一种通过i2c从设备调试mcu的芯片及方法
一种通过i2c从设备调试mcu的芯片及方法
【专利摘要】本发明公开了一种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法，属于电子电路【技术领域】。该芯片包括I2C总线、以及通过I2C总线相连的MCU、I2C从设备和两个以上外设，I2C从设备还用于在芯片外部I2C主设备的控制下进入或退出调试MCU的模式。采用本发明实施例，在对I2C从设备的通用功能不影响的情况下，还可以作为调试接口，不用额外增加其他调试接口就可以实现调试功能，节省了对资源的消耗。
【专利说明】—种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子电路【技术领域】，尤其涉及一种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法。
【背景技术】
[0002]在传统的芯片系统中，I2C从设备通常是作为通用的数据传输接口。芯片外部与MCU进行通信和调试主要是使用JTAG、UART等方式，这样在芯片没有集成JTAG、UART等接口时，就要为调试增加了额外的接口，浪费了系统资源。
【发明内容】
[0003]有鉴于此，本发明要解决的技术问题是提供一种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法，以使I2C从设备可随时停住和释放MCU，且可与MCU执行的程序进行握手操作，用I2C从设备来实现外设对MCU的调试的功能，节省系统资源，并让调试更灵活。
[0004]本发明解决上述技术问题所采用的技术方案如下:
[0005]根据本发明的一个方面，提供的一种通过I2C从设备调试MCU的芯片包括I2C总线、以及通过I2C总线相连的MCU、I2C从设备和两个以上的外设，其中，I2C从设备还用于在芯片外部I2C主设备的控制下进入或退出调试MCU的模式。
[0006]优选地，I2C从设备包括I2C有限状态机、命令解析模块、I2C中断处理模块、I2C寄存器、FIFO写模块和FIFO读模块，其中，命令解析模块、I2C中断处理模块、I2C寄存器、FIFO写模块和FIFO读模块均与I2C有限状态机相连，FIFO写模块和FIFO读模块还分别与命令解析模块相连，I2C寄存器还与I2C中断处理模块相连；
[0007]I2C从设备还包括模式控制模块，模式控制模块分别与命令解析模块和I2C有限状态机相连，用于接收命令解析模块发送的第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号，并等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；还用于接收到命令解析模块发送的第二预定的字符串后，释放总线，并向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
[0008]优选地，调试控制模块包括:
[0009]监测单元，用于监测是否接收到第一预定的字符串或者第二预定的字符串；
[0010]MCU控制单元，用于接收到第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号；还用于接收到第二预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
[0011]总线控制单元，用于接收到第一预定的字符串后，等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线；还用于接收到第二预定的字符串后，释放总线。
[0012]优选地，调试控制模块包括:
[0013]字符串寄存器701、比较器702、第一触发器703、第一非门704、第二非门705、第一与门706、第二与门707、第一或门708、计数器709、第一 MUX710、第二 MUX711、第二或门712、第二触发器713、第三与门714和第三触发器715，其中:
[0014]字符串寄存器701，用于接收I2C主设备写入的字符串；
[0015]比较器702，用于比较字符串寄存器701的字符串与预设的字符串是否相同，根据比较结果输出高电平或者低电平信号给第一触发器703 ；
[0016]第一触发器703，用于将比较器702的结果寄存一次，输出到第一非门704和第二与门707 ；
[0017]第一非门704，用于将第一触发器703的输出取反，然后输出到第一与门706 ；
[0018]第一与门706，用于根据比较器702的比较结果和第一非门704的结果进行与运算，用于抓取比较器702输出的信号的上升沿，当其上升沿到来时，产生一个周期的高脉冲输出到第一或门708 ；
[0019]第二非门705，用于将比较器702的输出取反，然后输出到第二与门707 ；
[0020]第二与门707 ;用于根据第二非门705的输出和第一触发器703的输出进行与运算，用于抓取比较器702的输出信号的下降沿，当其下降沿到来时，产生一个周期的高脉冲信号输出到第一或门708 ；
[0021]第一或门708，用于将来自第一与门706以及第二与门707的两个持续一个周期的高脉冲信号都输出给计数器709 ；
[0022]计数器709，用于根据来自第一或门708的持续一个周期的高脉冲信号作为触发条件，开始时钟周期的脉冲计数，计数完毕后输出一个时钟周期的脉冲到第一 MUX710)和第二 MUX711 ；
[0023]第一 MUX710，用于选择是输出低电平还是第二触发器713的输出值作为第二或门712的一个输入，当计数器709的输出为高时，选择低电平作为输出，否则，选择第二触发器713的输出值作为输出；
[0024]第二 MUX711，用于选择是输出高电平还是第三触发器715的输出值作为第三与门714的一个输入，当计数器709的输出为高时，选择高电平作为输出，否则，选择第三触发器715的输出值作为输出；
[0025]第二或门712以及第二触发器713，用于产生停住MCU的信号，当比较器702的输出转变为高时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器702的输出转变为低、并且由此触发的计数器709计数且计数结束而产生的一个周期的高脉冲到来时，将其输出拉低；
[0026]第三与门714以及第三触发器715，用于产生I2C占住总线的信号，当比较器702的输出转变为高、并且由此触发的计数器709计数且计数结束而产生的一个中期的高脉冲到来时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器702的输出转变为低时，将其输出拉低。
[0027]优选地，芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手包括:芯片外部的I2C主设备对外设的读或写操作控制。
[0028]优选地，预定的系统时钟周期数根据MCU执行其指令集中最长的一条执行所需要的时钟周期数来确定。
[0029]优选地，芯片内部外设包括:读寄存器、写寄存器、程序存储器、和/或数据存储器。[0030]根据本发明的另一个方面，提供的一种通过I2C从设备调试MCU的方法包括:
