触摸屏幕、触摸面板及具备其的显示装置的制作方法

专利名称：触摸屏幕、触摸面板及具备其的显示装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及触摸屏幕、触摸面板以及具备其的显示装置。
背景技术：
历来，检测手指等的指示体的触摸、确定其触摸位置的坐标的触摸面板作为一种优越的界面单元而受到瞩目。在该触摸面板中，提出了电阻膜方式、静电电容方式等各种各样的方式，并且已制品化。作为这样的静电电容方式的触摸面板的一种，已知专利文献I中公开的投影型静电电容(Projected Capacitive)方式的触摸面板。在该投影型静电电容方式的触摸面板中，即使内置有触摸传感器的触摸屏幕的前表面侧被数_厚左右的玻璃板等的保护板所覆盖，也能够检测手指等向保护板触摸。这样的触摸屏幕由于具有牢固性优越、即使戴着手套时也能够检测出触摸、以及没有运转部是长寿命等的优点，所以提出了各种各样的技术。例如，在专利文献I中公开的构成触摸面板的触摸屏幕中，作为用于检测静电电容的检测用布线(检测电极)具备:以薄的导电膜形成的第I组导体部件，和在第I组导体部件上隔着绝缘膜形成的第2组导体部件。此外，在各导体部件间没有电接触，形成有多个交点。根据这样的专利文献I公开的技术，通过用检测电路对在手指等的指示体和作为检测用布线的导体部件之间形成的静电电容进行检测，从而确定指示体触摸的位置的位置坐标。进而，通过I个以上的导体部件的检测电容相对值能够对导体部件间的触摸位置进行插补。专利文献2公开的构成触摸面板的触摸屏幕具备检测用列布线和检测用行布线，这些布线由具有分别在列/行 方向上以45°倾斜的倾斜部分而呈曲折状地反复的曲折图案的金属布线形成。根据这样的专利文献2公开的技术，能够不使检测用布线间的寄生电容增大而提高布线密度来使触摸的检测灵敏度提高。专利文献3公开的构成触摸面板的触摸屏幕与专利文献2的触摸屏幕同样地，具备形成为曲折图案的检测用列布线及检测用行布线，并且在检测用列布线和检测用行布线之间还具备布线。在专利文献4中，公开了通常被称为互电容检测方式的检测方式。具体地，专利文献4中公开的键矩阵由多个驱动/接收电极对的排列构成，将伴随根据手指等的指示体向基板的接触而产生的电极间的电极变化的耦合静电电容(互电极静电电容)的变化作为电荷量进行检测。专利文献5中公开的基于电容的触摸检测装置具备包含X电极及Y电极的电极阵列，通过电容测定电路检测X电极和Y电极之间的互电容。而且，表示该被测定电容的输出电压变化根据互电容、已知的基准电容、已知的驱动电压变化而被决定。根据上述的专利文献2及专利文献3中公开的技术，不使在检测用列布线和检测用行布线之间形成的布线间电容(以下称为“行列布线间电容”)增大就能增大布线密度。此夕卜，配置成矩阵状的检测用布线与配置成菱形连锁形状的检测用布线相比，具有基于检测结果的坐标插补处理容易的优点，或者具有通过插补处理求取的坐标的直线性高(特别是倾斜方向)的优点。现有技术文献 专利文献
专利文献1:日本特表平9-511086号公报；
专利文献2:日本特开2010-61502号公报；
专利文献3:日本特开2010-97536号公报；
专利文献4:日本特表2003-526831号公报；
专利文献5:日本特表平11-505641号公报。发明要解决的问题
根据检测方法，存在根据手指等的指示体向触摸屏幕的触摸的有无而变化的行列布线间电容与检测灵敏度密切相关的情况。例如，根据专利文献4中公开的互电容检测方式，与手指等的指示体的触摸对应的行列布线间电容的变化(电极间的电场的变化)变大，能够提高检测灵敏度。可是，例如在对专利文献2中公开的触摸屏幕应用专利文献3中公开的检测方法的结构那样，列方向布线束和行方向布线束之间的电容(电场耦合)大的结构中，难以产生与手指等的指示体的触摸对应的检测用列布线和检测用行布线之间的电场变化、即行列布线间电容的变化。因此， 当在这样的结构中应用互电容检测方式时，存在触摸的检测灵敏度低的问题。

发明内容
因此，本发明是鉴于上述那样的问题点而做出的，其目的在于提供一种能够减少列方向布线束和行方向布线束之间的电容的技术。用于解决课题的方案
本发明的触摸屏幕具备:透明基板；矩形状的列方向布线束及矩形状的行方向布线束，形成在所述透明基板上，所述列方向布线束包含被电共同连接的多个检测用列布线，所述行方向布线束包含被电共同连接的多个检测用行布线。而且，在俯视中，规定有将所述列方向布线束与所述行方向布线束交叉的交叉区域分割而成的多个块区域，在各所述块区域中，仅设置有所述检测用列布线或所述检测用行布线。发明的效果
根据本发明，能够减少检测用列布线和检测用行布线的交叉处。因此，能够减少列方向布线束与行方向布线束之间的布线间电容。


图1是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的平面图。图2是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的放大平面图。图3是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的放大平面图。图4是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的放大平面图。图5是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的放大平面图。
图6是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的放大平面图。图7是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的放大平面图。图8是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的放大平面图。图9是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的放大平面图。图10是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的放大平面图。图11是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的放大平面图。图12是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的立体图。图13是表示实施方式I的触摸屏幕的结构的立体图。图14是表示实施方式I的触摸面板的结构的图。图15是表示实施方式2的触摸屏幕的结构的放大平面图。图16是表示实施方式2的触摸屏幕的结构的放大平面图。图17是表示实施方式2的触摸屏幕的结构的放大平面图。图18是表示实施方式2的触摸屏幕的结构的放大平面图。图19是表示实施方式2的触摸屏幕的结构的放大平面图。图20是表示实施方式2的触摸屏幕的结构的放大平面图。图21是表示实施方式2的触摸屏幕的结构的放大平面图。图22是表示实施方式2的触摸屏幕的结构的放大平面图。图23是表示实施方式2的触摸屏幕的结构的放大平面图。图24是表示实施方式2的触摸屏幕的布线间电容的图。图25是表示实施方式3的触摸屏幕的结构的放大平面图。图26是表示实施方式3的触摸屏幕的结构的放大平面图。图27是表示实施方式3的触摸屏幕的结构的放大平面图。图28是表示实施方式3的触摸屏幕的结构的放大平面图。图29是表示实施方式3的触摸屏幕的结构的放大平面图。图30是表示实施方式3的触摸屏幕的结构的放大平面图。图31是表示实施方式4的触摸屏幕的结构的放大平面图。图32是表示实施方式4的触摸屏幕的结构的放大平面图。图33是表示实施方式4的触摸屏幕的结构的放大平面图。

图34是表示实施方式4的触摸屏幕的结构的放大平面图。图35是表示实施方式4的触摸屏幕的结构的放大平面图。图36是表示实施方式4的触摸屏幕的结构的放大平面图。图37是表示实施方式5的触摸屏幕的结构的放大平面图。图38是表示实施方式5的触摸屏幕的结构的放大平面图。图39是表示实施方式6的触摸屏幕的结构的平面图。图40是表示实施方式6的触摸屏幕的结构的平面图和剖面图。图41是表示实施方式6的触摸屏幕的结构的放大平面图。图42是表示实施方式6的触摸屏幕的结构的放大平面图。图43是表示实施方式6的触摸屏幕的结构的放大平面图。图44是表示实施方式6的触摸屏幕的结构的放大平面图。
图45是表示实施方式6的触摸屏幕的结构的放大平面图。图46是表示实施方式6的触摸屏幕的结构的放大平面图。图47是表示实施方式7的触摸屏幕的结构的放大平面图。图48是表示实施方式7的触摸屏幕的结构的放大平面图。图49是表示实施方式7的触摸屏幕的结构的放大平面图。图50是表示实施方式7的触摸屏幕的结构的放大平面图。图51是表示实施方式8的液晶显示装置的结构的图。图52是表示对比触摸屏幕的结构的放大平面图。图53是表示对比触摸屏幕的结构的放大平面图。
具体实施例方式<实施方式1>
图1是示意地表示本发明的实施方式I的触摸面板具备的触摸屏幕I的结构的平面图。以下，参照图1等对本实施方式的触摸屏幕I的结构等进行说明。再有，对在本实施方式中说明的结构要素附加的参照符号在实施方式2、3中也对与该结构要素相同或类似的结构要素附加。如图1所示，触摸屏幕I具备:作为由透明的玻璃材料或透明的树脂构成的透明基板的基础基板12 ; (I)在列方向(相当于图1中的y方向)上延伸的多个检测用列布线2 ；
(2)在行方向(相当于图1中的X方向)上延伸的多个检测用行布线3。而且，多个检测用列布线2及多个检测用行布线3形成在基础基板12上。再有，在图1中为了方便，以直线示出检测用列布线2及检测用行布线3，但实际上如图2等中所示那样具有曲折状的形状。多个检测用列布线2通过连接用布线4等而被电共同连接。而且，在本实施方式中，被电共同连接的多个检测用列布线2被包含于在列方向I上延伸的矩形状的列方向布线束6中。也就是说，列方向布线束6包含电共同连接的多个检测用列布线2。再有，在上述中设为检测用列布线2在列方向y上延伸，但并不局限于此，即使不是在列方向y上延伸的布线，只要是构成列方向布线束6的布线的话，就称为检测用列布线2。同样地，多个检测用行布线3通过连接用布线5等而被电共同连接。而且，在本实施方式中，被电共同连接的多个检测用行布线3被包含于在行方向X上延伸的矩形状的行方向布线束7中。也就是说，行方向布线束7包含电共同连接的多个检测用行布线3。再有，在上述中设为检测用行布线3在行方向X上延伸，但并不局限于此，即使不是在行方向X上延伸的布线，只要是构成行方向布线束7的布线的话，就称为检测用行布线3。如图1所示，多个列方向布线束6及多个行方向布线束7分别与行方向X及列方向I平行地配置，进行矩阵配置。再有，列方向布线束6及行方向布线束7的数量、构成各列方向布线束6的检测用列布线2的数量、构成各行方向布线束7的检测用行布线3的数量分别根据手指等的指示体对触摸面板的触摸位置(触摸坐标值)所要求的分辨力而适宜地选择/设定。列方向布线束6及行方向布线束7通过引出布线8、9而分别与设置在基础基板12端部的端子10连接。再有，在这里为了图示的方便，将引出布线8、9分别描绘成I根布线，但可以按构成列方向布线束6 的检测用列布线2的每一个配设I根引出布线8，也可以按构成行方向布线束7的检测用行布线3的每一个配设I根引出布线9。在由以上的结构构成的触摸屏幕I中，能够增大检测用列布线2及检测用行布线3的布线密度。因此，在检测指示体与列方向布线束6及行方向布线束7的各自之间形成的静电电容(触摸电容)的检测方式(一般称为自电容检测方式)中，能够增大要检测出的触摸电容。接着，针对列方向布线束6及行方向布线束7的结构详细地进行说明。图2是在俯视中将矩形状的列方向布线束6和矩形状的行方向布线束7交叉的区域放大了的图。更具体地，是将图1中以粗虚线表示的交叉区域A周围放大了的图。再有，在以下的说明中，也有将该交叉区域A称为“栅格A”的情况。此外，在以下的图中，也有以虚线表示检测用列布线2，以实线表示检测用行布线3的情况。在本实施方式的触摸屏幕I中，规定了将图2中以粗的一点划线表示的交叉区域A (栅格A)分割而成的、以细的一点划线表示的多个(在这里是4个)四角形状的块区域Cl、C2、R1、R2。而且，在块区域C1、C2 (第I块区域)的每一个仅设置以细虚线表示的检测用列布线2，在块区域R1、R2 (第2块区域)的每一个仅设置以细实线表示的检测用行布线3。在这里，在栅格A内，在左上侧(-X侧及—Y侧)配置有块区域Cl，在右下侧(+X侧及+y侧)配置有块区域C2，在右上侧(+X侧及-y侧)配置有块区域R1，在左下侧(_x侧及+y侦D配置有块区域R2。在本实施方式中，遍及列方向布线束6及行方向布线束7的全部，规定有这样的块区域C1、C2、R1、R2。也就是说，仅设置有检测用列布线2的块区域C1、C2 (第I块区域)和仅设置有检测用行布线3的块区域Rl、R2 (第2块区域)整体在列方向y及行方向x上交替地配置，形成方格状图案。

