专利名称：数据处理设备及其数据处理方法
技术领域：
本发明涉及一种数据处理设备，其中操作执行装置利用在数据存储装置中的存储数据执行处理操作，以及一种数据处理方法。
当前，几种数据处理设备被用于几种数据处理，这种数据处理设备根据所需的性能和工作环境形成几种形式。例如，在由IC(集成电路)所形成的数据处理设备被用于特定的应用中的情况下，它通常包括一种特定的电路装置，在此为ASIC(专用集成电路)。
例如，对于这种电路装置，尽管存在一种数据处理设备，其中包含象带隙电路这样的模拟电路，由于该模拟电路的总体特性因为生产错误而剧烈变化，在未包装芯片完成之后，该模拟电路的特性由数字电路所调节。
下面将参照
图11描述一种数据处理设备的一个常规例子。另外，该图为示出一种数据处理设备的常规例子的内部结构的方框图。在此所示的常规数据处理设备100包括CPU(中央处理单元)101和非易失性存储器102，并且它们都连接到一条内部总线103。
在此所示的数据处理设备100实际上是微计算机(未示出)的一部分，并且该微计算机共用该数据处理设备100和CPU 101。位于该数据处理设备100的外部的ROM(只读存储器)、RAM(随机存取存储器)等等都连接到该CPU 101(未示出)，并且该微计算机由ROM、RAM和CPU 101所形成。
在该微计算机中，一个适当的控制程序预先作为软件和固件安装在ROM等上，并且通过对应于该控制程序的CPU 101的几种数据处理，数据处理设备100等等的每个部分被集中地控制。
该数据处理设备100的非易失性存储器102由象快速存储器、EEPROM(电可擦除可编程只读存储器)和FeRAM(铁电RAM)这样的非易失性性信息存储介质所形成，并且可从写地进行几种数据的数据存储。
另外，该数据处理设备100包括作为模拟电路的带隙电路104，和对应于操作执行装置的连接到该带隙电路104的调整电路105。作为数据存储装置的寄存器电路106连接到该调整电路105，并且该寄存器电路106与测试电路107一同连接到内部总线103。
寄存器电路由作为信息存储介质的FF(触发器)阵列所形成，用于可重写地进行几种数据的数据存储，并且预定的处理数据被通过测试电路107预先作为一种数据写入其中。该带隙电路104通过模拟操作产生预定数值的输出电压，并且调整电路105根据作为数据写入寄存器电路106中的处理数据调节该带隙电路104的输出电压的电压值。
如上文所述，由于具有内置微计算机的结构的数据处理设备100通过作为模拟电路的带隙电路104产生预定数值的输出电压，并且把它提供给微计算机的每个部分，该微计算机通过从数据处理设备100提供的输出电压进行操作，并且执行几种数字处理。
尽管该数据处理设备100由半导体集成电路所形成，但是包含在其内部的带隙电路104是一种模拟电路，相应地其特性由于薄膜技术的生产错误而剧烈变化。但是，该寄存器电路106通过调整电路105连接到带隙电路104，并且适当的处理数据被预先作为一种数据存储在该寄存器电路106中。
由于调整电路105根据寄存器电路106的处理数据调节该带隙电路104的工作特性，因此该带隙电路104可以稳定地产生适当数值的输出电压，并且该数据处理设备100可以正常地工作。
另外，在实际制造其中内置数据处理设备100的微计算机的情况下，作为一种LSI(大规模集成)芯片而完成的微计算机安装在LSI测试装置(未示出)上，并且其连接端连接到数据处理设备100的带隙电路104和测试电路107。
在这种情况下，由于该LSI测试装置确认该带隙电路104的输出电压的电压值，同时连续地通过测试电路107改变寄存器电路106的存储数据，电压值约等于理想值的处理数据将被作为数据写在寄存器电路106中。
按这种方式，当其中适当的处理数据被作为数据写在数据处理设备100的寄存器电路106中的微计算机被作为一种未包装芯片从制造方向用户方发货时，在用户方，可以把该未包装芯片的微计算机组装到电子仪器上。
在上述数据装置100中，由于调整电路106根据作为数据写在寄存器电路中的数字处理数据而调节带隙电路104的模拟操作，因此该带隙电路104可以稳定地产生适当数值的输出电压。
但是，如上文所述，即使制造方向用户方发送出该微计算机，其中适当的处理数据被作为数据写入在数据处理设备100的寄存器电路106中，但是有时由于使用条件或存储条件会造成集成电路106中的处理数据的丢失或异常。
在这种情况下，由于通过作为模拟电路的带隙电路104所产生的输出电压的电压值偏离适当的范围，因此在内置由数据处理设备100的微计算机的操作中有时会出现误操作或失控，例如，其中使用微计算机的仪器有时会达到崩溃的状态。