[0031]I2C从设备接收到第一预定的字符串后，先向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号;
[0032]等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；
[0033]接收到第二预定的字符串后，先释放总线，再向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
[0034]优选地，预定的系统时钟周期数根据MCU执行其指令集中最长的一条执行所需要的时钟周期数来确定。
[0035]优选地，芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手包括:芯片外部的I2C主设备对芯片外设的读或写操作控制。
[0036]本发明提供的一种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法，在对I2C从设备的通用功能不影响的情况下，使得I2C从设备可以访问芯片内部所有的外设，同时还可以停住和释放MCU，作为调试接口实现外部I2C主设备对芯片的MCU进行调试与MCU握手的功能。在芯片系统有I2C从设备功能的情况下，不用额外增加其他调试接口就可以实现调试功能，节省了对资源的消耗。
【专利附图】
【附图说明】
[0037]图1是本发明实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的芯片的控制示意图。
[0038]图2是本发明实施例提供的一种I2C从设备的结构示意图。
[0039]图3是本优选发明实施例提供的一种模式控制模块的结构示意图。
[0040]图4是本优选发明实施例提供的一种电路时序图。
[0041]图5是本发明实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的方法流程图。
[0042]图6是本发明优选实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的方法流程图。
【具体实施方式】
[0043]为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0044]实施例一
[0045]图1是本发明实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的芯片的控制示意图，该系统包括芯片10和I2C主设备20，其中:
[0046]芯片10，包括I2C总线101、MCU102、I2C从设备103和两个以上的外设104。MCU102、I2C从设备103和外设104通过I2C总线101相连。
[0047]其中，I2C总线101和MCU102属于现有技术，I2C从设备103除了保持现有的通用数据传输接口功能外，还可以用作调试接口，在芯片外部I2C主设备20的控制下进入或退出调试MCU的模式，从而达到选择用于通用数据传输接口或者调试接口。外设104也是现有的，包括但不限于包括读寄存器、写寄存器、程序存储器和数据存储器。
[0048]I2C主设备20，用于通过发送预设的字符串控制芯片10的I2C从设备103作为通用数据传输接口或者调试接口。
[0049]具体来说，在I2C主设备20需要对MCU102进行调试或者访问芯片中的外设104时，向芯片内部I2C从设备103发送预设的第一字符串，I2C从设备103接收到该预设的第一字符串后，先停住MCU102，且保持其所有状态不变，然后占据住I2C总线101，这时，外部I2C主设备20就可以完成所需要进行的任何操作；在操作完成之后，外部I2C主设备20再向内部I2C从设备103预设的第二字符串，I2C从设备103接收到该预设的第二字符串后，先释放I2C总线101，再释放MCU102。内部I2C从设备103可以像MCU102 —样控制所有的芯片内部的外设104，从而可以做到所有的调试工作都对MCU102透明，MCU102可以在被释放后正确的继续执行。
[0050]如图2所示是本发明实施例提供的一种I2C从设备的结构示意图，包括I2C有限状态机1031、命令解析模块1032、I2C中断处理模块1033、I2C寄存器1034、FIFO写模块1035、FIF0读模块1036和模式控制模块1037，命令解析模块1032、I2C中断处理模块1033、I2C寄存器1034、FIFO写模块1035和FIFO读模块1036均与I2C有限状态机1031相连，FIFO写模块1036和FIFO读模块1036还分别与命令解析模块1032相连，I2C寄存器1034还与I2C中断处理模块1033相连；模式控制模块1037分别与I2C有限状态机1031及命令解析模块1032相连，其中:
[0051]I2C有限状态机(Finite State Machine) 1031，用于对I2C从设备的工作状态控制以及与I2C主设备之间数据接收与发送。
[0052]命令解析模块(Command Decode) 1032,用于对I2C从设备接收到的命令进行解析。
[0053]I2C中断处理模块(Interrupts) 1033，用于对I2C从设备的中断控制，这是I2C从设备通用的通信功能。
[0054]I2C寄存器(Registers) 1034，用于I2C从设备与MCU之间的交互，这是I2C从设备通用的通信功能。
[0055]FIFO写模块1035，用于I2C从设备对芯片内外设的写操作控制。
[0056]FIFO写模块1036，用于I2C从设备对芯片内外设的读操作控制。
[0057]模式控制模块1037，用于接收所述命令解析模块1032发送的第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号，并等待预定的系统时钟周期数后占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；还用于接收到所述命令解析模块1032发送的第二预定的字符串后，释放总线，并向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
[0058]这里，等待预定的系统时钟周期数是为了使MCU有足够的时间将当前正在执行的指令执行完毕，故预定的时钟周期数可以根据本MCU执行其指令集中最长的一条执行所需要的时钟周期数来确定。
[0059]其中，模式控制模块1037可以通过硬件电路来实现，也可以通过运行在I2C从设备上软件程序来实现。按功能模块来划分，模式控制模块可以包括:监测单元、MCU控制单元和总线控制单元，其中:
[0060]监测单元，用于监测是否接收到第一预定的字符串或者第二预定的字符串；
[0061]MCU控制单元，用于接收到第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号；还用于接收到第二预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号。
[0062]总线控制单元，用于接收到第一预定的字符串后，等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线；还用于接收到第二预定的字符串后，释放总线。
