一种运算放大器的测试装置的制造方法

文档序号:9615343阅读:290来源:国知局
一种运算放大器的测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试装置,尤其涉及一种运算放大器的运算装置。
【背景技术】
[0002]目前市场上的测试装置不完全能能够和各种测试机匹配,不方便对测试运放的数据的一致性做出判断和管理,同时因为各种测试机匹配时因端口不统一,这样就不方便于生产管理识别和维护,同时也就限制了运算放大器的测试装置不能够通用多单元运算放大器。

【发明内容】

[0003]针对现有技术中存在的问题,本发明提供了一种运算放大器的测试装置,能够通用单/双/四单元运算放大器,同时对各种测试机匹配。
[0004]本发明采用如下技术方案:
[0005]—种运算放大器的测试装置,所述测试装置包括箱体,所述箱体内部包括:
[0006]底板,包括所述运算放大器测试电路的布线;
[0007]运放环路板,与所述底板固定连接,焊接有所述运算放大器的测试电路;
[0008]转接板,与所述底板连接,转接所述底板与所述运放环路板上的全部或部分测试信号。
[0009]上述的底板、运放环路板和转接板均设置于箱体的内部的空腔中,运放环路板的为双面电路板,在运放环路板的正面或反面焊接有继电器和待测的运算放大器,继电器与待测运算放大器焊接于运放环路板的正面,上述所称的正面指远离底板的一面,将运算放大器设置于运放环路板的正面方便测试过程中的拆卸。
[0010]上述的底板中印刷有测试电路的布线,所述继电器和所述运算放大器分别通过继电器和运算放大器的引脚对应的焊接在底板上,此外继电器和运算放大器也可以将运算放大器和继电器的引脚焊接在运放环路板上,再通过焊接运放环路板,与底板上布线对应的端口焊接,完成运放环路板上的器件与底板上的测试电路的布线的连接。当然,焊接于运放环路板上的器件可以不止包括继电器和运算放大器两种,还可以包括其他的必要的电子元件,通常将继电器焊接在运放环路板上的原因是继电器的体积较大,放置在底板上会影响其他器件的布置,所以可以将测试电路中需要使用到的继电器全部焊接在运放环路板上,以便于节省箱体内部的空间。而将待测的运算放大器焊接在运放环路板上主要是因为运放环路板的位置较为明显,并且凸出于底板,更换起来较为方便,所以在操作过程中不会误碰其他的器件,造成其他器件的损坏。
[0011]优选的,所述底板与所述运放环路板之间通过螺丝柱连接。
[0012]螺丝柱主要是固定底板与运放环路板之间的固定连接,并不涉及信号的传递,实际上是硬件的连接关系,而测试信号在底板与运放环路板之间只要靠焊接引脚的方式进行测试信号的传输。
[0013]优选的,所述运放环路板上焊接有继电器,所述继电器控制所述运放环路板上的所述测试信号的传输。
[0014]上述的继电器为测试电路的重要组成部分,当继电器的绕组有电流流过时,即在继电器绕组的输入端和输出端之间产生电压差的时候,继电器能够控制该继电器的常开触电闭合或者是常闭触点断开,以控制继电器的触电(连接端口)所连接的测试回路工作还是不工作,此处继电器起到一个开关的作用,本实施例中的继电器绕组的一端(输入端或者是输出端)通常与一个固定的电压源或者是电流源连接,另一端接入高电平或者是低电平,控制继电器的两端(输入端和输出端)产生电压差,继电器控制对应的测试回路投入工作,从而对运算放大器的部分参数进行测试。而哪一个继电器的绕组会有电流通过这一般由单片机进行控制,此处控制逻辑在下面进行详述。
[0015]优选的,所述运放环路板还焊接有过冲电压保护电路,保护所述继电器驱动电路。本实施例中的过冲电压保护电路焊接于底板上,在各个继电器的输入端或输出端、运算放大器的同相端、反相端或者是在测试电路中的任意一个采样点进行采样,与一预设的数值进行比较,当采样的数值超过预设的范围外的时候,进行报警或进行处理,此处的报警可以是该过冲电压保护电路与一报警器连接,当采样数值超范围的时候即发送报警信号使得报警器报警,同理,当采样的数值超范围的时候,过冲电压保护电路可以直接或者间接的控制测试电路断开,控制测试电路断开的方式可以通过上述的控制器使得测试电路断开。