本发明用于解决上述问题。
另外，本发明的目的是提供一种能够精确地检测在数据存储装置中出现存储数据失效的情况的数据处理设备，以及一种数据处理方法。
本发明的一种数据处理设备包括由信息存储介质所形成的数据储存装置，用于可重写地进行各种数据的数据存储，其中预定处理装置的数据写入被预先进行；操作执行装置，用于从上述数据存储装置进行处理数据的数据读取，以及执行预定的操作；参考存储装置，其中具有与上述处理数据相同内容的参考数据的数据写入被预先进行；数据比较装置，用于从上述参考存储装置进行参考数据的数据读取，以及从上述数据存储装置进行处理数据的数据读取，并且进行数据比较；以及错误检测装置，用于检测错误的发生，如果上述数据比较装置确定参考数据与处理数据不一致则错误发生。
相应地，在根据本发明的数据处理设备的一种数据处理方法中，该操作执行装置进行预定处理数据的数据读取，该处理数据被作为数据预先写入在数据存储装置中，用于可重写地进行各种数据的数据存储，并且执行预定的操作。但是，具有与该处理数据相同内容的参考数据被预先作为数据写入在参考存储装置中，并且数据比较装置进行该参考存储装置的参考数据和数据存储装置的处理数据的数据读取，并且进行数据比较。因此，由于当确定参考数据与处理数据之间不一致时错误检测装置检测到错误发生，在数据存储装置中出现的存储失效被检测为错误发生。
在上述数据处理设备中，上述参考存储装置可以由信息存储介质所形成，其中所存储数据的保持特性与上述数据存储装置不同。在这种情况下，由于所存储数据的保持特性在参考存储装置与数据存储装置之间互不相同，例如在参考存储装置的保持特性比数据存储装置较好的情况下，当在数据存储装置中出现存储失效时检测到错误发生，并且在参考存储装置的保持特性不如数据存储装置的情况下，在数据存储装置中出现存储失效之前并且在参考存储装置中出现存储失效时，检测到错误发生。
本发明的另一种数据处理设备包括由信息存储介质所形成的数据存储装置，用于可重写地进行各种数据的数据存储，其中预定处理数据的数据写入被预先进行；操作执行装置，用于从上述数据存储装置执行处理数据的数据读取，并且执行预定的操作；由信息存储介质所形成的参考存储装置，其中所存储数据的保持特性不如上述数据存储装置，其中预定参考数据的数据写入被预先进行；质量判断装置，用于从上述参考存储装置进行参考数据的数据读取，并且判断是否存在失效的情况；以及错误检测装置，用于检测错误的出现，如果上述质量判断装置参考数据失效时则错误发生。
相应地，在根据本发明的数据处理设备的数据处理方法中，操作执行装置进行预定处理数据的数据读取，该处理数据被预先作为数据存储在用于可重写地进行各种数据的数据存储的数据存储装置中，并且执行预定的操作。尽管该预定参考数据被作为数据预先存储在参考存储装置中，但是在该参考存储装置中的所存储数据的保持特性不如该数据存储装置。并且，质量判断装置从该参考存储装置中进行数据读取，并且判断是否存在失效的情况，从而，如果质量判断装置确定参考数据失效，则错误检测装置检测到错误发生。相应地，在存储失效情况在数据存储装置中出现之前，在参考存储装置中将出现存储失效的情况，并且当在该参考存储装置中出现存储失效时，检测到错误发生。
在上述数据处理设备中，上述参考存储装置可以进行作为参考数据的一系列二值数据的数据存储，其中二值数位被分布在预定的位置，并且上述质量判断装置可以在上述二值数据的多个位置处使得该二值数位相互比较。
在这种情况下，由于参考存储装置进行作为参考数据的一系列二值数据的数据存储，其中二值数位被分布在预定的位置，并且质量判断装置在上述二值数据的多个位置处把该二值数位相互比较，并且判断参考数据的质量。当作为数据存储在参考存储装置中的“0，1”的二值数位例如由于存储失效而变为“0，0”或者“1，1”，这由质量判断装置判断为参考数据的失效。
在上述数据处理设备中，上述参考存储装置进行作为参考数据的一系列二值数据的数据存储，其中“0”和“1”的二值数位至少依次地被分布在预定位置，并且上述质量判断部分可以确认至少在上述二值数据的两个预定位置处的二值数位是互为相反的。
在这种情况下，因为对于作为参考数据存储在参考存储装置中的一系列二值数据来说，“0”和“1”的二值数位至少依次地被分布在预定的位置，并且质量确定装置确认至少在在二值数据的两个预定位置处的二值数位是互为相反的，当二值数据的两个二值数位“0，1”由于存储失效而变为“0，0”或者“1，1”，这由质量判断装置判断为参考数据的失效。