此外，在本实施方式中，在I个栅格A中，对倾斜邻接的块区域Cl、C2之间倾斜地连结的I根检测用列布线2，和对与其互补地倾斜邻接的块区域Rl、R2之间倾斜地连结的I根检测用行布线3立体地交叉。而且，在I个栅格A中，仅在图3中附加有虚线的圆的I处(块区域C1、C2、R1、R2相接的I处)具备检测用列布线2和检测用行布线3的立体交叉。在以下，针对其详细地进行说明。图4是图3中附加了虚线的圆的部位的放大图。再有，在触摸屏幕I以图3所示方式构成的情况下，以图4 (a)所示的配置而构成，当然以图4 (b)所示的配置来构成触摸屏幕I也可(在以后说明的图5 图7中也是同样的)。如该图4所示那样，在附加了虚线的圆的部位中，块区域Cl的I根检测用列布线2和块区域C2的I根检测用列布线2连结，并且块区域Rl的I根检测用行布线3和块区域R2的I根检测用行布线3连结。接着，针对在图3中附加了虚线的三角形的部位，也就是栅格A的块区域C1、R2和在它们的左侧(-X侧)邻接的块区域Rl、C2相接的部位，以及栅格A的块区域C2、Rl和在它们的右侧(+X侧)邻接的块区域R2、Cl相接的部位进行说明。图5是该部位的放大图。如该图5所示那样，在图3中附加了虚线的三角形的部位中，块区域Rl的I根检测用行布线3和块区域R2的I根检测用行布线3连结，块区域Cl的检测用列布线2和块区域C2的检测用列布线2以夹着该连结部分的方式配置，变为非连结。接着，针对在图3中附加了虚线的四角形的部位，也就是栅格A的块区域C1、R1和在它们的上侧(_y侧)邻接的块区域R2、C2相接的部位，以及栅格A的块区域C2、R2和在它们的下侧(+y侧)邻接的块区域RU Cl相接的部位进行说明。图6是该部位的放大图。如该图6所示那样，在图3中附加了虚线的四角形的部位中，块区域Cl的I根检测用列布线2和块区域C2的I根检测用列布线2连结，块区域Rl的检测用行布线3和块区域R2的检测用行布线3以夹着该连结部分的方式配置，变为非连结。接着，针对在图3中附加了实线的圆的部位0广04，也就是栅格A的4角的部位进行说明。图7是其中的I处的放大图。如该图7所示，在附加了实线的圆的部位0广04中，块区域Cl、C2的检测用列布线2彼此分离而变为非连结，并且块区域Rl、R2的检测用行布线3彼此分离而变为非连结。接着，针对在块区域Cl、C2设置的检测用列布线2的结构进行说明。

图8及图9分别是表示在块区域Cl、C2设置的检测用列布线2的结构的放大图。如图8及图9所示，块区域Cl、C2中的检测用列布线2具备分别作为第I倾斜部的倾斜部分2aSl、2bS2、2cSl、2dS2和分别作为第2倾斜部的倾斜部分2aS2、2bSl、2cS2、2dSl。在这里，第I倾斜部(倾斜部分2aSl、2bS2、2cSl、2dS2)是直线形状的局部布线，沿着列方向y及行方向X以规定间距反复配设，相对于列方向I以倾斜角度+45° (第I角度)倾斜。第2倾斜部(倾斜部分2aS2、2bSl、2cS2、2dSl)是直线形状的局部布线，沿着列方向y及行方向X以上述规定间距反复配设，相对于列方向y在与第I倾斜部相反方向倾斜。也就是说，第2倾斜部相对于列方向I以倾斜角度-45°倾斜。而且，倾斜部分2aSl、2aS2、2bSl、2bS2 和倾斜部分 2dSl、2cSl、2dS2、2cS2 分别相互交叉连接。特别是在本实施方式中，倾斜部分2aSl、2aS2、2bSl、2bS2和倾斜部分2dSl、2cSl、2dS2、2cS2分别相互正交连接，并且这些倾斜部分分别在中点交叉。接着，使用图8，针对在块区域Cl设置的检测用列布线2的结构更详细地进行说明。该检测用列布线2具备:在列方向y上延伸的第I曲折布线2a (第I检测用列布线)、在列方向y上延伸的第2曲折布线2b (第2检测用列布线)、在行方向X上延伸的第3曲折布线2c、和在行方向X上延伸的第4曲折布线2d。再有，在图8中，以粗的虚线表示I个第I曲折布线2a。第I曲折布线2a具有:相对于列方向y以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分2aSl、相对于列方向I以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分2aS2、以及对这些倾斜部分进行连结的连结部分2aP，它们沿着列方向I反复配置。第2曲折布线2b具有:相对于列方向I以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分2bSl、相对于列方向y以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分2bS2、以及对这些倾斜部分进行连结的连结部分2bP，它们沿着列方向y反复配置。再有，第I及第2曲折布线2a、2b处于彼此线对称的关系。而且，相邻的第I及第2曲折布线2a、2b各自的延伸方向的两端在连结部分2P1连结。再有，在图8所示的例子中，在I个块区域Cl内，各设置有2根第I及第2曲折布线2a、2b0第3曲折布线2c具有:相对于行方向X以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分2cSl、相对于行方向X以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分2cS2、以及对这些倾斜部分进行连结的连结部分2cP，它们沿着行方向X反复配置。第4曲折布线2d具有:相对于行方向X以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分2dSl、相对于行方向X以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分2dS2、以及对这些倾斜部分进行连结的连结部分2dP，它们沿着行方向X反复配置。再有，第3及第4曲折布线2c、2d处于彼此线对称的关系。而且，在图8所示的例子中，在I个块区域Cl内，各设置有2根第3及第4曲折布线2c、2d。其中，除了位于块区域Cl的上端(_y侧端)的I根第3曲折布线2c以及位于块区域Cl的下端(+y侧端)的I根第4曲折布线2d之外，相邻的第3及第4曲折布线2c、2d各自的延伸方向的两端在连结部分2P2连结。另一方面，位于下端(+y侧端)及上端(_y侧端)的第3及第4曲折布线2c、2d的延伸方向的一端(在这里是+X侧端)延伸到块区域Cl的顶点Jc2、Jcl。而且，块区域Cl的检测用列布线2在该顶点Jc2、Jcl与位于右下侧(+x侧及+y侧)及右上侧(+X侧及—I侧)的块区域C2的检测用列布线2连结，并且电连接。接着，使用图9，针对在块区域C2设置的检测用列布线2的结构进行说明。该块区域C2中的检测用列布线2与上述的块区域Cl中的检测用列布线2同样地构成。但是，在该块区域C2中，位于下端(+y侧端)及上端(_y侧端)的第3及第4曲折布线2c、2d的延伸方向的另一端(在这里是-X侧端)延伸到块区域C2的顶点Jcl、Jc2。而且，块区域C2的检测用列布线2在该顶点Jcl、Jc2与位于左下侧(-X侧及+y侧)及左上侧(-X侧及-y侧)的块区域Cl的检测用列布线2连结，并且电连接。接着，针对在块区域R1、R2设置的检测用行布线3的结构进行说明。再有，在这里说明的检测用行布线3的结构基本与上述的检测用列布线2的结构相同。图10及图11分别是表示在块区域R1、R2设置的检测用行布线3的结构的放大图。如图10及图11所示，块区域Rl、R2中的检测用行布线3具备分别作为第3倾斜部的倾斜部分3aSl、3bS2、3cSl、3dS2和分别作为第4倾斜部的倾斜部分3aS2、3bSl、3cS2、3dSl。在这里，第3倾斜部(倾斜`部分3aSl、3bS2、3cSl、3dS2)是直线形状的局部布线，沿着列方向I及行方向X以上述规定间距反复配设，相对于行方向X以倾斜角度+45° (第2角度)倾斜。第4倾斜部(倾斜部分3aS2、3bSl、3cS2、3dSl)是直线形状的局部布线，沿着列方向I及行方向X以上述规定间距反复配设，相对于行方向X在与第3倾斜部相反方向倾斜。也就是说，第4倾斜部相对于行方向X以倾斜角度-45°倾斜。而且，倾斜部分3aSl、3aS2、3bSl、3bS2 和倾斜部分 3dSl、3cSl、3dS2、3cS2 分别相互交叉连接。特别是在本实施方式中，倾斜部分3aSl、3aS2、3bSl、3bS2和倾斜部分3dSl、3cSl、3dS2、3cS2分别正交连接，并且这些倾斜部分分别在中点交叉。接着，使用图10，针对在块区域Rl设置的检测用行布线3的结构更详细地进行说明。该检测用行布线3具备:在行方向X上延伸的第5曲折布线3a (第I检测用行布线)、在行方向X上延伸的第6曲折布线3b (第2检测用行布线)、在列方向y上延伸的第7曲折布线3c、和在列方向y上延伸的第8曲折布线3d。再有，在图10中，仅有I个第5曲折布线3a以粗的虚线表示。第5曲折布线3a具有:相对于行方向x以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分3aSl、相对于行方向X以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分3aS2、以及对这些倾斜部分进行连结的连结部分3aP，它们沿着行方向X反复配置。第6曲折布线3b具有:相对于行方向X以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分3bSl、相对于行方向X以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分3bS2、以及对这些倾斜部分进行连结的连结部分3bP，它们沿着行方向X反复配置。再有，第5及第6曲折布线3a、3b处于彼此线对称的关系。而且，相邻的第5及第6曲折布线3a、3b各自的延伸方向的两端在连结部分3P1连结。再有，在图10所示的例子中，在I个块区域Rl内，各设置有2根第5及第6曲折布线 3a、3b。第7曲折布线3c具有:相对于列方向I以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分3cSl、相对于列方向I以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分3cS2、以及对这些倾斜部分进行连结的连结部分3cP，它们沿着列方向7反复配置。第8曲折布线3d具有:相对于列方向y以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分3dSl、相对于列方向J以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分3dS2、以及对这些倾斜部分进行连结的连结部分3dP，它们沿着列方向y反复配置。再有，第7及第8曲折布线3c、3d处于彼此线对称的关系。再有，在图10所示的例子中，在I个块区域Rl内，各设置有2根第7及第8曲折布线3c、3d。其中，除了位于块区域Rl的右端(+X侧端)的I根第7曲折布线3c以及位于块区域Rl的左端(-X侧端)的I根第8曲折布线3d之外，相邻的第7及第8曲折布线3c、3d各自的延伸方向的两端在连结部分3P2连结。另一方面，位于右端(+X侧端)及左端(-X侧端)的第7及第8曲折布线3c、3d的延伸方向的一端(在这里是+y侧端)延伸到块区域Rl的顶点Jr2、Jrl。而且，块区域Rl的检测用行布线3在该顶点Jr2、Jrl与位于右下侧(+x侦级+y侦彳)及左下侧(-X侧及+y侦彳)的块区域R2的检测用行布线3连结，并且电连接。接着，使用图11，针对在块区域R2设置的检测用行布线3的结构进行说明。该块区域R2中的检测用行布线3与上述的块区域Rl中的检测用行布线3同样地构成。但是，在该块区域R2中，位于右端(+X侧端)及左端(-X侧端)的第7及第8曲折布线3c、3d的延伸方向的另一端(在这里是-y侧端)延伸到块区域R2的顶点Jrl、Jr2。而且，块区域R2的检测用行布线3在该顶点 Jrl、Jr2与位于右上侧(+x侧及_y侧)及左上侧(_x侧及_y侧)的块区域Rl的检测用行布线3连结，并且电连接。根据以上述方式构成的本实施方式的触摸屏幕1，能够减少列方向布线束6及行方向布线束7的布线间电容。在以下，针对其进行说明。列方向布线束6及行方向布线束7的布线间电容包括:(I)检测用列布线2及检测用行布线3间的交叉处(图3的附加了虚线的圆的部位)附近的耦合电容，(2)检测用列布线2及检测用行布线3间的连结部分的并行处(图3的附加了虚线的椭圆的部位)附近的耦合电容。