液晶量控制系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供一种液晶量控制系统，包括柱高测量模块、数据传输模块、数据处理主模块、参数设置模块、以及组立站点传输模块，所述柱高测量模块与所述数据传输模块连接，所述数据传输模块与所述数据处理主模块连接，所述参数设置模块分别与所述数据处理主模块和所述组立站点传输模块连接，所述液晶量控制系统还包括用于测量垫高h的垫高测量模块，所述垫高测量模块与所述数据传输模块连接。上述液晶量控制系统，由于包括柱高测量模块和垫高测量模块，并分别进行柱高H和垫高h测量，再通过柱高H和垫高h之和进行液晶量的换算，使得液晶量的控制更精确，误差小，有效避免液晶显示面板出现液晶气泡或局部亮度不均匀问题，提升产品品质。
【专利说明】
液晶量控制系统
技术领域
[0001]本实用新型涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板的液晶量控制系统。
【背景技术】
[0002]随着电子产品朝着轻、薄、小型化快速发展，各种携带式电子产品几乎都以液晶显示面板(Liquid Crystal Display，IXD)作为显示终端，特别是在摄录放影机、笔记本电脑、台式电脑、智能电视、移动终端或个人数字处理器等产品上，液晶显示面板已成为电子产品重要的组成部件。
[0003]液晶显示面板包括对盒成型的薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)基板和彩色滤光(Co I or Fi I ter，CF)基板，以及填充其间的液晶层，其中，液晶层的液晶量对液晶显示面板的显示效果具有较大的影响。
[0004]图1是现有的液晶量控制系统的结构组成图，参见图1所示，现有的液晶量控制系统300包括柱高测量模块301、数据传输模块302、数据处理主模块303、参数设置模块304、以及组立站点传输模块305，现有的液晶量控制系统300的控制方法是，通过柱高测量模块301控制柱高测量机测量柱高(柱高为设置于CF基板上用于支撑CF基板和TFT基板的柱状垫层的高度，PSH)，并通过数据传输模块302将柱高数据传输至数据处理主模块303进行存储；当TFT基板进入液晶滴下机(LC Dropper)时，参数设置模块304模块向数据处理主模块303获取存储的柱高数据，再通过参数设置模块304将柱高数据换算成液晶滴下量;组立站点传输模块305将液晶滴下量数据传输至液晶滴下机，液晶滴下机根据液晶滴下量数据来控制液晶滴下机滴下的液晶量，以实现液晶量的自动控制。
[0005]图2是液晶显不面板的#1』视图，参见图2所不，实际上CF基板401上的柱状塾层的尚度(简称柱高)H与TFT基板402的垫层高度(简称垫高)h 二者之和更接近于核厚(核厚为CF基板和TFT基板之间的距离，即需要填充液晶的高度)D，而现有的液晶量控制系统的控制方法是以柱高H来确定滴下的液晶量，其仅考虑了对液晶量影响较大的柱高H，而忽略了对液晶量影响较小的垫高h，由此而计算得到的液晶量存在一定的偏差，而液晶量的偏差会导致液晶显示面板出现液晶气泡(Bubble)或者局部亮度不均匀的问题。
[0006]然而，市场对于液晶显示面板产品品质要求的越来越高，尽可能避免每一个微小的偏差对产品品质的影响，对于液晶量的计算必然要求更加精确、更加严格，因此液晶量的计算必须同时考虑到柱高H与垫高h，以得到更精确液晶量，进而提升产品的品质。
【实用新型内容】
[0007]鉴于上述状况，有必要提供一种更精确的液晶量控制系统，以更加精确控制滴下的液晶量，进而提升广品的品质。
[0008]本实用新型提供一种液晶量控制系统，包括柱高测量模块、数据传输模块、数据处理主模块、参数设置模块、以及组立站点传输模块，所述柱高测量模块与所述数据传输模块连接，所述数据传输模块与所述数据处理主模块连接，所述参数设置模块分别与所述数据处理主模块和所述组立站点传输模块连接，所述液晶量控制系统还包括用于测量垫高h的垫高测量模块，所述垫高测量模块与所述数据传输模块连接。
[0009]进一步地，所述柱高测量模块和垫高测量模块可分别采用白光干涉原理高度测量仪、激光测量仪。
[0010]进一步地，所述液晶量控制系统还包括配对模块，所述配对模块分别与柱高测量模块和垫高测量模块连接，所述配对模块可确定组立配对的CF基板和TFT基板并控制所述柱高测量模块测量该所述CF基板的柱高H和所述垫高测量模块测量所述TFT基板的垫高h。
