一种快充电源的老化测试通用治具的制作方法

文档序号:10932618阅读:490来源:国知局
一种快充电源的老化测试通用治具的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及快充电源的测试技术领域,尤其涉及一种快充电源的老化测试通用治具,包括上盖、下盖和背板,上盖设有若干个用于交流电连接的万用插座和用于待测试电源输出的DC端,万用插座的侧面设有凸起,一侧面设有零线孔、火线孔和地线孔,万用插座嵌于插座固定盖,插座固定盖固定于上盖,上盖连接有线材固定支架,背板设有对接连接器和到位信号铜片,下盖开设有ID卡卡槽,DC端的一端连接有PCB板。本实用新型的万用插座可拆卸的安装于上盖,测试不同快充电源时,可根据需要任意调整方向以方便测试;到位信号铜片的设置可以准确提醒治具与底座之间的连接是否到位,提高了测试的效率;线材固定支架放置需测试电源的线材便于分类和整理。
【专利说明】
一种快充电源的老化测试通用治具
技术领域
[0001]本实用新型涉及快充电源的测试技术领域,尤其涉及一种快充电源的老化测试通用治具。
【背景技术】
[0002]现今的电子产品需求量越来越高,工厂生产的数量也越来越大,在高速生产的背景下,质量的保证显得尤为重要,所以电子产品在出厂前都要进行老化测试,且进行测试的项目不单只是一项,而是多项。
[0003]现今人们采用了老化测试治具,可同时测试多个电子产品,然而,目前大多使用的是只能单一的测试扁平孔或圆柱孔的插头的治具,在测试拥有不同的开关电源的产品时,需要安装不同的插座组件甚至用到不同的测试治具,极大的提高了测试的成本,且降低了测试的效率,减小了治具的适用范围。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型要解决的技术问题是提供一种适用范围广、测试效率高的一种快充电源的老化测试通用治具。
[0005]为了解决上述技术问题,本实用新型采用如下技术方案:
[0006]—种快充电源的老化测试通用治具,包括上盖、下盖和背板,所述上盖设有若干个用于交流电连接的万用插座和用于待测试电源输出的DC端,所述万用插座的侧面设有凸起,一侧面设有零线孔、火线孔和地线孔,所述万用插座嵌于插座固定盖,所述插座固定盖固定于上盖,所述上盖连接有线材固定支架,所述背板设有对接连接器和到位信号铜片,所述下盖开设有ID卡卡槽,所述DC端的一端连接有PCB板。
[0007]本技术方案的进一步改进为,所述对接连接器设置有个,其中顶端连接器为独立定位连接器。
[0008]本技术方案的进一步改进为,所述DC端为DC头连接器或USB线端连接器。
[0009]本技术方案的进一步改进为,所述万用插座为三孔万用AC插座,所述三孔万用AC插座上端面为正方形。
[0010]本技术方案的进一步改进为,所述线材固定支架设有钩槽。
[0011]本技术方案的进一步改进为,所述钩槽的数量与万用插座数量相对应。
[0012]本技术方案的进一步改进为,所述背板设有导向柱和导向孔。
[0013]本技术方案的进一步改进为,所述下盖开设有用于在治具回流时用于分离治具的阻挡槽。
[0014]本实用新型的有益效果在于:
[0015]—种快充电源的老化测试通用治具,包括上盖、下盖和背板,上盖安装有用于交流电连接的万用插座和用于测试电源产品输出的DC端,万用插座可拆卸的安装于上盖,测试不同快充电源时,可根据需要任意调整方向以方便测试,且万用插座设有零线孔、火线孔和地线孔,适用于不同的插头,使治具的应用范围更广;背板设有对接连接器和到位信号铜片,到位信号铜片的设置可以准确提醒治具与测试机之间的连接是否到位,提高了测试的效率;上盖连接有线材固定支架,线材固定支架放置需测试电源的线材便于分类和整理。
【附图说明】
[0016]图1为本实用新型的立体结构不意图;
[0017]图2为本实用新型的俯视图;
[0018]图3为本实用新型的主视图;
[0019]图4为本实用新型的左视图;
[0020]图5为本实用新型的仰视图;
[0021 ]图6为本实用新型拆除下盖后的立体结构示意图;
[0022]图7为本实用新型万用插座和插座固定板的安装示意图;
[0023]图8为本实用新型的万用插座的立体结构不意图。
【具体实施方式】