[0016]优选的,所述继电器为带屏蔽层干簧继电器(BRS1A05)。
[0017]上述的继电器作为测试电路中必不可少并且频繁使用的电子器件,是因为继电器能够控制具体测试运算放大器的哪些参数,本实施例中的测试装置中,底板与运放回路板还上还集成了多个模块,这些模块主要包括:
[0018]电源模块,所述电源模块主要用于提供电能,所述的电源模块并不止一个电压源或者电流源,而是泛指本实施例中需要用到的电压源或者电流源,提供电能的对象也主要包括两个,其一是继电器,如上所述,继电器的一端需要与以固定的电源连接,该固定电源即可以是该电源模块,其二电源模块需要为待测的运算放大器提供电能,即为运算放大器施加电能,当待测的运算放大器为单电源器件的时候,可以将运算放大器接地,此外,通过改变在运算放大器施加的电压,再控制变量,也可以测试该运算放大器在不同电源电压的控制下的参数值。本实施例中的电源模块还包括接地的情况,例如如果想使得运算放大器的输入端输入共模电压,则可以将运算放大器的同相端和反相端均接地。
[0019]输入/输出电阻模块,所述运算放大器的同相端和反相端可以分别连接多个电阻,并且通过改变接入电路中的电阻的阻值,就可以使得运算放大器的同相端和反相端的输入信号发生改变。
[0020]反馈模块,反馈模块的连接方式主要是将运算放大器的输出端通过一反馈电阻与所述运算放大器的反相端相连,在测试运算放大器的开环模式下,通过一开关或继电器控制反馈模块不介入,相反,在闭环网络中,通过开关控制将反馈模块接入电路中。
[0021]上述所说的继电器可以通过单片机控制其触点的断开和闭合,其控制过程主要为:以二进制或其他进制表现形式的地址通过地址总线传输至地址译码器,地址译码器对该地址进行译码,在数据库中搜索对应的数据,当数据被搜索出来确定之后,再将该数据通过数据总线译码成相应的控制指令,该控制指令可以是低电平或者是高电平,包括低电平或者是高电平的数字信号通过控制总线传输至继电器的输入端或者是输出端,例如继电器的输入端接入+5V的电压,此时在继电器的输出端接入低电平,低电平对应的电压为0V,则在继电器的绕组间就会产生5V的压降,绕组中既有电流流过,根据电磁感应原理,继电器中的弹片能够吸合,即为常开触电的闭合,相应的测试电路即接通至本实施例中的测试电路中。
[0022]优选的,所述箱体包括:
[0023]顶盖;
[0024]底盖,能够与所述顶盖盖合,以及
[0025]所述顶盖与所述底盖盖合后形成空腔。
[0026]上述所提到的顶盖为三面开口的立方体,包括两个底板和一个侧板,一个侧板分别和两个底板连接,两个底板为平行放置,所述的两个底板上设置有通孔,该通过是为了在顶盖与底盖盖合后,能够与底盖固定连接的。
[0027]上述提到的底盖为一面开口的立方体,在盖合的时候,将该开口的一面对应的盖合在顶盖的侧板上,形成一个密闭的空腔,故底盖包括四个底板和一个侧板,顶盖的侧板与底盖的侧板在盖合后能够平行放置,底盖的底板中的两个底板上设有与顶盖的两个底板对应的通孔,方便将顶盖与底盖进行固定,所以底盖底板中带有通孔的这两个底板的形状也要和顶盖的两个侧板相对应,可以均为长方形。
[0028]优选的,所述测试装置还包括:
[0029]至少一个16屏蔽排线,与所述底板连接,将所述测试信号输出和/或接入输入信号。
[0030]优选的,所述16屏蔽排线通过16PIN连接器与所述底板连接。
[0031]优选的,所述测试装置还包括:
[0032]64屏蔽连线,与所述运放环路连接,将所述测试信号输出和/或接入输入信号。
[0033]优选的,所述64屏蔽连线通过64PIN连接器与所述底板连接。
[0034]优选的,所述箱体为不锈钢屏蔽外壳。
[0035]所述的16PIN连接器和64PIN连接器的引脚呈九十度弯折形状,也可以是其他的角度,这样方便调整屏蔽排线的方向,屏蔽排线可以用于输入信号和输出信号,并且屏蔽排线的两端均
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