数据处理的方法、装置和设备的制作方法

文档序号:6625972阅读:238来源:国知局
数据处理的方法、装置和设备的制作方法
【专利摘要】本发明公开了数据处理的方法、装置和设备。实施例涉及用于数据处理的方法,该数据处理包括数据读取和确定该数据的每个部分的状态,该数据包括开销信息和有效载荷信息,其中该状态是第一二进制状态、第二二进制状态和未定义状态其中的一种。该方法还包括对具有未定义状态的数据的至少一个部分基于其位置并且基于开销信息进行解码。
【专利说明】数据处理的方法、装置和设备

【技术领域】
[0001] 本公开的实施例涉及错误检测和错误纠正的延伸,特别是涉及利用和增强错误纠 正机制和错误纠正代码。

【背景技术】
[0002] 现有技术中,存在多种用于数据处理中的错误检测、纠正的方法,但这些数据处理 的技术往往存在过程消耗、效率、速度等等方面的问题。
[0003] 因此,亟需能对上述问题进行改进的数据处理方法。


【发明内容】

[0004] 第一个实施例涉及用于数据处理的方法,该方法包括读取数据以及确定该数据每 个部分的状态,该数据包括开销信息(overhead information)和有效载荷信息(payload information),其中该状态包括第一二进制状态、第二二进制状态和未定义状态中的至少 一种。该方法进一步包括对具有未定义状态的数据的至少一个部分基于其位置并且基于开 销信息进行解码。
[0005] 第二个实施例涉及用于数据处理的装置,其中该装置包括配置为读取数据的处理 单元,该数据包括开销信息和有效载荷信息。该处理单元进一步配置为确定该数据的每个 部分的状态,其中该状态包括第一二进制状态、第二二进制状态和未定义状态中的至少一 种。该处理单元还进一步配置为对具有未定义状态的数据的至少一个部分基于其位置并基 于开销信息进行解码。
[0006] 第三个实施例涉及用于数据处理的设备,特别是用于错误检测和错误纠正的设 备。该设备包括用于读取数据的装置以及用于确定该数据的每个部分的状态的方法,该数 据包括开销信息和有效载荷信息,其中该状态包括第一二进制状态、第二二进制状态和未 定义状态中的至少一种。该设备进一步包括对具有未定义状态的数据的至少一个部分基于 其位置并且基于开销信息进行解码的装置。

【专利附图】

【附图说明】
[0007] 参考附图,实施例被示出并说明。附图用于说明基本原理,因此仅描述了对理解基 本原理所必须的方面。附图不是按比例的。在附图中,相同附图标记表示相似特征。
[0008] 图1A和图1B各自示出了总结差分读取存储器器件的单元对的电位状态 和"X"的表格;
[0009] 图2示出了代码和属性的汇总表;
[0010] 图3示出了包括了适用于差分读取非易失性存储器(NVM)的单元对的如图2所示 的相同代码的表格。

