Led电源老化测试治具的制作方法
【专利说明】
【技术领域】
[0001]本发明涉及老化测试治具，特别是涉及一种LED电源老化测试治具。
【【背景技术】】
[0002]针对不同的Power LED (LED电源)产品，例如3W、5W、10W、15W等，在对LED电源产品做burn in (老化)测试时，通常会使用不同的等效阻值的模拟负载来完成。
[0003]因为每个产品的输出电压，输出电流都不同，负载也都不一样。目前产线针对不同的LED电源进行测试时，采用不同的水泥电阻来作为模拟负载，相应地设计出适应不同LED电源的老化测试治具。
[0004]然而，上述老化测试治具，由于不同的LED电源产品就需要设计不同的治具，因此治具繁多；此外，由于水泥电阻的体积很大、重量很重，因此，治具占用空间大、操作起来麻烦。
[0005]有鉴于此，实有必要开发一种LED电源老化测试治具，以解决上述问题。
【
【发明内容】
】
[0006]因此，本发明的目的是提供一种LED电源老化测试治具，以解决对于不同电压规格的LED电源产品做老化测试时需要使用不同治具，设计麻烦，操作繁琐且现有治具体积大、重量大的问题。
[0007]为了达到上述目的，本发明提供的LED电源老化测试治具，包括:
[0008]若干个连接器，各连接器之间串联连接，各连接器具有正极端和负极端，各所述连接器的正极端和负极端间可通过跳线短接，首个连接器的正极端和负极端间以跳线短接并接地，末个连接器的正极端和负极端间以跳线短接；
[0009]若干个模拟负载组，每两个所述连接器间串接有一个所述模拟负载组。
[0010]可选地，所述各模拟负载组包括若干个串联连接的桥堆(bridge d1de)。
[0011]可选地，所述桥堆采用型号为US8KB80R的电子元件。
[0012]可选地，首个所述模拟负载组包括五个串联连接的桥堆，其余各模拟负载组包括两个串联连接的桥堆。
[0013]可选地，各所述桥堆的压降为1.4V。
[0014]可选地，所述连接器个数为17个，所述模拟负载组的个数为16个。
[0015]可选地，除首个连接器外，其余所述各连接器的正极端与地之间串联连接有发光二极管及电阻。
[0016]相较于现有技术，利用本发明的LED电源老化测试治具，于使用时，将需要进行老化测试的LED电源负极连接首个连接器，LED电源正极连接选中的连接器，所述选中的连接器与所述首个连接器之间的各所述连接器的正极端与负极端之间分别以跳线短接，使得所述选中的连接器与所述首个连接器之间的各模拟负载组串联后的总压降大于待测试LED电源输出电压的80%且小于或等于其输出电压。由于对应不同输出电压的LED电源进行老化测试，只需要选择相应的连接器正极端与LED电源正极连接，而将选中的连接器与所述首个连接器之间的各所述连接器的正极端与负极端之间分别以跳线短接，即可达成。因此，只需一套治具即可达成不同规格的LED电源老化测试，设计简单、操作简单；且不需要使用到水泥电阻，治具体积小，重量轻；发光二极管的使用更可以检测出LED电源是否正常输出。
【【附图说明】】
[0017]图1绘示为本发明LED电源老化测试治具一较佳实施例的电路结构示意图。
[0018]图2绘示为本发明一较佳实施例中桥堆的电路结构示意图。
【【具体实施方式】】
[0019]请参阅图1,图1绘示为本发明LED电源老化测试治具的电路结构示意图。
[0020]为了达到上述目的，本发明提供的LED电源老化测试治具，包括:
[0021]若干个连接器100，各连接器100之间串联连接，各连接器100具有正极端101和负极端102，各所述连接器100的正极端101和负极端102间可通过跳线短接，首个连接器100的正极端101和负极端102间以跳线短接并接地，末个连接器100的正极端101和负极端102间以跳线短接；
[0022]若干个模拟负载组，每两个所述连接器100间串接有一个所述模拟负载组，其中，各所述各模拟负载组可以为包括若干个串联连接的桥堆200 (请再结合参阅图2，图2绘示为本发明一较佳实施例中桥堆的电路结构不意图)，所述桥堆200例如为型号US8KB80R的电子元件，各所述桥堆200的压降为1.4V。
[0023]于本实施例，首个所述模拟负载组包括五个串联连接的桥堆200，其余各模拟负载组包括两个串联连接的桥堆200。所述连接器100个数为17个，所述模拟负载组的个数为16个。
