专利名称：Qsfp接口测试方法及系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种接口测试方法及系统，特别涉及一种QSFP (Quad SmalIForm-factor Pluggable,四通道小型可插拔)接口测试方法及系统。
背景技术：
QSFP接口作为存储设备的核心接口之一，也是工厂制造中的重点测试对象之一。在传统的测试方法中，一般将主板上的QSFP接口与JBOD (Just a Bunch Of Disks，磁盘簇)设备相连，从而形成一条CPU—MCH (memory controller hub,内存控制中心)一PC1-E(Peripheral Component Interconnect-Expansion,高速外设组件互连)设备一SASCSerialAttached SCSI,串行连接小型计算机系统接口)控制芯片一QSFP接口一JBOD设备的测试链路(如图1所示)。CPU通过该测试链路对JBOD设备中的硬盘进行读写，当从该硬盘中读出的数据与写入的数据一致时，则可以判断该测试链路的连通性良好，间接反映该QSFP接口正常。然而此种测试方法有许多缺陷(I) JBOD设备中包括多个硬盘(通常为12个)，需要较长的硬盘驱动加载时间，导致整个测试流程的时间增加，但若减少硬盘数，又无法保证功能测试的完整性；(2) JBOD设备较占空间，而且十分笨重，工厂测试环境布局与人力有限，使测试不便；(3) JBOD设备价格昂贵，成本太高。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种QSFP接口测试方法，可以用QSFP环回适配器替代昂贵的JBOD设备来测试QSFP接口，从而节约成本和提高测试效率。还有必要提供一种QSFP接口测试系统，可以用QSFP环回适配器替代昂贵的JBOD设备来测试QSFP接口，从而节约成本和提高测试效率。一种四通道小型可插拔QSFP接口测试方法，应用于主机中，该QSFP接口与外接的QSFP环回适配器和该主机主板上的CPU形成一个测试链路CPU —内存控制中心MCH—PC1-E设备一SAS控制芯片一QSFP接口一QSFP环回适配器，该方法包括以下步骤配置步骤通过该CPU控制该MCH对该SAS控制芯片中的相关寄存器进行配置，使SAS控制芯片经该配置后与PC1-E设备之间进行高速反复地数据传输动作；判断步骤一根据PC1-E设备的相关状态寄存器和PC1-E设备的数据表的规定判断PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作是否执行成功；控制步骤当PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作执行成功时，控制SAS控制芯片发送一个测试值至QSFP接口，该测试值经QSFP接口被传送到所述QSFP环回适配器；判断步骤二 获取QSFP环回适配器发送的回送值，当该回送值与该测试值一致时，判断QSFP接口正常。一种四通道小型可插拔QSFP接口测试系统，运行于主机中，该QSFP接口与外接的QSFP环回适配器和该主机主板上的CPU形成一个测试链路CPU —内存控制中心MCH—PC1-E设备一SAS控制芯片一QSFP接口一QSFP环回适配器，该系统包括配置模块，用于通过该CPU控制该MCH对该SAS控制芯片中的相关寄存器进行配置，使SAS控制芯片经该配置后与PC1-E设备之间进行高速反复地数据传输动作；判断模块，用于根据PC1-E设备的相关状态寄存器和PC1-E设备的数据表的规定判断PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作是否执行成功；控制模块，用于当PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作执行成功时，控制SAS控制芯片发送一个测试值至QSFP接口，该测试值经QSFP接口被传送到所述QSFP环回适配器；所述判断模块，还用于获取QSFP环回适配器发送的回送值，以及当该回送值与该测试值一致时，判断QSFP接口正常。相较于现有技术，本发明QSFP接口测试方法及系统，可以用QSFP环回适配器替代昂贵的JBOD设备来测试QSFP接口，从而节约成本和提高测试效率。
图1是传统方法中利用JBOD设备测试QSFP接口的示例图。 图2是本发明QSFP接口测试系统较佳实施例的运行环境图。图3是本发明QSFP接口测试系统较佳实施例的功能模块图。图4是本发明QSFP接口测试方法较佳实施例的流程图。主要元件符号说明 _
权利要求