【具体实施方式】
[0011] 介绍的示例特别地涉及在读取期间具有未定义的比特指示(bit indication)的 特征的存储器。
[0012] 当被读取时,这种存储器不仅为每个比特指示两个二进制状态"0"和" 1",而且为 未定义的比特(undefined bit,即不能够基于有效信息的或者读取结果(非常)不确定的比 特)额外地生成指示"X"。
[0013] 由指示"X"给出的附加信息可以被利用来优化错误纠正代码。
[0014] 示例可应用于具有差分读取的非易失性存储器(NVM)。然而,这个构思可与任何存 储器或者甚至在总线等之上发送的任何数据集(data set)结合使用,此时附加的未定义的 比特指示能够被利用。
[0015] 在VNM中(例如,甚至是在大量的写入/清除周期之后)差分读取的引入提高了 可靠性,但是每个数据比特(data bit)需要两个NVM单元(也称为单元对)。
[0016] 根据该单元对的两个单元(即,具有t =真(true)和c =补(complement)的 cell_t和cell_c)的状态,被存储的数据比特的状态可基于图1A所示的表格确定。图1B 示出了不同编码方案的可选的示例。在下文中使用了依照图1A所示的示例的编码方案。
[0017] 因此,通常存储器的两个相关联的NVM单元存储互补的信息,即它们具有相反的 状态。如图1所示,仅具有互补单元的比特能被成功地解码,即单元对的两个单元其中的一 个必须处于被写入状态并且另一个必须处于被擦除状态,以允许成功的数据解码。
[0018] 在出现错误的情况下,单元中的一个可能已翻转(flipped)其状态(或者单元其 中的一个的读出已被扰乱,使效果看起来像是该单元已经翻转其状态),这可能导致被解码 的"X"状态。应该注意的是,两个单元均可已经翻转它们的状态至相反方向,并且因此该比 特数据(bit data)被翻转。这种情况在下面进行讨论。
[0019] 如果没有"X"指示,针对故障比特(failing bit),来自["0","1"]的随机值被 读取,并且后续的ECC单元可用来确定该故障比特的位置和它的正确值。
[0020] 根据本文提供的示例,对"X"的利用允许鉴别故障比特的位置。这种认识能用于 具有较少开销的改进ECC或者用于较高的纠正能力。
[0021] 如示例实施例,三种不同的ECC类型将被介绍。但是,提出的解决方案可用于这些 实施例和其他的实施,从而提高纠正能力。
[0022] (a)具有1个未定义比特(1-undefined-bit)纠正能力的奇偶校验(parity check):
[0023] 采用仅使用"1"和"0"的常规编码方案,奇偶校验码(parity code)仅能够检测 出单个比特已翻转;基于本文描述的利用未定义比特"X"状态的方法,另外地该单个未定 义比特能够被纠正。
[0024] (b)具有2个未定义比特纠正能力的汉明码(Hamming Code):
[0025] 采用仅使用"1"和"0"的常规编码方案,汉明码仅能够纠正单个已翻转比特;基于 本文描述的方法,在其他情况下,一个或者两个未定义比特能够被纠正。
[0026] (c)具有3个未定义比特纠正能力的扩展汉明码(extended Hamming Code):
[0027] 采用仅使用"1"和"0"的常规编码方案,扩展海明码仅能够纠正单个已翻转比特 和检测出两个比特已翻转;基于本文描述的方法,在其他情况下一个、两个或三个未定义比 特或者一个已翻转比特加一个未定义比特能够被纠正。
[0028] 下文中,随着示例使用情况,三个不同ECC类型将更详细地进行讨论。
[0029] 具有1个未定义比特糾if能力的奇偶柃骀
[0030] 当向存储器中写入k比特数据字(data word) D = (dQ…(Ih)时,另外地,一个额 外比特rQ = Parity (D)被写入。总计,n = k+1比特被存储。
[0031] 当从存储器中读取数据字D时,Y = (dfdH,;^)中的全部n比特被读出,每个比 特结果是["0","l","X"]中的值。对此,Y包括数据字D和额外比特(奇偶校验信息)。
[0032] 如果Y中的全部n个比特具有来自["0","1"]的值,则如下应用:-如果r。= Parity (D),则数据D = (dfdkJ被假定是正确的;否则可指示不可恢复的数据错误。
[0033] 如果来自比特dfdH中的k-1个比特加rQ具有来自["0","1"]的值,并且如 果一个比特4是"父",则设d f' = Parity(d。…dk-pr。)|df =。,并且D' = (d。…df'…U被 假定是正确的。
[0034] 如果比特dQ…t中的全部比特具有来自["0","1"]的值并且rQ是"X",则数据 D =(屯…^被假定是正确的。
[0035] 如果Y中不止一个比特具有值"X",则可指示不可恢复的数据错误。
