一种校准光电式转速仪的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及计量检测技术领域，特别是涉及一种校准光电式转速仪的方法。
【背景技术】
[0002]目前光电式转速仪(表)的合格与否是按照国家检定规程JJG105-2000进行的。对非接触式手持式电子计数式转速表(即光电式转速仪)检定按照检规中5.8.4.3要求，在检定时应调整好被检表和转速装置转轴的间距并确认被检表能正常接收被检信号。
[0003]问题是目前所用的标准转速装置是由调速马达配合减速机完成。这样的标准转速装置是机械式的，缺点是误差大，转速输出范围有限。目前国内标准转速装置输出转速最大40000转/分，精度最高为1 X 10-4。而市场上现有光电式转速仪的量程高达99999转/分，精度最高达1 X 10-6。用传统的标准转速装置根本无法对现有的高精度，宽量程光电式转速仪进行检定。
[0004]因此，希望有一种技术方案来克服或至少减轻现有技术的至少一个上述缺陷。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提供一种校准光电式转速仪的方法来克服或至少减轻现有技术的中的至少一个上述缺陷。
[0006]为实现上述目的，本发明提供一种校准光电式转速仪的方法，所述校准光电式转速仪的方法包括如下步骤:步骤1:选用比待测光电式转速仪的信号源精度高的低频信号发生器与发光二极管连接;步骤2:使低频信号发生器驱动所述发光二极管工作，并用待测光电式转速仪进行所述发光二极管的发光频率;步骤3:在同一时间量级的基础上，对比所述待测光电式转速仪与所述低频信号发生器的工作频率是否一致。
[0007]优选地，所述低频信号发生器的最大工作频率大于所述待测光电式转速仪的测量范围。
[0008]优选地，所述发光二极管为单色光二极管，所述发光二极管的强度大于lOmcd，发光半值角为5度?20度。
[0009]优选地，所述步骤2进一步包括:使所述低频信号发生器使用多档频率驱动所述发光二极管工作。
[0010]优选地，所述步骤2中的低频信号发生器频率的多档频率为7档，具体为:10Hz，100Hz，200Hz，500Hz，ΙΚΗζ，1.5KHz，1.66KHz。
[0011 ]优选地，所述发光二极管选用红色单光二极管。
[0012]优选地，所述低频信号发生器的输出频率为0?20KHz，信号为正弦信号。
[0013]采用本发明的校准光电式转速仪的方法，通过使用比待测光电式转速仪的信号源精度高的低频信号发生器进行检测，能够解决现有标准中转速装置量程和精度等级不足的问题，实现实际中任意量程，任意精度要求的光电式转速仪(表)的计量检定/校准，且本发明实施方便，成本低，工作可靠。
【附图说明】
[0014]
[0015]图1是根据本发明第一实施例的校准光电式转速仪的方法的流程示意图。
【具体实施方式】
[0016]为使本发明实施的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行更加详细的描述。在附图中，自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。下面结合附图对本发明的实施例进行详细说明。
[0017]在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底” “内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明保护范围的限制。
[0018]图1是根据本发明第一实施例的校准光电式转速仪的方法的流程示意图。
[0019]据本发明的校准光电式转速仪的方法包括如下步骤:步骤1:选用比待测光电式转速仪的信号源精度高的低频信号发生器与发光二极管连接;步骤2:使低频信号发生器驱动所述发光二极管工作，并用待测光电式转速仪进行所述发光二极管的发光频率;步骤3:在同一时间量级的基础上，对比所述待测光电式转速仪与所述低频信号发生器的工作频率是否一致。
[0020]在本实施例中，低频信号发生器的最大工作频率大于待测光电式转速仪的测量范围。这样，能够测试待测光电式转速仪的全频率范围，从而使校准更为准确。
[0021]有利的是，发光二极管为单色光二极管，发光二极管的强度大于lOmcd，发光半值角为5度?20度。有利的是，在本实施例中，所述发光二极管选用红色单光二极管。采用红色单光二极管是因为红色单光二极管的灵敏度更好。
[0022]有利的是，在本实施例中，所述步骤2进一步包括:使所述低频信号发生器使用多档频率驱动所述发光二极管工作。这样，通过多档测试，能够使测试结果更为准确。
[0023]在本实施例中，步骤2中的低频信号发生器频率的多档频率为7档，具体为:10Hz，100Hz，200Hz，500Hz，ΙΚΗζ，1.5KHz，1.66KHz。这7档能够分别代表待测光电式转速仪的自低至高的频率，选用这些频率，能够使测试更为准确。
[0024]在本实施例中，低频信号发生器的输出频率为0?20KHz，信号为正弦信号。
[0025]最后需要指出的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制。尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
【主权项】
1.一种校准光电式转速仪的方法，其特征在于，所述校准光电式转速仪的方法包括如下步骤: 步骤1:选用比待测光电式转速仪的信号源精度高的低频信号发生器与发光二极管连接； 步骤2:使低频信号发生器驱动所述发光二极管工作，并用待测光电式转速仪进行所述发光二极管的发光频率； 步骤3:在同一时间量级的基础上，对比所述待测光电式转速仪与所述低频信号发生器的工作频率是否一致。2.如权利要求1所述的校准光电式转速仪的方法，其特征在于，所述低频信号发生器的最大工作频率大于所述待测光电式转速仪的测量范围。3.如权利要求1所述的校准光电式转速仪的方法，其特征在于，所述发光二极管为单色光二极管，所述发光二极管的强度大于lOmcd，发光半值角为5度?20度。4.如权利要求1所述的校准光电式转速仪的方法，其特征在于，所述步骤2进一步包括: 使所述低频信号发生器使用多档频率驱动所述发光二极管工作。5.如权利要求4所述的校准光电式转速仪的方法，其特征在于，所述步骤2中的低频信号发生器频率的多档频率为7档，具体为:10Hz，100Hz，200Hz，500Hz，ΙΚΗζ，1.5KHz，1.66KHzo6.如权利要求3所述的校准光电式转速仪的方法，其特征在于，所述发光二极管选用红色单光二极管。7.如权利要求1所述的校准光电式转速仪的方法，其特征在于，所述低频信号发生器的输出频率为0?20KHz，信号为正弦信号。
【专利摘要】本发明公开了一种校准光电式转速仪的方法。所述校准光电式转速仪的方法包括如下步骤：步骤1：选用比待测光电式转速仪的信号源精度高的低频信号发生器与发光二极管连接；步骤2：使低频信号发生器驱动所述发光二极管工作，并用待测光电式转速仪进行所述发光二极管的发光频率；步骤3：在同一时间量级的基础上，对比所述待测光电式转速仪与所述低频信号发生器的工作频率是否一致。采用本发明的校准光电式转速仪的方法，通过使用比待测光电式转速仪的信号源精度高的低频信号发生器进行检测，能够解决现有标准中转速装置量程和精度等级不足的问题，实现实际中任意量程，任意精度要求的光电式转速仪的计量检定/校准，本发明成本低，工作可靠。
【IPC分类】G01P21/02
【公开号】CN105445497
【申请号】CN201510783980
【发明人】侯志弢, 刘争强
【申请人】陕西航空电气有限责任公司
【公开日】2016年3月30日
【申请日】2015年11月16日