固定连接。3.按照权利要求1所述的一种大阵列电阻式应变片自动检测装置，其特征在于:所述吸附台下盖(13-1)与吸附台上盖(13-2)之间设置有密封垫(13-4)，所述吸附台下盖(13-1)、密封垫(13-4)和吸附台上盖(13-2)通过吸附台连接螺栓(13-5)固定连接，所述吸附台下盖(13-1)的侧面设置有螺纹孔(13-6)，所述真空管(31)通过气动接头(33)与螺纹孔(13-6)连接。4.按照权利要求1所述的一种大阵列电阻式应变片自动检测装置，其特征在于:所述吸附台上盖(13-2)的上表面上设置有多条水平向凹槽和多条竖直向凹槽，多条所述水平向凹槽和多条所述竖直向凹槽相互交叉形成了多个凸块(13-7)，所述吸附孔(13-3)的数量为多个，多个吸附孔(13-3)分布在多个凸块(13-7)上;所述吸附台上盖(13-2)上表面的形状为矩形，所述吸附台上盖(13-2)上表面的四个脚上均刻有参考定位线(13-8)。5.按照权利要求1所述的一种大阵列电阻式应变片自动检测装置，其特征在于:所述第一气缸滑台(2)为无杆气缸滑台，所述检测电路板(8)的数量为两块，两块所述检测电路板(8)—上一下通过铜螺柱(7)和螺钉(34)固定连接，所述弹簧探针阵列(9)与上部的检测电路板(8)焊接并穿透下部的检测电路板(8)后再向下穿出探针盒(6)。6.按照权利要求1所述的一种大阵列电阻式应变片自动检测装置，其特征在于:所述弹簧探针阵列(9)由多组弹簧探针组构成，每组弹簧探针组均由用于在测量时与一个电阻应变片的四个测量点对应接触的四根弹簧探针组成;每路应变片电阻电压检测电路(40)均包括型号均为ADG84的芯片S1、芯片S2和芯片S3，所述信号输出接口(39)为具有四个引脚的接线端口 PI;所述芯片SI的第I引脚与供电电源的输出端VCC相接，且通过电容CI接地，所述芯片SI的第4引脚和第8引脚连接且为应变片电阻电压检测电路(40)的第一控制信号输入端IN1，所述芯片SI的第5引脚与所述电阻应变片的第一个测量点连接，所述芯片SI的第6引脚接地，所述芯片SI的第7引脚与所述电阻应变片的第二个测量点连接;所述芯片S2的第I引脚与供电电源的输出端VCC相接，且通过电容C2接地，所述芯片S2的第4引脚和第8引脚连接且为应变片电阻电压检测电路(40)的第二控制信号输入端IN2，所述芯片S2的第5引脚与所述电阻应变片的第三个测量点连接，所述芯片S2的第6引脚接地，所述芯片S2的第7引脚与所述电阻应变片的第四个测量点连接;所述芯片S3的第I引脚与供电电源的输出端VCC相接，且通过电容C3接地，所述芯片S3的第4引脚和第8引脚连接且为应变片电阻电压检测电路(40)的第三控制信号输入端IN3，所述芯片S3的第5引脚与所述电阻应变片的第一个测量点连接，所述芯片S3的第6引脚接地，所述芯片S3的第7引脚与所述电阻应变片的第二个测量点连接;所述应变片电阻电压检测电路(40)的第一控制信号输入端IN1、第二控制信号输入端IN2和第三控制信号输入端IN3均与数据采集板卡(36)的信号输出端连接，所述芯片SI的第3引脚为应变片电阻电压检测电路(40)的第一信号输出端D1，所述芯片SI的第9引脚为应变片电阻电压检测电路(40)的第二信号输出端D2，所述芯片S2的第3引脚和所述芯片S3的第3引脚相接且为应变片电阻电压检测电路(40)的第三信号输出端D3，所述芯片S2的第9引脚和所述芯片S3的第9引脚相接且为应变片电阻电压检测电路(40)的第四信号输出端D4，每路应变片电阻电压检测电路(40)的第一信号输出端Dl均与所述接线端口 Pl的第I弓丨脚连接，每路应变片电阻电压检测电路(40)的第二信号输出端D2均与所述接线端口 Pl的第2引脚连接，每路应变片电阻电压检测电路(40)的第三信号输出端D3均与所述接线端口 Pl的第3引脚连接，每路应变片电阻电压检测电路(40)的第四信号输出端D4均与所述接线端口 Pl的第4引脚连接。7.