[0063]本实施例提供的一种I2C从设备，通过增加模式控制模块，实现对MCU的停住或释放操作的控制以及MCU被停住期间对总线的完全占用或释放的控制，从而控制进入或退出调试MCU模式，使得I2C从设备根据需要充当通用数据传输接口或者调试接口。
[0064]如图3所示是本优选发明实施例提供的一种模式控制模块的结构示意图，该模块包括:字符串寄存器701、比较器702、第一触发器703、第一非门704、第二非门705、第一与门706、第二与门707、第一或门708、计数器709、第一 MUX(多路复用器)710、第二 MUX711、第二或门712、第二触发器713、第三与门714和第三触发器715，其中:
[0065]字符串寄存器701，用于接收I2C主设备写入的字符串；
[0066]比较器702，用于比较字符串寄存器701的字符串与预设的字符串是否相同，根据比较结果输出高电平或者低电平信号(在本图所示的逻辑结构中，均以高电平有效作为示例，但也可以设置低电平有效，当设置低电平有效时，后续电路都进行相反调整)给第一触发器703 ；
[0067]第一触发器703，用于将比较器702的结果寄存一次，输出到第一非门704和第二与门707 ；
[0068]第一非门704，用于将第一触发器703的输出取反，然后输出到第一与门706 ；
[0069]第一与门706，用于根据比较器702的比较结果和第一非门704的结果进行与运算，用于抓取比较器702输出的信号的上升沿(因为本示例图是以比较结果高电平有效方式设计的电路结构图)，当其上升沿(即比较结果由不相等转变为相等)到来时，产生一个周期的高脉冲输出到第一或门708 ；
[0070]第二非门705，用于将比较器702的输出取反，然后输出到第二与门707 ；
[0071]第二与门707 ;用于根据第二非门705的输出和第一触发器703的输出进行与运算，用于抓取比较器702的输出信号的下降沿(因为本示例图是以比较结果高有效方式设计的电路结构图)，当其下降沿(即比较结果由相等转变为不相等)到来时，产生一个周期的高脉冲信号输出到第一或门708 ；
[0072]第一或门708，用于将来自第一与门706以及第二与门707的两个持续一个周期的高脉冲信号都输出给后面的计数器709 ；
[0073]计数器709，用于根据来自第一或门708的持续一个周期的高脉冲信号作为触发条件，开始时钟周期的脉冲计数，计数完毕后输出一个时钟周期的脉冲到第一 MUX710和第二 MUX711。其中，计数周期个数以保证MCU最长的一条指令可以执行完为标准。
[0074]第一 MUX710，用于选择是输出低电平(“O”)还是第二触发器713的输出值作为后面的第二或门712的一个输入，当计数器709的输出为高时，选择低电平作为输出，否则，选择第二触发器713的输出值作为输出；
[0075]第二 MUX711，用于选择是输出高电平(“I”)还是第三触发器715的输出值作为后面的第三与门714的一个输入，当计数器709的输出为高时，选择高电平作为输出，否则，选择第三触发器715的输出值作为输出；
[0076]第二或门712以及第二触发器713，用于产生停住MCU的信号，在本示例中以该信号高有效作为示例，当比较器702的输出转变为高(即相等)时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器702的输出转变为低(即不相等)、并且由此触发的计数器709计数且计数结束而产生的一个周期的高脉冲到来时，将其输出拉低；
[0077]第三与门714以及第三触发器715，用于产生I2C占住总线的信号，在本示例中，该信号以高有效作为示例，当比较器702的输出转变为高(即相等)、并且由此触发的计数器709计数且计数结束而产生的一个中期的高脉冲到来时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器702的输出转变为低(即不相等)时，将其输出拉低。
[0078]本实施例的模式控制模块仅仅举例说明，该举例中，所有信号都以高有效为前提进行的设计，包括电路实现过程中的中间信号以及最后的输出信号(停住MCU信号以及占住总线信号)，对应的电路波形图如图4所示，图4中双斜杠“//”表示省略了若干周期，具体情况，由设计者确定。具体实现中，只要能够保证字符串序列的比较器702的输出与输出信号(停住MCU信号以及占住总线信号)之间的对应关系，其他部分均可替换；输入、输出信号，以及中间的信号是高有效还是低有效，均可由设计者自行定义。
[0079]如图5所示是本发明实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的方法流程图，该方法包括:
[0080]S501、I2C从设备接收到第一预设的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号；
[0081]S502、等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；
[0082]S503、接收到第二预定的字符串后，释放总线，并向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
[0083]本实例的方法可以通过硬件电路来实现，也可以通过运行在I2C从设备上软件程序来实现。当I2C从设备检测到I2C主设备发送的第一预定的字符串，先停住MCU，且保持其所有状态不变，然后占据住总线，这时，I2C主设备就可以完成所需要进行的任何操作；在操作完成之后，I2C主设备再向内部I2C从设备第二预定的字符串，当I2C从设备检测到该第二预定的字符串后，先释放总线，再释放MCU，从而可以做到所有的调试工作都对MCU透明，MCU可以在被释放后正确的继续执行之前执行完的指令的下一条指令。
[0084]如图6所示是本发明优选实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的方法流程图，该方法包括:
[0085]S601、I2C从设备保持通用的功能；
[0086]S602、判断是否收到预定的第一字符串，如果是，执行步骤S603，否则回到步骤S601 ；
[0087]S603、向MCU的指令执行状态机发送停止MCU的信号；
[0088]S604、等待预定的时钟周期，挂起MCU ；
[0089]S605、占据住总线以供I2C主设备使用；
[0090]S606、I2C主设备执行操作；
[0091]S607、I2C主设备发送第二预设的字符串；
[0092]S608、I2C从设备释放总线；
[0093]S609、向MCU的指令状态机发送释放M⑶的信号；[0094]S610、MCU继续执行原功能，转至步骤S601。
[0095]本发明提供的一种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法，在对I2C从设备的通用功能不影响的情况下，使得I2C从设备可以访问芯片内部所有的外设，同时还可以停住和释放MCU，作为调试接口实现外部I2C主设备对芯片的MCU进行调试与MCU握手的功能。在芯片系统有I2C从设备功能的情况下，不用额外增加其他调试接口就可以实现调试功能，节省了对资源的消耗。
[0096]以上参照【专利附图】
