弧面缺陷测量卡的制作方法
【专利摘要】本发明涉及对弧面缺陷的尺寸进行检测的检测工具，特别涉及对灭弧室喷口的缺陷尺寸进行检测的弧面缺陷测量卡。弧面缺陷测量卡包括可弯曲变形以与待测弧面贴合的卡片本体，所述卡片本体上设有用于测量缺陷长度的长度刻度、用于比对缺陷宽度的宽度条系列、用于比对缺陷的径向尺寸的圆圈系列或圆孔系列的至少一种。使用时，根据所测量缺陷的类型，将卡片本体的长度刻度、宽度条系列、圆圈系列或圆孔系列与缺陷对照，并对卡片本体用力使卡片本体弯曲变形以与待测弧面贴合，即可方便地实现对缺陷尺寸的测量，由于卡片本体为片状结构，因此很容易伸入内孔中，并且不需要移动卡爪，有利于检测效率高。
【专利说明】
弧面缺陷测量卡
技术领域
[0001]本发明涉及对弧面缺陷的尺寸进行检测的检测工具，特别涉及对灭弧室喷口的缺陷尺寸进行检测的弧面缺陷测量卡。
【背景技术】
[0002]喷口是断路器上灭弧装置的主要组成部分，一般为外径具有粗细变化的筒体结构，并且中心设有轴向通孔。断路器动作时电弧在喷口处燃烧，喷口喷出的气流能够对弧柱起到散热作用来熄灭电弧。因此，喷口为灭弧室装置的核心零部件之一，其质量的好坏直接关系到灭弧室装置的性能优劣，特别是外观质量的好坏，例如喷口成型中混入异物或出现工艺问题时，会在内外表面产生具有一定长度、宽度或径向尺寸的缺陷，从而对电弧及气流产生影响。
[0003]在对喷口的外观进行检查的过程中，如果发现内外表面存在缺陷，则需要通过测量缺陷的外形尺寸，进而判断缺陷的等级。现有技术中对缺陷的测量是采用游标卡尺进行，但是，由于喷口形状为不规则状，需要进行测量的位置大部分为弧面，例如喷口的外表面、内表面或圆角过渡面，而游标卡尺的读数为卡爪之间的直线距离，因此如果缺陷的长度、宽度或径向尺寸偏离喷口的轴向，游标卡尺测量出的尺寸就并非缺陷的实际尺寸，测量值往往小于实际值，准确性低，容易造成检测合格品实际上为废品或者在使用时出现异物放电。另外，由于喷口尺寸的限制，游标卡尺很难进入喷口内的轴向通孔中进行测量，即使能够进入，由于视线的问题也很难将卡爪对准缺陷及读取游标卡尺显示的数值，操作十分不便，检测效率低。
【发明内容】
[0004]本发明的目的是提供一种弧面缺陷测量卡，以解决现有的检测工具测量不便、检测效率低的问题。
[0005]为实现上述目的，本发明采用的技术方案是:弧面缺陷测量卡，包括可弯曲变形以与待测弧面贴合的卡片本体，所述卡片本体上设有用于测量缺陷长度的长度刻度、用于比对缺陷宽度的宽度条系列、用于比对缺陷的径向尺寸的圆圈系列或圆孔系列的至少一种。
[0006]进一步地:
所述卡片本体由透明材质制成。
[0007]所述卡片本体由透明亚克力板制成。
[0008]所述长度刻度设置在卡片本体的边缘处。
[0009]所述宽度条系列分为两列以上排列，各列宽度条系列并排设置或排列方向相互垂直。
[0010]所述宽度条系列设有两列，两列宽度条系列分别设置在卡片本体的两个相邻侧边的边缘处。
[0011]所述圆圈系列设有两列，分别为空心圆圈系列和实心圆圈系列。
[0012]所述空心圆圈系列和实心圆圈系列并列设置，两列之间设有圆圈直径值标识。
[0013]所述卡片本体为长方形，并且四角为倒圆角。
[0014]所述卡片本体的厚度为0.1mm?0.2mm。
[0015]本发明采用上述技术方案，弧面缺陷测量卡包括可弯曲变形以与待测弧面贴合的卡片本体，所述卡片本体上设有用于测量缺陷长度的长度刻度、用于比对缺陷宽度的宽度条系列、用于比对缺陷的径向尺寸的圆圈系列或圆孔系列的至少一种。使用时，根据所测量缺陷的类型，将卡片本体的长度刻度、宽度条系列、圆圈系列或圆孔系列与缺陷对照，并对卡片本体用力使卡片本体完弯曲变形以与待测弧面贴合，即可方便地实现对缺陷尺寸的测量，由于卡片本体为片状结构，因此很容易伸入内孔中，并且不需要移动卡爪，有利于提高检测效率。
