的高级触发特别良好地适合于在由Tektronix制造的示波器中提供的FastAcq模式。在FastAcq模式中，获取速率是头等重要的。FastAcq模式使得能够实现许多所捕获的记录的快速叠加，例如高达每秒400000次获取。这种叠加可以直接被用于型式的视觉标识，或者数据可以在大量获取之后被进一步后处理以确定波形参数，例如在时间上的每个点处波形的平均和/或标准偏差。
[0034]图5描绘了被测试信号的屏幕截图，其中在通道I上捕获的有用信息在时间上通过通道3上的参考信号来定位。通道4上的限定信号可以发生得晚得多以指示通道I数据是否生效。通道3上的简单边沿触发引起通道I上的无效和生效数据的叠加。目标是能够触发示波器(scope)来仅获取用户已经指定为感兴趣数据的内容。
[0035]图6描绘了高级触发模式的屏幕截图，其示出在A时间之后5 μ s时在通道4上通过限定B事件生效的通道3上的A事件的选择。在该实例中，限定时段超时被设置为6 μ S。图7描绘了针对短时基设置的通过B事件生效的A事件的选择的示例屏幕截图，其中限定B事件发生在获取已经结束之后。在图6和7中，A事件是通道3上的正边沿并且B事件是测试和测量仪器的通道4上的正边沿。在将限定周期超时值设置成6 μ S的情况下，通道I数据不再示出其中数据在6ns内保持为低的型式，因为在那些实例中通道4上的生效脉冲不发生在限定时段超时之前。尽管为了解释的清楚起见而在图6和7中示出通道3和4，但是通道不需要被获取或显示以用于高级触发序列的适当操作。如果通道未被显示，更加数字化的资源可用于捕获附加数据通道和/或其他潜在的感兴趣信号。
[0036]当模式被设置成通过B事件生效的A事件时，仅显示在超时时段内后面是B事件的A事件，如图6和7中所示。描绘了较短时基的图7示出了在限定时段内伴随有后续B事件的多个数据型式呈现，即便使获取生效的B事件远在所获取的数据记录的结尾之后发生。也就是说，B事件必须发生在接收到限定时段结束信号之前，但不必发生在所期望的获取记录中。
[0037]图8和9图示了第二种情况，其中将高级触发功能性设置成通过B事件无效的A事件，如以上讨论的那样。图8描绘了长时基设置，而图9描绘了短时基设置。在该模式中，仅显示在限定时段内后面是B事件的A事件。图9图示了在通道3 A事件实例之后以6ns低脉冲呈现的仅一个数据型式，所述通道3 A事件实例在限定时段内未伴随有后续B事件。
[0038]图6-9可以表示例如来自被测试设备的通道I上的一系列输出测试矢量。通道3可以表示当前被调查的测试的关键部分处的时序参考并且通道4可以表示在测试的每一个重复的结尾处发生(如果真的发生的话)的测试失败指示。如果情况是这样，图6和7表示多个失败矢量的叠加，而图8和9仅表示通过的矢量。
[0039]优选地，测试和测量仪器是示波器。然而，测试和测量仪器可以是任何模拟监视实时仪器。
[0040]已经在所公开技术的优选实施例中描述和图示了所公开技术的原理，应当显而易见的是，所公开技术可以在布置和细节方面被修改而不脱离这样的原理。我们要求保护来自随附权利要求的精神和范围内的所有修改和变型。
【主权项】
