光学触控系统及触控检测方法
【专利摘要】一种光学触控系统及触控检测方法。该光学触控系统，包括触控面、反射结构及多个检测模块。反射结构及检测模块配置于触控面的周缘。各检测模块具有发光单元与检测单元。检测单元获取发光单元发出的检测光被反射结构反射后的亮度值分布，以检测触控输入。触控面的周缘包括第一区段及第二区段。当位于第一区段的发光单元发出检测光时，检测光在位于第二区段的检测模块处不被反射结构反射而产生低亮度区，且位于第二区段的发光单元对应地发出补偿光。此外，一种触控检测方法亦被提及。
【专利说明】光学触控系统及触控检测方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种触控系统及触控检测方法，特别是涉及一种光学触控系统及触控 检测方法。
【背景技术】
[0002] 近年来触控式的电子产品由于操作方便，直觉性高，因此深受消费者喜爱而已渐 渐成为市场上的主流趋势。在以往使用的电阻式、电容式、背投影式的触控屏幕中，以电容 式触控屏幕的触控效果最好，但其成本亦最为昂贵，且会随着屏幕尺寸的变大而增加，因而 限制了电容式触控屏幕的应用。为寻求电容式触控屏幕的替代方案，目前有一种利用光学 元件检测触控位置的光学式触控屏幕，其具有成本低、准确度佳等优点，在竞争的市场中更 具有优势，目前也已成为大尺寸触控屏幕的另外一种选择。
[0003] 现有的一种光学式触控屏幕是利用在屏幕的周边或角落适当位置处设置至少二 个由影像感测器与发光单元搭配组成的光学模块，并在屏幕四周围设置反光边框，藉由发 光单元照亮反光边框反射光线，并由影像感测器补捉反射光线明暗状态而判断是否有物体 存在屏幕上以及计算物体的位置。例如，当使用者以手指（或其它物体）伸触至屏幕上时， 光学模块可感测手指遮断反光边框反射光线所产生的阴影的位置，进而可推算出手指触碰 点的精确位置。一般而言，二组光学模块仅能正确感测二根手指在屏幕上的位置，若是要检 测更多手指的触控点位置则需要增加更多组光学模块来实现。然而，超过二组光学模块的 其它光学模块将被安装在邻接所述二组光学模块或是所述二组光学模块对面的边框或角 落的位置，如此会造成至少其中一组光学模块产生"对看"的问题，具体说明如下。由于光学 模块的设置位置是无反光边框的位置（例如二反光边框的间隙），因此当其中一个光学模 块（以下称光学模块A)的发光单兀发光至邻接与对向的反光边框时，位于对向的反光边框 间隙的另一个光学模块（以下称光学模块B)无法产生相当于反光边框反光强度的足够反 射光线，因此光学模块A的影像感测器将会感测到光学模块B处的反光强度不足而为暗点， 而误判为是有触控物（例如人的手指）挡住反射光线，导致此光学触控系统无法辨识何者 为真实触控物而产生混淆，难以正确地判断究竟有多少触控物以及各触控物的精确位置。
【发明内容】
[0004] 据此，为解决前述现有技术的问题，本发明提供一种光学触控系统及触控检测方 法，其藉由巧妙地适时产生补偿光来补偿检测模块处反射光线不足的暗点问题，而能正确 地判断究竟有多少触控物以及各触控物的精确位置。
[0005] 本发明的光学触控系统包括一触控面、一反射结构及多个检测模块。反射结构配 置于触控面的周缘而围绕触控面。检测模块配置于触控面的周缘。各检测模块具有一发光 单元与一检测单元。各发光单元用以发出一检测光。各检测单元用以检测检测光被反射结 构反射后的一亮度值分布，以判断触控面上的各个位置是否接收触控输入。触控面的周缘 包括彼此相向的一第一区段及一第二区段。一部分检测模块位于第一区段而组成一第一群 组，另一部分检测模块位于第二区段而组成一第二群组。当第一群组的至少一发光单元往 第二区段发出检测光时，检测光在第二群组的检测模块处不被反射结构反射而使亮度值分 布产生至少一低亮度区，且第二群组的各发光单元发出一补偿光以对低亮度区进行补偿。