[0016]进一步地，所述卡片本体由透明材质制成，能够很容易地将弧面缺陷测量卡与缺陷对准，使操作更便捷。
[0017]进一步地，将长度刻度或宽度条系列设置在卡片本体边缘处，能够方便地将缺陷与长度刻度或宽度条系列进行比对，避免被测对象的其他部位对卡片本体产生干涉。
[0018]进一步地，宽度条系列分为两列以上排列，各列宽度条系列并排设置或排列方向相互垂直，能够减小卡片本体的尺寸，减小卡片本体发生弯曲变形所需的作用力，使卡片本体能够更好地与弧面贴合，提高测量精度。
[0019]进一步地，圆圈系列设有两列，分别为实心圆圈系列和空心圆圈系列，实心圆圈系列用于深色基体上浅色缺陷外圆尺寸的测量，空心圆圈系列用于浅色基体上深色缺陷外圆尺寸的测量。
【附图说明】
[0020]图1是本发明中弧面缺陷测量卡的一个实施例的结构示意图。
[0021]图2是被测喷口的剖视图；
图3是测量缺陷长度时的示意图(图中未示出喷口表面)；
图4是测量缺陷宽度时的示意图(图中未示出喷口表面)；
图5是测量缺陷径向尺寸时的示意图(图中未示出喷口表面)。
[0022]图中各附图标记对应的名称为:1-卡片本体，2-长度刻度，3-第一宽度条系列，4-第二宽度条系列，5-实心圆圈系列，6-空心圆圈系列，7-圆圈直径值标识，8-喷口表面，9-缺陷。
【具体实施方式】
[0023]下面结合附图对本发明的实施方式作进一步说明。
[0024]本发明弧面缺陷测量卡的一个实施例如图1?图5所示，是一种检测喷口外观缺陷大小的尺寸测量量具，包括卡片本体I和设置在卡片本体I上的测量标识。卡片本体I为长方形，四角设有倒圆角，采用柔软的透明亚克力板制成，厚度为0.lmm~0.2mm，便于折弯变形，长度为90mm?100mm，宽度为50mm?60mm，携带方便。
[0025]以图1所显示的方位进行观察，长方形卡片本体I的右部内侧设有用于测量缺陷9的长度的长度刻度2，长度刻度2与常用直尺上的刻度类型相同，具有0-80_的量程。
[0026]长方形卡片本体I的左部内侧和上部内侧设有用于比对缺陷宽度的宽度条系列，分别为设置在长方形卡片本体I的左部内侧的第一宽度条系列3和设置在长方形卡片本体I的上部内侧的第二宽度条系列4。各宽度条系列均包括多条宽度线条，多条宽度线条分别具有一系列的宽度，能够作为缺陷宽度值的比对基础。为便于测量，各宽度线条的内侧设有宽度值标识。
[0027]长度刻度2、第一宽度条系列3、第二宽度条系列4所围成的区域内设有两列用于比对缺陷9的径向尺寸的圆圈系列，分别为空心圆圈系列6和实心圆圈系列5，空心圆圈系列6即具有一系列直径的空心圆圈，实心圆圈系列5即具有一系列直径的实心圆点，空心圆圈系列6和实心圆圈系列5并列设置，两列之间设有表不圆圈的直径值的圆圈直径值标识7。
[0028]当喷口内部或者圆角过渡面有缺陷，游标卡尺无法进入测量时，可以用此弧面缺陷测量卡对比测量。如果此时缺陷的大小在规定的公差范围内，则说明此件喷口合格，反之，因为缺陷较大为不合格。当然，当喷口外弧面上具有缺陷时，也可以用此弧面缺陷测量卡对比测量，并且本弧面缺陷测量卡在不受外力作用的情况下为平面结构，也可以用于测量平面缺陷。