【附图说明】了本发明的优选实施例，并非因此局限本发明的权利范围。本领域技术人员不脱离本发明的范围和实质，可以有多种变型方案实现本发明，比如作为一个实施例的特征可用于另一实施例而得到又一实施例。凡在运用本发明的技术构思之内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本发明的权利范围之内。
【权利要求】
1.一种通过I2C从设备调试MCU的芯片，该芯片包括I2C总线、以及通过所述I2C总线相连的MCU、I2C从设备和两个以上的外设，其特征在于，所述I2C从设备还用于在芯片外部I2C主设备的控制下进入或退出调试MCU的模式。
2.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述I2C从设备包括I2C有限状态机、命令解析模块、12C中断处理模块、12C寄存器、FIFO写模块和FIFO读模块，其中，所述命令解析模块、所述I2C中断处理模块、所述I2C寄存器、所述FIFO写模块和所述FIFO读模块均与所述I2C有限状态机相连，所述FIFO写模块和所述FIFO读模块还分别与所述命令解析模块相连，所述I2C寄存器还与所述I2C中断处理模块相连；所述I2C从设备还包括模式控制模块，所述模式控制模块分别与所述命令解析模块和所述I2C有限状态机相连，用于接收所述命令解析模块发送的第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号，并等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；还用于接收到所述命令解析模块发送的第二预定的字符串后，释放总线，并向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
3.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述调试控制模块包括:监测单元，用于监测是否接收到第一预定的字符串或者第二预定的字符串；MCU控制单元，用于接收到第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号；还用于接收到第二预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。总线控制单元，用于 接收到第一预定的字符串后，等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线；还用于接收到第二预定的字符串后，释放总线。
4.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述调试控制模块包括:字符串寄存器(701)、比较器(702)、第一触发器(703)、第一非门(704)、第二非门(705)、第一与门(706)、第二与门(707)、第一或门(708)、计数器(709)、第一 MUX (710)、第二 MUX (711)、第二或门(712)、第二触发器(713)、第三与门(714)和第三触发器(715)，其中:字符串寄存器(701)，用于接收I2C主设备写入的字符串；比较器(702)，用于比较字符串寄存器(701)的字符串与预设的字符串是否相同，根据比较结果输出高电平或者低电平信号给第一触发器(703);第一触发器(703)，用于将比较器(702)的结果寄存一次，输出到第一非门(704)和第二与门(707)；第一非门(704)，用于将第一触发器(703)的输出取反，然后输出到第一与门(706)；第一与门(706)，用于根据比较器(702)的比较结果和第一非门(704)的结果进行与运算，用于抓取比较器(702)输出的信号的上升沿，当其上升沿到来时，产生一个周期的高脉冲输出到第一或门(708)；第二非门(705)，用于将比较器(702)的输出取反，然后输出到第二与门(707)；第二与门(707);用于根据第二非门(705)的输出和第一触发器(703)的输出进行与运算，用于抓取比较器(702)的输出信号的下降沿，当其下降沿到来时，产生一个周期的高脉冲信号输出到第一或门(708)；第一或门(708)，用于将来自第一与门(706)以及第二与门(707)的两个持续一个周期的高脉冲信号都输出给计数器(709)；计数器(709)，用于根据来自第一或门(708)的持续一个周期的高脉冲信号作为触发条件，开始时钟周期的脉冲计数，计数完毕后输出一个时钟周期的脉冲到第一 MUX (710)和第二 MUX (711)；第一 MUX (710)，用于选择是输出低电平还是第二触发器(713)的输出值作为第二或门(712)的一个输入，当计数器(709)的输出为高时，选择低电平作为输出，否则，选择第二触发器(713)的输出值作为输出；第二 MUX (711)，用于选择是输出高电平还是第三触发器(715)的输出值作为第三与门(714)的一个输入，当计数器(709)的输出为高时，选择高电平作为输出，否则，选择第三触发器(715)的输出值作为输出；第二或门(712)以及第二触发器(713)，用于产生停住MCU的信号，当比较器(702)的输出转变为高时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器(702)的输出转变为低、并且由此触发的计数器(709)计数且计数结束而产生的一个周期的高脉冲到来时，将其输出拉低；第三与门(714)以及第三触发器(715)，用于产生I2C占住总线的信号，当比较器(702)的输出转变为高、并且由此触发的计数器(709)计数且计数结束而产生的一个中期的高脉冲到来时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器(702)的输出转变为低时，将其输出拉低。
5.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手包括:芯片外部的I2C主设备对所述外设的读或写操作控制。
6.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述预定的系统时钟周期数根据MCU执行其指令集中最长的一条执行所需要的时钟周期数来确定。
7.根据权利要求1-6任意 一项权利要求所述的芯片，其特征在于，所述芯片内部外设包括:读寄存器、写寄存器、程序存储器、和/或数据存储器。
8.一种通过I2C从设备调试MCU的方法，其特征在于，该方法包括:I2C从设备接收到第一预定的字符串后，先向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号；等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；接收到第二预定的字符串后，先释放总线，再向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述预定的系统时钟周期数根据MCU执行其指令集中最长的一条执行所需要的时钟周期数来确定。
10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手包括:芯片外部的I2C主设备对芯片外设的读或写操作控制。
【文档编号】G06F13/38GK103440216SQ201310369678
【公开日】2013年12月11日 申请日期:2013年8月22日 优先权日:2013年8月22日
【发明者】郭正伟, 王光耀 申请人:深圳市汇顶科技股份有限公司