因此，如果能够减少(I)及(2)的耦合电容的话，就能够减少列方向布线束6及行方向布线束7的布线间电容。其中，为了减少(I)的耦合电容，减少交叉处的数量是有效的。再有，作为减少该耦合电容的结构，也考虑增大层间绝缘膜13的厚度,但发明者通过TEG(Test Element Group,测试元件组)实验，确认了即使这样构成，列方向布线束6及行方向布线束7的布线间电容也几乎没有减少。另一方面，为了减少(2)的耦合电容，增大并行处的连结部分彼此的间隔(空间)是有效的。在这里，图52表示与本实施方式相对比的、专利文献2记载的触摸屏幕(以下称为“对比触摸屏幕”)。该图52是将对比触摸屏幕的与上述栅格A对应的部分(栅格Al)放大表示的图。再有，在对比触摸屏幕中，栅格Al内的检测用列布线2及检测用行布线3的曲折进行反复的间距(上述的倾斜部分的规定间距)是正方形状的栅格Al的一边的1/4，与图2所示的本实施方式的栅格A内的检测用列布线2及检测用行布线3的该间距等价。如图53所示，对比触摸屏幕中的栅格Al内的检测用列布线2及检测用行布线3的交叉处、即附加了虚线圆的部位的数量是64 (=8X8)个。相对于此，如图3所示，本实施方式的触摸屏幕I中的栅格A内的上述交叉处的数量仅是I个。因此，根据本实施方式的触摸屏幕1，与对比触摸屏幕相比，能够减少检测用列布线2及检测用行布线3的交叉处，能够减少交叉处整体的耦合电容、即上述的(I)的耦合电容。另一方面，如图53所示，对比触摸屏幕中的栅格Al内的连结部分的并行处是O个。相对于此，如图3所示，本实施方式的触摸屏幕I的栅格A内的附加了虚线椭圆的连结部分的并行处的数量变为24个(其中，关于对与邻接栅格的并行处附加的椭圆作为1/2个计数，在实施方式2中 也是同样)。因此，在本实施方式的触摸屏幕I中，与对比触摸屏幕相t匕，并行处的数量增加，因此并行处整体的耦合电容、即上述的(2)的耦合电容多少增加。可是，如果像上述那样增大并行处中的连结部分彼此的间隔，则能够减少并行处的耦合电容。例如，发明者们通过TEG实验，确认了通过将检测用列布线2与检测用行布线3的间隔从10 μ m扩大到130 μ m,从而能够将并行处的检测用列布线2与检测用行布线的耦合电容(布线间电容)减少40%左右。因此，根据本实施方式的触摸屏幕1，能够抑制并行处的耦合电容的增加，并且减少交叉处的耦合电容。结果，能够减少列方向布线束6及行方向布线束7的布线间电容。图12是示意地表示本实施方式的触摸屏幕I的层叠结构的例子的立体图。再有，在该图12中，省略了图1所示的引出布线8、9、端子10的图示。接着，使用图12针对触摸屏幕I的层叠结构进行说明。如图12所示，触摸屏幕I的上表面层是上述的基础基板12，在基础基板12上(在图12中是其下表面上)形成由铝等的不透明的高导电率的金属布线材料构成的多个列方向布线束6。再有，在图12中为了方便没有示出各列方向布线束6具有上述的曲折图案，而以
直线表示。而且，在基础基板12上(在图12中在其下表面上)，以覆盖全部的列方向布线束6的方式形成氮化硅膜或氧化硅膜等的透明的层间绝缘膜13，在该层间绝缘膜13上(在图12中是其下表面上)形成有以铝等的不透明的高导电率的金属布线材料构成的多个行方向布线束7。再有，在图12中为了方便也没有示出各行方向布线束7具有上述的曲折图案，而以直线表示。在层间绝缘膜13上(在图12中在其下表面上)形成有用于保护行方向布线束7的保护膜14。再有，在这里针对在基础基板12上依次形成有列方向布线束6、层间绝缘膜13及行方向布线束7的结构进行了说明，但也可以是使布线的配置为相反的结构，即在基础基板12上依次形成行方向布线束7、层间绝缘膜13及列方向布线束6的结构。图13是示意地表示与图12所示的触摸屏幕I不同的层叠结构的例子的立体图。该图13所示的触摸屏幕I与图12所示的触摸屏幕I上下相反地被示出。在这里，在保护膜14上经由粘接层15粘接固定有保护玻璃16。再有，如果将保护玻璃16的厚度设为数mm左右，则能够使触摸屏幕I的强度提高，能够获得坚固性优越的触摸屏幕I。图14是示意地表示具备本实施方式的触摸屏幕I的触摸面板100的整体结构的图。该触摸面板100除了上述的触摸屏幕I以外,还具备:FPC(Flexible Printed Circuit,柔性印刷电路)17、控制器基板18、在控制器基板18搭载的开关电路19及检测处理电路20。FPC17的各端子通过使用未图示的ACF (Anisotropic Conductive Film,各向异性导电膜)等从而安装在触摸屏幕I的对应的端子10。经由该FPC17，触摸屏幕I的检测用布线组(列方向布线束6和行方向布线束7)与搭载于控制器基板18的开关电路19及检测处理电路20等的电路电连接。由此，触摸屏幕I作为触摸面板100的主要结构要素而发挥功能。开关电路19依次选择多个列方向布线束6的每一个以及多个行方向布线束7的每一个。检测处理电路20检测表示对触摸屏幕I进行触摸的指示体的触摸位置的触摸屏幕I中的触摸坐标。在这里，作为检测指示体的触摸坐标的方式，考虑自电容检测方式及互电容检测方式。在自电容检测方式中，在指示体对触摸屏幕I的透明的基础基板12的表面进行触摸时(采用图12的层叠结构的情况)，或者在触摸保护玻璃16的表面时(采用图13的层叠结构的情况)，通过检测在各检测用列布线2与指示体之间形成的触摸电容和在各检测用行布线3与指示体之间形成的触摸电容，从而检测触摸坐标。因此，在希望实现利用自电容检测方式的检测的情况下，将能够基于在通过开关电路19选择的列方向布线束6与指示体之间形成的静电电容、以及在通过开关电路19选择的行方向布线束7与 指示体之间形成的静电电容的检测结果，进行指示体的触摸坐标的计算处理的电路设为检测电路20即可。而且，将由检测处理电路20计算出的触摸坐标的值作为检测坐标数据向未图示的外部的装置(例如计算机)输出即可。另一方面，在互电容检测方式中，通过检测在指示体对触摸屏幕I的透明的基础基板12的表面进行触摸时(采用图12的层叠结构的情况)，或者在触摸保护玻璃16的表面时(采用图13的层叠结构的情况)产生的触摸位置中的检测用列布线2和检测用行布线3之间的互电容的变化，从而检测触摸坐标。因此，在希望实现利用互电容检测方式的检测的情况下，将能够基于与指示体向触摸屏幕I的触摸对应的、通过开关电路19选择的列方向布线束6与行方向布线束7之间的互电容的变化的检测结果，进行指示体的触摸坐标的计算处理的电路设为检测电路20即可。而且，将由检测处理电路20计算出的触摸坐标的值作为检测坐标数据向未图示的外部的装置(例如计算机)输出即可。根据以上述方式构成的本实施方式的触摸屏幕I及触摸面板100，在各块区域Cl、C2、R1、R2仅设置有检测用列布线2或检测用行布线3，仅设置有检测用列布线2的块区域Cl、C2 (第I块区域)和仅设置有检测用行布线3的块区域Rl、R2 (第2块区域)在列方向y及行方向X上交替地配置。由此，能够减少检测用列布线2和检测用行布线3的交叉处，能够减少列方向布线束6及行方向布线束7之间的布线间电容。此外，在本实施方式中，对倾斜邻接的第I块区域(例如块区域C1、C2)之间倾斜地连结的I根检测用列布线2，和对与其互补地倾斜邻接的第2块区域(例如块区域R1、R2)之间倾斜地连结的I根检测用行布线3立体地交叉。由此，与对比触摸屏幕相比能够减少列方向布线束6及行方向布线束7之间的布线间电容。特别是在本实施方式中，在交叉区域A (栅格A)中仅具备I处检测用列布线2与检测用行布线3的立体交叉，所以能够适当地减少列方向布线束6和行方向布线束7之间的布线间电容。此外，根据本实施方式，在使用基于与指示体的触摸对应的、列方向布线束6和行方向布线束7之间的电场变化(互电容变化)检测触摸坐标的、所谓互电容检测方式等的结构中，也能够与上述同样地减少布线间电容(电场耦合)。因此，能够实现高灵敏度的触摸屏眷I。此外，根据本实施方式，在专利文献5中公开的那样的结构，也就是应用将驱动电压根据互电容(交叉处的行列布线间电容)与已知的基础电容而被电容分割的电压施加到差动放大器的输入的电容测定电路的结构中，也能够与上述同样地减少相对于基准电容的行列布线间电容。因此，由于能够抑制被电容分割的电压，所以能够有效地使用电路的动态范围来进行检测。此外，因为能够抑制对应于列方向布线束6与行方向布线束7的布线间电容的基准电容，所以能够抑制检测用列布线2及检测用行布线3的布线电阻和行列间电容及基准电容的合成电容。由此，能够缩短伴随充放电的检测输出电压的稳定时间，即检测时间，能够改善触摸面板100的响应。此外，根据本实施方式，各块区域Cl、C2中的检测用列布线2沿着列方向y及行方向X以规定间距具备第I倾斜部(例如倾斜部分2aSl、2bS2、2cSl、2dS2)及第2倾斜部(例如倾斜部分2aS2、2bSl、2cS2、2dSl)。而且，各块区域R1、R2中的检测用行布线3沿着列方向y及行方向X以规定间距具备第3倾斜部(例如倾斜部分3aSl、3bS2、3cSl、3dS2)及第4倾斜部(例如倾斜部分3aS2、3bSl、3cS2、3dSl)。因此，能够使检测用列布线2的配置及检测用行布线3的配置均匀化。在这里，当将这样的本实施方式的触摸屏幕I安装在液晶显示面板等的显示面板时，显示面板的各像素的一部分被检测用列布线2及检测用行布线3均匀地覆盖。结果，即使在检测用列布线2及检测用行布线3以不透明的高导电性材料形成的情况下，也能够使从显示面板整体射出的显示光穿透触摸屏幕I时的透射率均匀化，能够抑制莫尔条纹的产生。此外，根据本实施方式，第I倾斜部及第2倾斜部相互正交，第3倾斜部及第4倾斜部相互正交，它们的倾斜角度变为±45°。因此，使检测用列布线2的配置及检测用行布线3的配置进一步均匀化。由此，能够使触摸屏幕I的透射率进一步均匀化，能够进一步抑制莫尔条纹的产生。此外，根据本实施方式，因为第I倾斜部及第2倾斜部分别在中点交叉，第3倾斜部及第4倾斜部分别在中点交叉，所以使检测用列布线2的配置及检测用行布线3的配置进一步均匀化。因此，能够使触摸屏幕I的透射率进一步均匀化，能够进一步抑制莫尔条纹的产生。〈实施方式2>
在本发明的实施方式2中，设置在块区域C1、C2、R1、R2的检测用列布线2及检测用行布线3的形状与实施方 式I不同。
图15是在本实施方式中将栅格A周围放大了的图。在这里，与实施方式I同样地，规定有将栅格A分割而成的多个(在这里是4个)四角形状的块区域Cl、C2、Rl、R2，在块区域C1、C2 (第I块区域)的每一个仅设置有检测用列布线2，在块区域R1、R2 (第2块区域)的每一个仅设置有检测用行布线3。此外，设置有检测用列布线2的块区域Cl、C2和设置有检测用行布线3的块区域Rl、R2整体在列方向y及行方向x上交替地配置，形成方格状图案。而且，与实施方式I同样地，在I个栅格A中，仅在图16中附加有虚线的圆的I处(块区域C1、C2、R1、R2相接的I处)具备检测用列布线2和检测用行布线3的立体交叉。也就是说，在图16中附加了虚线的圆的部位中，块区域Cl的I根检测用列布线2和块区域C2的I根检测用列布线2连结，块区域Rl的I 根检测用行布线3和块区域R2的I根检测用行布线3连结。而且，在图16中附加了虚线的三角形的部位中，块区域Rl的I根检测用行布线3和块区域R2的I根检测用行布线3连结，块区域Cl的检测用列布线2和块区域C2的检测用列布线2以夹着该连结部分的方式配置，变为非连结。此外，在图16中附加了虚线的四角形的部位中，块区域Cl的I根检测用列布线2和块区域C2的I根检测用列布线2连结，块区域Rl的检测用行布线3和块区域R2的检测用行布线3以夹着该连结部分的方式配置，变为非连结。此外，在图16中附加了实线的圆的4处Of 04中，块区域Cl、C2的检测用列布线2彼此分离而变为非连结，并且块区域Rl、R2的检测用行布线3彼此分离而变为非连结。图17及图18分别是表示块区域C1、C2中的检测用列布线2的结构的放大图。如图17及图18所示，块区域Cl、C2中的检测用列布线2具备分别作为第I倾斜部的倾斜部分2aSl、2bS2和分别作为第2倾斜部的倾斜部分2aS2、2bSl。在这里，第I倾斜部(倾斜部分2aSl、2bS2)是一端连接于连结点Jl的直线形状的局部布线，沿着列方向y及行方向X以规定间距反复配设，相对于列方向I以倾斜角度+45° (第I角度)倾斜。再有，本实施方式的附图上的倾斜角度相对于列方向I的正方向，与实施方式I的附图上的倾斜角度相对于列方向y的正方向相反。第2倾斜部(倾斜部分2aS2、2bSl)是一端连接于连结点Jl的直线形状的局部布线，沿着列方向y及行方向X以上述规定间距反复配设，相对于列方向y在与第I倾斜部相反方向倾斜。也就是说，第2倾斜部相对于列方向以倾斜角度-45°倾斜。