在上述数据处理设备中，上述质量判断装置包括数据保持装置，用于进行从上述参考存储装置读取参考数据的数据读取，并且暂时对其进行保持；以及数据比较装置，用于进行暂时存储在上述数据保持装置中的参考数据与作为数据存储在上述参考存储装置中的参考数据之间的数据比较。
在这种情况下，该数据保持装置进行从上述参考存储装置读取参考数据的数据读取，并且暂时对其进行保持；并且数据比较装置进行暂时保持在上述数据保持装置中的参考数据与作为数据存储在上述参考存储装置中的参考数据之间的数据比较。相应地，当在参考存储装置中的参考数据变化时，由于它变得不同于以前保持在数据保持装置中的参考数据，因此这被数据比较装置判断为参考数据的失效。
在上述数据处理设备中，上述质量判断装置包括由非易失性信息存储介质所形成的比较存储装置，其中具有与上述参考数据相同内容的比较数据的数据写入被预先进行；以及数据比较装置，用于进行从上述比较装置读取比较数据的数据读取，进行从上述存储装置读取参考数据的数据读取，并且进行数据比较。
在这种情况下，由于具有与参考数据相同内容的比较数据被作为数据预先写入在由非易失性信息存储介质所形成的比较存储装置中，并且数据比较装置进行该比较存储装置的比较数据和参考存储装置的参考数据的数据读取，并且进行数据比较，按这种方式，参考存储装置的参考数据的质量由质量判断装置所确定。
本发明的另一个数据处理设备包括由信息存储介质所形成的数据存储装置，用于可重写地进行各种数据的数据存储，其中预定处理数据的数据写入被预先进行；操作执行装置，用于进行从上述数据存储装置读取处理数据的数据读取，并且执行预定的操作；数据保持装置，用于进行从上述数据存储装置读取处理数据的数据读取，并且对其进行暂时保持；数据比较装置，用于进行暂时存储在上述数据保持装置中的处理数据与作为数据存储在上述数据存储装置中的处理数据之间的数据比较；以及错误检测装置，用于检测错误的发生，如果上述数据比较装置判断该处理数据之间不一致则错误发生。
相应地，在根据本发明的数据处理设备的数据处理方法中，该操作执行装置，进行预先作为数据写入在用于可重写地进行各种数据的数据存储的数据存储装置中的预定处理数据的数据读取，并且执行预定的操作。但是，该数据保持装置进行数据存储装置的处理数据的数据读取，并且对其进行暂时保持；并且数据比较装置进行暂时保持在该数据保持装置中的处理数据与数据存储装置的处理数据之间的数据比较。由于当由该数据比较装置判断出处理数据之间不一致时，该错误检测装置检测到错误发生，因此在数据存储装置中发生的存储失效被检测为错误发生。
另外，可以形成在本发明中所述的各种装置以便于实现其功能，例如，一种专用硬件，通过程序提供适当功能的计算机、通过适当程序在计算机中实现的一种功能、以及它们的结合都是可以接受的。
在下文具体描述和附图中本发明的这些和其它目的、特点和优点将变得更加清楚，其中图1为示出本发明第一实施例的数据处理设备的基本部分的方框图；图2为示出对应于数据比较装置的数据比较电路的内部结构的电路图；图3为示出对应于数据比较装置的数据比较电路的处理操作的时序图。
图4A为示出作为一个修改实施例的数据处理设备中的数据存储装置的寄存器电路和作为在该设备中的参考存储装置的参考寄存器中的存储单元的薄膜结构的截面视图。
图4B为示出作为一个修改实施例的数据处理设备中的数据存储装置的寄存器电路和作为在该设备中的参考存储装置的参考寄存器中的存储单元的薄膜结构的截面视图。
图5为示出在其它修改实例中的数据处理方法的流程图；图6为示出本实施例的数据处理设备的基本部分的方框图；图7为示出质量判断装置的质量判断电路的电路图；图8为示出质量判断电路的处理操作的时序图；图9为示出在另一个修改实例的数据处理设备中的质量判断电路的电路图；图10为示出质量判断电路的处理操作的时序图；以及图11为示出一个常规实例的数据处理设备的内部结构的方框图。
下面将参照图1至图3说明本发明第一实施例的数据处理设备。另外，图1为示出本发明第一实施例的数据处理设备的基本部分的方框图；图2为示出对应于数据比较装置的数据比较电路的内部结构的电路图；以及图3为示出对应于数据比较装置的数据比较电路的处理操作的时序图。
与上述作为一个常规实例的数据处理设备100相同，本实施例的数据处理设备200也形成为由半导体集成电路所构成的微计算机的一部分，如图1中所示，CPU 101和非易失性存储器102连接到内部总线103。
作为数据存储装置的寄存器电路106和测试电路107也连接到该控制总线103，并且作为模拟电路的带隙电路104通过对应于操作执行装置的调整电路105连接到寄存器电路106。