[0006] 本发明的触控检测方法适用于一光学触控系统。光学触控系统包括一触控面、一 反射结构及多个检测模块。各检测模块具有一发光单元及一检测单元。部分检测模块组成 一第一群组，另一部分检测模块组成一第二群组。触控检测方法包括以下步骤。藉由第一 群组的至少一发光单元发出一检测光，其中检测光在第二群组的这些检测模块处不被反射 结构反射，而使检测光被反射结构反射后的一亮度值分布产生至少一低亮度区。藉由第二 群组的各发光单元发出一补偿光以对低亮度区进行补偿。藉由第一群组的各检测单元检测 亮度值分布，以判断触控面上的各个位置是否接收触控输入。
[0007] 为使本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并结合附图详细 说明如下。
【专利附图】
【附图说明】
[0008] 图1是本发明一实施例的光学触控系统的示意图。
[0009] 图2是图1的光学触控系统的触控检测方法流程图。
[0010] 图3是图1的第一群组与第二群组切换操作状态的示意图。
[0011] 图4是图1的光学触控系统的部分元件方块图。
[0012] 图5是图1的检测光被反射结构反射后的亮度值分布图。
[0013] 图6A至图6C是图5的低亮度区所造成的讯号缺陷被补偿的示意图
[0014] 图7是本发明另一实施例的光学触控系统的示意图。
[0015] 附图符号说明
[0016] 50a、50b、50c、50d :第一发光兀件
[0017] 60a、60b、60c、60d :第二发光兀件
[0018] 100、200 :光学触控系统
[0019] 110、210:触控面
[0020] 120、220 :反射结构
[0021] 120a ?120d:间隙
[0022] 122 :反射边条
[0023] 130a ?130d、230a ?230f :检测模块
[0024] 132a、132b、132c、132d :发光单元
[0025] 134a、134b、134c、134d :检测单元
[0026] 140 :处理单元
[0027] 150 :光源控制器
[0028] D :亮度值分布
[0029] d :低亮度区
[0030] f :讯号缺陷
[0031] G1、G1' ：第一群组
[0032] G2、G2' ：第二群组
[0033] LI、LI' ：检测光
[0034] L2、L2' ：补偿光
[0035] OB :物体
[0036] R1 :第一区段
[0037] R2 :第二区段
[0038] S :讯号
[0039] VI :基准值
[0040] V2:阈值
[0041] X:位置
【具体实施方式】
[0042] 图1是本发明一实施例的光学触控系统的示意图。请参考图1，本实施例的光学 触控系统100包括一触控面110、一反射结构120及多个检测模块130a?130d(绘示为四 个）。光学触控系统100例如应用于显示装置或其它触控装置（如电子白板），而触控面 110可为显示装置的显示面、触控装置的操作面或与上述显示面及操作面相距微小距离的 平面。
[0043] 反射结构120配置于触控面110的周缘而围绕触控面110。反射结构120包括多 个反射边条122 (绘示为四个），这些反射边条122沿触控面110的周缘间隔地排列而形成 多个间隙120a?120d(绘示为四个）。这些检测模块130a?130d配置于触控面110的 周缘且分别位于这些间隙120a?120d。触控面110的周缘包括彼此相向的一第一区段R1 及一第二区段R2,检测模块130a及检测模块130b位于第一区段R1而组成第一群组G1，检 测模块130c及检测模块130d位于第二区段R2而组成第二群组G2。