[0011]进一步地，所述液晶量控制系统还包括基板信息获取模块，所述基板信息获取模块与所述配对模块连接，所述基板信息获取模块读取进入液晶滴下机的所述TFT基板的信息并将所述TFT基板信息反馈给所述配对模块。
[0012]进一步地，所述基板信息获取模块为VCR装置，VCR装置读取所述TFT基板上的二维码以确定具体进入液晶滴下机的所述TFT基板信息。
[0013]进一步地，所述液晶量控制系统还包括提示器，所述提示器与所述组立站点传输模块连接，所述提示器提示液晶滴下机已滴完液晶。
[0014]进一步地，所述提示器还与所述基板信息获取模块连接，所述提示器控制所述基板信息获取模块读取另一个所述TFT基板的信息。
[0015]本实用新型实施例的技术方案带来的有益效果是:上述液晶量控制系统，由于包括柱高测量模块和垫高测量模块，并分别进行柱高H和垫高h测量，再通过柱高H和垫高h之和进行液晶量的换算，使得液晶量的控制更精确，误差小，有效避免液晶显示面板出现液晶气泡或者局部亮度不均匀的问题，提升产品的品质。
【附图说明】
[0016]图1是现有的液晶量控制系统的结构组成图；
[0017]图2是液晶显示面板的剖视图；以及
[0018]图3是本实用新型的液晶量控制系统的结构组成图。
【具体实施方式】
[0019]为更进一步阐述本实用新型为达成预定实用新型目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对本实用新型的【具体实施方式】、结构、特征及其功效，详细说明如后。
[0020]图3是本实用新型的液晶量控制系统的结构组成图，请参阅图3，本实用新型涉及的液晶量控制系统10包括柱高测量模块11、垫高测量模块12、数据传输模块13、数据处理主模块14、参数设置模块15、组立站点传输模块16、基板信息获取模块17、配对模块18、以及提示器19。
[0021]柱高测量模块11和垫高测量模块12分别与数据传输模块13连接，数据传输模块13与数据处理主模块14连接，参数设置模块15分别与数据处理主模块14、组立站点传输模块16连接，配对模块18分别与柱高测量模块11和垫高测量模块12、以及基板信息获取模块17连接，提示器19分别与组立站点传输模块16、基板信息获取模块17连接。
[0022]柱高测量模块11用于测量CF基板402的柱高H，垫高测量模块12用于测量TFT基板402的垫高h，柱高测量模块11及垫高测量模块12可采用白光干涉原理高度测量仪、激光测量仪等来进行柱高H和垫高h的测量。数据传输模块13用于将柱高测量模块11测量得到柱高H数据和垫高测量模块12测量得到垫高h数据传输给数据处理主模块14 ο数据处理主模块14用于存储相关数据(如柱高H数据、垫高h数据)、以及数据处理等。数据处理主模块14可以根据柱高H和垫高h的变化差值与核厚相比而同比例增减液晶量。参数设置模块15可从数据处理主模块14获取柱高H数据和垫高h数据，再通过参数设置模块15内置公式进行换算而得到液晶滴下量。参数设置模块15可以根据柱高H和垫高h的变化差值与核厚相比而同比例增减液晶量。组立站点传输模块16用于将参数设置模块15换算得到的液晶滴下量传输至液晶滴下机以控制液晶滴下机滴下的液晶量。基板信息获取模块17用于读取进入液晶滴下机的TFT基板402的信息并将TFT基板402信息反馈给配对模块18，具体地，基板信息获取模块17为VCR(Veri code Reader，二维码读取器)装置，通过VCR装置读取TFT基板402上的二维码以确定具体进入液晶滴下机的TFT基板402信息，并将TFT基板402信息反馈给配对模块18。配对模块18根据收到的基板信息获取模块17反馈的TFT基板402信息而确定与之组立配对的CF基板401，再控制柱高测量模块11测量该CF基板401的柱高H和垫高测量模块12测量TFT基板402的垫高h。提示器19用于提示液晶滴下机已滴完液晶，而基板信息获取模块17读取另一个TFT基板402的信息。
[0023]请参阅图3，本实用新型实施例的液晶量控制系统的控制方法包括如下步骤:
[0024]S201:基板信息获取模块17读取进入液晶滴下机的TFT基板402的信息并将TFT基板402信息反馈给配对模块18;
