专利名称：倍增精度测量法的制作方法
技术领域：
倍增精度测量法可应用于与测量相关的各技术领域，如应用于各类传感器、A/D器件的设计制造领域，测量仪器设计制造领域，测量数据计算处理技术领域。
背景技术：
关于传感器及A/D转换器的基本认识或常识是通过传感器或A/D转换器获得的测量数据精度小于等于传感器或A/D的物理精度，或者说，不可能获得高于测量器件本身物理精度的测量结果。这一基本常识是设计各类测量设备设计的基本原则，也是选择传感器精度的基本依据。本发明就是突破这一常识性认识，在不必对现有设备或器件做物理上的改动的前提下，通过改进处理程序就可以大幅度提高测量精度。
发明内容
倍增精度测量方法在动态物理量的测量中，使传感器的采样频率足够高，从而使两个连续采样点之间信号变化近似于线性，如果以两次采样值的算术平均值作为测量结果，则这一结果的精度将高于采样值精度，这一结果对应的时刻为两次采样时刻的平均值。如果将取得的采样值的平均值，和相邻的平均值进一步取平均值，则测量结果的精度将进一步提高。若反复对上述计算结果做同样的平均计算，则结果的精度会高于采样器件精度的二倍。
具体实施例方式
假设第n次实测结果为un，如果我们采用一次均值计算，则倍增精度测量值为Un-1＝0.5un-1+0.5un如果我们采用的是两次均值计算，则倍增精度测量值为Un-2＝0.25un-2+0.5un-1+0.25un采用三次及三次以上的均值计算，可同理推出。
在设计测量仪器中(含传感器及各类A/D转换器件)采用几次均值计算处理方法应当根据具体情况决定。如果采用二次均值处理，则数据处理过程如下(M0、M1、M2是三个寄存器，分别用来存储三次相邻的实测结果，PT为内存地址指针寄存器)1.M1→M02.M2→M13.I/0→M2(读传感器或A/D)4.0.25M0+0.5M1+0.25M2→MEMORY(PT)(结果送入内存)5.MEMORY(PT)→I/0(显示、或存储处理)6.PT+1→PT(可选)7.IF NOT END GO 1(不结束，则重复上述过程)如果采用一次均值处理，则数据处理过程如下(M0、M1是二个寄存器，分别用来存储两次相邻的实测结果，PT为内存地址指针寄存器)1.M1→M02.I/0→M1(读传感器或A/D)3.0.5M0+0.5M1→MEMORY(PT)(结果送入内存)4.MEMORY(PT)→I/O(显示、或存储处理)5.PT+1→PT(可选)6.IF NOT END GO 1(不结束，则重复上述过程)在实际应用中，也可以根据具体情况在计算均值的过程中乘以不同的校正系数。如Un-1＝a×0.5un-1+b×0.5una、b为校正系数Un-2＝a×0.25un-2+b×0.5un-1+c×0.25una、b、c为校正系数。
权利要求
倍增精度测量方法在动态物理量的测量中，使传感器的采样频率足够高，从而使两个连续采样点之间信号变化近似于线性，如果以两次采样值的算术平均值作为测量结果，则这一结果的精度将高于采样值精度，这一结果对应的时刻为两次采样时刻的平均值。如果将取得的采样值的平均值，和相邻的平均值进一步取平均值，则测量结果的精度将进一步提高。若反复对上述计算结果做同样的平均计算，则结果的精度会高于采样器件精度的二倍。
全文摘要
倍增精度测量法可应用于与测量相关的各技术领域，如应用于各类传感器、A/D器件的设计制造领域，测量仪器设计制造领域，测量数据计算处理技术领域。关于传感器及A/D转换器的基本认识或常识是通过传感器或A/D转换器获得的测量数据精度小于等于传感器或A/D的物理精度，本发明突破了这一常识性认识，在不必对现有设备或器件做物理上的改动的前提下，通过改进处理程序就可以大幅度提高测量精度。
文档编号H03M1/10GK1877259SQ20051007828
公开日2006年12月13日 申请日期2005年6月6日 优先权日2005年6月6日
发明者郭永伟 申请人:郭永伟