一种基于x射线的高压限流熔断器质量检测方法
【专利摘要】本发明公开了一种基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法,包括以下步骤：获取待测型号高压限流熔断器的标准X射线透射图像，且建立两者之间的对应关系；启动X射线发生器，摄取当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像，且将其按照当前被测高压限流熔断器的检测顺序编号；获取所述当前被测高压限流熔断器的型号；比较其与相同型号的高压限流熔断器的标准X射线透射图像的相似度；根据所述相似度，判断所述当前被测高压限流熔断器的质量是否合格。上述方法是一种无损检测方法，适合规模化的进行流水检测。可以通过获取的图像与标准图像在尺寸和形态上的差异度来得出被测高压限流熔断器的优劣结果，是一种实用方便且经济的检测方式。
【专利说明】
一种基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法
技术领域
[0001]本发明涉及电气设备的X射线检测技术领域，特别是涉及一种基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法。
【背景技术】
[0002]高压限流熔断器能将电流限制到低于被保护电气设备预期电流峰值，从而起到保护电气设备的作用。目前高压限流熔断器以优异的性能和价格优势，广泛应用于电力设备的保护，用量也日益涨。熔断器产品质量层次不齐，将严重影响电力设备及电网的安全稳定运行。为了更好的保证高压限流熔断器的保护作用，对其品质的检测越来越受到重视。一般，检测项目包括外观、尺寸方面的检测，也包括电气性能方面的检测:例如直流电阻值、功耗、温升试验、电流-时间特性、电气绝缘性能、I2t的测试、限流特性、耐受过载特性、分断能力和触发器试验等。目前，对于电气性能方面的检测多为破坏性的，所谓破坏性是指通电流熔断的方式检测。破坏性检测成本高昂，且不能大规模进行，只能作为抽检的一种方式。
[0003]我们知道，高压限流熔断器的性能，尤其是电气性能，与材料和结构都是相关的。所谓结构是指以下四大部件的质量:1)熔体中的断裂、扭转、损伤、低熔点冶金部分缺陷、熔体和壳壁之间间隙的情况，判断熔体材料，估算熔体的长度、电阻值;2)熔体骨架结构完整性情况;3)熔管沙粒的颗粒度及填满程度;4)熔断件:外壳、壳壁裂纹、撞针线路及装置情况。
[0004]综上所述，如果找到一种方法可以不经破坏即可全面检测熔断器质量的话，对于保障电力设备及电网的安全稳定运行是有重要意义的。
【发明内容】
[0005]本发明提供了一种基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法，以解决现有技术中无法大规模、无损检测地检测高压限流熔断器的质量的问题。
[0006]为了解决上述技术问题，本发明实施例公开了如下技术方案:
[0007]基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法，包括以下步骤:
[0008]获取待测型号高压限流熔断器的标准X射线透射图像，且建立所述型号与所述标准X射线透射图像之间的对应关系；
[0009]启动X射线发生器，摄取当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像，且将所述当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像按照所述当前被测高压限流熔断器的检测顺序编号；
[0010]获取所述当前被测高压限流熔断器的型号；
[0011]比较所述当前被测高压限流熔断器X射线透射图像与相同型号的高压限流熔断器的标准X射线透射图像的相似度；
[0012]根据所述相似度，判断所述当前被测高压限流熔断器的质量是否合格，如果合格，则将所述与当前被测高压限流熔断器对应编号的X射线透射图像标记为合格，否则，标记为不合格。
[0013]优选的，在上述基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法中，还包括:
[0014]根据所述被测高压限流熔断器的X射线透射图像的清晰度，判断是否需要重新拍摄当前被测高压限流熔断器；
[0015]当所述清晰度小于90%，则重新摄取，且用新摄取的X射线透射图像替换旧的X射线透射图像；
[0016]优选的，在上述基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法中，所述相似度是指所述当前被测高压限流熔断器在熔体、熔体件、熔体骨架和/或沙粒度方面的形态和尺寸与相同型号的标准高压限流熔断器间的接近程度。
[0017]优选的，在上述基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法中，所述根据所述相似度，判断所述当前被测高压限流熔断器的质量是否合格具体是指，当所述相似度大于或等于95%时，则判断所述当前被测高压限流熔断器的质量合格。
[0018]优选的，在上述基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法中，所述启动X射线发生器，摄取当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像具体是指，从与当前被测高压限流熔断器相同型号的标准X射线透射图像相同的角度摄取当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像。