1.一种测试和测量仪器，包括: 输入，其被配置成接收被测试信号； 用户输入，其被配置成接受来自用户的第一触发事件和第二触发事件； 第一触发解码器，其被配置成对所述第一触发事件的发生进行触发并且生成第一触发信号; 第二触发解码器，其被配置成对发生在所述第一触发事件之后的第二触发事件的发生进行触发并且生成第二触发信号；以及 获取系统，其被配置成响应于所述第一触发信号而获取所述被测试信号并且基于所述第二触发信号是否由所述第二触发解码器生成而存储所获取的被测试信号。2.根据权利要求1的测试和测量仪器，还包括计时器，其被配置成在所述第一触发信号被生成时开始对指定时间段进行计时并且在所述指定时间段结束时生成时间结束信号， 其中用户接口被配置成接受来自用户的所述指定时间段。3.根据权利要求2的测试和测量仪器，其中所述获取系统被配置成在所述获取系统在所述时间结束信号之前接收到所述第二触发信号时存储所述被测试信号。4.根据权利要求2的测试和测量仪器，其中所述获取系统被配置成在所述获取系统未在所述时间结束信号之前接收到所述第二触发信号时存储所述被测试信号。5.根据权利要求2的测试和测量仪器，还包括重置电路，其被配置成在所述时间结束信号被生成时重置所述第一触发解码器。6.根据权利要求2的测试和测量仪器，还包括重置电路，其被配置成如果所述第二触发信号被生成则重置所述第一触发解码器。7.根据权利要求1的测试和测量仪器，其中所述用户输入还接受第三触发事件，并且所述测试和测量仪器还包括第三触发解码器，其被配置成对第三触发事件的发生进行触发并且生成第三触发信号， 其中所述获取系统还被配置成基于所述第二触发信号是否在生成所述第三触发信号之前被生成而存储所获取的被测试信号。8.根据权利要求1的测试和测量仪器，其中所述第一和第二触发解码器是硬件组件。9.根据权利要求2的测试和测量仪器，其中所述第一和第二触发解码器和所述计时器是硬件组件。10.根据权利要求7的测试和测量仪器，其中所述第一、第二和第三触发解码器是硬件组件。11.一种用于触发测试和测量仪器中的被测试信号的获取的方法，所述方法包括: 接收被测试信号； 接收第一触发事件和第二触发事件； 对所述第一触发事件的发生进行触发并且生成第一触发信号； 对发生在所述第一触发事件之后的第二触发事件的发生进行触发并且生成第二触发信号；以及 响应于所述第一触发信号而获取所述被测试信号并且基于是否生成所述第二触发信号而存储所获取的被测试信号。12.根据权利要求11的方法，还包括根据所述第一触发信号何时被生成而对指定时间段进行计时并且在所述指定时间段结束时生成时间结束信号。13.根据权利要求12的方法，其中存储所获取的被测试信号还包括在所述获取系统在所述时间结束信号之前接收到所述第二触发信号时存储所述被测试信号。14.根据权利要求12的方法，其中存储所获取的被测试信号还包括在所述获取系统未在所述时间结束信号之前接收到所述第二触发信号时存储所述被测试信号。15.根据权利要求11的方法，还包括: 接收第三触发事件；以及 对所述第三触发事件的发生进行触发并且生成第三触发信号， 其中基于所述第二触发信号是否在生成所述第三触发信号之前被生成而存储所获取的被测试信号。
【专利摘要】本发明涉及具有高级触发能力的测试和测量仪器。一种测试和测量仪器，包括被配置成接收被测试信号的输入，被配置成接受来自用户的第一触发事件和第二触发事件的用户输入，被配置成对第一触发事件的发生进行触发并且生成第一触发信号的第一触发解码器，被配置成对发生在第一触发事件之后的第二触发事件的发生进行触发并且生成第二触发信号的第二触发解码器，以及被配置成响应于第一触发信号而获取被测试信号并且基于第二触发信号使第一触发信号生效还是无效而存储所获取的被测试信号的获取系统。
【IPC分类】G01R13/00
【公开号】CN104977448
【申请号】CN201510168853
【发明人】D.G.克尼林, D.L.凯莉, J.H.安德鲁斯, M.A.马丁, P.A.史密斯
【申请人】特克特朗尼克公司
【公开日】2015年10月14日
【申请日】2015年4月10日
【公告号】EP2930518A2, US20150293170