一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法与流程

本发明涉及数字信号处理模块的测试
技术领域：
，尤其是一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法。
背景技术：
：目前，在敌我识别、雷达探测、通信对抗等领域，产品大多由数字信号处理模块和射频模块组成，数字信号处理模块用于控制射频模块的输出频率、通道开关以及读取射频模块的温度数据等，其质量的优劣对整个产品至关重要，因此对数字信号处理模块进行充分性、覆盖性、压力性测试也显得尤为重要。在设计、生产过程中，对数字信号处理模块的测试主要采用与射频模块相结合，使用手动方式进行射频模块输出功率和频率等测试，以验证数字信号处理模块的正确性，不仅测试时间较长，而且也因为手动测试验证不充分，不能完全发现设计中存在的问题。同时可能因为射频模块产出时间晚于数字信号处理模块，使得数字信号处理模块一直处于待测状态，不能及时开展对数字信号处理模块的测试。技术实现要素：本发明的目的为：提供一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法，在不使用任何测试仪器和射频模块的情况下，选用常用元器件搭建自动测试装置，解决数字信号处理模块测试不充分、测试不及时、测试时间长的问题。本发明采用的一种低成本数字信号处理模块自动测试装置，包括：依次连接的接口适配器、接口电路和cpld处理器；所述接口适配器，用于连接数字信号处理模块，将数字信号处理模块的接口全部转接至自动测试装置；所述接口电路，用于实现接口间驱动隔离；所述cpld处理器，用于接收数字信号处理模块的输出数据，并按照约定的协议进行处理后，产生数字信号处理模块的输入数据。本发明还提供一种低成本数字信号处理模块自动测试方法，所述自动测试方法为：采用安装有自动测试软件的终端设备，以及所述的自动测试装置连接至数字信号处理模块进行对数字信号处理模块的自动测试。进一步地，所述对数字信号处理模块的自动测试包括：(1)进行lvds串口覆盖测试和压力测试；(2)进行spi接口覆盖测试和压力测试；(3)进行离散接口覆盖测试和压力测试。进一步地，所述进行lvds串口覆盖测试的步骤如下：(1.1)在终端设备中的自动测试软件中设置lvds覆盖测试；(1.2)自动测试软件控制数字信号处理模块从lvds_out_p和lvds_out_n发送端口发送频率控制信息；(1.3)该频率控制信息经自动测试装置的接口适配器后，从lvds_in_p和lvds_in_n接收端口送入数字信号处理模块；(1.4)数字信号处理模块对接收的数据进行处理，并将处理结果反馈至终端设备；(1.5)由终端设备中的自动测试软件读取数字信号处理模块反馈的处理结果，并将该处理结果与预期值进行比对，根据比对结果判定数字信号处理模块中lvds串口数据处理是否正确。进一步地，所述进行spi接口覆盖测试的步骤如下：(2.1)在终端设备中的自动测试软件中设置spi覆盖测试；(2.2)自动测试软件控制数字信号处理模块产生低电平和时钟信息，并通过#cs和sckl接口发送给自动测试装置；(2.3)自动测试装置接收的低电平和时钟信息经接口适配器和接口电路后送入cpld处理器；(2.4)cpld处理器产生模拟温度传感器的16位数据，并将该16位数据经接口电路和接口适配器后，通过sio端口发送给数字信号处理模块；(2.5)数字信号处理模块根据接口的16位数据计算出温度值，并将计算出的温度值反馈至终端设备；(2.6)由终端设备中的自动测试软件计算出的温度值，并与预期值进行比对，根据比对结果判定数字信号处理模块中spi接口数据处理是否正确。进一步地，步骤(2.4)中cpld处理器通过sio端口每次发送一组16位数据给数字信号处理模块。进一步地，所述进行离散接口覆盖测试的步骤如下：(3.1)在终端设备中的自动测试软件中设置离散接口覆盖测试；(3.2)自动测试软件控制数字信号处理模块的12v_en、au、ad输出端口产生000～111的信号发送给自动测试装置；(3.3)自动测试装置接口的000～111的信号经接口适配器和接口电路后送入cpld处理器；(3.4)cpld处理器根据接收的000～111的信号，按照约定的协议产生111～000的信号，并将该111～000的信号经接口电路和接口适配器后，通过pllf、au_fzj、ad_fzj端口发送给数字信号处理模块；(3.5)数字信号处理模块对接收的111～000的信号进行处理，并将处理结果反馈至终端设备；(3.6)由终端设备中的自动测试软件读取数字信号处理模块反馈的处理结果，并将该处理结果与预期值进行比对，根据比对结果判定数字信号处理模块中离散接口数据处理是否正确。