[0024]利用本发明的LED电源老化测试治具，于使用时，将需要进行老化测试的LED电源负极连接首个连接器100，LED电源正极连接选中的连接器100，所述选中的连接器100与所述首个连接器100之间的各所述连接器100的正极端101与负极端102之间分别以跳线短接，使得所述选中的连接器100与所述首个连接器100之间的各模拟负载组串联后的总压降大于待测试LED电源输出电压的80%且小于或等于其输出电压，以确保所述LED电源进行老化测试时具有较高的负载率且不会超出其输出电压。
[0025]由于对应不同输出电压的LED电源进行老化测试，只需要选择相应的连接器100正极端101与LED电源正极连接，而将选中的连接器100与所述首个连接器100之间的各所述连接器100的正极端101与负极端102之间分别以跳线短接，即可达成。通过这种方式，以如下情形为例:所述模拟负载组的个数为16个，首个所述模拟负载组包括五个串联连接的桥堆200，其余各模拟负载组包括两个串联连接的桥堆200，各所述桥堆200的压降为1.4V。则可以达成如下16个串联后的压降:7V,9.8V, 12.6V, 15.4V, 18.2V，21V，23.8V,26.6V,29.4V,32.2V,35V,37.8V,40.6V,43.4V,46.2V，49V。因此，只需一套治具即可达成不同规格的LED电源老化测试，设计简单、操作简单；且不需要使用到水泥电阻，治具体积小，重量轻。
[0026]可选地，除首个连接器100外，其余所述各连接器100的正极端101与地之间串联连接有发光二极管300及电阻400，所述电阻400用于分压来确保发光二极管300两端工作电压(所述电阻400的阻值依此可以选择为500欧姆、700欧姆、900欧姆、1.1K欧姆、1.3K欧姆、1.5K欧姆、1.7K欧姆、1.9K欧姆、2.1K欧姆、2.3K欧姆、2.5K欧姆、2.7K欧姆、2.9K欧姆、3.1K欧姆、3.3K欧姆、3.5K欧姆)。发光二极管300的使用更可以检测出LED电源是否正常输出。
[0027]需指出的是，本发明不限于上述实施方式，任何熟悉本专业的技术人员基于本发明技术方案对上述实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，都落入本发明的保护范围内。
【主权项】
1.一种LED电源老化测试治具，其特征在于，其包括: 若干个连接器，各连接器之间串联连接，各连接器具有正极端和负极端，各所述连接器的正极端和负极端间可通过跳线短接，首个连接器的正极端和负极端间以跳线短接并接地，末个连接器的正极端和负极端间以跳线短接； 若干个模拟负载组，每两个所述连接器间串接有一个所述模拟负载组。2.如权利要求1所述的LED电源老化测试治具，其特征在于，所述各模拟负载组包括若干个串联连接的桥堆。3.如权利要求2所述的LED电源老化测试治具，其特征在于，所述桥堆采用型号为US8KB80R的电子元件。4.如权利要求2所述的LED电源老化测试治具，其特征在于，首个所述模拟负载组包括五个串联连接的桥堆，其余各模拟负载组包括两个串联连接的桥堆。5.如权利要求2所述的LED电源老化测试治具，其特征在于，各所述桥堆的压降为1.4V。6.如权利要求1中任一项所述的LED电源老化测试治具，其特征在于，所述连接器个数为17个，所述模拟负载组的个数为16个。7.如权利要求1-6中任一项所述的LED电源老化测试治具，其特征在于，除首个连接器夕卜，其余所述各连接器的正极端与地之间串联连接有发光二极管及电阻。
【专利摘要】本发明揭示一种LED电源老化测试治具，包括：若干个连接器，各连接器之间串联连接，各连接器具有正极端和负极端，各所述连接器的正极端和负极端间可通过跳线短接，首个连接器的正极端和负极端间以跳线短接并接地，末个连接器的正极端和负极端间以跳线短接；若干个模拟负载组，每两个所述连接器间串接有一个所述模拟负载组。只需一套治具即可达成不同规格的LED电源老化测试，设计简单、操作简单；且不需要使用到水泥电阻，治具体积小，重量轻；发光二极管的使用更可以检测出LED电源是否正常输出。
【IPC分类】G01R31/40
【公开号】CN105467330
【申请号】CN201410458518
【发明人】许晶, 陈隆海
【申请人】神讯电脑(昆山)有限公司
【公开日】2016年4月6日
【申请日】2014年9月10日