接着，使用图17，针对在块区域Cl设置的检测用列布线2的结构详细地进行说明。该检测用列布线2具备:在列方向y上延伸的第I曲折布线2a (第I检测用列布线)、在列方向y上延伸的第2曲折布线2b (第2检测用列布线)。再有，在图17中，以粗的虚线表示I个第I曲折布线2a。此外，检测用列布线2也具备:对第I曲折布线2a和第2曲折布线2b进行连接的分路布线2e (第I分路布线)。第I曲折布线2a具有:相对于列方向I以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分2aSl、相对于列方向I以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分2aS2、以及对这些倾斜部分进行连结的连结部分2P2及连结点J1，它们沿着列方向y反复配置。第2曲折布线2b具有:相对于列方向y以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分2bSl、相对于列方向y以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分2bS2、以及对这些倾斜部分进行连结的连结点Jl、J2，它们沿着列方向y反复配置。再有，第I及第2曲折布线2a、2b处于彼此线对称的关系。此外，第I及第2曲折布线2a、2b沿着行方向x在块区域Cl内交替地配设，通过连结点J1、连结部分2P1及连结点J2而被连结。再有，在本实施方式中，一方的I组第I及第2曲折布线2a、2b与另一方的I组第I及第2曲折布线2a、2b在块区域Cl的沿着列方向y的中心线配置在左右线对称的位置。此外，位于右端(+X侧端)的第2曲折布线2b的延伸方向的两端(_y侧端及+y侧端)延伸到块区域Cl的顶点Jc2、Jcl0而且，块区域Cl的检测用列布线2在该顶点Jc2、Jcl与位于右下侧(+X侧及+y侧)及右上侧(+X侧及-y侧)的块区域C2的检测用列布线2连结，并且电连接。分路布线2e具有:与第I倾斜部(倾斜部分2aSl、2bS2)同样的倾斜部(倾斜部分2eS2、2eS3)，与第2倾斜部(倾斜部分2aS2、2bSl)同样的倾斜部(倾斜部分2eSl、2eS4)，以及将倾斜部分2eSl 2eS4按每2个连结的连结部分2eP。在这样构成的分路布线2e中，倾斜部分2eS2、2eS3与倾斜部分2aSl、2bS2平行，倾斜部分2eSl、2eS4与倾斜部分2aS2、2bSl平行。接着，使用图18，针对在块区域C2设置的检测用列布线2的结构进行说明。该块区域C2中的检测·用列布线2与上述的块区域Cl中的检测用列布线2同样地构成。但是，在该块区域C2中，位于左端(-X侧端)的第I曲折布线2a的延伸方向的两端(在这里是_y侧端+y侧端)延伸到块区域C2的顶点Jcl、Jc2。而且，块区域C2的检测用列布线2在该顶点Jcl、Jc2与位于左下侧(-X侧及+y侧)及左上侧(-X侧及-y侧)的块区域Cl的检测用列布线2连结，并且电连接。此外，块区域C1、C2检测用列布线2即使以各自的连结点J2为中心旋转90°，旋转前后的形状也大致相同，相对于连结点J2变成点对称。图19及图20分别是表示块区域R1、R2中的检测用行布线3的结构的放大图。块区域R1、R2中的检测用行布线3的结构，具有与图17及图18所示的块区域Cl、C2中的检测用列布线2同样的结构。也就是说，块区域Rl、R2中的检测用行布线3具备:沿着列方向y及行方向x以上述规定的间距反复配设，相对于行方向X以倾斜角度+45°倾斜的第3倾斜部(倾斜部分3aSl、3bS2);沿着列方向y及行方向x以上述规定的间距反复配设，相对于行方向x以倾斜角度-45°倾斜的第4倾斜部(倾斜部分3aS2、3bSl)。而且，设置在块区域R1、R2的检测用行布线3具备:具有倾斜部分3aSl、3aS2的在行方向x上延伸的第5曲折布线3a (第I检测用行布线);具有倾斜部分3bSl、3bS2的在行方向X上延伸的第6曲折布线3b (第2检测用行布线)。再有，第5及第6曲折布线3a、3b处于彼此线对称的关系。此外，设置在块·区域Rl、R2的检测用行布线3也具备:对第5曲折布线3a和第6曲折布线3b进行连接的分路布线3e(第2分路布线)。该分路布线3e具有:与第3倾斜部(倾斜部分3aSl、3bS2)同样的倾斜部(倾斜部分3eSl、3eS4)，与第4倾斜部(倾斜部分3aS2、3bSl)同样的倾斜部(倾斜部分3eS2、3eS3)。但是，块区域Rl的检测用行布线3的左下侧(-X侧及+y侧)及右下侧(+x侧及+y侦D的部分分别延伸到块区域Rl的顶点Jrl、Jr2。而且，块区域Rl的检测用行布线3在该顶点Jrl、Jr2与位于左下侧(-X侧及+y侧)及右下侧(+x侧及+y侧)的块区域R2的检测用行布线3连结。此外，块区域R2的检测用行布线3的左上侧(-X侧及-y侧)及右上侧(+X侧及-y侧)的部分分别延伸到块区域R2的顶点Jr2、Jrl0而且，块区域R2的检测用行布线3在该顶点Jrl、Jr2与位于左上侧(_x侧及-y侧)及右上侧(+x侧及-y侧)的块区域Rl的检测用行布线3连结。在这里，图21表示本实施方式的触摸屏幕中的、与上述不同的其他触摸屏幕(以下称为“其他的触摸屏幕”)的结构。该图21是将其他触摸屏幕的栅格A放大表示的图。如后述那样，在该图21所示的其他触摸屏幕中，与图15所示的触摸屏幕I相比，栅格A中的块区域的个数变多。再有，在其他触摸屏幕中，栅格A内的检测用列布线2及检测用行布线3的曲折进行反复的间距(上述的倾斜部分的规定间距)是正方形状的栅格A的一边的1/4，与图15所示的栅格A内的检测用列布线2及检测用行布线3的该间距等价。图22是表示图21所示的其他触摸屏幕的块区域Cl CS中的检测用列布线2的基本布线图案的图。再有，该图22针对检测用列布线2进行表示，但针对检测用行布线3也是同样的。图22所示的基本布线图案包括:由倾斜部分2jSl、2jS2和连结它们的连结点J构成的曲折布线j ;由倾斜部分2kSl、2kS2和连结它们的连结点J构成的曲折布线k ;以及由倾斜部分2eSl 2eS4和连结它们的连结部分2eP构成的分路布线e。再有，曲折布线j和曲折布线k在连结点J5连结。分路布线e作为整体配置成大致菱形形状，分路布线e的各倾斜部分与曲折布线j、k的倾斜部分的任一个正交。再有，从图22可知，在其他触摸屏幕中，块区域的一边与倾斜部分(第广第4倾斜部)的规定间距相等。在如这样构成的图21及图22所示的其他触摸屏幕中，如上述那样，与图15所示的触摸屏幕I相比，在栅格A中规定的块区域的个数变多。具体地，在图21所示的I个栅格A内，在列方向y及行方向X分别各设置有4个合计16个块区域。相对于此，在图15所示的I个栅格A内，在列方向y及行方向X分别各设置有2个合计4个块区域。接着，使用图23及图16，针对比较图21所示的其他触摸屏幕和图15所示的触摸屏幕I的结果进行说明·。如图23所示，其他触摸屏幕中的栅格A内的检测用列布线2及检测用行布线3的交叉处、即以虚线圆所示的部位的数量是9 (=3X3)个。相对于此，如图16所示，图15的触摸屏幕I中的栅格A内的上述交叉处的数量仅是I个。此外，如图23所示，其他触摸屏幕中的栅格A内的连结部分的并行处、即以虚线椭圆表示的部位的数量是32个。相对于此，如图16所示，图15的触摸屏幕I中的栅格A内的上述并行处的数量是24个。从以上可知，当栅格A内的块区域的个数变少时，检测用列布线2及检测用行布线3的交叉处减少，因此能够提高减少交叉处整体的耦合电容(上述(I)的耦合电容)的效果，并且由于连结部分的并行处也减少，所以也能够提高减少并行处整体的耦合电容(上述的(2 )的耦合电容)的效果。因此，为了提高减少上述的(I)及(2 )的耦合电容、减少列方向布线束6及行方向布线束7的布线间电容的效果，如图15所示，优选使块区域的一边比倾斜部分(第广第4倾斜部)的规定间距长，减少栅格A内的块区域的个数。在这里，图24表示本实施方式的触摸屏幕I的布线间电容的倾向。这是发明者们进行的TEG评价的结果。在这里，示出将栅格A的横及纵的尺寸分别设为5_左右、将基本图案的纵横尺寸(曲折布线的反复间距)设为250 y m的情况下的布线间电容，和将同纵横尺寸分别设为500 u m的情况下的布线间电容。再有，连结部分的并行处的长度及间隔均设为20iim左右。该图24表示与上述的比较结果取得了匹配的结果。也就是说，增多每个块区域的基本图案数量，就使块区域的一边比倾斜部分(第广第4倾斜部)的规定间距长，但在所有情况下，降低列方向布线束6及行方向布线束7的布线间电容的效果均提高。但是，当然即使不将栅格A内的设置有检测用列布线2的块区域的数量与设置有检测用行布线3的块区域的数量各设为2个，也能获得相当的效果，因此其个数不被限制。此外，如以上说明的那样，在本实施方式中，具备对第I曲折布线2a和第2曲折布线2b进行电连接的分路布线2e，和对第5曲折布线3a和第6曲折布线3b进行电连接的分路布线3e。因此，即使在多个检测用列布线2及多个检测用行布线3的一处产生断线的情况下，也能抑制列方向布线束6及行方向布线束7的电阻变高。由此，能够进行可靠性高的触摸位置检测。此外，分路布线2e、3e具有与第I及第2倾斜部同样的倾斜部。因此，能够使检测用列布线2的配置及检测用行布线3的配置均匀化。由此，即使在检测用列布线2及检测用行布线3以不透明的高导电性材料形成的情况下，也能够使从显示面板射出的显示光穿透触摸屏幕I时的透射率均匀化，能够抑制莫尔条纹的产生。〈实施方式3>
在上述实施方式1、2中，在构成栅格A的各块区域Cl、C2中设置的检测用列布线2包含2组第I及第2曲折布线2a、2b的组，在构成该栅格A的各块区域Rl、R2中设置的检测用行布线3包含2组第5及第6曲折布线3a、3b的组。可是，在各块区域中包含的这些曲折布线的组并不限定于2组 ，即使是3组以上也能够同样地实施。因此，在本实施方式中，针对包含奇数组(在这里是3组)这些曲折布线的组的结构进行说明。图25是在本实施方式中将栅格A周围放大了的图。在这里，与实施方式1、2同样地，规定有将栅格A分割而成的多个(在这里是4个)四角形状的块区域Cl、C2、RU R2，在块区域Cl、C2 (第I块区域)的每一个仅设置有检测用列布线2，在块区域Rl、R2 (第2块区域)的每一个仅设置有检测用行布线3。此外，设置有检测用列布线2的块区域C1、C2和设置有检测用行布线3的块区域Rl、R2整体在列方向y及行方向x上交替地配置，形成方格状图案。而且，与实施方式1、2同样地，在I个栅格A中，仅在图26中附加有虚线的圆的I处(块区域C1、C2、R1、R2相接的I处)具备检测用列布线2和检测用行布线3的立体交叉。也就是说，在图26中附加了虚线的圆的部位中，块区域Cl的I根检测用列布线2和块区域C2的I根检测用列布线2连结，块区域Rl的I根检测用行布线3和块区域R2的I根检测用行布线3连结。而且，在图26中附加了虚线的三角形的部位中，块区域Rl的I根检测用行布线3和块区域R2的I根检测用行布线3连结，块区域Cl的检测用列布线2和块区域C2的检测用列布线2以夹着该连结部分的方式配置，变为非连结。此外，在图26中附加了虚线的四角形的部位中，块区域Cl的I根检测用列布线2和块区域C2的I根检测用列布线2连结，块区域Rl的检测用行布线3和块区域R2的检测用行布线3以夹着该连结部分的方式配置，变为非连结。此外，在图26中附加了实线的圆的4处Of 04中，块区域Cl、C2的检测用列布线2彼此分离而变为非连结，并且块区域Rl、R2的检测用行布线3彼此分离而变为非连结。图27及图28分别是表示块区域C1、C2中的检测用列布线2的结构的放大图。如图27及图28所示，块区域Cl、C2中的检测用列布线2具备分别作为第I倾斜部的倾斜部分2aSl、2bS2和分别作为第2倾斜部的倾斜部分2aS2、2bSl。在这里，第I倾斜部(倾斜部分2aSl、2bS2)是一端连接于连结点Jl的直线形状的局部布线，沿着列方向y及行方向X以规定间距反复配设，相对于列方向I以倾斜角度+45° (第I角度)倾斜。再有，本实施方式的附图上的倾斜角度相对于列方向I的正方向，与实施方式I的附图上的倾斜角度相对于列方向y的正方向相反。第2倾斜部(倾斜部分2aS2、2bSl)是一端连接于连结点Jl的直线形状的局部布线，沿着列方向y及行方向X以上述规定间距反复配设，相对于列方向y在与第I倾斜部相反方向倾斜。也就是说，第2倾斜部相对于列方向以倾斜角度-45°倾斜。接着，使用图27，针对在块区域Cl设置的检测用列布线2的结构详细地进行说明。该检测用列布线2具备:在列方向y上延伸的第I曲折布线2a (第I检测用列布线)、在列方向y上延伸的第2曲折布线2b (第2检测用列布线)。再有，在图27中，以粗的虚线表示I个第I曲折布线2a。