【专利摘要】本发明公开了一种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法，属于电子电路【技术领域】。该芯片包括I2C总线、以及通过I2C总线相连的MCU、I2C从设备和两个以上外设，I2C从设备还用于在芯片外部I2C主设备的控制下进入或退出调试MCU的模式。采用本发明实施例，在对I2C从设备的通用功能不影响的情况下，还可以作为调试接口，不用额外增加其他调试接口就可以实现调试功能，节省了对资源的消耗。
【专利说明】—种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子电路【技术领域】，尤其涉及一种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法。
【背景技术】
[0002]在传统的芯片系统中，I2C从设备通常是作为通用的数据传输接口。芯片外部与MCU进行通信和调试主要是使用JTAG、UART等方式，这样在芯片没有集成JTAG、UART等接口时，就要为调试增加了额外的接口，浪费了系统资源。
【发明内容】
[0003]有鉴于此，本发明要解决的技术问题是提供一种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法，以使I2C从设备可随时停住和释放MCU，且可与MCU执行的程序进行握手操作，用I2C从设备来实现外设对MCU的调试的功能，节省系统资源，并让调试更灵活。
[0004]本发明解决上述技术问题所采用的技术方案如下:
[0005]根据本发明的一个方面，提供的一种通过I2C从设备调试MCU的芯片包括I2C总线、以及通过I2C总线相连的MCU、I2C从设备和两个以上的外设，其中，I2C从设备还用于在芯片外部I2C主设备的控制下进入或退出调试MCU的模式。
[0006]优选地，I2C从设备包括I2C有限状态机、命令解析模块、I2C中断处理模块、I2C寄存器、FIFO写模块和FIFO读模块，其中，命令解析模块、I2C中断处理模块、I2C寄存器、FIFO写模块和FIFO读模块均与I2C有限状态机相连，FIFO写模块和FIFO读模块还分别与命令解析模块相连，I2C寄存器还与I2C中断处理模块相连；
[0007]I2C从设备还包括模式控制模块，模式控制模块分别与命令解析模块和I2C有限状态机相连，用于接收命令解析模块发送的第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号，并等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；还用于接收到命令解析模块发送的第二预定的字符串后，释放总线，并向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
[0008]优选地，调试控制模块包括:
[0009]监测单元，用于监测是否接收到第一预定的字符串或者第二预定的字符串；
[0010]MCU控制单元，用于接收到第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号；还用于接收到第二预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
[0011]总线控制单元，用于接收到第一预定的字符串后，等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线；还用于接收到第二预定的字符串后，释放总线。
[0012]优选地，调试控制模块包括:
[0013]字符串寄存器701、比较器702、第一触发器703、第一非门704、第二非门705、第一与门706、第二与门707、第一或门708、计数器709、第一 MUX710、第二 MUX711、第二或门712、第二触发器713、第三与门714和第三触发器715，其中:
[0014]字符串寄存器701，用于接收I2C主设备写入的字符串；
[0015]比较器702，用于比较字符串寄存器701的字符串与预设的字符串是否相同，根据比较结果输出高电平或者低电平信号给第一触发器703 ；
[0016]第一触发器703，用于将比较器702的结果寄存一次，输出到第一非门704和第二与门707 ；
[0017]第一非门704，用于将第一触发器703的输出取反，然后输出到第一与门706 ；
[0018]第一与门706，用于根据比较器702的比较结果和第一非门704的结果进行与运算，用于抓取比较器702输出的信号的上升沿，当其上升沿到来时，产生一个周期的高脉冲输出到第一或门708 ；
[0019]第二非门705，用于将比较器702的输出取反，然后输出到第二与门707 ；
[0020]第二与门707 ;用于根据第二非门705的输出和第一触发器703的输出进行与运算，用于抓取比较器702的输出信号的下降沿，当其下降沿到来时，产生一个周期的高脉冲信号输出到第一或门708 ；
[0021]第一或门708，用于将来自第一与门706以及第二与门707的两个持续一个周期的高脉冲信号都输出给计数器709 ；
[0022]计数器709，用于根据来自第一或门708的持续一个周期的高脉冲信号作为触发条件，开始时钟周期的脉冲计数，计数完毕后输出一个时钟周期的脉冲到第一 MUX710)和第二 MUX711 ；
[0023]第一 MUX710，用于选择是输出低电平还是第二触发器713的输出值作为第二或门712的一个输入，当计数器709的输出为高时，选择低电平作为输出，否则，选择第二触发器713的输出值作为输出；
[0024]第二 MUX711，用于选择是输出高电平还是第三触发器715的输出值作为第三与门714的一个输入，当计数器709的输出为高时，选择高电平作为输出，否则，选择第三触发器715的输出值作为输出；
[0025]第二或门712以及第二触发器713，用于产生停住MCU的信号，当比较器702的输出转变为高时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器702的输出转变为低、并且由此触发的计数器709计数且计数结束而产生的一个周期的高脉冲到来时，将其输出拉低；
[0026]第三与门714以及第三触发器715，用于产生I2C占住总线的信号，当比较器702的输出转变为高、并且由此触发的计数器709计数且计数结束而产生的一个中期的高脉冲到来时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器702的输出转变为低时，将其输出拉低。
[0027]优选地，芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手包括:芯片外部的I2C主设备对外设的读或写操作控制。
[0028]优选地，预定的系统时钟周期数根据MCU执行其指令集中最长的一条执行所需要的时钟周期数来确定。
[0029]优选地，芯片内部外设包括:读寄存器、写寄存器、程序存储器、和/或数据存储器。[0030]根据本发明的另一个方面，提供的一种通过I2C从设备调试MCU的方法包括:
[0031]I2C从设备接收到第一预定的字符串后，先向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号;