[0044] 在本实施例中，各检测模块具有一发光单元与一检测单元。具体而言，检测模块 130a具有一发光单元132a与一检测单元134a，检测模块130b具有一发光单元132b与一 检测单元134b，检测模块130c具有一发光单元132c与一检测单元134c，检测模块130d具 有一发光单元132d与一检测单元134d。各发光单元可发出检测光，各检测单元可获取检测 光被反射结构120反射后的亮度值分布，以检测触控面110上的触控输入，详述如下。
[0045] 如图1所示，第一群组G1的发光单元132a及发光单元132b可同时或轮流往第二 区段R2发出检测光L1 (绘示为发光单元132a及发光单元132b同时发出检测光）。第一群 组G1的检测单元134a及检测单元134b可检测检测光L1被反射结构120反射后的亮度值 分布，以感测物体0B(如使用者的手指）遮断反射结构120所反射光线而产生的阴影的位 置，进而推算出物体0B触碰点的位置，藉以判断触控面110上的各个位置是否接收触控输 入。
[0046] 由于反射结构120在第二区段R2具有对应于第二群组G2的检测模块132c及检 测模块132d的间隙120c及间隙120d，因此在上述触控检测过程中，检测光L1在第二群组 G2的检测模块132c及检测模块132d处不被反射结构120反射而使上述亮度值分布产生 低亮度区。相应地，第二群组G2的发光单元132c及发光单元132d发出补偿光L2以对上 述低亮度区进行补偿。据此，检测模块132c及检测模块132d处因反射光线不足而产生的 暗点（即上述低亮度区）问题可藉由补偿光L2而被补偿，以使检测单元134a及检测单元 134b能够正确地判断触控物OB的数量及位置。
[0047] 以下以图1的光学触控系统100为例，对本发明的触控检测方法进行说明。图2是 图1的光学触控系统的触控检测方法流程图。请参考图1及图2,藉由第一群组G1的发光 单元132a及132b发出检测光L1，其中检测光L1在第二群组G2的检测模块130c及130d 处不被反射结构120反射，而使检测光L1被反射结构120反射后的亮度值分布产生低亮度 区（步骤S602)。藉由第二群组G2的发光单元132c及132d发出补偿光L2以对低亮度区 进行补偿（步骤S604)。藉由第一群组G1的检测单元134a及134b检测亮度值分布，以判 断触控面110上的各个位置是否接收触控输入（步骤S606)。
[0048] 图3是图1的第一群组与第二群组切换操作状态的示意图。请参考图3,相似于图 1所示的触控检测原理，第二群组G2的发光单元132c及发光单元132d可同时或轮流往第 一区段R1发出检测光L1'（绘示为发光单元132c及发光单元132d同时发出检测光）。第 二群组G2的检测单元134c及检测单元134d可检测检测光L1'被反射结构120反射后的 亮度值分布，以感测物体0B(如使用者的手指）遮断反射结构120所反射光线而产生的阴 影的位置，进而推算出物体0B触碰点的精确位置，藉以判断触控面110上的各个位置是否 接收触控输入。
[0049] 由于反射结构120在第一区段R1具有对应于第一群组G1的检测模块132a及检 测模块132b的间隙120a及间隙120b，因此在上述触控检测过程中，检测光L1'在第一群 组G1的检测模块132a及检测模块132b处不被反射结构120反射而使上述亮度值分布产 生低亮度区。相应地，第一群组G1的发光单元132a及发光单元132b发出补偿光L2'以对 上述低亮度区进行补偿。据此，检测模块132a及检测模块132b处因反射光线不足而产生 的暗点（即上述低亮度区）问题可藉由补偿光L2'而被补偿，以使检测单元134c及检测单 元134d能够正确地判断触控物0B的数量及位置。
[0050] 图3所示的第一群组与第二群组的操作状态的具体流程如下。藉由第二群组G2 的发光单元132c及132d发出检测光L1'，其中检测光L1'在第一群组G1的检测模块130a 及130b处不被反射结构120反射，而使检测光L1'被反射结构120反射后的亮度值分布产 生低亮度区。接着，藉由第一群组G1的发光单元132a及132b发出补偿光L2'以对低亮度 区进行补偿。然后，藉由第二群组G2的检测单元134c及134d检测亮度值分布，以判断触 控面110上的各个位置是否接收触控输入。
