一种机电产品可靠性增长摸底试验方法及其装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种机电产品可靠性增长摸底试验方法能够在短时间内对产品的可靠性进行有效的测试，同时具有较高的精度和准确性。该装置采用本发明提供的机电产品可靠性增长摸底试验方法进行可靠性增长摸底试验。
【专利说明】一种机电产品可靠性增长摸底试验方法及其装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及环境与可靠性试验技术，特别是指一种机电产品可靠性增长摸底试验方法及其装置。
【背景技术】
[0002]产品的可靠性试验是评定产品可靠性和寿命的重要环节之一。目前，我国军用产品的可靠性试验大多参照美军表MIL-STD-781D制定，而该规范是指数分布电子产品的可靠性统计试验的程序、方法和评估方法。
[0003]以伺服机构、液压产品、发控执行组件等为代表的各类机电产品与电子类产品在应用特点、失效模式等都有较大差异。现有技术中，长期以来对机电类产品的可靠性试验技术缺乏系统性的研究和指导，而是简单沿用电子类产品的试验和评价方法，与产品的实际情况相距甚远。例如:对于高可靠机电产品，由指数分布定时截尾可靠性摸底试验方案确定的试验时间随可靠度的增大会迅速增加，当可靠度超过0.999时，试验时间将在千小时以上，这从试验成本和进度都是不可取的。另外，经历如此长的试验时间，某些机电产品的个别耗损部件已经到严重耗损期，对于任务时间较短的产品，此时的可靠性增长已没有意义了。
[0004]由于指数分布是最苛刻的分布，而机电产品的寿命大多服从威布尔分布，照搬指数分布可靠性试验方案而进行机电产品可靠性试验是不合理的。
【发明内容】
[0005]有鉴于此，本发明的目的在于提出一种机电产品可靠性增长摸底试验方法及其装置。
[0006]基于上述目的本发明提供的机电产品可靠性增长摸底试验方法，其特征在于，假设产品寿命服从威布尔分布，若形状参数已知，试验时间根据下述公式确定；
[0007]
【权利要求】
1.一种机电产品可靠性增长摸底试验方法，其特征在于，试验时间根据下述公式确定;
2.根据权利要求1所述的可靠性增长摸底试验方法，其特征在于，若形状参数已知，参试产品可靠寿命采用下述等式进行评估:
3.根据权利要求2所述的可靠性增长摸底试验方法，其特征在于，若形状参数未知，但形状参数下限已知，若满足公式(6)的条件，公式(3)中的m采用形状参数下限值替代:
4.根据权利要求1所述的可靠性增长摸底试验方法，其特征在于，若形状参数已知，参试产品可靠度采用下述等式进行评估:
5.根据权利要求4所述的可靠性增长摸底试验方法，其特征在于，当形状参数未知，但形状参数下限已知，若满足公式(11)的条件，公式(9)中的m采用形状参数下限值替代，
6.根据权利要求1所述的可靠性增长摸底试验方法，其特征在于，若形状参数m未知，但形状参数下限Hitl已知，则公式(4)中的m采用形状参数下限值HItl替代。
7.根据权利要求1所述的可靠性增长摸底试验方法，其特征在于，在对参试产品进行可靠性摸底试验之前，根据参试产品任务剖面，确定参试产品任务等效时间；根据研制部门的可靠性分配指标确定可靠性摸底试验要求值&及使用方风险β。
8.一种机电产品可靠性增长摸底试验装置，采用权利 要求1-7中任意一项的机电产品可靠性增长摸底试验方法进行可靠性增长摸底试验。
【文档编号】G06F17/50GK103530444SQ201310439416
【公开日】2014年1月22日 申请日期:2013年9月24日 优先权日:2013年9月24日
【发明者】张生鹏 申请人:航天科工防御技术研究试验中心