[0032]等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；
[0033]接收到第二预定的字符串后，先释放总线，再向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
[0034]优选地，预定的系统时钟周期数根据MCU执行其指令集中最长的一条执行所需要的时钟周期数来确定。
[0035]优选地，芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手包括:芯片外部的I2C主设备对芯片外设的读或写操作控制。
[0036]本发明提供的一种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法，在对I2C从设备的通用功能不影响的情况下，使得I2C从设备可以访问芯片内部所有的外设，同时还可以停住和释放MCU，作为调试接口实现外部I2C主设备对芯片的MCU进行调试与MCU握手的功能。在芯片系统有I2C从设备功能的情况下，不用额外增加其他调试接口就可以实现调试功能，节省了对资源的消耗。
【专利附图】
【附图说明】
[0037]图1是本发明实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的芯片的控制示意图。
[0038]图2是本发明实施例提供的一种I2C从设备的结构示意图。
[0039]图3是本优选发明实施例提供的一种模式控制模块的结构示意图。
[0040]图4是本优选发明实施例提供的一种电路时序图。
[0041]图5是本发明实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的方法流程图。
[0042]图6是本发明优选实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的方法流程图。
【具体实施方式】
[0043]为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0044]实施例一
[0045]图1是本发明实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的芯片的控制示意图，该系统包括芯片10和I2C主设备20，其中:
[0046]芯片10，包括I2C总线101、MCU102、I2C从设备103和两个以上的外设104。MCU102、I2C从设备103和外设104通过I2C总线101相连。
[0047]其中，I2C总线101和MCU102属于现有技术，I2C从设备103除了保持现有的通用数据传输接口功能外，还可以用作调试接口，在芯片外部I2C主设备20的控制下进入或退出调试MCU的模式，从而达到选择用于通用数据传输接口或者调试接口。外设104也是现有的，包括但不限于包括读寄存器、写寄存器、程序存储器和数据存储器。
[0048]I2C主设备20，用于通过发送预设的字符串控制芯片10的I2C从设备103作为通用数据传输接口或者调试接口。
[0049]具体来说，在I2C主设备20需要对MCU102进行调试或者访问芯片中的外设104时，向芯片内部I2C从设备103发送预设的第一字符串，I2C从设备103接收到该预设的第一字符串后，先停住MCU102，且保持其所有状态不变，然后占据住I2C总线101，这时，外部I2C主设备20就可以完成所需要进行的任何操作；在操作完成之后，外部I2C主设备20再向内部I2C从设备103预设的第二字符串，I2C从设备103接收到该预设的第二字符串后，先释放I2C总线101，再释放MCU102。内部I2C从设备103可以像MCU102 —样控制所有的芯片内部的外设104，从而可以做到所有的调试工作都对MCU102透明，MCU102可以在被释放后正确的继续执行。
[0050]如图2所示是本发明实施例提供的一种I2C从设备的结构示意图，包括I2C有限状态机1031、命令解析模块1032、I2C中断处理模块1033、I2C寄存器1034、FIFO写模块1035、FIF0读模块1036和模式控制模块1037，命令解析模块1032、I2C中断处理模块1033、I2C寄存器1034、FIFO写模块1035和FIFO读模块1036均与I2C有限状态机1031相连，FIFO写模块1036和FIFO读模块1036还分别与命令解析模块1032相连，I2C寄存器1034还与I2C中断处理模块1033相连；模式控制模块1037分别与I2C有限状态机1031及命令解析模块1032相连，其中:
[0051]I2C有限状态机(Finite State Machine) 1031，用于对I2C从设备的工作状态控制以及与I2C主设备之间数据接收与发送。
[0052]命令解析模块(Command Decode) 1032,用于对I2C从设备接收到的命令进行解析。
[0053]I2C中断处理模块(Interrupts) 1033，用于对I2C从设备的中断控制，这是I2C从设备通用的通信功能。
[0054]I2C寄存器(Registers) 1034，用于I2C从设备与MCU之间的交互，这是I2C从设备通用的通信功能。
[0055]FIFO写模块1035，用于I2C从设备对芯片内外设的写操作控制。
[0056]FIFO写模块1036，用于I2C从设备对芯片内外设的读操作控制。
[0057]模式控制模块1037，用于接收所述命令解析模块1032发送的第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号，并等待预定的系统时钟周期数后占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；还用于接收到所述命令解析模块1032发送的第二预定的字符串后，释放总线，并向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
[0058]这里，等待预定的系统时钟周期数是为了使MCU有足够的时间将当前正在执行的指令执行完毕，故预定的时钟周期数可以根据本MCU执行其指令集中最长的一条执行所需要的时钟周期数来确定。
[0059]其中，模式控制模块1037可以通过硬件电路来实现，也可以通过运行在I2C从设备上软件程序来实现。按功能模块来划分，模式控制模块可以包括:监测单元、MCU控制单元和总线控制单元，其中:
[0060]监测单元，用于监测是否接收到第一预定的字符串或者第二预定的字符串；
[0061]MCU控制单元，用于接收到第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号；还用于接收到第二预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号。
[0062]总线控制单元，用于接收到第一预定的字符串后，等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线；还用于接收到第二预定的字符串后，释放总线。
[0063]本实施例提供的一种I2C从设备，通过增加模式控制模块，实现对MCU的停住或释放操作的控制以及MCU被停住期间对总线的完全占用或释放的控制，从而控制进入或退出调试MCU模式，使得I2C从设备根据需要充当通用数据传输接口或者调试接口。