但是与一个常规实例的数据处理设备不同的是，在本实施例的数据处理设备200中，添加有作为参考存储装置的参考寄存器201和作为数据比较装置的数据比较电路，并且寄存器电路106和参考寄存器201连接到该数据比较电路202。
由具有与寄存器电路106相同结构的触发器阵列所形成的参考寄存器和具有与作为数据存储在寄存器电路106中的处理数据相同内容的参考数据被作为数据预先写入。如图2中所示，数据比较电路202由D型触发器203、异或门204、或门205等等所形成，并且在一个参数时钟的信号周期中进行参考寄存器201的参考数据与寄存器电路106的处理数据之间的数据比较。
该数据比较电路202还连接到CPU 101，并且该CPU 101通过对应于作为软件预先安装在该数据处理设备200外部的ROM等等中的控制程序的数据处理而作为错误检测装置。
换句话说，作为一个比较结果，在数据比较电路202判断参考数据与处理数据之间相一致的情况下，CPU 101与常规的一样继续进行通常的处理操作，如果数据比较电路202判断出不一致，则CPU 101检测到错误发生，并且执行系统的复位和强制停止数据处理设备200的每个部分的操作。
在上述结构中，与上述作为一个常规实例的数据处理设备100相同，本实施例的数据处理设备200通过作为模拟电路的带隙电路104产生预定数值的输出电压，并且把它用于各种目的，以及调整电路105根据寄存器电路106的处理数据调节带隙电路104的工作特性。
尽管在制造方把处理数据作为一种数据写入寄存器电路106之后，本实施例的数据处理设备200也输送到用户方，但是由于各种原因有时在寄存器电路106中会出现存储失效的情况。但是，在本实施例的数据处理设备200中，当在寄存器电路106出现存储失效时，由于整个操作被自动地强制停止，因此可以避免微计算机的误操作或失控。
换句话说，与一个常规实例的数据处理设备100不同，在本实施例的数据处理设备200中，与寄存器电路106的处理数据相同的参考数据被作为一种数据存储在参考寄存器201中，并且该参考寄存器201的参考数据和寄存器电路106的处理数据被数据比较电路202在一个参数时钟的信号周期中相互比较。
当寄存器电路106的存储数据正常时，由于作为一个比较结果，该数据比较电路201判断为一致，在这种情况下CPU 101继续进行通常的处理操作。但是，由于当在寄存器电路106的存储数据中出现失效时，作为一个比较结果，数据比较电路202判断出不一致，CPU 101立即检测到错误发生，并且执行系统复位。
在该系统复位中，由于数据处理设备200的每个部分的操作被强制停止，因此数据处理设备200不在这样的情况下工作，该情况为由于寄存器电路106的处理数据的存储失效，使得从带隙电路104输出电压的电压值异常。
相应地，在本实施例的数据处理设备200中，可以避免由于寄存器电路106的存储失效而造成微计算机的误操作或失控，并且也可以避免利用该微计算机的电子仪器达到崩溃的状态。
另外，如上文所述，作为一种在参考寄存器201中进行参考数据的数据写入的方法，这与寄存器电路206的处理数据相同，当由大规模集成电路测试器件进行从测试电路107到寄存器电路106的处理数据的数据写入时，也可以进行在参考寄存器201中写入相同的参考数据。
另外，本发明不限于上述实施例，并且在其范围内的各种变形中都是可接受的。例如，假设在上述实施例中形成与寄存器电路106的结构完全相同的参考寄存器201，并且在该结构中，寄存器电路106与参考寄存器201之间的存储数据的保持特性也变得相同。
在这种情况下，在寄存器电路106和参考寄存器201中的所存储数据有可能同时消失，并且其比较结果变得相同，尽管在寄存器电路106中所存储数据消失，也没有检测到错误发生，但是这种可能性实际上是比较低的。
相应地，在这变为一个任务的情况下，最好使参考寄存器201与寄存器电路106的结构做得不完全相同，并且在寄存器电路106和参考寄存器201中的所存储数据的保持特性被做得互不相同。例如，如上文所述，在寄存器电路106由触发器阵列所形成的情况下，如图4A中所示，在其一个存储单元210中，FG(浮置栅极)213和CG(控制栅极)214形成在p型区域212，其中形成n型阱211，并且形成一种结构，其中由铝制成的金属层215至于它们上面。
在具有这种结构的寄存器电路106中，由于所存储数据的保持特性根据金属层215的层厚度而变化，如图4B中所示，例如，在参考寄存器201的个存储单元220中，金属层215的层厚度被制得大于寄存器电路106的存储单元210的金属层的厚度。