此外，检测用列布线2也具备:对第I曲折布线2a和第2曲折布线2b进行连接的分路布线2e (第I分路布线)。第I曲折布线2a具有:相对于列方向I以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分2aSl、相对于列方向I以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分2aS2、以及对这些倾斜部分进行连结的连结部分2P2及连结点J1，它们沿着列方向y反复配置。第2曲折布线2b具有:相对于列方向y以倾斜角度-45°倾斜的倾斜部分2bSl、相对于列方向y以倾斜角度+45°倾斜的倾斜部分2bS2、以及对 这些倾斜部分进行连结的连结点Jl、J2，它们沿着列方向y反复配置。再有，第I及第2曲折布线2a、2b处于彼此线对称的关系。此外，第I及第2曲折布线2a、2b沿着行方向x在块区域Cl内交替地配设，通过连结点J1、连结部分2P1及连结点J2而被连结。再有，在本实施方式中，3组第I及第2曲折布线2a、2b沿着行方向X配设，第I组的第I曲折布线2a及第2曲折布线2b和第2组的第I曲折布线2a，与第3组的第2曲折布线2b及第I曲折布线2a和第2组的第2曲折布线2b在块区域Cl的沿着列方向I的中心线配置在左右线对称的位置。此外，位于右端(+X侧端)的第2曲折布线2b的延伸方向的两端(_y侧端及+y侧端)延伸到块区域Cl的顶点Jc2、Jcl0而且，块区域Cl的检测用列布线2在该顶点Jc2、Jcl与位于右下侧(+X侧及+y侧)及右上侧(+X侧及-y侧)的块区域C2的检测用列布线2连结，并且电连接。分路布线2e具有:与第I倾斜部(倾斜部分2aSl、2bS2)同样的倾斜部(倾斜部分2eS2、2eS3)，与第2倾斜部(倾斜部分2aS2、2bSl)同样的倾斜部(倾斜部分2eSl、2eS4)，将倾斜部分2eSl 2eS4按每2个连结的连结部分2eP。在这样构成的分路布线2e中，倾斜部分2eS2、2eS3与倾斜部分2aSl、2bS2平行，倾斜部分2eSl、2eS4与倾斜部分2aS2、2bSl平行。接着，使用图28，针对在块区域C2设置的检测用列布线2的结构进行说明。该块区域C2中的检测用列布线2与上述的块区域Cl中的检测用列布线2同样地构成。但是，在该块区域C2中，位于左端(-X侧端)的第I曲折布线2a的延伸方向的两端(在这里是_y侧端+y侧端)延伸到块区域C2的顶点Jcl、Jc2。而且，块区域C2的检测用列布线2在该顶点Jcl、Jc2与位于左下侧(-X侧及+y侧)及左上侧(-X侧及-y侧)的块区域Cl的检测用列布线2连结，并且电连接。此外，块区域C1、C2的检测用列布线2即使以位于各自的中心的连结点Jl为中心旋转90°，旋转前后的形状也大致相同，相对于连结点Jl变成点对称。图29及图30分别是表示块区域R1、R2中的检测用行布线3的结构的放大图。块区域R1、R2中的检测用行布线3的结构，具有与图27及图28所示的块区域C1、C2中的检测用列布线2同样的结构。也就是说，块区域Rl、R2中的检测用行布线3具备:沿着列方向y及行方向x以上述规定的间距反复配设，相对于行方向X以倾斜角度+45°倾斜的第3倾斜部(倾斜部分3aSl、3bS2);沿着列方向y及行方向x以上述规定的间距反复配设，相对于行方向x以倾斜角度-45°倾斜的第4倾斜部(倾斜部分3aS2、3bSl)。而且，设置在块区域R1、R2的检测用行布线3具备:具有倾斜部分3aSl、3aS2的在行方向x上延伸的第5曲折布线3a (第I检测用行布线);具有倾斜部分3bSl、3bS2的在行方向X上延伸的第6曲折布线3b (第2检测用行布线)。再有，第5及第6曲折布线3a、3b处于彼此线对称的关系。此外，设置在块区域Rl、R2的检测用行布线3也具备:对第5曲折布线3a和第6曲折布线3b进行连接的分路布线3e(第2分路布线)。该分路布线3e具有:与第3倾斜部(倾斜部分3aSl、3bS2)同样的倾斜部(倾斜部分3eSl、3eS4)，与第4倾斜部(倾斜部分3aS2、3bSl)同样的倾斜部(倾斜部分3eS3、3eS3)。但是，块区域Rl的检测用行布线3的左下侧(-X侧及+y侧)及右下侧(+x侧及+y侦D的部分分别延伸到块区域Rl的顶点Jrl、Jr2。而且，块区域Rl的检测用行布线3在该顶点Jrl、Jr2与位于左下侧(-X侧及+y侧)及右下侧(+x侧及+y侧)的块区域R2的检测用行布线3连结。此外，块区域R2的检测用行布线3的左上侧(-X侧及-y侧)及右上侧(+X侧及-y侧)的部分分别延伸到块区域R2的顶点Jr2、Jrl0而且，块区域R2的检测用行布线3在该顶点Jrl、Jr2与位于左上侧(_x侧及-y侧)及右上侧(+x侧及-y侧)的块区域Rl的检测用行布线3连结。像这样，在实施方式1、2中，构成为在块区域Cl、C2分别设置2组第I曲折布线2a及第2曲折布线2b的组，但在本实施方式中，采用设置3组第I曲折布线2a及第2曲折布线2b的组的结构。同样地，采用在块区域Rl、R2分别设置3组第I曲折布线3a及第2曲折布线3b的组的结构。如上所述，与实施方式1、2同样地，根据本实施方式，构成为将列方向布线束6及行方向布线束7的交叉区域(栅格A)分割成多个块区域，在各个块区域中仅包含检测用列布线2或检测用行布线3的任一方，仅包含检测用列布线2的块区域和仅包含检测用行布线3的块区域在行列方向交替地配置。由此，能够大幅减少检测用列布线2和检测用行布线3的交叉处，能够减少交叉部周围的检测用列布线2与检测用行布线3的线间电容。〈实施方式4> 以上说明的在块区域Cl、C2中设置的检测用列布线2与在块区域Rl、R2中设置的检测用行布线3是不同的布线层的布线。因此，即使各块区域C1、C2、R1、R2的布线图案是等价的，由于制造上的制约等导致检测用列布线2与检测用行布线3的布线宽度微妙地不同，因此在块区域Cl、C2与块区域Rl、R2之间，有可能在对来自组合使用的显示装置的显示光的透射率、对外部光的反射率、进而透射光、反射光的波长谱中产生差。因此，产生将块区域C1、C2与块区域Rl、R2之间的浓淡、色彩的差观察为图案的问题。因此，在本实施方式中采用如下结构，即将实施方式3中的栅格A的块区域C1、C2的检测用列布线2的一部分用与检测用行布线3同层的浮动布线(floating wire)3F进行置换，此外将块区域Rl、R2的检测用行布线3的一部分用与检测用列布线2同层的浮动布线2F进行置换。由此，在本实施方式中，使浓淡、色彩不同的区域比块区域细小，换句话说，通过提高浓淡图案、色彩图案的反复频率(反复次数)，从而变得难以观察到。图31是在本实施方式中将栅格A周围放大了的图。在这里，与实施方式广3同样地，规定有将栅格A分割而成的多个(在这里是4个)四角形状的块区域Cl、C2、RU R2，在块区域C1、C2 (第I块区域)的每一个设置有检测用列布线2和在与行方向布线束7 (检测用行布线3)相同的布线层中形成的浮动布线3F (第I浮动布线)。该浮动布线3F是与检测用行布线3相同布线层的布线，但不构成行方向布线束7的一部分，与列方向布线束6及行方向布线束7非连接，即处于浮动状态。此外，在块区域R1、R2 (第2块区域)分别设置有检测用行布线3、和与列方向布线束6 (检测用列布线2)形成在相同的布线层的浮动布线2F (第2浮动布线)。该浮动布线2F是与检测用列布线2相同布线层的布线，但不构成列方向布线束6的一部分，与列方向布线束6及行方向布线束7非连接，即处于浮动状态。

进而，设置有检测用列布线2的块区域Cl、C2和设置有检测用行布线3的块区域Rl、R2整体在列方向I及行方向X上交替地配置，形成方格状图案。此外，与实施方式广3同样地，在I个栅格A中，仅在图32中附加有虚线的圆的I处(块区域C1、C2、R1、R2相接的I处)具备检测用列布线2和检测用行布线3的立体交叉。也就是说，在图32中附加了虚线的圆的部位中，块区域Cl的I根检测用列布线2和块区域C2的I根检测用列布线2连结，块区域Rl的I根检测用行布线3和块区域R2的I根检测用行布线3连结。而且，在图32中附加了虚线的三角形的部位中，块区域Rl的I根检测用行布线3和块区域R2的I根检测用行布线3连结，块区域Cl的检测用列布线2和块区域C2的检测用列布线2以夹着该连结部分的方式配置，变为非连结。此外，在图32中附加了虚线的四角形的部位中，块区域Cl的I根检测用列布线2和块区域C2的I根检测用列布线2连结，块区域Rl的检测用行布线3和块区域R2的检测用行布线3以夹着该连结部分的方式配置，变为非连结。此外，在图32中附加了实线的圆的4处Of 04中，块区域Cl、C2的检测用列布线2彼此分离而变为非连结，并且块区域Rl、R2的检测用行布线3彼此分离而变为非连结。图33及图34分别是表示块区域Cl、C2中的检测用列布线2及浮动布线3F的结构的放大图。如图33及图34所示，块区域Cl、C2中的检测用列布线2具备分别作为第I倾斜部的倾斜部分2aSl、2bS2和分别作为第2倾斜部的倾斜部分2aS2、2bSl。同样地，块区域Cl、C2中的浮动布线3F具备:分别是与第I倾斜部(倾斜部分2aSl、2bS2)同样的倾斜部的倾斜部分3aSl、3bS2和分别是与第2倾斜部(倾斜部分2aS2、2bSl)同样的倾斜部的倾斜部分3aS2、3bSl。
而且，由检测用列布线2的倾斜部分2aSl和倾斜部分2aS2构成的具有“>”字形状的>形状布线2g和由浮动布线3F的倾斜部分3aSl和倾斜部分3aS2构成的具有“>”字形状的>形状布线3g沿着列方向I和行方向X以规定的间距交替地反复配设。此外同样地，由检测用列布线2的倾斜部分2bS2和倾斜部分2bSl构成的具有“<”字形状的<形状布线2h和由浮动布线3F的倾斜部分3bS2和倾斜部分3bSl构成的具有“<”字形状的<形状布线3h沿着列方向y和行方向X以规定的间距交替地反复配设。再有，检测用列布线2的>形状布线2g (第I检测用列布线)及<形状布线2h (第2检测用列布线)处于彼此线对称的关系，此外，浮动布线3F的>形状布线3g (第I局部浮动布线)及<形状布线3h (第2局部浮动布线)处于彼此线对称的关系。在这里，检测用列布线2的第I倾斜部(倾斜部分2aSl、2bS2)及浮动布线3F的与第I倾斜部同样的倾斜部(倾斜部分3aSl、3bS2)相对于列方向I以倾斜角度+45° (第I角度)倾斜。检测用列布线2的第2倾斜部(倾斜部分2aS2、2bSl)及浮动布线3F的与第2倾斜部同样的倾斜部(倾斜部分3aS2、3bSl)相对于列方向y在与第I倾斜部相反方向倾斜。也就是说，这些倾斜部(倾斜部分2aS2、2bSl、3aS2、3bSl)相对于列方向y以倾斜角度-45°倾斜。接着，使用图33，针对在块区域Cl设置的检测用列布线2及浮动布线3F的结构更详细地进行说明。图33所示的该结构，是对基于图27说明的实施方式3的块区域Cl，以与检测用行布线3同层的浮动布线3F置换了检测用列布线2的一部分布线的结构。如上所述，该浮动布线3F是与检测用行布线3同层的布线，但不构成行方向布线束7的一部分，是在该块内关闭了布线连接的状态的布线，即处于浮动状态。如图33所示，在本实施方式中，不存在实施方式3的连结部分2P1、2P2，由倾斜部分2aSl及倾斜部分2aS2构成的>形状布线2g和由倾斜部分2bS2及倾斜部分2bSl构成的<形状布线2h在连结点Jl连结。在块区域Cl中，这样的检测布线图案一边在连结点J5连结，一边在+45°方向及-45°方向上延伸。此外，检测用列布线2也具备:对>形状布线28和<形状布线2h进行连接的分路布线2e (第I分路布线)。再有，>形状布线2g和<形状布线2h处于彼此线对称的关系。另一方面，由与检测用行布线3同层的浮动布线3F的倾斜部分3aSl及倾斜部分3aS2构成的>形状布线3g和由倾斜部分3bS2及倾斜部分3bSl构成的<形状布线3h在连结点J3连结。在块区域Cl中，这样的浮动布线图案一边在连结点J6连结，一边在+45°方向及-45°方向上延伸。这时，>形状布线2g和<形状布线2h在连结点Jl连结的检测布线图案，和>形状布线3g和<形状布线3h在连结点J3连结的浮动布线图案在块区域Cl内交替地配置成方格图案状。此外，位于块区域Cl的右上端(+X侧及_y侧)的<形状布线2h的上端(_y侧)延伸到块区域Cl的顶点Jcl。进而，位于块区域Cl的右下端(+X侧及+y侧)的<形状布线2h的下端(+y侧)延伸到块区域Cl的顶点Jc2。而且，块区域Cl的检测用列布线2在该顶点Jc2、Jcl与位于右下侧(+X侧及+y侧)及右上侧 (+X侧及-y侧)的块区域C2的检测用列布线2连结，并且电连接。
