起的。
[0026]依据第六方面，提供一种计算机程序产品，其用于在计算机上运行时，执行如上文定义的方法的步骤。
[0027]根据第七方面，提供一种介质，其用于存储和包含如上文定义的计算机程序产品。
[0028]基本的思想是响应于负载中/附近的问题，负载附近的装置应当改变电缆系统的特征频率，并且在中央位置的设备应当监控电缆系统的特征频率。
[0029]提供改进的装置和改进的设备和改进的方法的问题已经被解决。另一优点是，所述改进的装置和改进的设备和改进的方法是简单的、低成本的和稳健的(robust)。
[0030]本发明的这些和其它方面将从下文描述的实施例而显而易见，并且将参考下文描述的实施例予以阐释。
【附图说明】
[0031]在图中:
图1示出现有技术的电缆系统，
图2示出装置、熔断器和负载，
图3示出装置的第一实施例，
图4示出装置的第二实施例，
图5不出设备，
图6示出激活的信号电容器，和图7示出现有技术的负载。
【具体实施方式】
[0032]图1中示出现有技术的电缆系统，其包含电缆101和负载111-115。进一步地，熔断器121-125可存在，或不存在。每个负载111-115经由熔断器121-125间接地耦合到电缆101的第一导体，并且直接地耦合到电缆的第二导体。负载111-115可以是任何种类的负载，比如照明器，其例如包含一个或多个发光二极管。熔断器121-125可是任何种类的熔断器。可替代地，电缆101的第二导体可例如通过接地被另外地布置。
[0033]图2中示出装置10。装置10可改变电缆系统的特征频率，所述电缆系统包含电缆101和可能经由熔断器121连接到电缆101的负载111。装置10包含第一电路1，其耦合到负载111，用于检测负载111中或附近的问题，并且装置10包含第二电路2，其用于响应于来自第一电路1的检测结果而改变电缆系统的特征频率。第一个问题可能是熔断器121从导通模式进入不导通模式，或已经达到不导通模式。第二个问题可能是负载111和电缆101之间的断开连接。第三个问题可能是负载已具有过高阻抗或过低阻抗等等。将不排除第四个问题。
[0034]另外，第一电路1例如可包含用于检测负载111处或附近的电流信号或电压信号或阻抗的值的检测器。在熔断器不存在的情况下，为了第二个和第三个问题的检测，电流信号可包含流过负载111的电流信号或其衍生物，电压信号可包含存在于负载111两端的电压信号或其衍生物，并且阻抗可包含负载111的电阻或其衍生物。在熔断器121存在的情况下，为了第一和第二和第三个问题的检测，电流信号可包含流过熔断器121或流过负载111的电流信号或其衍生物，电压信号可包含存在于熔断器121两端或负载111两端的电压信号或其衍生物，并且阻抗可包含熔断器121的电阻或负载111的电阻或其衍生物。
[0035]所以，装置10相对靠近负载111地位于负载位置(load-locat1n)并且相对原远离中央位置。
[0036]图3中示出装置10的第一个实施例。此处，只作为例子，第二电路2包含信号电容器21和开关22。信号电容器21和开关22串联地连接，并且形成耦合到电缆101的两个导体的第一串联连接(第一分支)的部分。熔断器121和负载111 (负载111没有在此示出)形成并联耦合到第一串联连接的第二串联连接(第二分支)的部分。此处，第一电路1具有耦合到第一导体并且耦合到熔断器121的一端的第一端子，耦合到熔断器121的另一端的第二端子，和耦合到电缆101的第二导体的第三端子。该第一电路1例如包含检测器，其用于检测存在于负载111两端或熔断器121两端的电压信号，或检测代表问题的另一种信号。第一电路1可进一步例如包含用于将电压信号和第一基准信号比较的比较器。响应于电压信号中的改变，比如，例如存在于熔断器121两端的电压信号的升高或存在于负载111两端的电压信号的降低，第一电路1使开关22进入导通模式。优选地，开关22保持在此导通模式直到开关22重置。作为结果，响应于问题的检测，信号电容器21被激活并且改变电缆系统的特征频率等等，如藉由(at the hand of)图6所进一步描述。