[0024]为了便于本领域技术人员的理解,下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明,实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。
[0025]如图1?8所示,一种快充电源的老化测试通用治具,包括上盖-1、下盖2和背板3,上盖I设有若干个用于交流电连接的万用插座4和用于待测试电源输出的DC端5,万用插座4的四个侧面设有凸起42,一侧面设有零线孔、火线孔和地线孔,万用插座4嵌于插座固定盖41,插座固定盖41固定于上盖I,上盖I连接有线材固定支架6,背板3设有对接连接器31和到位信号铜片32,下盖2开设有ID卡卡槽21,DC端5的一端连接有PCB板7。本实用新型的万用插座4可拆卸的安装于上盖1,测试不同快充电源时,可根据需要任意调整方向以方便测试;到位信号铜片32的设置可以准确提醒治具与底座之间的连接是否到位,提高了测试的效率;线材固定支架6放置需测试电源的线材便于分类和整理。
[0026]对接连接器31设置有3个,其中顶端连接器为独立定位连接器,顶端的独立定位连接器可以实现独立定位,减少与底座配合的精度,提高了治具和底座之间连接的效率。
[0027]DC端5为DC头连接器或USB线端连接器,可根据不同的快充电源测试的需要更换不同的DC端5,提高治具的使用范围,减少生产成本。
[0028]万用插座4为三孔万用AC插座,所述三孔万用AC插座上端面为正方形,可以根据不同产品需求任意调整插座方向,提高了产品的使用范围。
[0029]线材固定支架6设有钩槽61,可将测试电源的线材放置于钩槽61内,防止在测试过程中线材移动造成的混乱。
[0030]钩槽61的数量与万用插座4数量相对应,一个测试电源的线材对应一个钩槽61,进一步方便了线材的分类和整理。
[0031]背板3设有导向柱33和导向孔34,使治具和底座的对接过程更便捷、准确,提高了治具连接的安全性和稳定性。
[0032]下盖2开设有阻挡槽22,在治具回流时便于分离治具。
[0033]以上所述实施例仅表达了本实用新型的一种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1.一种快充电源的老化测试通用治具,包括上盖(I)、下盖(2)和背板(3),其特征在于,所述上盖(I)设有若干个用于交流电连接的万用插座(4)和用于待测试电源输出的DC端(5),所述万用插座(4)的侧面设有凸起(42),一侧面设有零线孔、火线孔和地线孔,所述万用插座(4)嵌于插座固定盖(41),所述插座固定盖(41)固定于上盖(I),所述上盖(I)连接有线材固定支架(6),所述背板(3)设有对接连接器(31)和到位信号铜片(32),所述下盖(2)开设有ID卡卡槽(21),所述DC端(5)的一端连接有PCB板(7)。2.根据权利要求1所述一种快充电源的老化测试通用治具,其特征在于,所述对接连接器(31)设置有3个,其中顶端连接器为独立定位连接器。3.根据权利要求1所述一种快充电源的老化测试通用治具,其特征在于,所述DC端(5)为DC头连接器或USB线端连接器。4.根据权利要求1所述一种快充电源的老化测试通用治具,其特征在于,所述万用插座(4)为三孔万用AC插座,所述三孔万用AC插座上端面为正方形。5.根据权利要求1所述一种快充电源的老化测试通用治具,其特征在于,所述线材固定支架(6)设有钩槽(61)。6.根据权利要求5所述一种快充电源的老化测试通用治具,其特征在于,所述钩槽(61)的数量与万用插座(4)数量相对应。7.根据权利要求1所述一种快充电源的老化测试通用治具,其特征在于,所述背板(3)设有导向柱(33)和导向孔(34)。8.根据权利要求1所述一种快充电源的老化测试通用治具,其特征在于,所述下盖(2)开设有用于在治具回流时用于分离治具的阻挡槽(22)。
【文档编号】G01R31/40GK205620527SQ201620336466
【公开日】2016年10月5日
【申请日】2016年4月20日
【发明人】罗成
【申请人】东莞市冠佳电子设备有限公司
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