在这种情况下，由于参考寄存器201的保持特性变得比寄存器电路106的保持特性更好，因此当在寄存器电路106出现的存储失效时，在参考寄存器201中不会出现存储失效的情况，并且有可能立即判断在寄存器电路106中出现存储失效的情况。
并且，尽管在上述实施例中，作为一个实例示出由硬件所形成的数据比较电路202连接到寄存器电路106和参考寄存器201，以把处理数据与参考数据相比较，也可以通过CPU 101的软件进行预定的处理来把寄存器电路106的处理数据与参考寄存器201的参考数据相比较。
在这种情况下，如图5中所示，在CPU 101中，在通常处理操作的执行过程中(步骤S5)，在预定的周期中产生检验时序(步骤S1)。在每次出现该检验时序时，CPU 101进行在寄存器电路106和参考寄存器201中的存储数据的数据读取，并且把该数据相互比较(步骤S2和S3)，并且在该比较结果相一致的情况下，返回到通常常的处理操作(步骤S5)，并且在该比较结果不相一致的情况下，能够执行系统复位(步骤S4)。
接着，下面将参照图6至图8说明本发明的第二实施例的数据处理设备。另外，对于第二实施例的数据处理设备，与第一实施例的数据处理设备相同的部件采用相同的名称和符号，并且将省略对它们的具体描述。并且，图6为示出本实施例的数据处理设备的基本部分的方框图；图7为示出质量判断装置的质量判断电路的电路图；图8为示出质量判断电路的处理操作的时序图。
在本实施例的数据处理设备300中，如图6中所示，作为参考存储装置的参考寄存器301连接到作为质量判断装置的质量判断电路302，但是，寄存器电路106不连接到质量判断电路302。
尽管参考寄存器301仍然由具有与寄存器电路106相同的结构的触发器阵列所形成，由于在其存储单元中，金属层的层厚度被制得较小，因此在参考寄存器301中的所存储数据的保持特性不如寄存器电路106。
并且，在该参考寄存器301中，预定的参考数据被作为数据预先写入，并且质量判断电路302进行从参考寄存器301读取参考数据的数据读取，并且判断是否有失效的情况。更具体来说，作为数据存储在参考寄存器301中的参考数据被设为独立于寄存器电路106中的处理数据，并且如图7中所示，在此形成“1，1”的一系列二值数据，其中二值数位位于预定的位置。
质量判断电路302由与非门所形成，与图8中所示，它把在二值数据的多个位置处的二值数位“1，1”相互比较，并且当它们互不一致时，则判断参考数据的存储失效。由于质量判断电路302还连接到CPU 101等等上，当质量判断电路302判断出现不一致时，该CPU 101作为一个错误检测装置检测到错误发生，并且执行系统复位以及强制停止数据处理设备的每个部分的操作。
在上述结构中，与上述第一实施例的数据处理设备200相同，在本实施例的数据处理设备300中，调整电路106根据寄存器电路106的处理数据调节作为模拟电路用于产生预定数值的输出电压的带隙电路104的工作特性，并且该寄存器电路106的处理数据被在制造方作为数据写入。
并且，尽管在寄存器电路106中仍然出现存储失效的情况，但是在本实施例的数据处理设备300中，在寄存器电路106中出现存储失效的情况之前，整个操作被自动地强制停止。换句话说，在本实施例的数据处理设备300中，预定的参考数据被作为数据写入在参考寄存器301中，其具有与寄存器电路106相同的结构，并且它的存储数据的保持特性比寄存器电路差，并且在该参考寄存器301中的参考数据的质量总是由质量判断电路302所确认。
由于，当在参考寄存器301中的参考数据正常时，质量判断电路302没有判断存储失效，CPU 101在这种情况下继续进行通常的处理操作。但是，由于当在参考寄存器301的参考数据中出现失效的情况时，质量判断电路302判断存储失效，CPU 101立即检测到错误发生，并且执行系统复位。
如上文所述，由于参考寄存器301和寄存器电路106被形成为具有相同的结构，与在寄存器电路106中相同在参考寄存器301中出现数据存储的老化失效，但是参考寄存器301的所存储数据的保持特性不如寄存器电路106。
相应地，由于在寄存器电路106中出现存储失效之前，在参考寄存器301中出现存储失效，因此当该参考寄存器301出现存储失效时，数据处理设备300的每个部分的操作被强制停止，从而可以避免由于寄存器电路106的存储失效而造成的误操作或失控。
另外，本发明不限于上述实施例，并且在其范围内的各种变型都是可接受的。例如，尽管在上述实施例中示出两个二值数位“1，1”被作为要作为参考数据的一系列二值数据写入到参考寄存器301中，并且它的一致性由与非门所形成的质量判断电路302所确认，可以把该参考寄存器301的参考数据设为“1，0”或者“0，1”，并且通过由异或门所形成的质量判断电路302确认其不一致性。