[0051] 在本实施例中，当第一群组G1的发光单元132a及发光单元132b如图1所示往第 二区段R2发出检测光L1时，第二群组G2的功能在于藉其发光单元132c及发光单元132d 发出对应的补偿光L2,故此时将第二群组G2的发光单元132c及发光单元132d控制为不发 出检测光L1'（标示于图3)且将第二群组G2的检测单元134c及检测单元134d控制为不 作用或是对检测到的亮度值分布不进行处理。当第二群组G2的发光单元132c及发光单元 132d如图3所示往第一区段R1发出检测光L1'时，第一群组G1的功能在于藉其发光单元 132a及发光单元132b发出对应的补偿光L2'，故此时将第一群组G1的发光单元132a及发 光单元132b控制为不发出检测光L1 (标示于图1)且将第一群组G1的检测单元134a及检 测单元134b控制为不作用（包含不予驱动而不致能或是对检测到的亮度值分布不进行处 理）。
[0052] 本实施例的光学触控系统100例如是不断地交替切换于图1所示操作状态与图3 所示操作状态，以在第一群组G1发出检测光L1的同时，如上述般利用第二群组G2发出的 补偿光L2对反射结构120的间隙120c及间隙120d造成的低亮度区进行补偿，并在第二群 组G2发出检测光L1'的同时，如上述般利用第一群组G1发出的补偿光L2'对反射结构120 的间隙120a及间隙120b造成的低亮度区进行补偿，藉以使光学触控系统100在利用数量 较多的检测模块130a?130d进行多点触控检测时仍能具有良好的检测准确度。
[0053] 图4是图1的光学触控系统的部分元件方块图。请参考图1、图3及图4,在本实 施例中，光学触控系统100还包括一处理单元140及一光源控制器150。处理单元140用以 判断图1所示的补偿光L2是否足以对反射结构120的间隙120c及120d造成的低亮度区 进行补偿，且用以判断图3所示的补偿光L2'是否足以对反射结构120的间隙120a及120b 造成的低亮度区进行补偿。光源控制器150用以控制发光单元132a及132b如图1所示发 出检测光L1或如图3所示发出补偿光L2'，且用以控制发光单元132c及132d如图3所示 发出检测光L1'或如图1所示发出补偿光L2。可藉由光源控制器150控制第一群组G1及 第二群组G2轮流发出检测光，以使光学触控系统100不断地交替切换于图1所示操作状态 与图3所示操作状态。此外，当光源控制器150控制第一群组G1发出检测光L1时，光源控 制器150更进一步控制第一群组G1的发光单元132a及发光单元132b同时或轮流发出检 测光L1，而当光源控制器150控制第二群组G2发出检测光L1'时，光源控制器150更进一 步控制第二群组G2的发光单元132c及发光单元132d同时或轮流发出检测光L1'。
[0054] 在本实施例中，例如藉由光源控制器150将第二群组G2发出的补偿光L2的强度 控制为低于第一群组G1发出的检测光L1的强度，且将第一群组G1发出的补偿光L2'的强 度控制为低于第二群组G2发出的检测光L1'的强度。对第一群组G1及第二群组G2进行 上述控制的原因在于，检测光（L1或L1'）经反射结构120反射后的反射光强度会低于原检 测光强度，故若补偿光（L2或L2'）强度相同或大于检测光强度，会使检测单元接收到的补 偿光强度大于检测光的反射光强度而造成过度曝光的现象，进而让检测单元的检测讯号失 真。