[0019]优选的，在上述基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法中，根据所述待测型号高压限流熔断器的尺寸，确定单次摄取的X射线透射图像的被测高压限流熔断器的个数。
[0020]优选的，在上述基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法中，根据所述个数，确定所述被测高压限流熔断器的检测速度;所述检测速度是指，所述待测高压限流熔断器通过所述X射线发生器透射区域的速度。
[0021]由以上技术方案可见，本发明实提供的检测方法，基于X射线的透射图像，是一种无损检测方法，适合规模化的进行流水检测。在实际操作层面，可以是通过人工判断。也可以通过开发自动读取X透射图像的软件来获取关键参数的方式来判断，总之，可以通过获取的图像与标准图像在尺寸和形态上的差异度来得出被测高压限流熔断器的优劣结果，是一种实用方便且经济的检测方式。
【附图说明】
[0022]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1为本发明实施例提供的一种基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法的流程不意图。
【具体实施方式】
[0024]为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
[0025]请参考图1所示的基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法，如图1所示，
[0026]在步骤SOl中，获取待测型号高压限流熔断器的标准X射线透射图像，且建立所述型号与所述标准X射线透射图像之间的对应关系。
[0027]在实际操作中，尽量同一型号的产品检测均完成后，再进行另一型号的产品的检测，减少出错的概率。但是，如果是不同类型的熔断器交叉测试也是可以的。作为标准X射线投射图像的拍摄角度，必须是能够完全将所需检测的重要内部结构的尺寸和连接显示清晰的角度，这样的角度至少为一个，对于结构相对复杂的熔断器产品，可以拍摄多个角度。重要内部结构包括与电气性能相关的结构:I)熔体中的断裂、扭转、损伤、低熔点冶金部分缺陷、熔体和壳壁之间间隙的情况，熔体的长度;2)熔体骨架结构完整性情况;3)熔管沙粒的颗粒度及填满程度;4)熔断件:外壳、壳壁裂纹、撞针线路及装置情况。这些结构特征通过标准X射线透射图形采集后，可以以其中的一项作为判断质量的标准，也可以以几项或者全部作为判断熔断器质量的标准，本发明对此不做限制。
[0028]在步骤S02中，启动X射线发生器，摄取当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像，且将所述当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像按照所述当前被测高压限流熔断器的检测顺序编号。
[0029]在实际操作中，首先应该调整射线发生器、承载被测高压限流熔断器的平台和X射线接收器之间的位置关系，确保被测高压限流熔断器位于X射线发射器的辐射范围的较佳位置，且应该注意在承载平台上，被测熔断器的摆放方式，已接近标准X射线投射图像中的标准熔断器的摆放为佳。从与当前被测高压限流熔断器相同型号的标准X射线透射图像相同的角度摄取当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像是最佳的透射角度。一般，需要所述待测型号高压限流熔断器的尺寸以及X射线发生器在承载平台上的辐射范围，确定单次摄取的熔断器的个数。根据所述个数，确定所述被测高压限流熔断器的检测速度;所述检测速度是指，所述待测高压限流熔断器通过所述X射线发生器透射区域的速度。例如，当单次同时透射10个时和单次同时透射20个时，如果是同一型号的话，那么承载平台传送下一批10个或20个全部进到辐射区域内的速度应该是不同的，那么此时应该合理调节检测速度，反则过慢会影响检测精度，不适当的速度还可能会导致同批和上批检测之间出现漏检或重检的情况。
[0030]在步骤S03中，获取所述当前被测高压限流熔断器的型号。
[0031]在步骤S04中，比较所述当前被测高压限流熔断器X射线透射图像与相同型号的高压限流熔断器的标准X射线透射图像的相似度。
[0032]上述比较可以是人工辅助，也可以是自动化比较，自动化比较涉及到把标准X射线透射图像和当前摄取的透射图像的图像信息转换为一系列特定参数的过程，这属于软件技术和数据处理技术领域，在此不加赘述，总之，基于X射线透射是一种方便无损的检测方法。
[0033]在步骤S05中，根据所述相似度，判断所述当前被测高压限流熔断器的质量是否合格。
[0034]如果合格，则进入步骤S06，将所述与当前被测高压限流熔断器对应编号的X射线透射图像标记为合格，否则，进入步骤S07标记为不合格。当得出结论后，可以依照产品编号和图像编号，找出不合格产品，而且从图像可以分析不合格的原因，作为设计或工艺改进的依据。