[0037]图4中示出装置10的第二实施例。此处，再一次只作为例子，第二实施例与第一实施例不同在于，第一电路1具有耦合到第一导体并且耦合到熔断器121的一端的第一端子，耦合到所述熔断器121另一端的第二端子，耦合到电缆101的第二导体并且耦合到负载111的一端的第三端子，和耦合到所述负载111的另一端的第四端子。该第一电路1例如包含检测器，其用于检测流过负载111或流过熔断器121的电流信号，或检测代表问题另一种的信号。第一电路1可进一步例如包含用于将所述电流信号和第二基准信号比较的比较器。响应于电流信号的改变，比如流过负载111或流过熔断器121的电流信号的减小，第一电路1使开关22进入导通模式。优选地，开关22保持在该导通模式直到开关22的重置。作为结果，响应于问题的检测，信号电容器21被激活并且改变电缆系统的特征频率等等，如藉由图6所进一步描述。
[0038]图5中示出用于寻找藉由图1-4所讨论的电缆系统中的的问题的设备30。设备30包含耦合到电缆101的接口 8，并且进一步包含耦合到接口 8的用于测量电缆系统的特征频率的值的第三电路3。设备30也包含第四电路4，其用于将电缆系统的特征频率的测量的值与基准值比较。30可进一步包含:第五电路5，其用于从电缆系统的特征频率的测量的值和从关于装置10的信息衍生出电缆系统的电感值；以及第六电路6，其用于将电缆系统的电感的衍生的值转换为问题的位置或转换为定义问题的位置的距离，如藉由图6所进一步讨论。
[0039]设备30可进一步包含耦合到接口 8的第七电路7，其用于产生向另一个负载的存储电容器充电的充电信号，使得被充电的存储电容器将不影响第三电路3的性能，如藉由图7所进一步讨论。最后，设备30可包含例如处理器的控制器9，其用于控制单元3-8中的每一个，并且发送信息到向单元3-8中的每一个发以及从单元3-8中的每一个接收信息。可替代地，单元3-8中的一个或多个或者其部分可形成该控制器9的部分，或控制器9的部分可形成这些单元3-8中的一个或多个的部分。进一步地，人机界面可存在或者不存在。
[0040]因此，设备30位于中央位置并且相对远离在负载位置的负载111。
[0041]图6中示出激活的信号电容器21。熔断器123和125处于导通模式。熔断器124不再处于导通模式，并且作为结果，信号电容器21已被激活。可替代地，在没有熔断器存在的情况下，信号电容器21可响应于另一个问题的检测而已被激活。
[0042]信号电容器21具有电容值C。在信号电容器21被激活之后，设备30将测量电缆系统特征频率的值的改变。该电缆系统的特征频率的值的改变为问题已经发生的指示。测量的特征频率将等于一除以电容值C和电感值L的平方根和2 31的乘积。由于特征频率已被测量的事实并且由于信号电容器21的电容值C已知的事实，从这个等式可以计算电感值L。这样，第五电路5可从设备30的位置到激活的信号电容器21的位置衍生出电缆系统的电感值L。鉴于电缆的每单位距离的电感值由规格定义的事实，第六电路6可将衍生的值转换为问题的位置或转换为定义问题的位置的距离。
[0043]电缆系统中的问题可在电缆系统的通电或断电期间发生。通过检测电缆系统的特征频率的改变而检测电缆系统中的问题，这可在电缆系统断电期间完成。当开关22具有记忆功能时，它将保持在导通模式，直到开关22的重置。然后，例如在白天期间，当例如照明器的负载111-115没有消耗功率时，特征频率可被测量等等。
[0044]图7中示出现有技术负载113。该现有技术负载113包含整流桥201。整流桥201的输入是负载113的输入。整流桥201的输出耦合到dc-dc (直流-直流)转换器203的输入，并且耦合到存储电容器202。dc-dc转换器203的输出耦合到一个或多个发光二极管204。此处，在负载111-115其中之一处的信号电容器21已被激活的情况下，由于位于负载111-115中的同一个负载或另一个负载处的存储电容器202可能对测量有影响的事实，将由设备30测量的电缆系统的特征频率可能不被适当地测量。
[0045]为了克服该问题，设备30内的第七电路7可产生用于为另一个负载的存储电容器202充电的充电信号，使得被充电的存储电容器202将不对测量的性能产生影响。另外，例如在第三电路3包含向电缆系统注入不同频率的信号，并且测量响应，并且从这些响应计算特征频率的扫描调谐分