[0055] 以下藉由附图具体说明上述补偿光对低亮度区的补偿方式。图5是图1的检测光 被反射结构反射后的亮度值分布图。图6A至图6C是图5的低亮度区所造成的讯号缺陷被 补偿的示意图。以图1中的发光单元132a及发光单元132b发出的检测光L1以及反射结 构120的间隙120c为例，发光单元132a及发光单元132b发出的检测光L1被反射结构120 反射后例如具有图5所示的亮度值分布D，反射结构120在间隙120c处无法反射检测光L1 而在亮度值分布D中形成低亮度区d。图6A至图6C所示的讯号S为对应于图5的亮度值 分布D的检测讯号，其中图5的低亮度区d会使讯号S产生图6A所示的讯号缺陷f。
[0056] 低亮度区d及对应的讯号缺陷f的存在会让光学触控系统100将其误判为触控输 入，故需藉由图1的发光单元132c所发出的补偿光L2对讯号缺陷f进行如图6B至图6C 示的补偿。具体来说，在本实施例中，若发光单元132c发出的补偿光L2未能将讯号缺陷f 补偿至图6C所示状态而被处理单元140判断为不足以对讯号缺陷f及对应的低亮度区d 进行补偿，则图4的光源控制器150相应地调升补偿光L2的强度，直到补偿光L2的亮度相 当于检测光L1的反射光亮度而将讯号缺陷f补偿至图6C所示状态，此时补偿光L2被处理 单元140判断为足以对讯号缺陷f及对应的低亮度区d进行补偿。
[0057] 在本实施例中，当补偿光L2将低亮度区d的亮度值补偿至等于图5所示的基准值 VI时，低亮度区d被完全地补偿且图4的处理单元140如上所述判断补偿光L2足以对低亮 度区d进行补偿。但本发明不对处理单元140的判断标准加以限制，处理单元140对于补 偿光L2亦可具有较低的判断标准。举例来说，在光学触控系统100的触控检测灵敏度被设 定为较低的情况下（例如触控检测灵敏度被设定为，当检测到图5所示的位置X的亮度值 低于阈值V2时才判定在位置X处接收触控输入），可相应地将处理单元140的判断标准定 订为，若补偿光L2将低亮度区d的亮度值补偿至等于或大于阈值V2,则处理单元140判断 补偿光L2足以对低亮度区d进行补偿，其中阈值V2例如为基准值VI的75%或其它小于基 准值VI的适当数值。阈值V2及基准值VI例如分别对应于图6B所示的讯号状态及图6C 所示的讯号状态，若处理单元140的判断标准如上述般具有较低的设定值，则当讯号S被补 偿至图6B所示状态时即代表补偿光L2足以对讯号缺陷f及对应的低亮度区d进行补偿。
[0058] 本实施例的各发光单元是利用两个发光元件分别发出检测光及补偿光，具体说明 如下。请参考图1及图3,发光单兀132a包括一第一发光兀件50a及一第二发光兀件60a， 分别用以发出检测光L1及补偿光L2'。相似地，发光单兀132b包括一第一发光兀件50b及 一第二发光兀件60b，分别用以发出检测光L1及补偿光L2'。发光单兀132c包括一第一发 光兀件50c及一第二发光兀件60c，分别用以发出检测光L1'及补偿光L2。发光单兀132d 包括一第一发光兀件50d及一第二发光兀件60d，分别用以发出检测光L1'及补偿光L2。但 本发明不以此为限，在其它实施例中，各发光单元可仅包括一个发光元件，且此发光元件的 发光强度可被调整，以发出检测光或发出补偿光。上述发光元件例如为发光二极管（light emitting diode, LED)光源或其它适当形式的光源，本发明不对此加以限制。
[0059] 本发明不对检测模块的数量加以限制，以下藉由附图对此举例说明。图7是本发 明另一实施例的光学触控系统的示意图。在图7的光学触控系统200中，显示面210、反射 结构220、第一群组G1'及第二群组G2'的配置与作用方式类似于图1及图3的显示面110、 反射结构120、第一群组G1及第二群组G2的配置与作用方式，于此不再赘述。光学触控系 统200与光学触控系统100的不同之处在于检测模块的数量，如图7所示，第一群组G1'包 含了四个检测模块，即检测模块230a、检测模块230b、检测模块230c及检测模块230d，而第 二群组G2'包含了两个检测模块，即检测模块230e及检测模块230f。在其它实施例中，第 一群组G1'及第二群组G2'可分别具有其它适当数量的检测模块，本发明不对此加以限制。
