调试时间。几轮实验中，进行了不 少于20发次的实验，均获得了所测能段的X光能谱图像，以PET晶体（3. 47keV ~5. 85keV) 为例，测量得到了 Ti离子在类He、类H状态下所产生的K壳层X光能谱分布。
[0039] 实施例2 本实施例中狭缝的数量为6个，狭缝均匀分布在狭缝板上，相邻狭缝中轴线之间的夹 角均为60°，每个狭缝的宽度为均0. 8mm，狭缝板通孔的直径为1.0 mm ;本实施例中晶体基 座与中心轴线的夹角α为25° ;所述凸块为间隔分布的凸点。
[0040] 本实施例中其他技术方案均和实施例1中完全相同。
[0041] 实施例3 本实施例中狭缝的数量为4个，狭缝均匀分布在狭缝板上，相邻狭缝中轴线之间的夹 角均为90°，每个狭缝的宽度为均I. 2mm，狭缝板通孔的直径为1.0 mm ;本实施例中晶体基 座与中心轴线的夹角α为30° ;所述凸块为间隔分布的凸点。
[0042] 本实施例中其他技术方案均和实施例1中完全相同。
[0043] 尽管参照上述的设计已对本发明作出具体描述，但是对于本领域的普通技术人员 来说，应该理解可以在不脱离本发明的精神以及范围之内基于本发明公开的内容进行修改 或改进，这些修改和改进都在本发明的精神以及范围之内。
【主权项】
1. 一种多波段晶体谱仪，其特征在于，它包括晶体分光系统、激光辅助瞄准系统和靶室 悬臂调节系统； 所述晶体分光系统包括一个设有上底面（1)的空心圆锥台外壳（2)，所述上底面（1)上 设有狭缝板（3 )，在该狭缝板（3 )的中心处设有狭缝板通孔（4 )，在狭缝板（3 )上径向设有狭 缝（5 )，狭缝（5 )的背面设有金属滤片（6 )，所述金属滤片（6 )将相对应的狭缝（5 )完全覆盖， 在上底面（1)上设有上底面通孔（41)和上底面狭缝（51)，所述上底面通孔（41)与狭缝板通 孔（4)相通并同轴设置，所述上底面狭缝（51)与狭缝（5)相对应设置， 所述空心圆锥台外壳（2)围成的腔体包括第一腔体（7)和第二腔体（8)，所述第一腔体 (7)的下底面和第二腔体（8)的上底面之间设有凸块（9)，所述凸块（9)上设有遮光板（10)， 该遮光板（10)与上底面狭缝（51)相对应设置； 所述空心圆锥台外壳（2)的侧壁上开设有暗盒座（11 )，所述暗盒座（11)与遮光板（10) 相对应设置，并且暗盒座（11)与第二腔体（8)相通，在暗盒座（11)的顶角均设有卡槽（12)， 所述暗盒座（11)中卡设有暗盒（14)，所述暗盒（14)的腔体中依次铺设有滤片框（141)、底 片（15)和垫片（16)，所述滤片框（141)上贴有暗盒滤片，暗盒滤片置于底片（15)上，底片 (15)置于垫片（16)上，暗盒（14)上设有暗盒的光密封盖（13)，在暗盒（14)上设有暗盒滤 片窗（142)，所述暗盒滤片窗（142)朝向第二腔体（8)内部，所述暗盒滤片朝向第二腔体（8) 内部； 所述晶体分光系统还包括套设在空心圆锥台外壳（2)内的晶体基座（17)，所述晶体基 座（17 )上表面设有分光晶体（18 )，分光晶体（18 )的上表面与晶体基座（17 )的上表面平行， 在分光晶体（18)周边卡设有带有卡槽的晶体压板（19)，所述晶体压板（19)上设有固定孔 (20)，晶体压板（19)的两条边上通过固定孔（20)有侧向遮光板，所述侧向遮光板包括左侧 遮光板（21)和右侧遮光板（22); 所述激光辅助瞄准系统包括激光器（23 )，所述激光器（23 )设置在激光器座（24 )中，所 述激光器座（24)通过螺纹连接与环形内螺纹基座（25)相连，所述环形内螺纹基座（25)上 设有过渡筒（26)，所述过渡筒（26)与环形内螺纹基座（25)相通并同轴设置，过渡筒（26)上 部设有激光定位杆（27 )，在激光定位杆（27 )上设有晶体挡板（28 )，在激光定位杆（27 )的中 部设有激光通孔（29 )，所述激光通孔（29 )与过渡筒（26 )相通并同轴设置，所述环形内螺纹 基座（25)、过渡筒（26)和激光定位杆（27)均同轴设置，所述空心圆锥台外壳（2)套设在在 环形内螺纹基座（25)上，所述空心圆锥台外壳（2)和环形内螺纹基座（25)之间通过螺栓连 接，所述激光器座（24)的外部设有接筒（30)， 所述靶室悬臂调节系统包括三维调整机构（31)和支架（32)，靶室悬臂调节系统通过 连接筒（30 )与激光器座（24 )相连。2. 根据权利要求1所述的多波段晶体谱仪，其特征在于，所述狭缝板（3)为圆形。3. 根据权利要求1所述的多波段晶体谱仪，其特征在于，所述狭缝（5)的数量为3-6 个，狭缝（5)均匀分布在狭缝板（3)上，所述狭缝（5)的宽度为0. 8-1. 2mm。4. 根据权利要求1所述的多波段晶体谱仪，其特征在于，所述狭缝板通孔（4)的直径为 1. 0mm〇5. 根据权利要求1所述的多波段晶体谱仪，其特征在于，所述第一腔体（7)为空心圆锥 台形腔体；第二腔体（8)为空心圆锥台形腔体。6. 根据权利要求1所述的多波段晶体谱仪，其特征在于，所述遮光板（10)粘接在凸块 (9)上。7. 根据权利要求1所述的多波段晶体谱仪，其特征在于，所述凸块（9)为连续分布的圆 环形凸台或间隔分布的凸点。8. 根据权利要求1所述的多波段晶体谱仪，其特征在于，所述暗盒座（11)为长方体槽 状基座，暗盒（14)为中空的长方体腔体。9. 根据权利要求1-8任一所述的多波段晶体谱仪，所述晶体基座（17)与中心轴线的夹 角α为 25-30°。10. -种权利要求9所述的多波段晶体谱仪的调节方法，其特征在于包括以下步骤： 第一步、将狭缝板（3)通过螺栓连接固定在上底面（1)上，在暗盒（14)的腔体中依次铺 设有滤片框（141)、底片（15)和垫片（16)，在滤片框（141)上贴有暗盒滤片，然后将暗盒滤 片置于底片（15)上，将底片（15)置于垫片（16)上，使暗盒滤片朝向第二腔体（8)内部； 第二步、将激光器（23)安装到激光器座（24)上，将靶室悬臂调节系统通过连接筒（30) 与激光器座（24)相连，在靶位放置定位小球，通过三维调整机构（31)将晶体谱仪进行俯 仰、左右两维转动调节和前后调节，调整晶体谱仪姿态及对应到靶点的距离，打开激光器 (23 )的激光电源，使激光依次穿过过渡筒（26 )、激光定位杆（27 )，最终从狭缝板（3 )中心的 狭缝板通孔（4)射出，作为瞄准激光束，使狭缝板通孔（4)中射出的瞄准激光束照在定位小 球上即可。
【专利摘要】本发明涉及一种多波段晶体谱仪，它包括晶体分光系统、激光辅助瞄准系统和靶室悬臂调节系统；与现有技术相比，本发明的优点为：相比于普通单晶谱仪，本发明利用锥状晶体基座设计，在有限的立体空间内，可获得三种甚至多种不同波段的X光能谱，在不牺牲能谱分辨率的前提条件下，大幅拓宽了单次实验下的能谱测量范围；相比于普通的晶体谱仪的针尖瞄准方式，本发明采用的激光辅助瞄准，在保证高瞄准可靠性的同时，简化了调节步骤，省去了针尖安装、取下等影响瞄准稳定性的步骤，节省了调整时间；采用暗盒座一体设计，整体光密性好，整个晶体外壳无任何机械连接部分，无任何缝隙，避免了机械加工时可能存在的缝隙漏光问题。
【IPC分类】G01N23/20
【公开号】CN105301025
【申请号】CN201510699407
【发明人】熊俊, 贾果, 王琛, 王瑞荣, 杨学东, 安红海, 方智恒
【申请人】中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
【公开日】2016年2月3日
【申请日】2015年10月26日