此外，如上所述，本实施方式的检测用列布线2具备:对在连结点Jl连结的>形状布线2g及<形状布线2h进行连结的分路布线2e (第I分路布线)。该分路布线2e具有:与第I倾斜部(倾斜部分2aSl、2bS2)同样的倾斜部(倾斜部分2eS2、2eS3)，与第2倾斜部(倾斜部分2aS2、2bSl)同样的倾斜部(倾斜部分2eSl、2eS4)，将倾斜部分2eSl 2eS4按每2个连结的连结部分2eP。在这样构成的分路布线2e中，倾斜部分2eS2、2eS3与倾斜部分2aSl、2bS2平行，倾斜部分2eSl、2eS4与倾斜部分2aS2、2bSl平行。同样地，本实施方式的浮动布线3F具备:对在连结点J3连结的>形状布线3g及<形状布线3h进行连结的分路布线3e (第3分路布线)。该分路布线3e具有:与第I倾斜部(倾斜部分2aSl、2bS2)同样的倾斜部(倾斜部分3eS2、3eS3)，与第2倾斜部(倾斜部分2aS2、2bSl)同样的倾斜部(倾斜部分3eSl、3eS4)。接着，使用图34，针对在块区域C2设置的检测用列布线2及浮动布线3F的结构详细地进行说明。该块区域C2中的检测用列布线2及浮动布线3F与上述的块区域Cl中的检测用列布线2及浮动布线3F同样地构成。但是，在该块区域C2中，位于左上端(-X侧及-y侧)的>形状布线2g的上端(_y侦D延伸到块区域C2的顶点Jc2。进而，位于块区域C2的左下端(-X侧及+y侧)的>形状布线2g的下端(+y侧)延伸到块区域C2的顶点Jcl。而且，块区域C2的检测用列布线2在该顶点Jcl、Jc2与位于左下侧(_x侧及+y侧)及左上侧(-X侧及-y侧)的块区域Cl的检测用列布线2连结，并且电连接。此外，块区域Cl、C2的检测用列布线2即使以位于各自的中心的连结点Jl为中心旋转90°，旋转前后的形状也大致相同，相对于连结点Jl变成点对称。图35及图36分别是表示块区域Rl、R2中的检测用行布线3及浮动布线2F的结构的放大图。该块区域Rl、R2中的检测用行布线3及浮动布线2F的结构，具有与图33及图34中示出的块区域C1、C2 中的检测用列布线2及浮动布线3F同样的结构。即，图35及图36所示的该结构，是对基于图29及图30说明的实施方式3的块区域Rl、R2，以与检测用列布线2同层的浮动布线2F置换了检测用行布线3的一部分布线的结构。如上所述，该浮动布线2F是与检测用列布线2同层的布线，但不构成列方向布线束6的一部分，是在该块内关闭了布线连接的状态的布线，即处于浮动状态。块区域Rl、R2中的检测用行布线3具备:相对于行方向X以倾斜角度+45°倾斜的第3倾斜部(倾斜部分3aSl、3bS2)，和相对于行方向x以倾斜角度-45°倾斜的第4倾斜部(倾斜部分3aS2、3bSl)。同样地，块区域Rl、R2中的浮动布线2F具备:分别是与第3倾斜部(倾斜部分3aSl、3bS2)同样的倾斜部的倾斜部分2aSl、2bS2和分别是与第4倾斜部(倾斜部分3aS2、3bSl)同样的倾斜部的倾斜部分2aS2、2bSl。而且，由检测用行布线3的倾斜部分3aSl和倾斜部分3aS2构成的具有“>”字形状的>形状布线3g和由浮动布线2F的倾斜部分2aSl和倾斜部分2aS2构成的具有“>”字形状的>形状布线2g沿着列方向I和行方向X以规定的间距交替地反复配设。此外同样地，由检测用行布线3的倾斜部分3bS2和倾斜部分3bSl构成的具有“<”字形状的<形状布线3h和由浮动布线2F的倾斜部分2bS2和倾斜部分2bSl构成的具有“<”字形状的<形状布线2h沿着列方向y和行方向X以规定的间距交替地反复配设。
再有，检测用行布线3的>形状布线3g (第I检测用行布线)及<形状布线3h (第2检测用行布线)处于彼此线对称的关系，此外，浮动布线2F的>形状布线2g (第3局部浮动布线)及<形状布线2h (第4局部浮动布线)处于彼此线对称的关系，从而再次处于彼此线对称的关系。此外，本实施方式的检测用行布线3具备:对在连结点J3连结的>形状布线3g及<形状布线3h进行连结的分路布线3e (第2分路布线)。该分路布线3e具有:与第3倾斜部(倾斜部分3aSl、3bS2)同样的倾斜部(倾斜部分3eS2、3eS3)，与第4倾斜部(倾斜部分3aS2、3bSl)同样的倾斜部(倾斜部分3eSl、3eS4)。此外，本实施方式的浮动布线2F具备:对在连结点Jl连结的 >形状布线2g及<形状布线2h进行连结的分路布线2e (第4分路布线)。该分路布线2e具有:与第3倾斜部(倾斜部分3aSl、3bS2)同样的倾斜部(倾斜部分2eS2、2eS3)，与第4倾斜部(倾斜部分3aS2、3bSl)同样的倾斜部(倾斜部分2eSl、2eS4)。但是，块区域Rl的检测用行布线3的左下侧(-X侧及+y侧)及右下侧(+x侧及+y侦D的部分分别延伸到块 区域Rl的顶点Jrl、Jr2。而且，块区域Rl的检测用行布线3在该顶点Jrl、Jr2与位于左下侧(-X侧及+y侧)及右下侧(+x侧及+y侧)的块区域R2的检测用行布线3连结。此外，块区域R2的检测用行布线3的左上侧(-X侧及-y侧)及右上侧(+X侧及-y侧)的部分分别延伸到块区域R2的顶点Jr2、Jrl0而且，块区域R2的检测用行布线3在该顶点Jrl、Jr2与位于左上侧(_x侧及-y侧)及右上侧(+x侧及-y侧)的块区域Rl的检测用行布线3连结。如上所述，根据本实施方式，采用如下结构，即将块区域Cl、C2的检测用列布线2的一部分用与检测用行布线3相同布线层的浮动布线进行置换，此外将块区域Rl、R2的检测用行布线3的一部分用与检测用列布线2相同布线层的浮动布线进行置换。由此，能够改善由于制造上的制约等引起检测用列布线2、检测用行布线3的布线宽度微妙地不同，由此导致在块区域C1、C2与块区域R1、R2之间的透射率、反射率、波长谱的差异导致观察到块区域的图案的问题。即，通过使浓淡、色彩不同的区域图案比块区域图案细小，换句话说，通过提高浓淡图案、色彩图案的反复频率，从而变得难以被观察到。此外，能够获得与实施方式广3同样的效果。此外，在本实施方式中，具备对第I曲折布线2a和第2曲折布线2b进行电连接的分路布线2e，和对第5曲折布线3a和第6曲折布线3b进行电连接的分路布线3e。因此，即使在多个检测用列布线2及多个检测用行布线3的一处产生断线的情况下，也能抑制列方向布线束6及行方向布线束7的电阻变高。由此，能够进行可靠性高的触摸位置检测。此外，分路布线2e、3e具有与第I及第2倾斜部同样的倾斜部。因此，能够使检测用列布线2的配置及检测用行布线3的配置均匀化。由此，即使在检测用列布线2及检测用行布线3以不透明的高导电性材料形成的情况下，也能够使从显示面板射出的显示光穿透触摸屏幕I时的透射率均匀化，能够抑制莫尔条纹的产生。再有，>形状布线3g和<形状布线3h在连结点J3连结的浮动布线3F的图案彼此并不必须在连结点J6连结，也可以分别孤立。<实施方式5>
在实施方式4中说明的结构中，不存在实施方式3的结构中的连结部分2P1、2P2、3P1、3P2。因此，该倾斜布线的连结部与非连结部混合存在，导致容易观察到布线图案的不均匀性。此外，实施方式4中的连结部分的X方向及y方向的反复间距比实施方式3大2倍，因此连结部分本身也容易被观察到。此外，在上述各实施方式的连结点Jcl、Jc2、JrU Jr2中，由于检测用列布线2及检测用行布线3中的一方分离，所以容易观察到与块区域内的倾斜布线的交叉点的不均匀性。因此，在本实施方式中，通过对这样的倾斜布线的非连结部分设置伪连结布线，从而难以观察到布线图案的不均匀性。图37是在本实施方式中将栅格A周围放大了的图。块区域C1、C2、R1、R2的结构、块区域内的检测用列布线2、检测用行布线3、浮动布线2F、3F的结构与实施方式4中说明的结构是同等的。如图37所示，在本实施方式中，在上述实施方式4中说明的结构中，在具有+45°、-45°的角度的倾斜布线分离的块区域的边界中的部位(图37中以P、Q、U、W的实线圆圈表示)设置 伪连结布线2G、3G。图38 Ca) Cd)分别是倾斜布线的分离处P、Q、U、W的放大图。再有，图38 (a)及图38 (b)是I组块区域(相邻的2个块区域Cl、R1、块区域C1、R2、块区域C2、R1、或块区域C2、R2)的边界上的分离处P、Q的放大图。此外，图38 (c)是倾斜方向上相邻的2个块区域R1、R2的边界上的分离处U的放大图。图38(d)是倾斜方向上相邻的2个块区域Cl、C2的边界上的分离处W的放大图。如图38 Ca)所示，本实施方式的触摸屏幕I在I组块区域(一方及另一方的块区域)的边界的分离部(分离处P)中，具备伪连结布线3G (第I伪布线)。也就是说，触摸屏幕I在一方的块区域中设置的检测用列布线2的第I端部和在另一方的块区域中设置的浮动布线2F的第2端部之间的分离部(分离处P)具备:在与第I及第2端部不同的布线层中形成的伪连结布线3G。同样地，本实施方式的触摸屏幕I在I组块区域(一方及另一方的块区域)的边界的分离部(分离处P)中，具备伪连结布线2G (第2伪布线)。也就是说，触摸屏幕I在一方的块区域中设置的检测用行布线3的第3端部和在另一方的块区域中设置的浮动布线3F的第4端部之间的分离部(分离处P)具备:在与第3及第4端部不同的布线层中形成的伪连结布线2G。而且，该伪连结布线3G的两端部以与检测用列布线2的第I端部及浮动布线2F的第2端部分别在俯视中部分重叠的方式配置。此外，伪连结布线2G的两端部以与检测用行布线3的第3端部及浮动布线3F的第4端部分别在俯视中部分重叠的方式配置。进而，这样的不同布线层的伪连结布线3G和2G交叉配置。再有，伪连结布线2G、3G均是浮动状态。而且，伪连结布线3G相对于列方向y以+45°倾斜，伪连结布线2G相对于列方向y以-45°倾斜。同样地，如图38 (b)所示，本实施方式的触摸屏幕I在I组块区域的边界的分离部(分离处Q)中，具备伪连结布线3G。也就是说，触摸屏幕I在一方的块区域中设置的检测用列布线2的第I端部和在另一方的块区域中设置的浮动布线2F的第2端部之间的分离部(分离处Q)具备:在与第I及第2端部不同的布线层中形成的伪连结布线3G。同样地，本实施方式的触摸屏幕I在I组块区域的边界的分离部(分离处Q)中，具备伪连结布线2G。也就是说，触摸屏幕I在一方的块区域中设置的检测用行布线3的第3端部和在另一方的块区域中设置的浮动布线3F的第4端部之间的分离部(分离处Q)具备:在与第3端部及第4端部不同的布线层中形成的伪连结布线2G。而且，该伪连结布线3G的两端部以与检测用列布线2的第I端部及浮动布线2F的第2端部分别在俯视中部分重叠的方式配置。此外，伪连结布线2G的两端部以与检测用行布线3的第3端部及浮动布线3F的第4端部分别在俯视中部分重叠的方式配置。进而，这样的不同布线层的伪连结布线3G和2G交叉配置。再有，伪连结布线2G、3G均是浮动状态。而且，伪连结布线3G相对于列方向y以-45°倾斜，伪连结布线2G相对于列方向y以+45°倾斜。如图38 (C)所示，触摸屏幕I在块区域Rl、R2的边界的分离部(分离处U)中，具备伪连结布线2K (第2伪布线)。也就是说，触摸屏幕I在一方的块区域Rl中设置的检测用行布线3的第3端部和在另一方的块区域R2中设置的检测用行布线3的第4端部之间的分离部(分离处U)具备:在与第3及第4端部不同的布线层中形成的伪连结布线2K。而且，该伪连结布线2K的两端部以与检测用行布线3的第3端部及第4端部分别在俯视中部分重叠的方式配置。再有，伪连结布线2K是检测用列布线2的分路布线，相对于列方向y以+45°倾斜。如图38 (d)所示，触摸屏幕I在块区域Cl、C2的边界的分离部(分离处W)中，具备伪连结布线3K (第I伪布线)。也就是说，触摸屏幕I在一方的块区域Cl中设置的检测用列布线2的第I端部和在另一方的块区域C2中设置的检测用列布线2的第2端部之间的分离部(分离处W)具备:在与第I及第2端部不同的布线层中形成的伪连结布线3K。而且，该伪连结布线3K的两端部以与检测用列布线2的第I端部及第2端部分别在俯视中部分重叠的方式配置。再有，伪连结布线3K是检测用行布线3的分路布线，相对于列方向y以-45°倾斜。如上所述，在本实施`方式中，通过对倾斜布线的非连结部分设置伪连结布线，从而能够难以观察到布线图案的不均匀性。再有，虽然在这里没有说明，但即使是在浮动布线2F彼此之间的分离部或浮动布线3 F彼此的分离部中也具备伪连结布线的结构，也能获得与上述同样的效果。此外，优选在实施方式I飞中说明的检测用列布线2及检测用行布线3 (包含分路布线2e、3e)全部以大致相同的线宽度形成。在这样构成的情况下，能够使检测用列布线2及检测用行布线3整体的透射率、反射率均匀，因此能够防止观察到块区域Cl等。此外，为了构成检测用列布线2及检测用行布线3的布线本身不被观察到，优选其布线的宽度是IOum以下。在以上说明的各实施方式中，说明了将设置检测用列布线2的块区域设为Cl、C2的2个，将设置检测用行布线3的块区域设为R1、R2的2个，通过共计4个块区域来构成栅格A的情况。可是，构成栅格A的块区域并不限定于各2个，只要使设置检测用列布线2的块区域及设置检测用行布线3的块区域分别为相同的偶数个，将其分配配置成方格图案状即可。<实施方式6>
