一种dkdp晶体毛胚动态消光比测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种DKDP晶体毛胚动态消光比的测试方法及装置，属于DKDP晶体毛胚动态消光比测试技术领域。
【背景技术】
[0002]动态消光比是DKDP电光晶体的一个重要指标，它的测量需要在DKDP晶体上加上电极才能完成，在DKDP晶体为毛胚的状态下是无法实现的，只有将DKDP晶体加工成成品或已成型的半成品时才能检测，这样在选择DKDP晶体毛胚时，不可能通过动态消光比鉴定晶体的优劣。
[0003]常规的DKDP晶体动态消光比测试，是将激光器发出的光束经起偏器变成线偏振光，通过两端加有电极的DKDP电光晶体，并在两个电极上加上直流电压，电场方向平行于光轴z，在电光晶体中会生成电感应的x，y轴，绕z周转动晶体使偏振光的方向与x，y轴的夹角呈45°，此时，偏振光在两个电感应轴上的振幅投影是相等的。由于，两个电感应轴的折射率不相等，彼此相互垂直的两束光经过晶体时会产生光程差，光成差的大小依赖于晶体上所加电压的大小，当电压为νλ/2时光程差为π，由晶体出射的光仍然是线偏光，但偏振方向与晶体入射偏振方向垂直。如果检偏器偏振方向与起偏器偏振方向垂直，由光电探测器测得的光强定义为1_。晶体上不加电压时光电探测器测得的光强定义为Imin，Imax与I min之比定义为晶体的动态消光比。
[0004]由上述可知，测DKDP晶体的动态消光比需要有两个条件，一是要在晶体上加上平行于晶体z轴的电场，二是要能绕z轴旋转。毛胚晶体外形不定，不管是加电极还是旋转都不易实现。因此，现有常规的DKDP晶体动态消光比测试方法不适用于DKDP晶体毛胚动态消光比的测试。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型针对现有DKDP晶体动态消光比测试技术存在的问题，提供一种能够对DKDP晶体毛胚动态消光比进行测试，且能够判断晶体中内应力的大小、测出晶体半波电压的DKDP晶体毛胚动态消光比测试装置。
[0006]本实用新型的DKDP晶体毛胚动态消光比测试装置，采用以下技术方案:
[0007]该装置，包括底座，底座上设置有转盘、偏振机构、电极机构和探测器机构，底座的底面设置有反射机构，转盘上设置有起偏机构和检偏机构，偏振机构、起偏机构、电极机构、检偏机构和反射机构自上至下依次布置，探测机构处于反射机构一侧。
[0008]所述偏振机构包括激光器固定座、偏振片座、偏振片和1/4波片，激光器固定座通过支架固定安装在底座上，激光器固定座上安装激光器；支架下面装有偏振片座，偏振片座中装有偏振片，偏振片座的下面安装有能够转动的波片座，波片座中设置有1/4波片。
[0009]所述起偏机构包括起偏偏振片调整架和起偏偏振片，起偏偏振片调整架中设置有起偏偏振片，起偏偏振片调整架安装在起偏支架上，起偏偏振片调整架能够在起偏支架上转动，起偏支架固定在转盘上。起偏支架由起偏片水平杆和起偏立杆连接而成，起偏立杆固定在转盘上。转盘上设置有配重块，以平衡起偏立杆。
[0010]所述电极机构包括晶体托盘、上电极固定板、上电极、下电极和电源箱，晶体托盘通过可调支撑件固定在底座上，上电极固定板支撑固定在晶体托盘上，上电极固定板上设置有上弹套，上电极设置在上弹套中，上电极与上弹套之间设置有上弹簧，上电极的上端连接有上弹座把，上电极通过导线连接电源箱的高压连线端；下电极安装在下弹套中，下弹套固定在晶体托盘的底面上，下电极与下弹套之间设置有下弹簧，下电极通过导线与电源箱的接地端相连。所述可调支撑件由调平螺栓头、调平螺栓和调平螺栓座组成，调平螺栓连接在调平螺栓头与调平螺栓座之间，调平螺栓能够在调平螺栓头中转动，调平螺栓头固定在晶体托盘的下表面，调平螺栓座固定在底座上。所述上电极的下端和下电极的上端均设置有导电橡胶。
[0011]所述检偏机构包括检偏偏振片镜片架和检偏偏振片，检偏偏振片镜片架固定在转盘上，检偏偏振片设置在检偏偏振片镜片架中。
