一种红外探测器单黑体响应率测试方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及光电探测器的标定和测量技术，特别是防止红外探测器响应率随溫度 变化的单黑体响应率测试方法。
【背景技术】
[0002] 响应率是指在指定波长下，探测器所产生的信号与入射的该波长光功率的比值， 要实现其绝对测量需要准确测量得到入射到探测器的该波长的光功率和探测器产生的信 号。
[0003] 单黑体响应率测试的原理为:在光学测试结构满足条件的前提下，不同黑体溫度 下探测器的输出之差与溫度与黑体溫度之差的比值;但是单黑体在在切换溫度的过程中， 红外探测器本身会发生输出漂移的现象，降低了响应率的测试精度;有待改进。
【发明内容】
[0004] 本发明针对现有技术的不足，提供了一种防止红外探测器本身发生输出漂移的现 象，提高响应率的测试精度的红外探测器单黑体响应率测试方法。
[0005] 为实现本发明目的，提供了 W下技术方案:一种红外探测器单黑体响应率测试方 法，在测试单黑体不同溫度时的红外探测器输出时，其特征在于包括W下步骤： a. 首先采集单黑体溫度为T1的基准电压Vtl，单黑体溫度为T2的基准电压Vt2; b. 然后当单黑体溫度切换成T1时，检测出当时的输出电压VI，当单黑体溫度切换成T2 时，检测出当时的输出电压V2; C.利用T1的基准电压Vtl，T2的基准电压Vt2对所要测试的溫度的数据进行校正，进而 计算出测试的响应率，计算公式如下：
式中：\^'为红外探测器的响应率，￥1为探测器对在单黑体溫度为1!的输出电压，￥*1为 在黑体溫度为T1的基准电压，V2为探测器对着在黑体溫度为T2的输出电压，Vt2为在黑体溫 度为T2的基准电压，ΔΤ为T1-T2的溫度差。
[0006] 本发明有益效果:本发明通过设置检测基准数据，通过基准数据对测量数据进行 逐行矫正，有效防止红外探测器本身发生输出漂移的现象，提高响应率的测试精度。
【具体实施方式】
[0007] 实施例1: 一种红外探测器单黑体响应率测试方法，在测试单黑体不同溫度时的红 外探测器输出时，其特征在于包括W下步骤:首先采集单黑体溫度为T1的基准电压Vtl，单 黑体溫度为T2的基准电压Vt2;然后当单黑体溫度切换成T1时，检测出当时的输出电压VI， 当单黑体溫度切换成T2时，检测出当时的输出电压V2;利用T1的基准电压Vtl，T2的基准电 压Vt2对所要测试的溫度的数据进行校正，进而计算出测试的响应率，计算公式如下：
黑体溫度分别设置为20°C和35°C，采用常规方法测试的响应率见表1为： 表1采用常规方法测试的响应率：
黑体溫度分别设置为20°C和35摄氏度，采用该专利方法测试的响应率见表2为： 表2采用该申请方法测试的响应率：
对比表1和表2的响应率的标准差克制，采用该专利方法测试的响应率的重复性更高。
【主权项】
1. 一种红外探测器单黑体响应率测试方法，在测试单黑体不同温度时的红外探测器输 出时，其特征在于包括以下步骤： 首先采集单黑体温度为T1的基准电压Vtl，单黑体温度为T2的基准电压Vt2; 然后当单黑体温度切换成T1时，检测出当时的输出电压VI，当单黑体温度切换成T2时， 检测出当时的输出电压V2; 利用T1的基准电压Vtl，T2的基准电压Vt2对所要测试的温度的数据进行校正，进而计 算出测试的响应率，计算公式如下：式中：Vr为红外探测器的响应率，VI为探测器对在单黑体温度为T1的输出电压，Vtl为 在黑体温度为T1的基准电压，V2为探测器对着在黑体温度为T2的输出电压，Vt2为在黑体温 度为T2的基准电压，ΔΤ为T1-T2的温度差。
【专利摘要】一种红外探测器单黑体响应率测试方法，涉及光电探测器的标定和测量技术，通过在测试不同黑体温度的探测器输出时，首先采集同一基准面的数据，采用该基准面的探测器输出数据对测试数据进行校正，进而计算出测试的响应率，计算公式如下：？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？有效防止红外探测器本身发生输出漂移的现象，提高响应率的测试精度。
【IPC分类】G01J5/00
【公开号】CN105628215
【申请号】CN201610088982
【发明人】吕鹏, 何旭娇, 谈彬武, 张豪, 许勇, 周平
【申请人】无锡元创华芯微机电有限公司
【公开日】2016年6月1日
【申请日】2016年2月17日