在这种情况下，即使要作为参考数据的二值数据的二值数位“0，1”由于存储失效而变为“0，0”或者“1，1”，这由质量判断电路302判断为参考数据的失效，并且参考寄存器301的存储失效被确认。
并且，尽管在上述实施例中示出要变为参考寄存器301的参考数据的一系列二值数据被由逻辑门所形成的质量判断电路302进行逻辑计算以判断是否有存储失效的情况，如上文所述，参考寄存器301的参考数据可以被设置为独立于寄存器电路106的处理数据。
相应地，还可以把参考寄存器301的参考数据设置为预定的二值数据，例如“1，0，1，0，…，1，0”，并且预先写入与不同于参考存储器301的比较存储装置中相同的比较数据，以通过数据比较电路202的硬件处理或者CPU 101的软件处理确定这些参考数据与比较数据之间的一致性。
另外，如图9中所示，还可以通过作为数据保持装置的D型触发器402或者通过作为数据比较装置的异或门403形成作为质量判断装置的质量判断电路401。在这种情况下，如图10中所示的D型触发器402在一个参考时钟的信号周期中读出作为参考寄存器301的参考数据的二值数位，并且暂时地保持它们，并且异或门403在一个参考时钟的信号周期中把暂时保持在D型触发器402中的参考数据与作为数据存储在参考寄存器301中的参考数据相比较。
但是，当作为数据存储在参考寄存器301中的参考数据被改变时，由于数据比较的执行时序与暂时保持相比延迟了一个参考时钟的周期，这被检测为不同于暂时保持在D型触发器402中的参考数据。
另外，由于只要上述质量判断电路401被连续地驱动，则可以确定地检测数据的改变，例如这还可以通过不把该质量判断电路401连接到参考寄存器301而是连接到寄存器电路106而直接检测处理数据的改变。
如上文所述构成本发明，其有效优点在下文中描述。
在根据本发明的一个数据处理设备的数据处理方法中，该操作执行装置进行预先作为数据写入在用于可重写地进行各种数据的数据存储的数据存储装置中的预定处理数据的数据读取，并且执行预定的操作，并且具有与处理数据相同内容的参考数据被预先作为数据写入参考存储装置中，并且数据比较装置进行参考存储装置的参考数据和数据存储装置的处理数据的数据读取，并且进行数据比较，因此，错误检测装置在判断参考数据与处理数据之间不一致时检测错误，并且，因此在数据存储装置中出现的存储失效可以被检测为错误发生，例如，当在数据存储装置中出现存储失效时，可以强制停止数据处理设备的处理操作。
并且，在上述数据处理设备中，参考存储装置与数据存储装置之间的所存储数据的保持特性互不相同，从而，由于有可能减小数据存储装置的处理数据与参考存储装置的参考数据同时和类似地变化的概率，因此可以提高检测数据存储装置的数据失效的精度。
在根据本发明另一个数据处理设备的数据处理方法中，操作执行装置进行预先作为数据写入在用于可重写地进行各种数据的数据存储的数据存储装置中的预定处理数据的数据读取，并且执行预定的操作，尽管预定的参考数据被预先作为数据写入在参考存储装置中，在该参考存储装置中的所存储数据的保持特性不如数据存储装置，并且质量判断装置进行从参考存储装置读取参考数据的数据读取，并且判断是否存在失效的情况，因此，如果质量判断装置判断参考数据失效，则错误检测装置检测到错误发生，从而，由于在存储失效出现在数据存储装置中之前在参考存储装置中出现存储失效的情况，因此可以在参考存储装置中出现存储失效时检测到错误发生，例如，可以刚好在数据存储装置中出现存储失效之前强制停止数据处理设备的处理操作。
并且，在上述数据处理设备中，参考存储装置进行作为参考数据的一系列二值数据的数据存储，其中二值数位被分布在预定的位置，并且质量判断装置把在二值数据的多个位置处的二值数位相互比较，以确定参考数据的质量，例如从而有可能在预定二值数位改变时，简单和恰当地确定参考数据的失效。
并且，在作为参考数据存储在参考存储装置中的一系列二值数据中，“0”和“1”的二值数位至少依次地分布在预定位置，并且质量判断装置确认在至少这些二值数据的两个预定位置处的二值数位互为相反，从而，当二值数据“0，1”的两个二值数位由于存储失效而变为“0，0”或者“1，1”，由于这被质量判断装置判断为参考数据的失效，因此可能简单或确定地判断在参考数据中出现失效的情况。