[0060] 此外，本发明前述的实施例中例如图1中的第一区段R1及第二区段R2是分别指 触控面110的上侧与下侧，但其区分并不以此为限，例如亦可以将触控面110水平对分而以 上半区域为第一区段R1而下半区域为第二区段R2,或是将触控面110垂直对分而以左半区 域为第一区段R1而右半区域为第二区段R2,亦或是将触控面110以对角对分而以左上半区 域为第一区段R1而右下半区域为第二区段R2,或是其它只要能将造成对看的多个检测模 块予以以合理方式适当区分群组皆可。
[0061] 综上所述，在本发明的光学触控系统中，当第一群组的发光单元发出检测光以对 触控输入进行检测时，相向于第一群组的第二群组的发光单元会发出补偿光，以使反射结 构的间隙处因反射光线不足而产生的暗点问题可藉由补偿光而被补偿，同时，第二群组的 检测单元不作用。反之，当第二群组的发光单元发出检测光以对触控输入进行检测时，第一 群组亦以相同的作用方式利用补偿光对暗点问题进行补偿同时亦不检测，以让检测单元能 够正确地判断触控物的数量及位置，使光学触控系统能够利用数量较多的检测模块准确地 进行多点触控感测。
[0062] 虽然本发明已以实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，本领域的技术人员， 在不脱离本发明的精神和范围的前提下，可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围是 以本发明的权利要求为准。
【权利要求】
1. 一种光学触控系统，包括： 一触控面； 一反射结构，配置于该触控面的周缘而围绕该触控面；以及 多个检测模块，配置于该触控面的周缘，其中各该检测模块具有一发光单元与一检测 单元，各该发光单元用以发出一检测光，各该检测单元用以检测该检测光被该反射结构反 射后的一亮度值分布，以判断该触控面上的各个位置是否接收触控输入， 其中该触控面的周缘包括彼此相向的一第一区段及一第二区段，一部分这些检测模块 位于该第一区段而组成一第一群组，另一部分这些检测模块位于该第二区段而组成一第二 群组，当该第一群组的至少一该发光单元往该第二区段发出该检测光时，该检测光在该第 二群组的这些检测模块处不被该反射结构反射而使该亮度值分布产生至少一低亮度区，且 该第二群组的各该发光单元发出一补偿光以对该低亮度区进行补偿。
2. 如权利要求1所述的光学触控系统，其中当该第二群组的至少一该发光单元往该第 一区段发出该检测光时，该检测光在该第一群组的这些检测模块处不被该反射结构反射而 使该亮度值分布产生至少一低亮度区，且该第一群组的各该发光单元发出一补偿光以对该 低亮度区进行补偿。
3. 如权利要求1所述的光学触控系统，其中当该第一群组的至少一该发光单元往该第 二区段发出该检测光时，该第二群组的各该发光单元不发出该检测光且该第二群组的各该 检测单元不作用，当该第二群组的至少一该发光单元往该第一区段发出该检测光时，该第 一群组的各该发光单元不发出该检测光且该第一群组的各该检测单元不作用。
4. 如权利要求1所述的光学触控系统，其中该补偿光的强度低于该检测光的强度。
5. 如权利要求1所述的光学触控系统，其中各该发光单元包括一发光元件，该发光元 件的发光强度可被调整，以发出该检测光或发出该补偿光。
6. 如权利要求1所述的光学触控系统，其中各该发光单元包括一第一发光元件及一第 二发光元件，该第一发光元件用以发出该检测光，该第二发光元件用以发出该补偿光。
7. 如权利要求1所述的光学触控系统，还包括： 一处理单元，用以判断该补偿光是否足以对该低亮度区进行补偿；以及 一光源控制器，用以控制各该发光单元发出该检测光或该补偿光，其中若该补偿光不 足以对该低亮度区进行补偿，则该光源控制器调升该补偿光的强度，直到该补偿光足以对 该低亮度区进行补偿。
