量测系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种量测系统，特别涉及一种光场分布的量测系统。
【背景技术】
[0002]近年来，随着制程与材料方面的不断改良，各种不同的光源，例如:发光二极管(Light Emitting D1de ；LED)不断地被开发出来。由于制程的关系，每一颗光源或是每一个光学组件都拥有自己独特的光场分布，而且LED易有空间中色彩分布不均的问题，光学设计者需要了解其光场分布与空间中色彩分布才能进行精密设计与光学仿真，进而符合光学产品的规格。因此，对于各种不同的光源或是光学组件都需量测其频谱与光场分布。
[0003]在公知的技术中，是使用配光曲线仪来量测频谱与光场分布，而一般配光曲线仪多为测角光度计，其需要多次单点扫描，因此，量测时间相当长。
[0004]因此，如何提供一种量测系统，可取代公知的配光曲线仪，而快速地量测光源或光学组件在空间中的频谱与光场分布，已成为现今重要课题之一。
【发明内容】
[0005]有鉴于上述课题，本发明提供一种量测系统，可取代公知的配光曲线仪，而快速地量测光源或光学组件在空间中的频谱与光场分布。
[0006]为了达到上述目的，本发明提供一种量测系统，量测待测物的待测光线，包括:光空间分布单元、色散分光单元以及量测单元。光空间分布单元设置于待测物的一侧，以接收待测光线并形成多个点光源。色散分光单元设置于光空间分布单元的一侧，以接收这些点光源并产生分光信号。量测单元设置于色散分光单元的一侧，以接收分光信号并产生待测光线的光场分布。
[0007]在实施例中，光空间分布单元为屏幕，屏幕上具有多个孔洞。
[0008]在实施例中，所述屏幕为平面结构或曲面结构。
[0009]在实施例中，屏幕包含屏幕本体及碳粉层或印刷层，碳粉层或印刷层位于屏幕本体邻近于待测物的表面。
[0010]在实施例中，光空间分布单元的材质为布、黑绒布、纸、黑绒布纸、玻璃、纤维或塑料。
[0011 ] 在实施例中，光空间分布单元为透镜阵列、面镜阵列或其组合。
[0012]在实施例中，透镜阵列为凸透镜阵列、凹透镜阵列、菲涅耳透镜阵列或渐变式折射率透镜阵列。
[0013]在实施例中，面镜阵列为凹面镜阵列、凸面镜阵列或平面镜阵列。
[0014]在实施例中，待测物为发光组件或光学组件。
[0015]在实施例中，色散分光单兀为三菱镜、光栅、全像光学组件、布莱勒光栅或由多个光学组件组成的分光器。
[0016]在实施例中，量测单元为辉度计、照度计、功率计、照相机或光谱仪。
[0017]在实施例中，光场分布为空间中光线强度分布或空间中光线频谱分布。
[0018]在实施例中，量测单元与待测物位于光空间分布单元的同一侧。
[0019]在实施例中，量测单元与待测物位于光空间分布单元的不同侧。
[0020]在实施例中，进一步包括保持单元，保持待测物、光空间分布单元、色散分光单元及量测单元四者的相对距离。
[0021]在实施例中，进一步包括罩体，其具有容置空间，待测物、光空间分布单元、色散分光单元、量测单元设置于容置空间中。
[0022]在实施例中，进一步包括收光单元，设置于光空间分布单元与色散分光单元之间，以让这些点光源在所述收光单元上显示光场图样。
[0023]在实施例中，光空间分布单元与色散分光单元整合为单一构件。
[0024]为了达到上述目的，本发明提供一种量测系统，量测待测物的待测光线，包括色散分光单元、光空间分布单元以及量测单元。色散分光单元设置于待测物的一侧，以接收待测光线并形成分光信号。光空间分布单元设置于色散分光单元的一侧，以接收分光信号并产生多个点光源。量测单元设置于光空间分布单元的一侧，以接收这些点光源并产生待测光线的光场分布。
[0025]在实施例中，光空间分布单元为透镜阵列。
[0026]在实施例中，进一步包括收光单元，设置于光空间分布单元与量测单元之间，接收这些点光源，并产生多个收光信号，量测单元接收这些收光信号并产生待测光线的光场分布。
[0027]在实施例中，色散分光单元与光空间分布单元整合为单一构件。
[0028]承上所述，本发明的量测系统用于量测待测物的待测光线，其中，光空间分布单元接收待测光线并形成多个空间中不同位置的点光源，色散分光单元接收这些点光源并产生分光信号，量测单元接收分光信号以产生关于待测光线的频谱与光场分布。借助本发明的量测系统，仅需进行一次的量测步骤，即可量测待测物于空间的频谱与光场分布，不必如公知的配光曲线仪需进行多次单点量测，因此本发明的量测系统具有成本低、量测速度快与可量测空间中频谱分布等优点。
【附图说明】
[0029]图1为本发明的第一实施例的一种量测系统的意图。
[0030]图2A为本发明的第二实施例的一种量测系统的示意图。
[0031]图2B为图2A所示的量测系统的侧视图。
[0032]图3A为本发明的第三实施例的一种量测系统的示意图。
[0033]图3B为图3A所示的量测系统的侧视图。
[0034]图4A为本发明的第四实施例的一种量测系统的示意图。
[0035]图4B为图4A所示的量测系统的侧视图。
[0036]图5为本发明的第五实施例的一种量测系统的不意图。
[0037]图6为本发明的第六实施例的一种量测系统的示意图。
[0038]图7A为本发明的第七实施例的一种量测系统的示意图。
[0039]图7B为图7A所示的量测系统的侧视图。
[0040]图8A为本发明的第八实施例的一种量测系统的示意图。
[0041]图8B为图8A所示的量测系统的侧视图。
[0042]图9A为本发明的第九实施例的一种量测系统的示意图。
[0043]图9B为图9A所示的量测系统的侧视图。
[0044]图10A为本发明的第十实施例的一种量测系统的示意图。
[0045]图10B为图10A所示的量测系统的侧视图。
[0046]图11为本发明的第十实施例的一种量测系统的示意图。
[0047]图12为本发明的第十二实施例的一种量测系统的示意图。
【具体实施方式】
[0048]以下将参照相关图式，说明依本发明优选实施例的一种量测系统，其中相同的组件将以相同的参照符号加以说明。
[0049]图1为本发明实施例的一种量测系统的示意图，请参照图1，量测系统S1用以量测待测物的待测光线，且量测系统S1包括光空间分布单元11、色散分光单元12、量测单元13。需特别说明的是，待测物可例如是光源或光学组件。光源可例如是发光二极管、有机发光二极管、冷阴极荧光灯管、热阴极荧光灯管或其它各种光源。光学组件可例如是扩散片、增亮膜、菱镜片或其它各种光学组件。在本实施例中，待测物以发光二极管dl为例，发光二极管dl可以借助载具支撑及固定，且发光二极管dl内部具有驱动电路以驱动其发光，而发光二极管dl所发出的光线即为待测光。
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