并且，数据保持装置进行从参考存储装置读取参考数据的数据读取，并且对其进行暂时地保持，并且数据比较装置进行暂时保持在数据保持装置中的参考数据与作为数据存储在参考存储装置中的参考数据之间的比较，从而，当在参考存储装置中的参考数据变化时，由于这不同于以前保持在数据保持装置中的参考数据，因此这被数据比较装置判断为参考数据的失效，有可能简单和确定地判断在参考数据中出现的失效情况。
并且，具有与参考数据相同内容的比较数据被作为数据预先写入在由非易失性信息存储介质所形成的比较存储装置中，并且数据比较装置进行该比较存储装置的比较数据与参考存储装置的参考数据的数据读取，并且进行数据比较，从而由于参考存储装置的参考数据由质量确定装置所确定，因此有可能简单或确定地判断在参考数据中出现的失效情况。
在根据本发明另一个数据处理设备的数据处理方法中，操作执行装置进行预先作为数据写入在用于可重写地进行各种数据的数据存储的数据存储装置中的预定处理数据的数据读取，并且执行预定的操作；以及该数据保持装置进行数据存储装置的处理数据的数据读取，并且对其进行暂时保持；以及数据比较装置进行保持在数据保持装置中的处理数据与数据存储装置的处理数据之间的数据比较；在由数据比较装置判断处理数据之间不一致时，错误检测装置检测到错误发生，从而在数据存储装置中出现的存储失效可以被检测为错误的发生，例如，可以在数据存储装置中出现存储失效时强制停止数据处理设备的处理操作。
权利要求
1.一种数据处理设备包括由信息存储介质所形成的数据储存装置，用于可重写地进行各种数据的数据存储，其中预定处理装置的数据写入被预先进行；操作执行装置，用于从所述数据存储装置进行处理数据的数据读取，以及执行预定的操作；参考存储装置，其中具有与所述处理数据相同内容的参考数据的数据写入被预先进行；数据比较装置，用于从所述参考存储装置进行参考数据的数据读取，以及从所述数据存储装置进行处理数据的数据读取，并且进行数据比较；以及错误检测装置，用于检测错误的发生，如果所述数据比较装置确定参考数据与处理数据不一致则错误发生。
2.根据权利要求1所述的数据处理设备，其特征在于，所述参考存储装置由信息存储介质所形成，其中所存储数据的保持特性与所述数据存储装置不同。
3.一种数据处理设备包括由信息存储介质所形成的数据储存装置，用于可重写地进行各种数据的数据存储，其中预定处理装置的数据写入被预先进行；操作执行装置，用于从所述数据存储装置进行处理数据的数据读取，以及执行预定的操作；由信息存储介质所形成的参考存储装置，其中所存储数据的保持特性与所述数据存储装置不同，其中具有与所述处理数据相同内容的参考数据的数据写入被预先进行；数据比较装置，用于从所述参考存储装置进行参考数据的数据读取，以及从所述数据存储装置进行处理数据的数据读取，并且进行数据比较；以及错误检测装置，用于检测错误的发生，如果所述数据比较装置确定参考数据与处理数据不一致则错误发生。
4.一种数据处理设备包括由信息存储介质所形成的数据储存装置，用于可重写地进行各种数据的数据存储，其中预定处理装置的数据写入被预先进行；操作执行装置，用于从所述数据存储装置进行处理数据的数据读取，以及执行预定的操作；由信息存储介质所形成的参考存储装置，其中所存储数据的保持特性不如所述数据存储装置，其中预定参考数据的数据写入被预先进行；质量判断装置，用于从所述参考存储装置进行参考数据的数据读取，并且判断是否存在失效的情况；以及错误检测装置，用于检测错误的发生，如果所述质量判断装置判断参考数据失效时，则错误发生。
5.根据权利要求4所述的数据处理设备，其特征在于，所述参考存储装置进行作为参考数据的一系列二值数据的数据存储，其中二值数位被分布在预定的位置，并且所述质量判断装置在所述二值数据的多个位置处使得该二值数位相互比较，并且判断所示参考数据的质量。
6.根据权利要求5所述的数据处理设备，其特征在于，所述参考存储装置进行作为参考数据的一系列二值数据的数据存储，其中“0”和“1”的二值数位至少依次地被分布在预定位置，并且所述质量判断部分确认至少在所述二值数据的两个预定位置处的二值数位是互为相反的。
7.根据权利要求4所述的数据处理设备，其特征在于，所述质量判断装置包括数据保持装置，用于进行从所述参考存储装置读取参考数据的数据读取，并且暂时对其进行保持；以及数据比较装置，用于把暂时存储在所述数据保持装置中的参考数据与作为数据存储在所述参考存储装置中的参考数据之间进行数据比较。
8.根据权利要求4所述的数据处理设备，其特征在于，所述质量判断装置包括由非易失性信息存储介质所形成的比较存储装置，其中具有与所述参考数据相同内容的比较数据的数据写入被预先进行；以及数据比较装置，用于进行从所述比较装置读取比较数据的数据读取，进行从所述存储装置读取参考数据的数据读取，并且进行数据比较。