进一步地，步骤(3.2)中自动测试软件控制数字信号处理模块的12v_en、au、ad输出端口产生000～111的信号，并每次发送一组000～111的信号给自动测试装置。进一步地，通过多次进行lvds串口覆盖测试、spi接口覆盖测试和离散接口覆盖测试，实现相应的压力测试。综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：1、本发明的自动测试装置采用常用元器件实现，在当今市场环境下成本仅为300元左右，在不需要任何测试仪器和射频模块的情况下，与自动测试软件结合可以用于实现对数字信号处理模块的覆盖测试和压力测试，缩短了测试时间并及时暴露数字信号处理模块中的问题。2、本发明可以实现数字信号处理模块的lvds串口测试、spi接口测试和离散接口测试，并且测试方法简单。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本发明的低成本数字信号处理模块自动测试原理图。具体实施方式为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明，即所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。以下结合实施例对本发明的特征和性能作进一步的详细描述。实施例1本实施例提供的一种低成本数字信号处理模块自动测试装置，包括：依次连接的接口适配器、接口电路和cpld处理器；所述接口适配器，用于连接数字信号处理模块，将数字信号处理模块的接口全部转接至自动测试装置；所述接口电路，用于实现接口间驱动隔离；所述cpld处理器，用于接收数字信号处理模块的输出数据，并按照约定的协议进行处理后，产生数字信号处理模块的输入数据。基于所述自动测试装置进行一种低成本数字信号处理模块自动测试方法，如图1所示，所述自动测试方法为：采用安装有自动测试软件的终端设备，以及所述自动测试装置连接至数字信号处理模块进行对数字信号处理模块的自动测试。一般地，数字信号处理模块提供rs232串口，用于终端设备与数字信号处理模块进行通信，由此，终端设备可以采用pc机、工控机等能够安装应用程序且支持rs232串口(或可扩展为rs232串口)的终端设备。所述对数字信号处理模块的自动测试包括：(1)进行lvds串口覆盖测试和压力测试；(2)进行spi接口覆盖测试和压力测试；(3)进行离散接口覆盖测试和压力测试。其中，覆盖测试即进行一次接口所有数据的测试，则可以通过多次进行lvds串口覆盖测试、spi接口覆盖测试和离散接口覆盖测试，实现相应的压力测试。具体地：(1)进行lvds串口覆盖测试所述进行lvds串口覆盖测试的步骤如下：(1.1)在终端设备中的自动测试软件中设置lvds覆盖测试；(1.2)自动测试软件控制数字信号处理模块从lvds_out_p和lvds_out_n发送端口发送0x00000000000000～0x01ffffffffffff的频率控制信息；发送频率控制协议见表1。表1：(1.3)该0x00000000000000～0x01ffffffffffff的频率控制信息经自动测试装置的接口适配器后，从lvds_in_p和lvds_in_n接收端口送入数字信号处理模块；(1.4)数字信号处理模块对接收的数据进行处理,即对接收的数据按表2中的频率控制响应协议进行处理，提取byte[0]中bit00的参数有效标识、byte[0]中bit01的设置/查询标识、byte[1]的带宽、byte[2]的跳频状态、byte[3]～byte[6]的频率，并将处理结果反馈至终端设备。表2：(1.5)由终端设备中的自动测试软件读取数字信号处理模块反馈的处理结果，并将该处理结果与预期值进行比对，根据比对结果判定数字信号处理模块中lvds串口数据处理是否正确。例如：假设发送的数据为0x00000000000000时，因为数据从发送端口直接进入接收端口，数字信号处理模块会接收到0x00000000000000，按表2的协议，数字信号处理模块对数据接收后，会处理为0hz频率、定频、8mhz带宽、设置状态、参数有效。