[0012]所述反射机构包括反射镜、反射镜架和反射镜固定座，反射镜固定座设置在底座的底面，反射镜固定座上安装有反射镜架，反射镜架中装有反射镜。
[0013]所述探测机构包括探测器水平杆、探测器垂直杆和探测器，探测器水平杆固定在底座上，探测器水平杆上安装有探测器垂直杆，垂直杆能够绕水平杆转动，探测器垂直杆上安装有探测器。
[0014]将激光器固定在激光器固定座上。调整激光器，使其光束与机械转轴共轴，转动激光器并配合调整1/4波片，尽可能使由波片输出的光束呈圆偏振。转动起偏振片调整架使起偏振片与检偏振片偏振方向相互垂直，调整各光学表面与光轴垂直。起偏偏振片和检偏偏振片均固定在转盘上，可以同步旋转。拉动上弹座把，抬起上电极，将待测DKDP晶体放到上下电极之间，上电极在上弹簧的弹力作用下压在DKDP晶体的上表面。下电极在下弹簧的弹力作用下压在KDP晶体的下表面。绕探测器水平杆转动探测器垂直杆，将探测器移出光路，观察晶体锥光干涉图形，调整调平螺栓使晶体z轴与光轴共轴。转动探测器垂直杆将探测器置入探测位置。打开电源将晶体上加上高压，转动转板寻找消光比最大的位置，并得出动态消光比测量值和正负半波电压的绝对值的差值。
[0015]本实用新型不限制被测晶体的外形尺寸，在DKDP晶体为毛胚非成型状态下，即可检测DKDP晶体的动态消光比及晶体内应力的大小，测试速度快，电极通过导电橡胶加载到晶体上，电极加载容易，不损伤晶体表面，通过移动晶体可测得晶体任意位置的测试参数，为选择晶体提供依据。
【附图说明】
[0016]图1是本实用新型中DKDP晶体毛胚动态消光比测试装置的结构示意图。
[0017]图2是晶体电压与探测信号的关系示意图。
[0018]图中:1、激光器；2、激光器固定座；3、固定板；4、偏振片座；5、偏振片；6、1/4波片；7、波片座；8、固定杆；9、起偏偏振片；10、起偏偏振片调整架；11、起偏片水平杆；12、起偏立杆；13、上弹座把；14、上弹套；15、上弹黄；16、上电极固定板；17、上电极；18、上电极导电橡胶；19、DKDP晶体；20、电极套；21、支杆；22、下电极导电橡胶；23、下电极；24、下弹簧；25、下弹套；26、检偏偏振片；27、检偏偏振片镜片架；28、下支架；29、晶体托盘；30、配重块；31、调平螺栓头；32、调平螺栓；33、调平螺栓座；34、转盘座；35、推力轴承；36、转盘；37、底座；38、反射镜固定座；39、转轴；40、镀金反射镜；41、反射镜架；42、反射镜固定板；43、支撑脚；44、探测器水平杆；45、探测器垂直杆；46、探测器；47、探测器固定片；48、电源箱。
【具体实施方式】
[0019]本实用新型的DKDP晶体毛胚动态消光比测试装置，如图1所示，包括底座37，底座37上设置有转盘36、偏振机构、电极机构和探测器机构，底座37的底面设置有反射机构，转盘36上设置有起偏机构和检偏机构，起偏机构和检偏机构可在转盘36上转动。偏振机构、起偏机构、电极机构、检偏机构和反射机构自上至下依次布置，探测机构处于反射机构一侧。
[0020]底座37上通过转轴39和推力轴承35安装有转盘座34，转盘座34通过螺栓固定在转轴39的上端，转轴39与底座37之间在底座37的上下面上设置两个推力轴承35，保证转盘座可在底座37上平稳转动。转盘座34上固定有通光位置开孔的转盘36，转盘36可随转盘座34上转动。底座37下面设置有三个支撑脚43。
[0021]偏振机构包括激光器固定座2、偏振片座4、偏振片5和1/4波片6。激光器固定座2通过一个支架固定安装在底座37上，激光器I固定在激光器固定座2上。所述支架由固定板3和三个固定杆8组成，固定板3固定在三个固定杆8的一端，固定杆另一端固定在底座37上，激光器固定座2固定在固定板3上。固定板3的下面装有偏振片座4，偏振片座4中装有偏振片5，偏振片座4的下面装有波片座7，波片座7可绕z轴旋转，在波片座7中设置有1/4波片6。
[0022]起偏机构包括起偏偏振片调整架10，起偏偏振片调整架10中装有起偏偏振片9，起偏偏振片调整架10安装在起偏支架上，可在起偏支架上绕Z轴旋转。起偏支架由起偏片水平杆11和起偏立杆12连接