9.一种数据处理设备包括由信息存储介质所形成的数据储存装置，用于可重写地进行各种数据的数据存储，其中预定处理装置的数据写入被预先进行；操作执行装置，用于从所述数据存储装置进行处理数据的数据读取，以及执行预定的操作；由信息存储介质所形成的参考存储装置，其中所存储数据的保持特性不如所述数据存储装置，用于进行一系列作为参考数据的二值数据的数据存储，其中“0”和“1”的二值数位至少依次地被分布在预定位置；质量判断部分，用于确认至少在所述二值数据的两个预定位置处的二值数位是互为相反的；以及错误检测装置，用于检测错误的发生，如果所述数据比较装置确定参考数据与处理数据不一致则错误发生。
10.根据权利要求9所述的数据处理设备，其特征在于，所述质量判断装置包括数据保持装置，用于进行从所述参考存储装置读取参考数据的数据读取，并且暂时对其进行保持；以及数据比较装置，用于把暂时存储在所述数据保持装置中的参考数据与作为数据存储在所述参考存储装置中的参考数据之间进行数据比较。
11.根据权利要求9所述的数据处理设备，其特征在于，所述质量判断装置包括由非易失性信息存储介质所形成的比较存储装置，其中具有与所述参考数据相同内容的比较数据的数据写入被预先进行；以及数据比较装置，用于进行从所述比较装置读取比较数据的数据读取，进行从所述存储装置读取参考数据的数据读取，并且进行数据比较。
12.一种数据处理设备包括由信息存储介质所形成的数据储存装置，用于可重写地进行各种数据的数据存储，其中预定处理装置的数据写入被预先进行；操作执行装置，用于从所述数据存储装置进行处理数据的数据读取，以及执行预定的操作；数据保持装置，用于进行从所述参考存储装置读取参考数据的数据读取，并且暂时对其进行保持；数据比较装置，用于把暂时存储在所述数据保持装置中的参考数据与作为数据存储在所述参考存储装置中的参考数据之间进行数据比较；以及错误检测装置，用于检测错误的发生，如果所述数据比较装置确定参考数据与处理数据不一致则错误发生。
13.一种数据处理设备的数据处理方法，该数据处理设备包括由信息存储介质所形成的数据储存装置，用于可重写地进行各种数据的数据存储，其中预定处理装置的数据写入被预先进行；以及操作执行装置，用于从所述数据存储装置进行处理数据的数据读取，以及执行预定的操作，该方法包括如下步骤把具有与所述处理数据相同内容的参考数据被预先作为数据写入不同于所述数据存储装置的参考存储装置中；进行参考数据的数据读取和从数据存储装置读取处理数据的数据读取，并且进行数据比较；以及如果进行数据比较的参考数据与处理数据之间不一致，则检测到错误发生。
14.一种数据处理设备的数据处理方法，该数据处理设备包括由信息存储介质所形成的数据储存装置，用于可重写地进行各种数据的数据存储，其中预定处理装置的数据写入被预先进行；以及操作执行装置，用于从所述数据存储装置进行处理数据的数据读取，以及执行预定的操作，该方法包括如下步骤进行从所示数据存储装置读取处理数据的数据读取，并且对其进行的暂时保持；把暂时存储的处理数据与作为数据存储在所述数据存储装置中的处理数据进行数据比较；以及如果在该处理数据之间不一致，则检测到错误发生。把具有与所述处理数据相同内容的参考数据被预先作为数据写入参考存储装置中，该参考存储装置的存储数据的保持特性不如所述数据存储装置；进行该参考数据的数据读取，并且判断是否存在失效的情况；以及如果缺点参考数据失效，则检测到错误发生。
15.一种数据处理设备的数据处理方法，该数据处理设备包括由信息存储介质所形成的数据储存装置，用于可重写地进行各种数据的数据存储，其中预定处理装置的数据写入被预先进行；以及操作执行装置，用于从所述数据存储装置进行处理数据的数据读取，以及执行预定的操作，该方法包括如下步骤把具有与所述处理数据相同内容的参考数据被预先作为数据写入不同于所述数据存储装置的参考存储装置中；进行参考数据的数据读取和从数据存储装置读取处理数据的数据读取，并且进行数据比较；以及如果进行数据比较的参考数据与处理数据之间不一致，则检测到错误发生。
全文摘要
具有与在数据存储装置106中相同内容的参考数据被作为数据写入在参考存储装置201中,并且数据比较装置202进行该参考数据与处理数据之间的数据比较,从而,如果判断出不一致,则检测到错误发生。
文档编号G06F11/22GK1268698SQ0010550
公开日2000年10月4日 申请日期2000年3月29日 优先权日1999年3月29日
发明者岩本诚 申请人:日本电气株式会社