[0036] 与不止一个已翻转比特=["0","1"] 一起被读取的数据字可耗尽该ECC机制并 且导致未指示该比特的错误数据。此外,与单个已翻转比特=["0","1"]和一个未定义 比特"X" 一起被读取的数据字可耗尽该ECC机制并且导致未指示该比特的错误数据。
[0037] 在下文中,奇偶校验示例提供为被存储的k = 8比特的数据字和n = 9比特。数 据字是:
[0038] D = (1 000000 0)
[0039] 和奇偶校验比特(parity bit) rQ = 1,这可导致如下情形:
[0040] (1)情形1:如下信息被读出:
[0041] Y = (1 0000000 1)
[0042] 读取的数据字的奇偶校验信息被确定如下:
[0043] Parity (1 000000 0)=1
[0044] 其对应于奇偶校验比特r(l。因此,不需要纠正。
[0045] (2)情形2 :如下信息被读出:
[0046] Y = (1 0 10 0000 1),
[0047] 其中第三比特(bit 2,因为第一位表示为bit 0)数值等于"1"是个错误。读取的 数据字的奇偶校验信息被确定如下:
[0048] Parity (1 010000 0)=0
[0049] 其不同于&。因此,检测出不可恢复的错误。
[0050] (3)情形3a :如下信息被读出:
[0051] Y = (1 X000000 1)-f=l
[0052] 指示在位置f = 1 (数据字的第二位)处的未定义比特"X"。如果在位置f = 1处 的比特被设置为"〇",能获得如下纠正过的数据字D' :
[0053] df = Parity (1 0 0 0 0 0 0 0 1)=0
[0054] D' = (1 0 0 0 0 0 0 0)。
[0055] 应该注意的是将位置f = 1处的比特设置为"1",不会导致奇偶校验比特A为1, 这仅使将位置f = 1处的bit 1设置为"0"成为可能。
[0056] (4)情形3b:如下信息被读出:
[0057] Y=(X 0000000 1)-f = 0
[0058] 指示在位置f = 0(数据字的第一位)处的未定义比特"X"。如果仅在位置f = 0 处的bit 0被设置为"1",能获得如下纠正过的数据字D' :df = Parity (0 0 0 0 0 0 0 0 1) = 0
[0059] D' = (1 0 0 0 0 0 0 0)
[0060] (5)情形4:如下信息被读出:
[0061] Y=(X 000000X 1)
[0062] 指示在数据字D的位置f = 0处的未定义比特"X"和位置f = 7处的另一个未定 义比特"X"。由于只有单一的奇偶校验比特IV该错误不能被解决。但是,由于未定义比特 "X"被检测到的事实,它能被检测到。
[0063] 具有2个未定义比特糾if能力的汉明码
[0064] 关于汉明码的详细信息,例如参考:
[0065] http://en. wikipedia. org/wiki/Hamming_code〇
[0066] 在该示例方案中,系统的汉明码与以下项一起使用:
[0067]-汉明码的生成矩阵A ;
[0068]-汉明码的奇偶校验矩阵H,其中
[0069] H = [A 丄],I 是单位矩阵(identity matrix)。
[0070] 当向存储器中写入k个比特数据字D = (dfdH)时,r个额外比特的R = (rQ… iv)被写入。总计,n = k+r比特被存储。
[0071] 该r额外比特(即开销比特数)对应于条件:
[0072] [ln(n+l)] = [ln(k+r+l)]
[0073] 通常,如下应用:
[0074] [ln(n+l)] = [ln(k+r+l)]
[0075] 另外,如下定义可应用:
[0076] R = DA1。
[0077] 当从存储器中读取数据字D时,
[0078] Y = (d。…(Ih,r。…ivD的全部n比特 [0079] 被读取,每一个结果是来自["0","1"]的值。
[0080] 如果Y的全部n个比特具有来自["0","1"]的值,如下应用:
[0081] -如果校正子(syndrome)
[0082] S = H YT == 0,
[0083] 则假定数据D = (d。…d^)是正确的。
[0084] -否则:如果校正子S尹0等于H的列i,则假定是单个已翻转比特并且该单个已 翻转比特通过翻转Y的bit i来纠正。
[0085] -否则:如果校正子S尹0不等于H的任何列,可指示不可恢复的数据错误。这 可以是用于截短码(shortened code)的选项。
[0086] 如果来自Y的n-1个比特具有来自["0","1"]的值,并且一个比特&(在位置f 处)是"X",如下应用:
[0087] -如果校正子