8. 如权利要求7所述的光学触控系统，其中若该补偿光可将该低亮度区的亮度值补偿 至等于或大于一阈值，则该处理单元判断该补偿光足以对该低亮度区进行补偿。
9. 如权利要求8所述的光学触控系统，其中当该补偿光将该低亮度区的亮度值补偿至 等于一基准值时，该低亮度区被完全地补偿，该阈值低于该基准值。
10. 如权利要求1所述的光学触控系统，其中该反射结构包括多个反射边条，这些反射 边条沿该触控面的周缘间隔地排列而形成多个间隙，这些检测模块分别位于这些间隙。
11. 一种触控检测方法，适用于一光学触控系统，该光学触控系统包括一触控面、一反 射结构及多个检测模块，各该检测模块具有一发光单元及一检测单元，部分这些检测模块 组成一第一群组，另一部分这些检测模块组成一第二群组，该触控检测方法包括： 藉由该第一群组的至少一该发光单元发出一检测光，其中该检测光在该第二群组的这 些检测模块处不被该反射结构反射，而使该检测光被该反射结构反射后的一亮度值分布产 生至少一低亮度区； 藉由该第二群组的各该发光单元发出一补偿光以对该低亮度区进行补偿；以及 藉由该第一群组的各该检测单元检测该亮度值分布，以判断该触控面上的各个位置是 否接收触控输入。
12. 如权利要求11所述的触控检测方法，还包括： 藉由该第二群组的至少一该发光单元发出一检测光，其中该检测光在该第一群组的这 些检测模块处不被该反射结构反射，而使该检测光被该反射结构反射后的一亮度值分布产 生至少一低亮度区； 藉由该第一群组的各该发光单元发出一补偿光以对该低亮度区进行补偿；以及 藉由该第二群组的各该检测单元检测该亮度值分布，以判断该触控面上的各个位置是 否接收触控输入。
13. 如权利要求12所述的触控检测方法，还包括： 当该第一群组的至少一该发光单元发出该检测光时，该第二群组的各该发光单元不发 出该检测光且该第二群组的各该检测单元不作用；以及 当该第二群组的至少一该发光单元发出该检测光时，该第一群组的各该发光单元不发 出该检测光且该第一群组的各该检测单元不作用。
14. 如权利要求12所述的触控检测方法，藉由各该发光单元发出该检测光的步骤包 括： 藉由一光源控制器控制该第一群组及该第二群组轮流发出该检测光。
15. 如权利要求12所述的触控检测方法，其中藉由各该发光单元发出该检测光的步骤 包括： 藉由一光源控制器控制该第一群组的这些发光单元同时或轮流发出该检测光；以及 藉由该光源控制器控制该第二群组的这些发光单元同时或轮流发出该检测光。
16. 如权利要求11所述的触控检测方法，其中藉由各该发光单元发出该检测光及该补 偿光的步骤包括： 当该第一群组发出该检测光与该补偿光的其中之一且该第二群组发出该检测光与该 补偿光的其中的另一时，藉由一光源控制器将该补偿光的强度控制为低于该检测光的强 度。
17. 如权利要求11所述的触控检测方法，还包括： 藉由一处理单元判断该补偿光是否足以对该低亮度区进行补偿；以及 若该补偿光不足以对该低亮度区进行补偿，则藉由一光源控制器调升该补偿光的强 度，直到该补偿光足以对该低亮度区进行补偿。
18. 如权利要求17所述的触控检测方法，其中判断该补偿光是否足以对该低亮度区进 行补偿的步骤包括： 若该补偿光可将该低亮度区的亮度值补偿至等于一基准值而使该低亮度区被完全地 补偿，则该处理单元判断该补偿光足以对该低亮度区进行补偿。
19. 如权利要求17所述的触控检测方法，其中判断该补偿光是否足以对该低亮度区进 行补偿的步骤包括： 若该补偿光可将该低亮度区的亮度值补偿至等于或大于一阈值，则该处理单元判断该 补偿光足以对该低亮度区进行补偿，其中该阈值低于一基准值，当该补偿光将该低亮度区 的亮度值补偿至等于该基准值时，该低亮度区被完全地补偿。
【文档编号】G06F3/042GK104142761SQ201310222408
【公开日】2014年11月12日 申请日期:2013年6月6日 优先权日:2013年5月7日
【发明者】陈裕彦 申请人:纬创资通股份有限公司