1.一种四通道小型可插拔QSFP接口测试方法，应用于主机中，其特征在于，该QSFP接口与外接的QSFP环回适配器和该主机主板上的CPU形成一个测试链路CPU—内存控制中心MCH — PC1-E设备一SAS控制芯片一QSFP接口一QSFP环回适配器，该方法包括以下步骤 配置步骤通过该CPU控制该MCH对该SAS控制芯片中的相关寄存器进行配置，使SAS控制芯片经该配置后与PC1-E设备之间进行高速反复地数据传输动作； 判断步骤一根据PC1-E设备的相关状态寄存器和PC1-E设备的数据表的规定判断PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作是否执行成功； 控制步骤当PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作执行成功时，控制SAS控制芯片发送一个测试值至QSFP接口，该测试值经QSFP接口被传送到所述QSFP环回适配器； 判断步骤二 获取QSFP环回适配器发送的回送值，当该回送值与该测试值一致时，判断QSFP接口正常。
2.如权利要求1所述的QSFP接口测试方法，其特征在于，所述配置步骤根据SAS控制芯片的数据表对SAS控制芯片的相关寄存器进行配置。
3.如权利要求1所述的QSFP接口测试方法，其特征在于，在PC1-E设备与SAS控制芯片之间进行高速反复传输的数据由PC1-E设备的底层驱动决定。
4.如权利要求1所述的QSFP接口测试方法，其特征在于，在所述判断步骤一中，若该相关状态寄存器的值符合PC1-E设备的数据表中对PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作执行成功的规定，则判断PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作执行成功。
5.如权利要求1所述的QSFP接口测试方法，其特征在于，所述测试值由SAS控制芯片的底层驱动生成。
6.一种四通道小型可插拔QSFP接口测试系统，运行于主机中，其特征在于，该QSFP接口与外接的QSFP环回适配器和该主机主板上的CPU形成一个测试链路CPU—内存控制中心MCH — PC1-E设备一SAS控制芯片一QSFP接口一QSFP环回适配器，该系统包括 配置模块，用于通过该CPU控制该MCH对该SAS控制芯片中的相关寄存器进行配置，使SAS控制芯片经该配置后与PC1-E设备之间进行高速反复地数据传输动作； 判断模块，用于根据PC1-E设备的相关状态寄存器和PC1-E设备的数据表的规定判断PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作是否执行成功； 控制模块，用于当PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作执行成功时，控制SAS控制芯片发送一个测试值至QSFP接口，该测试值经QSFP接口被传送到所述QSFP环回适配器； 所述判断模块，还用于获取QSFP环回适配器发送的回送值，以及当该回送值与该测试值一致时，判断QSFP接口正常。
7.如权利要求6所述的QSFP接口测试系统，其特征在于，所述配置模块根据SAS控制芯片的数据表对SAS控制芯片的相关寄存器进行配置。
8.如权利要求6所述的QSFP接口测试系统，其特征在于，在PC1-E设备与SAS控制芯片之间进行高速反复传输的数据由PC1-E设备的底层驱动决定。
9.如权利要求6所述的QSFP接口测试系统，其特征在于，若该相关状态寄存器的值符合PC1-E设备的数据表中对PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作执行成功的规定，则所述判断模块判断PC1-E设备和SAS控制芯片之间的高速反复地数据传输动作执行成功。
10.如权利要求6所述的QSFP接口测试系统，其特征在于，所述测试值由SAS控制芯片的底层驱动生成。
全文摘要
一种QSFP接口测试方法，包括以下步骤通过CPU控制MCH对SAS控制芯片中的相关寄存器进行配置，使SAS控制芯片与PCI-E设备之间进行高速反复地数据传输动作；根据PCI-E设备的相关状态寄存器和PCI-E设备的数据表的规定判断该高速反复地数据传输动作是否执行成功；当该高速反复地数据传输动作执行成功时，控制SAS控制芯片发送一个测试值至QSFP接口，该测试值经QSFP接口被传送到所述QSFP环回适配器；获取QSFP环回适配器发送的回送值，当该回送值与该测试值一致时，判断QSFP接口正常。本发明还提供一种QSFP接口测试系统。利用本发明可以节约成本和提高测试效率。
文档编号G06F11/267GK102999411SQ20111027775
公开日2013年3月27日 申请日期2011年9月19日 优先权日2011年9月19日
发明者童钰, 贺颜 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司