[0064]如图3所示是本优选发明实施例提供的一种模式控制模块的结构示意图，该模块包括:字符串寄存器701、比较器702、第一触发器703、第一非门704、第二非门705、第一与门706、第二与门707、第一或门708、计数器709、第一 MUX(多路复用器)710、第二 MUX711、第二或门712、第二触发器713、第三与门714和第三触发器715，其中:
[0065]字符串寄存器701，用于接收I2C主设备写入的字符串；
[0066]比较器702，用于比较字符串寄存器701的字符串与预设的字符串是否相同，根据比较结果输出高电平或者低电平信号(在本图所示的逻辑结构中，均以高电平有效作为示例，但也可以设置低电平有效，当设置低电平有效时，后续电路都进行相反调整)给第一触发器703 ；
[0067]第一触发器703，用于将比较器702的结果寄存一次，输出到第一非门704和第二与门707 ；
[0068]第一非门704，用于将第一触发器703的输出取反，然后输出到第一与门706 ；
[0069]第一与门706，用于根据比较器702的比较结果和第一非门704的结果进行与运算，用于抓取比较器702输出的信号的上升沿(因为本示例图是以比较结果高电平有效方式设计的电路结构图)，当其上升沿(即比较结果由不相等转变为相等)到来时，产生一个周期的高脉冲输出到第一或门708 ；
[0070]第二非门705，用于将比较器702的输出取反，然后输出到第二与门707 ；
[0071]第二与门707 ;用于根据第二非门705的输出和第一触发器703的输出进行与运算，用于抓取比较器702的输出信号的下降沿(因为本示例图是以比较结果高有效方式设计的电路结构图)，当其下降沿(即比较结果由相等转变为不相等)到来时，产生一个周期的高脉冲信号输出到第一或门708 ；
[0072]第一或门708，用于将来自第一与门706以及第二与门707的两个持续一个周期的高脉冲信号都输出给后面的计数器709 ；
[0073]计数器709，用于根据来自第一或门708的持续一个周期的高脉冲信号作为触发条件，开始时钟周期的脉冲计数，计数完毕后输出一个时钟周期的脉冲到第一 MUX710和第二 MUX711。其中，计数周期个数以保证MCU最长的一条指令可以执行完为标准。
[0074]第一 MUX710，用于选择是输出低电平(“O”)还是第二触发器713的输出值作为后面的第二或门712的一个输入，当计数器709的输出为高时，选择低电平作为输出，否则，选择第二触发器713的输出值作为输出；
[0075]第二 MUX711，用于选择是输出高电平(“I”)还是第三触发器715的输出值作为后面的第三与门714的一个输入，当计数器709的输出为高时，选择高电平作为输出，否则，选择第三触发器715的输出值作为输出；
[0076]第二或门712以及第二触发器713，用于产生停住MCU的信号，在本示例中以该信号高有效作为示例，当比较器702的输出转变为高(即相等)时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器702的输出转变为低(即不相等)、并且由此触发的计数器709计数且计数结束而产生的一个周期的高脉冲到来时，将其输出拉低；
[0077]第三与门714以及第三触发器715，用于产生I2C占住总线的信号，在本示例中，该信号以高有效作为示例，当比较器702的输出转变为高(即相等)、并且由此触发的计数器709计数且计数结束而产生的一个中期的高脉冲到来时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器702的输出转变为低(即不相等)时，将其输出拉低。
[0078]本实施例的模式控制模块仅仅举例说明，该举例中，所有信号都以高有效为前提进行的设计，包括电路实现过程中的中间信号以及最后的输出信号(停住MCU信号以及占住总线信号)，对应的电路波形图如图4所示，图4中双斜杠“//”表示省略了若干周期，具体情况，由设计者确定。具体实现中，只要能够保证字符串序列的比较器702的输出与输出信号(停住MCU信号以及占住总线信号)之间的对应关系，其他部分均可替换；输入、输出信号，以及中间的信号是高有效还是低有效，均可由设计者自行定义。
[0079]如图5所示是本发明实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的方法流程图，该方法包括:
[0080]S501、I2C从设备接收到第一预设的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号；
[0081]S502、等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；
[0082]S503、接收到第二预定的字符串后，释放总线，并向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
[0083]本实例的方法可以通过硬件电路来实现，也可以通过运行在I2C从设备上软件程序来实现。当I2C从设备检测到I2C主设备发送的第一预定的字符串，先停住MCU，且保持其所有状态不变，然后占据住总线，这时，I2C主设备就可以完成所需要进行的任何操作；在操作完成之后，I2C主设备再向内部I2C从设备第二预定的字符串，当I2C从设备检测到该第二预定的字符串后，先释放总线，再释放MCU，从而可以做到所有的调试工作都对MCU透明，MCU可以在被释放后正确的继续执行之前执行完的指令的下一条指令。
[0084]如图6所示是本发明优选实施例提供的一种通过I2C从设备调试MCU的方法流程图，该方法包括:
[0085]S601、I2C从设备保持通用的功能；
[0086]S602、判断是否收到预定的第一字符串，如果是，执行步骤S603，否则回到步骤S601 ；
[0087]S603、向MCU的指令执行状态机发送停止MCU的信号；
[0088]S604、等待预定的时钟周期，挂起MCU ；
[0089]S605、占据住总线以供I2C主设备使用；
[0090]S606、I2C主设备执行操作；
[0091]S607、I2C主设备发送第二预设的字符串；
[0092]S608、I2C从设备释放总线；
[0093]S609、向MCU的指令状态机发送释放M⑶的信号；[0094]S610、MCU继续执行原功能，转至步骤S601。
[0095]本发明提供的一种通过I2C从设备调试MCU的芯片及方法，在对I2C从设备的通用功能不影响的情况下，使得I2C从设备可以访问芯片内部所有的外设，同时还可以停住和释放MCU，作为调试接口实现外部I2C主设备对芯片的MCU进行调试与MCU握手的功能。在芯片系统有I2C从设备功能的情况下，不用额外增加其他调试接口就可以实现调试功能，节省了对资源的消耗。
[0096]以上参照【专利附图】
【附图说明】了本发明的优选实施例，并非因此局限本发明的权利范围。本领域技术人员不脱离本发明的范围和实质，可以有多种变型方案实现本发明，比如作为一个实施例的特征可用于另一实施例而得到又一实施例。凡在运用本发明的技术构思之内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本发明的权利范围之内。
【权利要求】