[0029]使用时，如图3—图5所示，根据要检测的缺陷的类型，相应地将弧面缺陷测量卡上设有长度刻度2、宽度条系列或圆圈系列的位置按压到喷口表面8的相应的缺陷上，使弧面缺陷测量卡发生变形与待测弧面贴合，即可进行缺陷长度的测量或缺陷宽度或径向尺寸的比对。如图3所示，缺陷长度可以直接通过长度刻度2读出。如图4所示，将将测量卡上的宽度条系列与喷口上的黑线缺陷的宽度进行比对，如果某宽度条的宽度刚好与黑线的宽度吻合或最接近，即可判定该缺陷的宽度为该宽度条的宽度值。如图5所示，将测量卡上的空心圆圈系列6与喷口上的黑点缺陷进行比对，如果某空心圆圈系列6刚好能够包括住黑点，即可判定该缺陷的径向尺寸大小为该空心圆圈的直径。
[0030]该弧面缺陷测量卡在检测时准确、快捷、方便，极大地提高了缺陷判定效率。同时，检测时不受喷口尺寸的限制，不受作业环境和零部件放置状态的限制，可以适应工程实际的多种状况。
[0031]在上述实施例中，卡片本体I采用透明亚力克板制成，在本发明的其他实施例中，卡片本体I也可以采用其他材料制作，例如聚碳酸酯，而卡片本体I也可以是不透明材质，但是优选透明材质，以使测量更加方便。在上述实施例中，卡片本体I上设置有长度刻度2、宽度条系列和圆圈系列，在其他实施例中，卡片本体I上也可以仅设置长度刻度2、宽度条系列和圆圈系列的一种或两种，并且圆圈系列也可以替换为圆孔系列，而长度刻度2、宽度条系列的设置位置也以进行调整。另外，在其他实施例中，卡片本体I也可以替换为其他形状，例如三角形、半圆形等，而长方形卡片本体I是非必须结构，在其他实施例中也可以省去。
【主权项】
1.弧面缺陷测量卡，其特征在于:包括可弯曲变形以与待测弧面贴合的卡片本体，所述卡片本体上设有用于测量缺陷长度的长度刻度、用于比对缺陷宽度的宽度条系列、用于比对缺陷的径向尺寸的圆圈系列或圆孔系列的至少一种。2.根据权利要求1所述的弧面缺陷测量卡，其特征在于:所述卡片本体由透明材质制成。3.根据权利要求2所述的弧面缺陷测量卡，其特征在于:所述卡片本体由透明亚克力板制成。4.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡，其特征在于:所述长度刻度设置在卡片本体的边缘处。5.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡，其特征在于:所述宽度条系列分为两列以上排列，各列宽度条系列并排设置或排列方向相互垂直。6.根据权利要求5所述的弧面缺陷测量卡，其特征在于:所述宽度条系列设有两列，两列宽度条系列分别设置在卡片本体的两个相邻侧边的边缘处。7.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡，其特征在于:所述圆圈系列设有两列，分别为空心圆圈系列和实心圆圈系列。8.根据权利要求7所述的弧面缺陷测量卡，其特征在于:所述空心圆圈系列和实心圆圈系列并列设置，两列之间设有圆圈直径值标识。9.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡，其特征在于:所述卡片本体为长方形，并且四角为倒圆角。10.根据权利要求1或2或3所述的弧面缺陷测量卡，其特征在于:所述卡片本体的厚度为0.1mm^0.2mmο
【文档编号】G01B5/12GK106066143SQ201610483452
【公开日】2016年11月2日
【申请日】2016年6月28日 公开号201610483452.9, CN 106066143 A, CN 106066143A, CN 201610483452, CN-A-106066143, CN106066143 A, CN106066143A, CN201610483452, CN201610483452.9
【发明人】吕超杰, 段冲, 肖鹤旋, 刘晓锋, 潘玉芳
【申请人】河南平芝高压开关有限公司, 平高集团有限公司, 国家电网公司