按照权利要求6所述的一种大阵列电阻式应变片自动检测装置，其特征在于:所述台式数字万用表(37)为吉时利2000型台式数字万用表(37)，所述接线端口Pl的第I引脚与所述吉时利2000型台式数字万用表(37)的INPUT HI接口连接，所述接线端口Pl的第2引脚与所述吉时利2000型台式数字万用表(37)的INPUT LO接口连接，所述接线端口Pl的第3引脚与所述吉时利2000型台式数字万用表(37)的SENSE Q4WIRE HI接口连接，所述接线端口Pl的第4引脚与所述吉时利2000型台式数字万用表(37)的SENSEQ 4WIRE LO接口连接。8.按照权利要求1所述的一种大阵列电阻式应变片自动检测装置，其特征在于:所述数据采集板卡(36)的型号为NI PCI6509，所述输出放大板(38)的型号为HSF16M。9.一种利用如权利要求1所述自动检测装置进行大阵列电阻式应变片自动检测的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤: 步骤一、操作工人手动将大阵列电阻式应变片膜片(14)放置在真空吸附台(13)上后，在计算机(35)上输入吸附固定指令，并启动真空栗(30)，数据采集板卡(36)通过输出放大板(38)输出信号驱动真空电磁阀(25)打开，真空栗(30)抽真空使所述真空腔内产生负压，将大阵列电阻式应变片膜片(14)吸附固定在吸附台上盖(13-2)的上表面上； 步骤二、在计算机(35)上输入开始检测指令，首先，数据采集板卡(36)通过输出放大板(38)输出信号驱动第一气动电磁阀(26)打开，第一气缸滑台(2)通过气缸滑台安装板(3)带动第二气缸滑台(4)和弹簧探针阵列(9)水平运动;然后，数据采集板卡(36)通过输出放大板(38)输出信号驱动第二气动电磁阀(32)打开，第二气缸滑台(4)通过连接板(5)带动弹簧探针阵列(9)向下运动，使弹簧探针阵列(9)到达要检测的第一组电阻应变片单元处； 步骤三、操作计算机(35)，计算机(35)通过台式数字万用表(37)和应变片电阻电压检测电路(40)，对第一组电阻应变片单元中各个电阻应变片的电阻和电压进行测量，台式数字万用表(37)将测量结果输出给计算机(35)，计算机(35)将测量结果与检测标准进行比较，并记录比较结果； 步骤四、比较结果记录完成后，首先，数据采集板卡(36)通过输出放大板(38)输出信号驱动第二气动电磁阀(32)换向，第二气缸滑台(4)通过连接板(5)带动弹簧探针阵列(9)向上运动，使弹簧探针阵列(9)离开要检测的第一组电阻应变片单元；然后，数据采集板卡(36)通过输出放大板(38)输出信号驱动Y轴移动电机(15)，Y轴移动电机(15)带动真空吸附台(13)移动，Y轴移动光栅尺(10)将移动距离通过数据采集板卡(36)反馈给计算机(35)，直至移动了一组电阻应变片单元的宽度距离后停止； 步骤五、数据采集板卡(36)再次通过输出放大板(38)输出信号驱动第二气动电磁阀(32)换向，第二气缸滑台(4)通过连接板(5)带动弹簧探针阵列(9)向下运动，使弹簧探针阵列(9)到达要检测的下一组电阻应变片单元处； 重复步骤三至步骤五，直至所有的电阻应变片单元检测完成。
【专利摘要】本发明公开了一种大阵列电阻式应变片自动检测装置，包括机架、定位固定机构、检测机构、计算机、数据采集板卡、台式数字万用表和输出放大板；定位固定机构包括二维移动平台、真空吸附台和真空吸附回路，真空吸附台包括吸附台下盖和吸附台上盖；真空吸附回路包括真空泵、真空过滤器、真空度调节阀和真空电磁阀；检测机构包括第一气缸滑台、气缸滑台安装板、第二气缸滑台、气动回路、探针盒、检测电路板和弹簧探针阵列；气动回路包括气泵、空气过滤器、减压阀和压力表；本发明还公开了一种大阵列电阻式应变片自动检测方法。本发明设计新颖合理，实现成本低，工作可靠性高，能够提高生产效率，降低工人劳动强度及产品生产成本，推广应用价值高。
【IPC分类】G01R27/02, G01R19/00, G01B7/16, G01L25/00
【公开号】CN105509961
【申请号】CN201511024782
【发明人】赵峰, 苗玉刚, 秦伟, 何斌, 尹继武
【申请人】陕西理工学院
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2015年12月31日