图39是对示意地表示实施方式I中示出的触摸屏幕I的结构的平面图(图1)进一步详细说明的平面图。如图39所示，触摸屏幕200具备:触摸屏幕I中示出的、作为由透明的玻璃材料或透明的树脂构成的透明基板的基础基板12 ;在列方向(相当于图39中的y方向)上延伸的多个检测用列布线2 ;在行方向(相当于图39中的X方向)上延伸的多个检测用行布线3。此外，检测用列布线2被包含于在列方向I上延伸的矩形状的列方向布线束6中，检测用行布线3被包含于在行方向X上延伸的矩形状的行方向布线束7中。而且，构成包含多个检测用列方向布线束6及多个检测用行方向布线束7的检测区域70。在检测区域70的最外侧(两端)的检测用列布线2的更外侧，以平行邻接的方式配设有伪列布线21，同样地，在检测区域70的最外侧的检测用行布线3的更外侧，以平行邻接的方式配设有伪行布线22。在这里，针对触摸屏幕I的检测用列布线2或检测用列方向布线束6所被附加的寄生电容进行说明。图40 (a)是表示具备图39所示的触摸屏幕的触摸面板的一例的示意图。虽然实际上也具有检测用行方向布线束7、列布线选择开关电路20b，但为了说明简单而省略这些的图示。图40 (b)是表示沿着图40 (a)中的B1-B2线的剖面的一部分的图，示出伪列方向布线束23和多个检测用列方向布线束6中的端部的2根的附近部分。在伪列方向布线束23和多个检测用列方向布线束6，分别形成有在与显示装置的框缘区域、支承显示装置的框体等的电介质74之间形成的寄生电容Ec，除此之外，在伪列方向布线束23，还附加有在与显示装置的框缘区域、支承显示装置的框体等的电介质75之间形成的寄生电容Ecd。因此，在伪列方向布线束23附加的寄生电容是Ec+Ecd，各个检测用列方向布线束6的寄生电容是Ec，但在检测用列方向布线束6各自的寄生电容中不产生差。也就是说，针对全部检测用列方向布线束6，寄生电容被均匀化，因此抑制触摸电容的检测灵敏度在列方向的不均，触摸电容的检测灵敏度提高。实际上，检 测用列方向布线束6根据从显示装置的框缘区域、支承显示装置的框体等的电介质75起的距离，在与电介质75之间形成寄生电容Ece。在图40 (c)中，示出与从电介质75起的距离对应的、相对于在检测用列方向布线束6与电介质75之间产生的寄生电容Ece的关系。因此，在与电介质75之间产生的寄生电容Ec中，最外侧的检测用列方向布线束23的寄生电容Ecel比与最外侧的检测用列方向布线束80相邻内侧的I个检测用列方向布线束81的寄生电容Ece2大，寄生电容Ecd2比与其相邻的更内侧的I个检测用列方向布线束(未图示)的寄生电容Ece3 (未图示)大。当包含上述那样的、电介质75与检测用列方向布线束6各自之间产生的寄生电容Ecd时，相对于对伪列方向布线束23附加的寄生电容是Ec+Ecd，最外侧的检测用列方向布线束80的寄生电容是Ec+Ecel，与其相邻内侧的I个检测用列方向布线束81的寄生电容是Ec+Ece2，与其相邻的更内侧的I个检测用列方向布线束82的寄生电容是Ec+Ece3。可是，相对于检测用列方向布线束各自的寄生电容Ec+Ece，对伪列方向布线束23附加的寄生电容Ec+Ecd大，因此在检测用列方向布线束6各自的寄生电容中难以产生差。也就是说，针对全部检测用列方向布线束6，寄生电容被均匀化，因此抑制触摸电容的检测灵敏度在列方向的不均，触摸电容的检测灵敏度提高。如上所述，为了在全部的检测用列方向布线束6中使触摸电容的检测精度提高，要求在最外侧的检测用列方向布线束6的外侧配设伪列布线。
与伪列方向布线束23同样地，针对伪行方向布线束24也要求配设，但由于与伪列方向布线束23相同，所以在这里省略说明。如上所述，通过在检测区域70的最外侧(两端)的检测用列方向布线束6的更外侧配设的伪列方向布线束23，及在检测用行方向布线束7的更外侧配设的伪行方向布线束24，从而能够在全部检测区域中使触摸电容的检测精度提高。图41是表示将图15所示的栅格A作为基本单位而构成的检测用列方向布线束6及检测用行方向布线束7的图。此外，图42是相对于图41示出的构成栅格A的块区域中设置的检测用列布线2以及检测用行布线3，使曲折布线的根数翻倍后的图。再有在图42中，作为一例将块区域的个数以16 (4X4)来表示。在该情况下，由于栅格A内的连结块区域Cl和C2的连结处是I个，所以检测用列方向布线束6的相同的y坐标的连结处是3个。同样地，由于栅格A内的连结块区域Rl和R2的连结处是I个，所以检测用行方向布线束7的相同的X坐标的连结处是3个。另一方面，图43是在图42中将块区域的个数以36 (6X6)表示的图。在该情况下，由于栅格A内的连结块区域Cl和C2的连结处是I个，所以检测用列方向布线束6的相同的I坐标的连结处是5个。同样地，由于栅格A内的连结块区域Rl和R2的连结处是I个，所以检测用行方向布线束7的相同的X坐标的连结处是5个。也就是说，在构成检测用列方向布线束6及检测用行方向布线束7的块区域的个数多的情况下，同一 I坐标的块区域连结处或同一 X坐标的块区域连结处也多。另一方面，在块区域的个数少的情况下，同一 I坐标的块区域连结处或同一 X坐标的块区域连结处也少。该关系在将块区域的个数设为V，将同一坐标的块区域连结处的个数设为W的情况下，能够以数式(W=V-1)表示。在图42、43中，使用实施方式2中示出的检测布线，针对块区域的个数与同一 y坐标或同一 X坐标的块区域连结处的个数的关系进行说明。该关系在实施方式1、3、4中示出的检测布线中也同样成 立。以上，说明了伪列方向布线束23及伪行方向布线束24的必要性，和块区域的个数与同一I坐标或同一 X坐标的块区域连结处的个数的关系。在这里，针对伪列方向布线束23及伪行方向布线束24的结构进行说明。用与实施方式f 3中示出的那样的构成检测区域70的检测用列布线2及检测用行布线3同样的检测布线，能够构成伪列布线21及伪行布线22。作为一例，图44示出检测用列布线与伪列布线的结构。在这里，在图44的左侧有检测用列方向布线束6与检测用行方向布线束7交叉的交叉区域(有时称为检测块区域)，在右侧是伪列方向布线束23与检测用行方向布线束7交叉的交叉区域(有时称为伪列块区域)。检测用列方向布线束6的块区域M去(图中的一点划线)的同一 y坐标的个数VM1，以及伪列方向布线束23的块区域NI (图中的二点划线)的同一 y坐标的个数VNl均以4个表不。根据图44示出的检测用列布线和伪列布线的结构，很明显在检测用列方向布线束6的、块区域Ml的个数VMl与连结处Mla的个数丽Ia之间，有数式(丽Ia=VMl-1)的关系，同样地，在伪列方向布线束23的、块区域NI的个数VNl与连结处Nla的个数WNla之间，有数式(WNla=VNl-1)的关系，在图44中，检测列方向布线束6的块区域Ml的连结处Ml的个数丽Ia是4-1=3个，此外，伪列方向布线束23的块区域NI的连结处Nla的个数WNla是4-1=3个。再有，在这里省略说明，但关于检测用行方向布线束的块区域的个数与连结处的个数，以及伪行方向布线束的块区域的个数与连结处的个数也是同样的。另一方面，由于制品上的制约等，为了缩小触摸屏幕200的框缘区域，存在要求缩小伪列方向布线束23、以及伪行方向布线束24的宽度的情况。图45示出这时的检测用列布线和伪列布线的结构。在该情况下，与形成同一 I坐标的检测用列方向布线束6的块区域M2的个数VM2相比，形成伪列方向布线束23的块区域N2的个数WN2变少(VM2 > WN2)。伴随于此，同一 y坐标的伪列方向布线束23的块区域N2的连结处N2a的个数也变少。在图45中，检测列方向布线束6的块区域M2的连结处M2a的个数是4-1=3个，此外，伪列方向布线束23的块区域N2的连结处N2a的个数是2-1=1个。在该情况下，存在如下问题，即由于制造工序中的异物等，在伪列方向布线束23延伸的I方向的中途产生断线，在延伸的y方向的伪列方向布线束23中，产生断线的部位在以后不具有作为伪列方向布线束的功能的情况。同样地，存在如下问题，即在伪行方向布线束24 (未图示)延伸的X方向的中途产生断线，在延伸的X方向的伪行方向布线束24中，产生断线的部位在以后不具有作为伪行方向布线束的功能的情况。为了解决该课题，在本实施方式中，说明对伪列方向布线束23及伪行方向布线束24(未图示)难以由于制造工序中的异物等引起断线的结构。图46表示本实施方式的一例。相对于图45表示的构成伪列方向布线束23的块区域N2的图案N2P的个数是16个(4X4个)，在图46中，将构成伪列方向布线束23的块区域N3的图案N3p的个数设为4个(2X2个)，伪列方向布线束23的块区域N3的个数WN3a变为4个，伪列方向布线束23的块区域N3的连结处N3a的个数变为4-1=1个。也就是说，通过使伪列方向布线束23的块区域N3的图案N3p的个数从图45所示的16个变小到图46所示的4个，从而块区域的连结处的个数能够从I个增加到3个。如上所述，通过相对于图45所示的构成检测用列方向布线束23的块区域N2的图案N2p的个数S72，使图46所示的构成伪列方向布线束23的块区域N3的图案N3p的个数S72’减小(S72 > S72’)， 从而能够增加同一 y坐标的块区域连结处的个数，即使在有制造工序中的异物等导致有断线的情况下，也能够降低伪列方向布线束23延伸的y方向的中途的断线的概率。再有，在这里省略说明，但关于检测行方向布线束24(未图示)也是同样的。在该情况下，在检测用列方向布线束6与检测用行方向布线束7交叉的交叉区域(检测块区域)，和检测用列方向布线束6与伪行方向布线束24交叉的交叉区域(伪行块区域)的比较中，同样的说明也成立。而且，上述的伪列块区域的图案的个数与检测块区域的图案的个数的大小关系，和伪行块区域的图案的个数与检测块区域的图案的个数的大小关系通过采用至少任一方的结构，从而发挥发明的效果。可是，如上述说明的那样，通过使构成伪列方向布线束23及伪行方向布线束24的块区域的图案的个数，比构成检测用列方向布线束6及检测用行方向布线束7的块区域的图案的个数小，从而导致伪列方向布线束23及伪行方向布线束24的耦合电容增加。伪列方向布线束23及伪行方向布线束24自身虽然不直接有助于触摸电容的检测,但与伪列方向布线束23及伪行方向布线束24电容耦合的检测用列方向布线束6及检测用行方向布线束7的耦合电容增加。但是，由于检测用列方向布线束6与伪行方向布线束24的耦合电容，以及检测用行方向布线束7与伪列方向布线束23的耦合电容，在检测用列方向布线束6与检测用行方向布线束7的耦合电容整体所占的比率小，所以减少构成伪列方向布线束23及伪行方向布线束24的块区域的图案的个数可以认为几乎不造成影响。因此，如上述说明的那样，通过使构成伪列方向布线束23及伪行方向布线束24的块区域的图案的个数，比构成检测用列方向布线束6及检测用行方向布线束7的块区域的图案的个数小，从而能够降低伪列方向布线束23及伪行方向布线束24的断线的概率，能够进行可靠性高的触摸位置检测。如上所述，说明了使伪列方向布线束23及伪行方向布线束24的宽度减小，但在不需要缩小触摸屏幕200的框缘区域的情况下，也就是说在不需要缩小伪列方向布线束23及伪行方向布线束24的宽度的情况等下，也能够同样地构成，在该情况下，也能够降低伪列方向布线束23及伪行方向布线束24的断线的概率，能够进行可靠性高的触摸位置检测。<实施方式7>