1.一种通过I2C从设备调试MCU的芯片，该芯片包括I2C总线、以及通过所述I2C总线相连的MCU、I2C从设备和两个以上的外设，其特征在于，所述I2C从设备还用于在芯片外部I2C主设备的控制下进入或退出调试MCU的模式。
2.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述I2C从设备包括I2C有限状态机、命令解析模块、12C中断处理模块、12C寄存器、FIFO写模块和FIFO读模块，其中，所述命令解析模块、所述I2C中断处理模块、所述I2C寄存器、所述FIFO写模块和所述FIFO读模块均与所述I2C有限状态机相连，所述FIFO写模块和所述FIFO读模块还分别与所述命令解析模块相连，所述I2C寄存器还与所述I2C中断处理模块相连；所述I2C从设备还包括模式控制模块，所述模式控制模块分别与所述命令解析模块和所述I2C有限状态机相连，用于接收所述命令解析模块发送的第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号，并等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；还用于接收到所述命令解析模块发送的第二预定的字符串后，释放总线，并向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
3.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述调试控制模块包括:监测单元，用于监测是否接收到第一预定的字符串或者第二预定的字符串；MCU控制单元，用于接收到第一预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号；还用于接收到第二预定的字符串后，向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。总线控制单元，用于 接收到第一预定的字符串后，等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线；还用于接收到第二预定的字符串后，释放总线。
4.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述调试控制模块包括:字符串寄存器(701)、比较器(702)、第一触发器(703)、第一非门(704)、第二非门(705)、第一与门(706)、第二与门(707)、第一或门(708)、计数器(709)、第一 MUX (710)、第二 MUX (711)、第二或门(712)、第二触发器(713)、第三与门(714)和第三触发器(715)，其中:字符串寄存器(701)，用于接收I2C主设备写入的字符串；比较器(702)，用于比较字符串寄存器(701)的字符串与预设的字符串是否相同，根据比较结果输出高电平或者低电平信号给第一触发器(703);第一触发器(703)，用于将比较器(702)的结果寄存一次，输出到第一非门(704)和第二与门(707)；第一非门(704)，用于将第一触发器(703)的输出取反，然后输出到第一与门(706)；第一与门(706)，用于根据比较器(702)的比较结果和第一非门(704)的结果进行与运算，用于抓取比较器(702)输出的信号的上升沿，当其上升沿到来时，产生一个周期的高脉冲输出到第一或门(708)；第二非门(705)，用于将比较器(702)的输出取反，然后输出到第二与门(707)；第二与门(707);用于根据第二非门(705)的输出和第一触发器(703)的输出进行与运算，用于抓取比较器(702)的输出信号的下降沿，当其下降沿到来时，产生一个周期的高脉冲信号输出到第一或门(708)；第一或门(708)，用于将来自第一与门(706)以及第二与门(707)的两个持续一个周期的高脉冲信号都输出给计数器(709)；计数器(709)，用于根据来自第一或门(708)的持续一个周期的高脉冲信号作为触发条件，开始时钟周期的脉冲计数，计数完毕后输出一个时钟周期的脉冲到第一 MUX (710)和第二 MUX (711)；第一 MUX (710)，用于选择是输出低电平还是第二触发器(713)的输出值作为第二或门(712)的一个输入，当计数器(709)的输出为高时，选择低电平作为输出，否则，选择第二触发器(713)的输出值作为输出；第二 MUX (711)，用于选择是输出高电平还是第三触发器(715)的输出值作为第三与门(714)的一个输入，当计数器(709)的输出为高时，选择高电平作为输出，否则，选择第三触发器(715)的输出值作为输出；第二或门(712)以及第二触发器(713)，用于产生停住MCU的信号，当比较器(702)的输出转变为高时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器(702)的输出转变为低、并且由此触发的计数器(709)计数且计数结束而产生的一个周期的高脉冲到来时，将其输出拉低；第三与门(714)以及第三触发器(715)，用于产生I2C占住总线的信号，当比较器(702)的输出转变为高、并且由此触发的计数器(709)计数且计数结束而产生的一个中期的高脉冲到来时，其输出相应的转变为高，并一直保持为高输出，直到比较器(702)的输出转变为低时，将其输出拉低。
5.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手包括:芯片外部的I2C主设备对所述外设的读或写操作控制。
6.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述预定的系统时钟周期数根据MCU执行其指令集中最长的一条执行所需要的时钟周期数来确定。
7.根据权利要求1-6任意 一项权利要求所述的芯片，其特征在于，所述芯片内部外设包括:读寄存器、写寄存器、程序存储器、和/或数据存储器。
8.一种通过I2C从设备调试MCU的方法，其特征在于，该方法包括:I2C从设备接收到第一预定的字符串后，先向MCU的指令状态机发送停住MCU的信号；等待预定的系统时钟周期数后，占据住总线以供芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手；接收到第二预定的字符串后，先释放总线，再向MCU的指令状态机发送释放MCU的信号。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述预定的系统时钟周期数根据MCU执行其指令集中最长的一条执行所需要的时钟周期数来确定。
10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述芯片外部的I2C主设备与MCU执行的程序进行握手包括:芯片外部的I2C主设备对芯片外设的读或写操作控制。
【文档编号】G06F13/38GK103440216SQ201310369678
【公开日】2013年12月11日 申请日期:2013年8月22日 优先权日:2013年8月22日
【发明者】郭正伟, 王光耀 申请人:深圳市汇顶科技股份有限公司
相关技术
网友询问留言
已有0条留言
- 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞！
1