程，缩减了生产步骤，提高了生产效率。
[0042]综上所述，与现有技术相比，本实施例具有能够实现较为彻底的老化、减少生产劳动、提高生产效率的特点。
[0043]作为本实施例的一种改进，如图2所示，预设条件为预设标志位为约定值；
[0044]步骤I进一步为:判断预设标志位是否为约定值，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3。
[0045]标志位是用作后续条件转移指令的转移控制条件。本实施例中，采用预设标志位为约定值作为预设条件，操作方便。
[0046]作为上述实施例的另一种改进，如图3所示，预设条件为预设标志位为第一约定值；
[0047]步骤I进一步为:判断预设标志位为第一约定值、第二约定值还是第三约定值，如果是第一约定值，转至步骤2，如果是第二约定值，转至步骤31，如果是第三约定值，转至步骤32;
[0048]步骤3包括:
[0049]步骤31:模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的单元功能测试，然后转至步骤I;
[0050]步骤32:模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的正常功能测试，然后转至步骤
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[0051]本实施例中，将产品的功能测试分为产品的单元功能测试和产品的正常功能测试。其中，产品的单元功能测试是对产品的各个功能单元或功能模块进行测试，产品的正常功能测试是对产品的功能进行模拟测试，该模拟测试是模拟产品正常工作状态下的工作流程。本实施例中，通过判断预设标志位的约定值，实现对电子元器件和硬件部件的测试、产品的单元功能测试或产品的正常功能测试的选择执行，提高了电子产品老化测试的全面性。
[0052]作为上述实施例的进一步改进，如图4所示，步骤I之前还包括:
[0053]步骤10:开始计时；
[0054]步骤11:判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至步骤12，否则转至步骤I;
[0055]步骤12:更新预设标志位的数值，然后转至步骤10。
[0056]本实施例中，由于可编程电子产品中的CPU多以定时器和计数器作为选择判断条件，其中，定时器是以内部时钟作为基准来工作的，而计数器是以外部脉冲输入来计数的，为了开发的便利性，本实施例，优选的，采用定时器设置定时时间，将老化方法分为两个分支:预设标志位的初始值为约定值，当定时时间没到时，进行电子元器件和硬件部件的测试，当定时时间到达，更新预设标志位的数值为非约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的产品的功能测试流程，同时开始计时，当定时时间到达，更新预设标志位的数值为约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的电子元器件和硬件部件的测试，依此循环。
[0057]又如，预设标志位的初始值为第一约定值，当定时时间没到时，进行电子元器件和硬件部件的测试，当定时时间到达，更新预设标志位的数值为第二约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的产品的单元功能测试流程，同时开始计时；当定时时间到达，更新预设标志位的数值为第三约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的产品的正常功能的测试，同时开始计时；当定时时间到达，更新预设标志位的数值为第一约定值，然后根据预设标志位的值执行相应的电子元器件和硬件部件的测试，依此循环。
[0058]本改进中，通过设置定时时间和判断定时时间，可以实现预设标志位的数值的变换，以便指示进行另一个测试流程。
[0059]上述实施例中，步骤2包括:在进行电子元器件和硬件部件的测试时，显示当前测试信息；
[0060]步骤3包括:在进行产品的功能测试时，显示当时测试信息；
[0061]当前测试信息包括:测试项目名称、测试状态、和/或测试结果。
[0062]测试项目名称包括:测试的元器件、硬件、或功能的名称；测试状态包括:正在测试、结束测试;测试结果包括:测试通过、测试失败。
[0063]本实施例中，为了方便测试人员查看当前电子产品正在进行哪个流程的测试，采用显示器给出提示。例如，如果硬件有LCD显示屏的，本实施例将根据当前测试是在电子元器件和硬件部件的测试阶段、产品的单元功能的测试阶段或产品的正常功能的测试阶段，在LCD显示屏上显示“正在进行电子元器件和硬件部件测试、正在进行产品的单元功能测试或正在进行产品的正常功能测试”的不同提示字样；
