电池测试设备的大功率充放转换装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电池测试设备的充放转换装置，尤其涉及电池测试设备的大功率充放转换装置。
【背景技术】
[0002]电池测试中的大功率充放转换装置大多数使用IGBT、MOSFET等构成。利用IGBT、MOSFET作为充放转换装置，驱动设计麻烦，成本较高，而且其双向导电性容易导致不可控的故障电流出现。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的在于解决目前现有技术在该领域内的缺陷和不足，利用可控硅构成充放转换电路，此种做法主要解决了以下两个问题:⑴电池电压高于设备内部电压时，出现不可控的倒灌电流；⑵当转换控制信号出现错误时，电池被短路。
[0004]为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是:一种电池测试设备的大功率充放转换装置，包含MCU控制及驱动单元、高压可控硅转换单元;MCU控制及驱动单元和高压可控娃转换单元之间通过导线或pcb连接。
[0005]所述的MCU控制及驱动单元包括MCU、逻辑芯片和驱动板，MCU通过逻辑芯片控制充电或者放电的光耦导通，光耦的导通信号给到驱动板，驱动板驱动高压可控硅转化单元导通实现充放转换。
[0006]本实用新型的电池测试设备的大功率充放转换装置的优点是:利用高压可控硅作为充放转换器件，驱动比较简单，利用可控硅的单向导电性，能够避免不可控的倒灌电流以及电池被短路的危险情况，提高了可靠性和安全性。
【附图说明】
[0007]图1是本实用新型的电池测试设备的大功率充放转换装置结构框架图。
【具体实施方式】
[0008]如图1所示，一种电池测试设备的大功率充放转换装置，包含MCU控制及驱动单元
1、高压可控硅转换单元2 ；MCU控制及驱动单元I和高压可控硅转换单元2之间通过导线、pcb或铜排连接。MCU控制及驱动单元包括MCU3、逻辑芯片4和驱动板5，MCU3通过逻辑芯片4控制充电或者放电的光耦导通，光耦的导通信号给到驱动板5，驱动板5驱动高压可控硅转化单元2导通实现充放转换。
[0009]本实用新型的电池测试设备的大功率充放转换装置，在实现大功率控制的同时，利用高压可控硅的单向导电性和高压隔离特性，有效的防止了电池电压高于设备内电压时出现的不可控倒灌电流问题、控制信号出现错误时电池被短路的危险情况。
【主权项】
1.一种电池测试设备的大功率充放转换装置，其特征在于:包含MCU控制及驱动单元、高压可控娃转换单元；MCU控制及驱动单元和高压可控娃转换单元之间通过导线或pcb连接；高压可控娃转换单元由高压可控娃构成；所述的MCU控制及驱动单元包括MCU、逻辑芯片和驱动板，MCU通过逻辑芯片控制充电或者放电的光耦导通，光耦的导通信号给到驱动板，驱动板驱动高压可控硅转换单元导通实现充放转换。
【专利摘要】本实用新型涉及电池测试设备的充放转换装置，尤其涉及电池测试设备的大功率充放转换装置。一种电池测试设备的大功率充放转换装置，包含MCU控制及驱动单元、高压可控硅转换单元；MCU控制及驱动单元和高压可控硅转换单元之间通过导线或pcb连接。本实用新型的电池测试设备的大功率充放转换装置，在实现大功率控制的同时，利用高压可控硅的单向导电性和高压隔离特性，有效的防止了电池电压高于设备内电压时出现的不可控倒灌电流问题、控制信号出现错误时电池被短路的危险情况。
【IPC分类】H02J7/00, G01R31/36
【公开号】CN204679608
【申请号】CN201520188470
【发明人】张建国, 刘磊
【申请人】青岛美凯麟科技有限公司
【公开日】2015年9月30日
【申请日】2015年3月31日