一种光学波片延迟度检测装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种光学波片延迟度检测装置，包括一个测试机架，测试机架上从下到上依次设有入射光源组件、起偏器放置台、待测波片旋转台、标准波片放置台、检偏器旋转台和连接波片测试功率计的测试探头，入射光源组件中设有发射光源和转向棱镜，待测波片旋转台中设有一个中空的微调旋转台，微调旋转台上设有放置待测波片的载台，微调旋转台连接有微调旋钮，检偏器旋转台中设有一个中空的精密旋转台，精密旋转台上设有放置检偏器的载台，述精密旋转台连接有蜗轮蜗杆调节机构；本实用新型测试时能够方便的旋转调节微调旋转台和精密旋转台，经过波片的线偏振光的偏振连续偏转，波片测量操作方便，能够快速调整测试，测试效率高、测试准确可靠。
【专利说明】
一种光学波片延迟度检测装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及光学器件技术领域，尤其涉及一种光学波片延迟度检测装置。
【背景技术】
[0002]光波具有不同偏振态，光学系统中经常需要改变光波的偏振态或检测光波的偏振态，由于光波的偏振态是由其正交振动的振幅比与相位差所决定，因此改变这两个参量就可以改变光波的偏振态，利用光通过晶体改变入射光的相位差的特点而制作的一类光学器件就称为波片。
[0003]在光学波片零件加工制造过程中，需要反复的研磨、抛光，波片零件需要根据其性能参数进行检测，确保加工的波片零件符合要求。检测波片零件时，需要不断调整起偏器、待检测波片零件和检偏器之间的平面夹角位置，通过检偏器的光的强度周期性的变化进行检测，现有技术在检测时需要人工不断去调整测试仪器，调整测试比较慢，比较难以快速调整测试，因此需要进一步改进。
【发明内容】
[0004]为克服现有技术的不足，本实用新型提供了一种操作方便、测试效率高、测试准确可靠的光学波片延迟度检测装置。
[0005]本实用新型为达到上述技术目的所采用的技术方案是:一种光学波片延迟度检测装置，包括一个测试机架，所述测试机架上从下到上依次设有入射光源组件、起偏器放置台、待测波片旋转台、标准波片放置台、检偏器旋转台和连接波片测试功率计的测试探头，所述入射光源组件中设有一个水平设置的发射光源和一个入射光转向棱镜，所述待测波片旋转台中设有一个中空的微调旋转台，所述微调旋转台上设有放置待测波片的载台，所述微调旋转台连接有微调旋钮，所述检偏器旋转台中设有一个中空的精密旋转台，所述精密旋转台上设有放置检偏器的载台，所述精密旋转台连接有蜗轮蜗杆调节机构。
[0006]所述标准波片放置台中设有标准波片。
[0007]所述测试机架上设有辅助照明光源。
[0008]本实用新型的有益效果是:采用上述结构，通过设置能够放置待测波片的微调旋转台和能够放置检偏器的精密旋转台，微调旋转台中设有微调旋钮，精密旋转台中设有蜗轮蜗杆调节机构，测试时能够方便的旋转调节微调旋转台和精密旋转台，波片连续旋转时经过波片的线偏振光的偏振连续偏转，波片测量操作方便，能够快速调整测试，测试效率高、测试准确可靠。
【附图说明】
[0009]下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。其中:
[0010]图1是本实用新型光学波片延迟度检测装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0011]为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详细说明。
[0012]请参阅图1所示，本实用新型光学波片延迟度检测装置包括一个测试机架I，所述测试机架I上从下到上依次设有入射光源组件2、起偏器放置台3、待测波片旋转台4、标准波片放置台5、检偏器旋转台6和连接波片测试功率计的测试探头7，所述入射光源组件2中设有一个水平设置的发射光源21和一个入射光转向棱镜22，所述待测波片旋转台4中设有一个中空的微调旋转台41，所述微调旋转台41上设有放置待测波片的载台42，所述微调旋转台41连接有微调旋钮43，所述检偏器旋转台6中设有一个中空的精密旋转台61，所述精密旋转台61上设有放置检偏器的载台62，所述精密旋转台61连接有蜗轮蜗杆调节机构63。
[0013]所述标准波片放置台5中设有标准波片51。
[0014]所述测试机架I上设有辅助照明光源8。
[0015]以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
【主权项】
1.一种光学波片延迟度检测装置，其特征在于:包括一个测试机架，所述测试机架上从下到上依次设有入射光源组件、起偏器放置台、待测波片旋转台、标准波片放置台、检偏器旋转台和连接波片测试功率计的测试探头，所述入射光源组件中设有一个水平设置的发射光源和一个入射光转向棱镜，所述待测波片旋转台中设有一个中空的微调旋转台，所述微调旋转台上设有放置待测波片的载台，所述微调旋转台连接有微调旋钮，所述检偏器旋转台中设有一个中空的精密旋转台，所述精密旋转台上设有放置检偏器的载台，所述精密旋转台连接有蜗轮蜗杆调节机构。2.根据权利要求1所述的一种光学波片延迟度检测装置，其特征在于:所述标准波片放置台中设有标准波片。3.根据权利要求1所述的一种光学波片延迟度检测装置，其特征在于:所述测试机架上设有辅助照明光源。
【文档编号】G01M11/02GK205506359SQ201620293625
【公开日】2016年8月24日
【申请日】2016年4月9日
【发明人】黄武达
【申请人】福州科思捷光电有限公司