一种测距校准冶具和测距校准方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明实施例涉及测距校准技术领域，尤其涉及一种测距校准冶具和测距校准方 法及装置。
【背景技术】
[0002] 随着传感器技术的发展，非接触式检测技术已被广泛的应用于多个领域。由于超 声波具有可以直接测量近距离目标，纵向分辨率高，适用范围广，方向性强，并具备不受光 线、烟雾、电磁干扰等因素影响，超声波测距已普遍应用到液位测量、移动机器人定位和避 障等领域，应用前景广阔。
[0003]目前，超声波传感器被应用于移动终端上，用于检测用户与移动终端的距离以及 用户的隔空手势，来控制移动终端进行相应的操作，给用户带来了良好的体验。由于超声波 传感器在移动终端上的很多应用都是基于超声波精准的距离测试功能上的，如果超声波本 身测试的距离都不正确或超出允许的误差范围，那么必然影响超声波技术在移动终端上的 应用，而现有技术中在移动终端出厂前没有对移动终端的超声波传感器的测距功能进行校 准，可能导致移动终端出厂投入使用后超声波传感器测距不准确，影响利用超声波技术控 制移动终端的操作，降低了用户的体验满意度。
【发明内容】
[0004] 本发明实施例提供一种测距校准冶具和测距校准方法及装置，以提高移动终端中 超声波传感器的测距准确度。
[0005] 第一方面，本发明实施例提供了一种测距校准冶具，包括安置平台和位于所述安 置平台上方的校准基板，所述安置平台与所述校准基板平行；
[0006] 所述安置平台用于放置移动终端，以支持所述移动终端的超声波传感器向所述校 准基板发射超声波；
[0007] 所述校准基板用于将接收到的所述超声波反射回所述移动终端的超声波传感器， 以支持所述移动终端生成所述安置平台与所述校准基板之间的测试距离，并根据所述测试 距离和预设标准距离生成测距校准参数。
[0008] 第二方面，本发明实施例还提供一种测距校准方法，包括：
[0009] 利用放置于所述测距校准冶具的安置平台的移动终端的超声波传感器向所述测 距校准冶具的校准基板发射超声波；
[0010] 利用所述超声波传感器接收从所述校准基板反射回的超声波，生成所述安置平台 与所述校准基板之间的测试距离，并根据所述测试距离和预设标准距离生成测距校准参 数，以根据所述测距校准参数对后续测得的距离进行校准。
[0011] 第三方面，本发明实施例还提供一种测距校准装置，包括：
[0012] 超声波发射单元，用于利用放置于所述测距校准冶具的安置平台的移动终端的超 声波传感器向所述测距校准冶具的校准基板发射超声波；
[0013] 测距校准参数生成单元，用于利用所述超声波传感器接收从所述校准基板反射回 的超声波，生成所述安置平台与所述校准基板之间的测试距离，并根据所述测试距离和预 设标准距离生成测距校准参数，以根据所述测距校准参数对后续测得的距离进行校准。
[0014] 本发明实施例提供的测距校准冶具和测距校准方法及装置，通过提供一种由安置 平台和校准基板组成的测距校准冶具，对出厂前的移动终端的超声波传感器的测距进行校 准，根据所述超声波传感器测得的安置平台和校准基板之间的测试距离和预设标准距离生 成测距校准参数，以根据所述校准参数对后续测得的距离进行校准，提高了移动终端中超 声波传感器的测距准确度。
【附图说明】
[0015] 图1是本发明实施例一提供的测距校准冶具的结构示意图；
[0016] 图2是本发明实施例一提供的测距校准冶具的另一结构示意图；
[0017] 图3是本发明实施例二提供的测距校准方法的流程图；
[0018] 图4是本发明实施例二提供的移动终端的超声波传感器的结构示意图；
[0019] 图5是本发明实施例三提供的测距校准方法的流程图；
[0020] 图6是本发明实施例四提供的测距校准方法的流程图；
[0021] 图7是本发明实施例四提供的预设标准函数P和测试函数Q的示意图；
[0022] 图8是本发明实施例五提供的测距校准装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0023] 为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图对本发明具体实 施例作进一步的详细描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明， 而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关 的部分而非全部内容。在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实 施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作（或步骤）描述成顺 序的处理，但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各项操作的顺 序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图 中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。
[0024] 实施例一
[0025] 图1给出了本发明实施例一提供的测距校准冶具的结构示意图。如图1所示，本 发明实施例一提供的测距校准冶具包括安置平台1和位于所述安置平台上方的校准基板 2,所述安置平台1与所述校准基板2平行；所述安置平台1用于放置移动终端，以支持所述 移动终端的超声波传感器向所述校准基板2发射超声波；所述校准基板2用于将接收到的 所述超声波反射回所述移动终端的超声波传感器，以支持所述移动终端生成所述安置平台 1与所述校准基板2之间的测试距离，并根据所述测试距离和预设标准距离L生成测距校准 参数。
[0026] 所述预设标准距离L为在形成测距校准冶具的时候，预先设定的安置平台1与校 准基板2之间的标准距离，其中所述预设标准距离L可以为小于预设值的任何距离，所述预 设值为移动终端的超声波传感器的测距量程，测距量程的取值范围为150-200厘米。
[0027] 其中，所述校准基板1可以为平面校准基板（如图1所示）或由至少两个平行的 平面校准基板组成的阶梯校准基板（如图2所示）。图2给出了本发明实施例一提供的测 距校准冶具的另一结构示意图，如图2所示，与图1所示的平面校准基板不同的是，所述校 准基板为阶梯校准基板，其中阶梯的个数可以为2个，也可以为3个、4个等，本实施例对此 不做限制。在图2所示的阶梯校准基板2中有两个平面校准基板时，对应两个预设标准距 离L1和L2。
[0028] 另外，所述测距校准冶具还包括位于所述安置平台1与所述校准基板2之间的至 少一个支撑板3,所述支撑板3的一端与安置平台1连接，另一端与校准基板2连接，用于支 撑和连接安置平台1与校准基板2。所述支撑板可以与所述安置平台和校准基板一体成型 而成，也可以为非一体成型的可以改变高度的支撑板。
[0029] 优选的是，所述安置平台1上开设有凹槽4,所述凹槽4位于校准基板2的下方，所 述凹槽4的深度与凹槽4内待放置的移动终端的厚度相同。
[0030] 所述凹槽4用于放置移动终端，所述凹槽4的横向长度可以大于移动终端的宽