[0025]S202:配对模块18根据收到的基板信息获取模块17反馈的TFT基板402信息而确定与之组立配对的CF基板401，再控制柱高测量模块11测量该CF基板401的柱高H和垫高测量模块12测量TFT基板402的垫高h，并通过数据传输模块13将柱高H和垫高h数据传输至数据处理主模块14进行存储；
[0026]S203:参数设置模块15向数据处理主模块14获取存储的柱高H和垫高h数据，再通过参数设置模块15将柱高H数据和垫高h数据之和换算成液晶滴下量；
[0027]S204:组立站点传输模块16将液晶滴下量数据传输至液晶滴下机，液晶滴下机根据液晶滴下量数据来控制液晶滴下机滴下的液晶量，以实现液晶量的控制。
[0028]S205:液晶滴下机滴完液晶后，提示器19进行提示，基板信息获取模块17开始读取另一个TFT基板402的信息，重复前述操作。
[0029]本实用新型实施例的技术方案带来的有益效果是:上述液晶量控制系统10，由于包括柱高测量模块11和垫高测量模块12，并分别进行柱高H和垫高h测量，再通过柱高H和垫高h之和进行液晶量的换算，使得液晶量的控制更精确，误差小，有效避免液晶显示面板出现液晶气泡或者局部亮度不均匀的问题，提升产品的品质。
[0030]在本实用新型中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，除了包含所列的那些要素，而且还可包含没有明确列出的其他要素。
[0031]在本实用新型中，所涉及的前、后、上、下等方位词是以附图中零部件位于图中以及零部件相互之间的位置来定义的，只是为了表达技术方案的清楚及方便。应当理解，所述方位词的使用不应限制本申请请求保护的范围。
[0032]在不冲突的情况下，本实用新型中上述实施例及实施例中的特征可以相互结合。
[0033]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种液晶量控制系统(10)，包括柱高测量模块(11)、数据传输模块(13)、数据处理主模块(14)、参数设置模块(15)、以及组立站点传输模块(16)，所述柱高测量模块(11)与所述数据传输模块(13)连接，所述数据传输模块(13)与所述数据处理主模块(14)连接，所述参数设置模块(15)分别与所述数据处理主模块(14)和所述组立站点传输模块(16)连接，其特征在于:所述液晶量控制系统(10)还包括用于测量垫高h的垫高测量模块(12)，所述垫高测量模块(12)与所述数据传输模块(13)连接。2.如权利要求1所述的液晶量控制系统(10)，其特征在于:所述柱高测量模块(11)和垫高测量模块(12)可分别采用白光干涉原理高度测量仪、激光测量仪。3.如权利要求1所述的液晶量控制系统(10)，其特征在于:所述液晶量控制系统(10)还包括配对模块(18)，所述配对模块(18)分别与柱高测量模块(11)和垫高测量模块(12)连接，所述配对模块(18)可确定组立配对的CF基板(401)和TFT基板(402)并控制所述柱高测量模块(11)测量该所述CF基板(401)的柱高H和所述垫高测量模块(12)测量所述TFT基板(402)的垫高h。4.如权利要求3所述的液晶量控制系统(10)，其特征在于:所述液晶量控制系统(10)还包括基板信息获取模块(17)，所述基板信息获取模块(17)与所述配对模块(18)连接，所述基板信息获取模块(17)读取进入液晶滴下机的所述TFT基板(402)的信息并将所述TFT基板(402)信息反馈给所述配对模块(18)。5.如权利要求4所述的液晶量控制系统(10)，其特征在于:所述基板信息获取模块(17)为VCR装置，VCR装置读取所述TFT基板(402)上的二维码以确定具体进入液晶滴下机的所述TFT基板(402)信息。6.如权利要求4所述的液晶量控制系统(10)，其特征在于:所述液晶量控制系统(10)还包括提示器(19)，所述提示器(19)与所述组立站点传输模块(16)连接，所述提示器(19)提示液晶滴下机已滴完液晶。7.如权利要求6所述的液晶量控制系统(10)，其特征在于:所述提示器(19)还与所述基板信息获取模块(17)连接，所述提示器(19)控制所述基板信息获取模块(17)读取另一个所述TFT基板(402)的信息。
【文档编号】G02F1/1341GK205643978SQ201620333663
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年4月20日
【发明人】朱健
【申请人】昆山龙腾光电有限公司