[0035]所述相似度是指所述当前被测高压限流熔断器在熔体、熔体件、熔体骨架和/或沙粒度方面的形态和尺寸与相同型号的标准高压限流熔断器间的接近程度。可以单凭其中一项做出合格与否的结论，也可以综合考虑。当然，应该根据产品的实际使用要求来订立合格的标准，通常，当所述相似度大于或等于95%时，则判断所述当前被测高压限流熔断器的质量合格。当标准图像和当前摄取图像比较的过程为自动比较的话，可以将获取的参数，按照一定的权重分配计算出两者之间的相似度。当单次摄取的透射图像为多个时，需要依次对每个图像的相似度与相同型号的标准图像比较。
[0036]当然，为了提高检测结果的可靠性，在上述基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法中，还包括:根据所述被测高压限流熔断器的X射线透射图像的清晰度，判断是否需要重新拍摄当前被测高压限流熔断器。
[0037]当所述清晰度小于90%，则重新摄取，且用新摄取的X射线透射图像替换旧的X射线透射图像。可以是整个透射图像的清晰度也可以是某些特定位置的图像清晰度。
[0038]由以上技术方案可见，本发明实提供的检测方法，基于X射线的透射图像，是一种无损检测方法，适合规模化的进行流水检测。在实际操作层面，可以是通过人工判断。也可以通过开发自动读取X透射图像的软件来获取关键参数的方式来判断，总之，可以通过获取的图像与标准图像在尺寸和形态上的差异度来得出被测高压限流熔断器的优劣结果，是一种实用方便且经济的检测方式。
[0039]通过以上的方法实施例的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:只读存储器(R0M)、随机存取存储器(RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0040]以上所述仅是本发明的【具体实施方式】，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
【主权项】
1.基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法，其特征在于，包括以下步骤: 获取待测型号高压限流熔断器的标准X射线透射图像，且建立所述型号与所述标准X射线透射图像之间的对应关系； 启动X射线发生器，摄取当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像，且将所述当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像按照所述当前被测高压限流熔断器的检测顺序编号； 获取所述当前被测高压限流熔断器的型号； 比较所述当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像与相同型号的高压限流熔断器的标准X射线透射图像的相似度； 根据所述相似度，判断所述当前被测高压限流熔断器的质量是否合格，如果合格，则将所述与当前被测高压限流熔断器对应编号的X射线透射图像标记为合格，否则，标记为不合格。2.根据权利要求1所述的基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法，其特征在于，还包括: 根据所述被测高压限流熔断器的X射线透射图像的清晰度，判断是否需要重新拍摄当前被测高压限流熔断器； 当所述清晰度小于90%，则重新摄取，且用新摄取的X射线透射图像替换旧的X射线透射图像。3.根据权利要求1所述的基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法，其特征在于，所述相似度是指所述当前被测高压限流熔断器在熔体、熔体件、熔体骨架和/或沙粒度方面的形态和尺寸与相同型号的标准高压限流熔断器间的接近程度。4.根据权利要求1或3所述的基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法，其特征在于，所述根据所述相似度，判断所述当前被测高压限流熔断器的质量是否合格具体是指，当所述相似度大于或等于95%时，则判断所述当前被测高压限流熔断器的质量合格。5.根据权利要求1所述的基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法，其特征在于，所述启动X射线发生器，摄取当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像具体是指，从与当前被测高压限流熔断器相同型号的标准X射线透射图像相同的角度摄取当前被测高压限流熔断器的X射线透射图像。6.根据权利要求1所述的基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法，其特征在于，根据所述待测型号高压限流熔断器的尺寸，确定单次摄取的X射线透射图像的被测高压限流熔断器的个数。7.根据权利要求6所述的基于X射线的高压限流熔断器质量检测方法，其特征在于，根据所述个数，确定所述被测高压限流熔断器的检测速度;所述检测速度是指，所述待测高压限流熔断器通过所述X射线发生器透射区域的速度。
【文档编号】G01N23/04GK105842262SQ201610227329
【公开日】2016年8月10日
【申请日】2016年4月13日
【发明人】刘红文, 王科, 钱国超, 邹德旭
【申请人】云南电网有限责任公司电力科学研究院