在实施方式4中，说明了通过采用将块区域Cl、C2的检测用列布线2的一部分用与检测用行布线3相同布线层的浮动布线进行置换，此外将块区域Rl、R2的检测用行布线3的一部分用与检测用列布线2相同布线层的浮动布线进行置换的结构，从而提高浓淡、色彩图案的反复频率，能够使块区域图案难以被观察到。另一方面,在实施方式6中基于实施方式1 3进行说明，但也能够以实施方式4中示出的块来构成。图47表示将实施方式6中说明的伪列方向布线束23及伪行方向布线束24以实施方式4来构成的图。在伪列方向布线束23及伪行方向布线束24中，由于浓淡、色彩图案的反复频率变高，所以可知难以观察到块区域图案。可是，在以浮动布线置换伪列布线21及伪行布线22的块区域Rl、R2的一部分的情况下，与不以浮动置换的情况相比较，伪列布线21及伪行布线22与显示装置的框缘区域、支承显示装置的框体等的电介质75的电容耦合，由于有助于电容耦合的布线面积变小，所以耦合电容变小。也就是说存在如下问题，即对于作为配设伪列布线21及伪行布线22的主要效果之一的、削弱显示装置的框缘区域、支承显示装置的框体等的电介质75和检测用列布线2及检测布线3的电容耦合，即电场屏蔽效果起反效果。为了解决该课题，在本实施方式中，针对伪列布线21及伪行布线22，说明对显示装置的框缘区域、支承显示装置的框体等的电场屏蔽效果不损害其效果，能够较高地保持浓淡、色彩图案的反复频率的伪列布线21及伪行布线22，进而说明检测用布线束和伪列方向布线束23的边界部及检测用布线束与伪行方向布线束24的边界部。图48表示提高电场屏蔽效果的伪列方向布线束23及伪行方向布线束24。图49表示伪列方向布线束23与检测用布线束的边界部。再有，伪行方向布线束24和检测用布线束的边界部与伪列方向布线束23和检测用布线束的关系相同，因此在这里省略。如图48所示，为了提高电场屏蔽效果，对图47所示的以浮动置换的结构，不进行置换来构成，由此有助于与显示装置的框缘区域、支承显示装置的框体等的电介质75电容耦合的面积变大，最有效果。在该情况下，如图49所示，在检测用布线束和伪列方向布线束23的边界部的顶点Ala、A2a、A3b、A4b不使检测用布线束和伪列方向布线束23连结。另一方面，块A的顶点A1、A2、A3由于需要将检测用布线束与伪列方向布线束电连接，所以设置连结部分。此外，图50是针 对伪列方向布线束23与检测用布线束的边界部，表示与上述不同的例子的图。顶点Bla、B2a、及B3b、B4b以与检测用布线束的浮动布线层不同的布线层构成、并且从检测布线束和伪列方向布线束的端部延伸的布线连结。通过采用这样的连结，构成检测用布线束的检测用行布线3与伪列方向布线束23内的检测用行布线部分的连结处增加，能够降低制造工序中的异物等导致的断线的概率，能够进行可靠性高的触摸位置检测。如上所述，根据本实施方式，伪列布线不采用实施方式4中示出的以浮动置换的结构，而采用不置换的结构，由此能够提高伪列布线的电场屏蔽效果，并且对采用实施方式4所示的以浮动置换的结构的检测列布线也能够实现块间的连结。进而，在检测列布线、伪列布线的双方，能够较高地保持浓淡、色彩图案的反复频率，能够使其难以观察到。再有，本发明在其发明的范围内能够将实施方式适宜地变形、省略。<实施方式8>
在本发明的实施方式8中，说明通过将以上说明的触摸屏幕I与作为显示面板的液晶显示面板61粘合，从而使触摸面板100与液晶显示面板61整体构成的液晶显示装置。图51是表示本实施方式的液晶显示装置的结构的剖面图。该液晶显示装置具备:具备触摸屏幕I的图14所示的触摸面板100、粘接层60、液晶显示面板61、背光灯69。再有，在图51中，为了方便省略触摸面板100的FPC17及控制器基板18的图示。液晶显示面板61具备:偏振板62、粘接层63、滤色器基板64、液晶层65、TFT阵列基板66、粘接层67、偏振板68。以下，在图51中将上侧称为厚度方向一方侧，在图51中将下侧称为厚度方向另一方侧。滤色器基板64由在玻璃基板上形成滤色器、黑矩阵、透明电极、以及取向膜(均未图示)而构成。TFT阵列基板66由在玻璃基板上形成薄膜晶体管(Thin Film Transistor ；TFT)等的开关元件(均未图示)而构成。液晶层65在滤色器基板64和TFT阵列基板66之间夹持，例如由扭转向列(T·wisted Nematic ;TN)液晶构成。偏振板68通过粘接层67粘接固定在TFT阵列基板66的厚度方向另一方侧的表面。同样地，偏振板62通过粘接层63粘接固定在滤色器基板64的厚度方向一方侧的表面。此外，在液晶显示面板61的背面侧(厚度方向另一方侧)配设有作为光源的背光灯69。此外，液晶面板61安装在触摸面板100的触摸屏幕I。在本实施方式中，触摸屏幕I通过粘接层60被粘接固定在液晶显示面板61的前表面侧(在这里，偏振板62的厚度方向一方侧的表面)。像这样在本实施方式的液晶显示装置中，触摸屏幕I粘接固定在液晶显示面板61的前表面侧而变为一体。因此，能够省略以往需要的触摸屏幕I的保持机构，能够使液晶显示装置整体变薄。此外，由于能够抑制尘埃等混入触摸屏幕I与液晶显示面板61的缝隙中，所以能够抑制由于尘埃等的混入而产生的对显示的不良影响。在图51所示的TFT阵列基板66，从未图示的外部的驱动器电路输入与要显示的图像对应的信号(以下有时称为“图像信号”)。在TFT阵列基板66上按每个像素形成的TFT根据输入的图像信号对液晶层65的施加电压进行控制，使该液晶层65的液晶分子的取向方向变化。来自背光灯69的入射光透过偏振板68而变成直线偏振的光,通过液晶层65,由此根据显示的图像的信号，振动方向弯曲。而且，振动方向被弯曲的光通过形成在滤色器基板64的滤色器，由此分离成三原色的光，进而通过前表面侧的偏振板62，由此成为具有与图像信号对应的光强度的光。而且，进一步通过偏振板62的光通过位于其前表面的触摸屏幕1，作为显示光而被使用者观察到。通过这样，根据图像信号控制来自背光灯69的光的透射率，由此液晶显示装置进行所希望的显示。此外，具备触摸屏幕I的触摸面板100基于振荡周期的变化来计算触摸坐标值，将计算出的触摸坐标值作为触摸坐标数据而输出。在这里，在本实施方式中，在触摸屏幕I的列方向y与液晶显示面板61内的像素图案的列方向相互平行，并且触摸屏幕I的行方向X与液晶显示面板61内的像素图案的行方向相互平行的状态下，将液晶显示面板61安装在触摸屏幕I。根据这样的本实施方式的液晶显示装置，检测用列布线2及检测用行布线3各自的各曲折布线在相对于像素图案的排列方向倾斜的倾斜方向，相对于各像素而配置。因此，能够通过检测用列布线2及检测用行布线3均匀地覆盖液晶显示面板61的各像素的一部分。结果，能够使从液晶显示面板61整体出射的显示光穿透触摸屏幕I时的透射率均匀化，能够抑制莫尔条纹的产生。再有，本发明在其发明的范围内能够将实施方式适宜地变形、省略。附图标记说明
I触摸屏幕；2检测 用列布线；2a第I曲折布线；2b第2曲折布线；2aSl、2aS2、2bSl、2bS2、2cSl、2cS2、2dSl、2dS2、2eSl、2eS2、2eS3、2eS4、3aSl、3aS2、3bSl、3bS2、3cSl、3cS2、3dSl、3dS2倾斜部分；2e、3e分路布线；2F、3F浮动布线；2G、2K、3G、3K伪连结布线；3检测用行布线；3a第5曲折布线；3b第6曲折布线；6列方向布线束；7行方向布线束；8、9引出布线；10端子；12基础基板；13层间绝缘膜；14保护膜；15粘接层；16保护玻璃；17 FPC ；18控制器基板；19开关电路；20检测处理电路；21伪列布线；22伪行布线；23伪列方向布线束；24伪行方向布线束；61液晶显示面板；72伪列布线；73伪行布线；74、75电介质；80、81、82检测用列方向布线束；100触摸面板；200触摸屏幕;A栅格；Cl、C2、R1、R2块区域；M1、M2检测用布线束的块区域；N1、N2、N3伪布线束的块区域；N2p、N3p图案；A1、A2、A3、B1、B2、B3 连结点;Ala、A2a、A3b、A4b、Bla、B2a、B3b、B4b 顶点。
权利要求
1.一种触摸屏幕，其特征在于，具备: 透明基板； 矩形状的列方向布线束及矩形状的行方向布线束，形成在所述透明基板上，所述列方向布线束包含被电共同连接的多个检测用列布线，所述行方向布线束包含被电共同连接的多个检测用行布线；以及 矩形状的伪列方向布线束及矩形状的伪行方向布线束，所述伪列方向布线束包含被电共同连接的多个伪列布线，所述伪行方向布线束包含被电共同连接的多个伪行布线， 所述伪列方向布线束设置在包含多个所述检测用列布线及所述检测用行布线的检测区域的最外侧的检测用列布线的更外侧， 所述伪行方向布线束设置在包含多个所述检测用列布线及所述检测用行布线的检测区域的最外侧的检测用行布线的更外侧， 在俯视中，规定有将所述列方向布线束和所述行方向布线束交叉的交叉区域分割而成的多个检测块区域，规定有将所述伪列方向布线束和所述行方向布线束交叉的交叉区域分割而成的多个伪列块区域，规定有将所述伪行方向布线束和所述列方向布线束交叉的交叉区域分割而成的多个伪行块区域，规定有构成所述检测块区域、所述伪列块区域、伪行块区域的多个图案， 所述伪列块区域的所述图案的个数或所述伪行块区域的所述图案的个数，比所述检测块区域的所述图案的个数小。
2.一种触摸面板，其中，具备: 权利要求1所述的触摸屏幕； 开关电路，依次选择多个所述列方向布线束的每一个及多个所述行方向布线束的每一个；以及 检测处理电路，基于在通过所述开关电路选择的所述列方向布线束与触摸所述触摸屏幕的指示体之间形成的静电电容，以及在通过所述开关电路选择的所述行方向布线束与所述指示体之间形成的静电电容的检测结果，进行表示所述指示体的触摸位置的所述触摸屏幕中的触摸坐标的计算处理。
3.一种触摸面板，其中，具备: 权利要求1所述的触摸屏幕； 开关电路，依次选择多个所述列方向布线束的每一个及多个所述行方向布线束的每一个；以及 检测处理电路，基于与指示体向所述触摸屏幕的触摸对应的、通过所述开关电路选择的所述列方向布线束与所述行方向布线束之间的互电容的变化的检测结果，进行表示所述指示体的触摸位置的所述触摸屏幕中的触摸坐标的计算处理。
4.一种显示装置，其中，具备: 权利要求2或权利要求3所述的触摸面板；以及 显示面板，安装在所述触摸面板的所述触摸屏幕。
5.根据权利要求4所述的显示装置，其中， 所述触摸屏幕被粘接固定在所述显示面板的前表面侧。
6.根据权利要求5所述的显示装置，其中，所述触摸屏幕的所述列方向与所述显示面板内的像素图案的列方向相互平行， 所述触摸屏幕的所述行方向与所述显示面板内的所述像素图案的行方向相互平行。
7.一种触摸屏幕，其特征在于，具备: 透明基板； 矩形状的列方向布线束及矩形状的行方向布线束，形成在所述透明基板上，所述列方向布线束包含被电共同连接的多个检测用列布线，所述行方向布线束包含被电共同连接的多个检测用行布线； 第I浮动布线，形成在与所述行方向布线束相同的布线层，与所述列方向布线束及所述行方向布线束非连接；以及 第2浮动布线，形成在与所述列方向布线束相同的布线层，与所述列方向布线束及所述行方向布线束非连接， 所述触摸屏幕还具备:矩形状的伪列方向布线束及矩形状的伪行方向布线束，所述伪列方向布线束包含被电共同连接的多个伪列布线，所述伪行方向布线束包含被电共同连接的多个伪行布线， 所述伪列方向布线束设置在包含多个所述检测用列布线及所述检测用行布线的检测区域的最外侧的检测用列布线的更外侧， 所述伪行方向布线束设置在包含多个所述检测用列布线及所述检测用行布线的检测区域的最外侧的检测用行布线的更外侧， 在俯视中，规定有将所述列方向布线束和所述行方向布线束交叉的交叉区域分割而成的多个检测块区域，规定有将 所述伪列方向布线束和所述行方向布线束交叉的交叉区域分割而成的多个伪列块区域，规定有将所述伪行方向布线束和所述列方向布线束交叉的交叉区域分割而成的多个伪行块区域， 在各所述检测块区域中，设置有所述检测用列布线及所述第I浮动布线，或所述检测用行布线及所述第2浮动布线， 在所述伪列块区域或所述伪行块区域中，不具有电非连接的浮动布线。
8.一种触摸面板，其中，具备: 权利要求7所述的触摸屏幕； 开关电路，依次选择多个所述列方向布线束的每一个及多个所述行方向布线束的每一个；以及 检测处理电路，基于在通过所述开关电路选择的所述列方向布线束与触摸所述触摸屏幕的指示体之间形成的静电电容，以及在通过所述开关电路选择的所述行方向布线束与所述指示体之间形成的静电电容的检测结果，进行表示所述指示体的触摸位置的所述触摸屏幕中的触摸坐标的计算处理。
9.一种触摸面板，其中，具备: 权利要求7所述的触摸屏幕； 开关电路，依次选择多个所述列方向布线束的每一个及多个所述行方向布线束的每一个；以及 检测处理电路，基于与指示体向所述触摸屏幕的触摸对应的、通过所述开关电路选择的所述列方向布线束与所述行方向布线束之间的互电容的变化的检测结果，进行表示所述指示体的触摸位置的所述触摸屏幕中的触摸坐标的计算处理。
10.一种显不装置,其中，具备: 权利要求8或权利要求9所述的触摸面板；以及 显示面板，安装在所述触摸面板的所述触摸屏幕。
11.根据权利要求10所述的显示装置，其中， 所述触摸屏幕粘接固定在所述显示面板的前表面侧。
12.根据权利要求10所述的显示装置，其中， 所述触摸屏幕的所述列方向与所述显示面板内的像素图案的列方向相互平行， 所述触摸屏 幕的所述行方向与所述显示面板内的所述像素图案的行方向相互平行。
全文摘要
本发明涉及触摸屏幕、触摸面板以及具备其的显示装置，其目的在于在触摸面板中能够减少列方向布线束与行方向布线束之间的电容，进而降低伪行方向布线束与伪行方向布线束的断线的概率。在触摸屏幕(1)中，与将列方向布线束(6)与行方向布线束(7)交叉的交叉区域(A)分割而成的多个检测块区域的图案的数量相比，使将伪列方向布线束(23)与行方向布线束(7)的交叉区域分割而成的伪列块区域的图案的数量减小。
文档编号G06F3/044GK103246387SQ20131004018
公开日2013年8月14日 申请日期2013年2月1日 优先权日2012年2月1日
发明者今村卓司, 中村达也, 森成一郎, 宫山隆, 上里将史, 中川直纪, 大野岳 申请人:三菱电机株式会社