所以，在发送0x00000000000000数据时的预期值就是0hz频率、定频、8mhz带宽、设置状态、参数有效，如果接收的数据经数字信号处理模块处理后反馈至自动测试终端的结果不为0hz频率、定频、8mhz带宽、设置状态、参数有效，则可以判断数字信号处理模块中lvds串口数据处理错误。(2)进行spi接口覆盖测试所述进行spi接口覆盖测试的步骤如下：(2.1)在终端设备中的自动测试软件中设置spi覆盖测试；(2.2)自动测试软件控制数字信号处理模块产生低电平和时钟信息，并通过#cs和sckl接口发送给自动测试装置；(2.3)自动测试装置接收的低电平和时钟信息经接口适配器和接口电路后送入cpld处理器；(2.4)cpld处理器产生模拟温度传感器的16位数据(0000000000000000～1111111111111111)，并将该16位数据经接口电路和接口适配器后，通过sio端口发送给数字信号处理模块；为了便于数据处理，cpld处理器通过sio端口每次发送一组16位数据给数字信号处理模块。需要说明的是，步骤(2.4)中模拟温度传感器只是一个示例，实际上，还可以模拟其他器件，例如模拟spi接口的adc芯片的电压值。该16位数据内容及二进制码见表3和表4。表3，温度数据内容：表4，温度输出二进制码：温度(℃)二进制码+150.00000100101100000xxx+125.00000011111010000xxx+25.00000000110010000xxx+0.06250000000000001xxx0.00000000000000000xxx-0.06251111111111111xxx-25.00001111001101110xxx-55.00001111110001110xxx(2.5)数字信号处理模块根据接口的16位数据计算出温度值，并将计算出的温度值反馈至终端设备；(2.6)由终端设备中的自动测试软件计算出的温度值，并与预期值进行比对，根据比对结果判定数字信号处理模块中spi接口数据处理是否正确。例如：假设发送的数据为0011111010000xxx时，因为数据从发送端口直接进入接收端口，数字信号处理模块会接收到0011111010000xxx，按表4的协议，数字信号处理模块对数据接收后，会处理为+125℃。所以，在发送0x00000000000000数据时的预期值就是+125℃，如果接收的数据经数字信号处理模块处理后反馈至终端的结果不为+125℃，则可以判断数字信号处理模块中spi接口数据处理错误。(3)进行离散接口覆盖测试所述进行离散接口测试的步骤如下：(3.1)在终端设备中的自动测试软件中设置离散接口覆盖测试；(3.2)自动测试软件控制数字信号处理模块的12v_en、au、ad输出端口产生000～111的信号发送给自动测试装置；为了便于信号处理，每次发送一组000～111的信号给自动测试装置。(3.3)自动测试装置接口的000～111的信号经接口适配器和接口电路后送入cpld处理器；(3.4)cpld处理器根据接收的000～111的信号，按照表5中约定的协议产生111～000的信号，并将该111～000的信号经接口电路和接口适配器后，通过pllf、au_fzj、ad_fzj端口发送给数字信号处理模块；表5：(3.5)数字信号处理模块对接收的111～000的信号进行处理，并将处理结果反馈至终端设备；(3.6)由终端设备中的自动测试软件读取数字信号处理模块反馈的处理结果，并将该处理结果与预期值进行比对，根据比对结果判定数字信号处理模块中离散接口数据处理是否正确。例如：当数字信号处理模块发送数据为100时，根据表5可知，cpld处理器会发送011至数字信号处理模块，数字信号处理模块应反馈激励源工作正常、上天线故障、下天线故障给终端设备，因此数字信号处理模块发送数据100的预期值为激励源工作正常、上天线故障、下天线故障。如果数字信号处理模块发送数据100后，终端设备接收的信息部位激励源工作正常、上天线故障、下天线故障，则判断数字信号处理模块中离散接口数据处理错误。通过上述内容可知，本发明具有的有益效果如下：1、本发明的自动测试装置采用常用元器件(可以根据需求选用性价比高的元器件)实现，在当今市场环境下成本仅为300元左右，在不需要任何测试仪器和射频模块的情况下，与自动测试软件结合可以用于实现对数字信号处理模块的覆盖测试和压力测试，缩短了测试时间并及时暴露数字信号处理模块中的问题。2、本发明可以实现数字信号处理模块的lvds串口测试、spi接口测试和离散接口测试，并且测试方法简单。以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。当前第1页12