各种各样的形状的试样的X射线分析用试样保持器及在将试样向该保持器安设时使用的试样设置用夹具。具备第1环状部件（3）、第2环状部件（4）和第3环状部件（5）；所述第2环状部件（4）在与第1环状部件之间夹着第1薄膜（F1）的状态下嵌入插入在第1环状部件内，将下部开口部覆盖而张设第1薄膜；所述第3环状部件（5）在与第2环状部件之间夹着第2薄膜（F2）的状态下嵌入插入在第2环状部件内，将下部开口部覆盖而张设第2薄膜；用在第2环状部件和第3环状部件各自的下部开口部处张设的第1薄膜和第2薄膜将X射线分析用的试样（S）夹持。
【IPC分类】G01N1-36
【公开号】CN104849128
【申请号】CN201410749791
【发明人】竹内俊公
【申请人】日本株式会社日立高新技术科学
【公开日】2015年8月19日
【申请日】2014年12月10日
【公告号】DE102015101866A1, US20150226686