[0064]当进入某个测试阶段的时候，对其中的更小一级的测试也作出相应的有差别的提示，一旦出现问题，能方便测试人员通过测试表象就能快速准确定位问题所在。例如在进行电子元器件和硬件部件测试的时候，有NAND FLASH和DDR内存，那IXD显示屏将显示“正在进行NAND FLASH或DDR测试，测试通过或失败”等等；
[0065]当然这个LCD可以是产品本身就有的，也可以是专门为了老化测试而暂时外接的。起提示作用的不仅限于LCD，也可以是LED、蜂鸣器，或通过各种通信接口输出测试信息的各种方式。
[0066]上述实施例的电子产品老化测试方法是通过老化程序实现的，而老化程序并不单独存在，而是作为产品出厂程序中的一部分，或更具体的说为产品出厂程序中的一个功能单元而存在。老化程序的启动可以通过特定的通信指令，或是外部的某些特殊动作实现，如检测到开关按下等等；
[0067]由于老化程序作为产品出厂程序中的一个功能单元而存在，所以老化程序就能够正常调用产品出厂程序中各个功能的运行程序，使老化程序在进行的各个功能单元测试和产品正常功能测试，能够真正具有检测程序功能BUG和运行效率的作用。另外，产品出厂后老化程序一直存在于产品的出厂程序中。当产品出现问题的时候，其可以作为一个检错程序运行。
[0068]实施例:
[0069]下面，本发明以虹膜产品为例，提供一种电子产品老化测试方法的实施例，如图5所示，虹膜产品包括主板和镜头板，主板包括CPU、FLASH、DDR2和BEEP(蜂鸣器)，镜头板包括:CMOS图像传感器、LED(指示灯)、补光灯。该虹膜产品的主要功能就是，通过接收外部的指令，进行用户虹膜的注册、存储、识别、比对。
[0070]该虹膜产品老化方法，包括:
[0071]步骤201:开始计时；
[0072]步骤202:判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至步骤203，否则转至步骤204;
[0073]步骤203:更新预设标志位的数值，转至步骤201。
[0074]步骤204:判断预设标志位是否为约定值，如果是，转至步骤205，否则，转至步骤206。
[0075]步骤205:进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤202;
[0076]本步骤中，电子产品通常可以包括以下元器件:Flash、DDR2、生物特征采集传感器、蜂鸣器、LED指示灯、补光灯中的一种或多种。本步骤可以实现对这些元器件一一进行调用，对每一个元器件进行单独测试。
[0077]步骤206:模拟生物特征输入，对生物特征数据执行特征提取和比对识别测试，并给出提示，然后转至步骤202。
[0078]本步骤中，提示可以采用屏幕显示、声音提示、灯光提示中的一种或多种。
[0079]其中，步骤205可以包括:
[0080]步骤301:判断Flash的写入次数是否达到设定值，如果否，执行下一步骤，如果是，表示Flash通过测试，Flash测试结束；
[0081]步骤302:向Flash中写入一组数据，然后读出比较，判断比较结果；
[0082]步骤301和步骤302中，由于Flash有擦除次数的限制，频繁擦除会影响其寿命，所以先对Flash的写入次数是否达到设定值进行判断，如果是，则可以认为Flash已经通过了老化，否则，本实施例中，通过向Flash进行数据的写入和读出比较，来进行Flash测试。
[0083]和/或，
[0084]步骤401:判断DDR2的写入次数是否达到设定值，如果否，执行下一步骤，如果是，表示DDR2通过测试，DDR2测试结束；
[0085]步骤402:向DDR2中写入一组数据，然后读出比较，判断比较结果；
[0086]步骤401和步骤402中的DDR2测试过程与Flash相同。
[0087]和/或，
[0088]步骤501:采集生物特征，对生物特征进行检测，若检测未通过，表示生物特征采集传感器未通过可靠性检测，输出结果并结束；
[0089]和/或，
[0090]步骤601:向蜂鸣器发送控制信号使其发出提示音，若蜂鸣器未正确响应，表示蜂鸣器未通过可靠性检测，输出结果并结束；
[0091]和/或，
[0092]步骤701:向LED指示灯发送控制信号使其发出提示光，若LED指示灯未正确响应，表示LED指示灯未通过可靠性检测，输出结果并结束；
[0093]和/或，
[0094]步骤801:向补光灯发送控制信号使其发出补光