主板的型号、结构会不断的翻新、变化，为了使主板测试设备能够适应不同信号的待测试主板，本实用新型的一实施例中所述的主板测试设备还提供如下的实施方式，其中所述待测试主板包括第一待测试主板以及第二待测试主板。所述针板包括第一组针板以及第二组针板。所述承载体上设置有容置空间，所述容置空间用于设置所述第一组针板或所述第二组针板。其中，所述第一组针板上的多个探针的位置与所述第一待测试主板上接触点的位置相对应。所述第二组针板上的多个探针的位置与所述第二待测试主板上接触点的位置相对应。在对所述第一待测试主板进行测试时，所述第一组针板设置在所述容置空间内。在对所述第二待测试主板进行测试时，所述第二组针板设置在所述容置空间内。即，所述承载体上的容置空间上能够安装不同型号的针板，每个型号的针板针对于不同型号的待测试主板，使主板测试设备能够适应不同型号的待测试主板。
[0090]在对不同型号的针板进行更换时，为了便于连线，上述实施例中所述的主板测试设备中，所述针板以及所述通信单元通过插接头进行连接。在需要对所述针板进行更换时，将与针板连接的插头拔出，在更换为新的针板后，再将新的针板的插头插接在主板测试设备上即可，便于组装、更换。
[0091]在对待测试主板的具体测试当中，所述待测试主板的电路一般较为复杂，所述针板分为两部分，分别位于所述待测试主板的上方以及下方，为了使位于待测试主板两侧的针板与待测试主板的接触点接触良好，上述实施例中所述的主板测试设备中，如图2、图3和图4所示，所述承载体I包括第一承载体11以及第二承载体12。所述针板3包括相对设置的第一针板31以及第二针板32。所述第一针板31设置在所述第一承载体11上。所述第二针板32设置在所述第二承载体12上。所述第一导向机构的导向端部与所述第一承载体11连接。其中，所述第二针板32包括底板321、顶板322以及弹性部件323。所述弹性部件323位于所述顶板322与所述底板321之间，所述顶板322的第一表面与所述底板321相对。所述顶板322上设置有多个针孔。所述底板321上设置有多个探针3211。当所述待测试主板设置在所述顶板的与所述第一表面相对的第二表面上方，位于所述第一针板以及所述第二针板之间。在所述第一导向机构的驱动下，所述第一针板靠近并通过所述待测试主板挤压所述第二针板的顶板，至所述第一针板上的多个探针与所述待测试主板上相应的接触点位置接触，所述弹性部件被挤压，所述顶板靠近所述底板，所述底板上的多个探针从所述顶板的多个针孔穿过，并与所述待测试主板上相应的接触点位置接触。在现有技术中，在将所述待测试主板放置在所述第二针板上后，第二针板上的探针不容易与待测试主板的接触点良好接触。本实用新型中，先将待测试主板放置在顶板上，将探针设置在底板上，在第二针板下压待测试主板过程中，待测试主板下压顶板，使顶板靠近底板，从而使底板上的探针与待测试主板的接触点抵触，从而接触稳定。
[0092]其中，所述条码可贴在待测试主板的上表面上，所述扫描枪的位置可朝向待测试主板条码的方向，上述实施例中所述主板测试设备中，所述扫描枪、所述第一针板以及所述第二针板依次层叠布置。所述第一针板上设置有扫描孔。所述扫描枪通过所述扫描孔扫描所述待测试主板上的条码。
[0093]在将待测试主板放置在顶板上时，由于待测试主板的底面上有很多凹凸不平的集成电路模块、电子元件等，为了便于支撑待测试主板，如图2和图4所示，本实用新型的一实施例中所述的主板测试设备还提供如下的实施方式，其中所述顶板322上设置有支撑所述待测试主板悬空的多个第一支撑柱3221。所述第二针板上设置有与所述顶板上的多个第一支撑柱相对应的多个第二支撑柱(图中未示出)。在所述第一导向机构的驱动下，所述待测试主板被挤压在所述多个第一支撑柱3221与所述多个第二支撑柱之间。
[0094]为了限制被测试主板在水平面上移动，上述实施例中所述主板测试设备，如图4所示，其中所述顶板322上还设置有位于所述待测试主板边缘处的多个第三支撑挡柱3222。所述第三支撑挡柱3222包括支撑平台322a以及设置在所述支撑平台322a上第一区域的限位台322b。当所述待测试主板设置在所述多个第一支撑住上，所述待测试主板的边缘支撑平台的第二区域上，所述限位台与所述待测试主板的侧壁抵触，以使所述第三支撑挡柱上的限位台布置在所述待测试主板周围，限制被测试主板在水平面上的位移。另外，所述第三支撑挡柱的支撑平台的第二区域还能够起到支撑被测试主板的作用。
[0095]在具体实施当中，如图2所示，本实用新型的一实施例中所述的主板测试设备还提供如下的实施方式，其中所述第一承载体11上设有销体4。所述第二承载体12上设置有销孔42。在所述第一导向机构的驱动下，所述第一承载体11靠近所述第二承载体12，所述销体41插设在所述销孔42内。在具体的测试过程中，由于要将所述第一针板、所述第二针板分别与待测试主板上的接触点对接，需要的对接精度较高，为了便于校准、并辨识所述第一针板与所述第二针板的位置，在所述第一针板与所述第二针板均在预设位置处时，新增加的销体能够插设在销孔内。当销体不能插入销孔内时，则需要对第一承载体、第二承载体的位置进行矫正。
[0096]在将所述第一针板与所述第一承载体的组装过程，可采用螺栓固定的方式，但是这样的方式较为繁琐，需要使用工具，进一步的，为了便于组装，上述实施例中所述的主板测试设备，如图2所示，其中所述第一承载体11上设置第一容置空间。所述第一容置空间的两侧为相对设置的第一凹槽轨道Ila以及第二凹槽轨道lib。所述第一针板31的两侧分别从所述容置空间的插口处插设在所述第一凹槽轨道11a、所述第二凹槽轨道Ilb内，使所述第一针板31插设在所述第一容置空间内。在组装第一针板时，只需要将第一针板插设在所述第一容置空间内即可。
[0097]进一步的，为了提高测试效率，本实用新型的一实施例中所述的主板测试设备还提供如下的实施方式，如图1所示，其中所述主板测试设备还包括:第二导向机构5。所述待测试主板为多个。所述承载体为多个，多个承载体上设置的针板的多个探针分别与多个待测试主板上的接触点相对应。所述第二导向机构5的导向端部与所述扫描枪2连接，用于驱动所述扫描枪2依次至多个待测试主板处，获取多个待测试主板上的条码信息。在对多个待测试主板进行测试时，先将多个待测试主板放置在多个承载体处，之后控制器控制所述第二导向机构驱动所述扫描枪至多个待测试主板处，依次获取多个待测试主板上的条码信息。其中，所述第二导向机构可包括电机以及皮带，电机带动皮带转动，皮带驱动扫描枪位移。具体的整体测试流程为:
[0098]控制器驱动所述第一导向机构，使多个承载体中的针板与所述多个待测试主板的接触点对接；
[0099]控制器驱动所述第二导向机构，使所述扫描枪依次至多个待测试主板处的至预定位置，并依次扫描每个条码获取条码信息。
[0100]在使用扫描枪对待测试主板上的条码进行扫描过程中，由于条码处会受到外界光线的影响，受到反光影响，可能会使所述扫描枪无法获取到条码信息，为了提高主板测