[0088] S = H YT|yf = 0 == 0,
[0089] 则设置 yf'=0,
[0090] -否则:如果校正子S关0等于H的列f,则设置yf' = 1,
[0091] _否则:可指示不可恢复的数据错误。这可以是用于截短码的选项。
[0092] _纠正过的数据D'为Y'的第一 k比特被假定是正确的,其中Y' = (yfy/… yn-i)。
[0093] 或者:如果来自Y的n-1个比特具有来自["0","1"]的值,并且一个比特化(在 位置f?处)是"X",如下应用:
[0094] -如果校正子
[0095] S = H YT|yf = 1 = = 0,
[0096] 则设 yf' = 1,
[0097] -否则:如果校正子S关0等于H的列f,则设yf' = 0,
[0098] _否则:可指示不可恢复的数据错误。这可以是用于截短码的选项。
[0099] _纠正过的数据D'为Y'的第一 k比特被假定是正确的,其中,Y' = (yQ?yf'… yn-i)。
[0100] 另外或者作为另一个选择,可考虑如下方案:如果来自Y的n-1比特具有来自 ["0","1"]的值,并且一个比特以在位置f处)是"X",如下应用:
[0101] -依次地(例如,在一个循环中),yf被设置为来自["0","1"]的全部可能值 SV,
[0102] -如果校正子
[0103] S = H Y |yf = sv==〇?
[0104] 则设置yf' = sv并且结束该循环,
[0105] -否则:为yf选择下一个值sv直至已尝试全部的值sv,
[0106] -如果通过为yf选择不同的值SV的迭代没能发现适当的SV值,可指示不可恢复 的数据错误。这可以是用于截短码的选项。
[0107] -纠正过的数据D'为Y'的第一 k比特被假定是正确的,其中,Y' = (yQ-yf'… yn-i)。
[0108] 应该注意的是,在下文中设yf = 1的或者是与yfl = 1或yf2 = 1或yf3 = 1结合 的各替代方案未进行更详细的描述。因此,没有描述选择yfl和yf2或者y fl、yf2和yf3的全 部可能组合。然而,这些设置可以用以确定是否校正子S等于0。
[0109] 如果来自Y的n-2比特具有来自["0","1"]的值,并且两比特yfl和y f2(分别地 在位置H和f2处)均是"X",如下应用:
[0110] -如果校正子
[0111] S = H Y | yfj = yf2 = 〇 = = 0,
[0112] 则设置 yfl' = yf2' = 〇,
[0113] -否则:如果校正子S关0等于H的列fl,
[0114] 则设 yfl' = 1 和 yf2' = 〇,
[0115] -否则:如果校正子S关0等于H的列f2,
[0116] 则设 yfl' = 0 和 yf2' = 1,
[0117] -否则:如果校正子S尹0等于H的列fl和f2的模2总和(modul〇-2sum),则设 yf/ = yf2, = 1,
[0118] -否则可指示不可恢复的数据错误。这可以是用于截短码的选项。
[0119] _纠正过的数据D'为Y'的第一 k比特被假定是正确的,其中Y'= (yryfl'--? yf2' ...yn-i)。
[0120] 如果来自Y的不止2比特是未定义比特"X",则可指示不可恢复的数据错误。
[0121] 具有不止一个来自["0","1"]的翻转比特的读取的数据字可该耗尽ECC机制并 且导致未被指示的错误数据。具有来自["0","1"]的一个翻转比特和一个未定义比特"X" 的被读取的数据字可耗尽该ECC机制并且导致未被指示的错误数据。
[0122] 下文中,具有2个未定义比特纠正能力的汉明码示例被提供为具有k = 8比特的 数据字、r = 4额外比特和n = 12比特被存储(截短汉明码)。该数据字为:
[0123] D = (1 000000 0)
[0124] 并且额外比特等于
[0125] R = D f = (1 1 〇 〇)。
[0126] 汉明码的生成矩阵A和奇偶校验矩阵H可定义如下:

【权利要求】
1. 一种用于数据处理的方法,包括: 读取数据,所述数据包括开销信息和有效载荷信息; 确定所述数据的每个部分的状态,其中所述状态包括第一二进制状态、第二二进制状 态和未定义状态中的至少一种;以及 对具有未定义状态的数据的至少一个部分基于其位置并且基于所述开销信息进行解 码。
2. 如权利要求1所述的方法, 其中解码数据的至少一个部分包括确定所述有效载荷信息。
3. 如权利要求1所述的方法, 其中解码数据的至少一个部分包括基于错误纠正代码的错误检测。
4. 如权利要求3所述的方法, 其中所述错误纠正代码是以下项中的一个:奇偶校验码、汉明码、扩展汉明码、循环码 以及分组码。
5. 如权利要求1所述的方法, 其中所述数据的每个部分是比特并且所述开销信息包括至少一个比特。
6. 如权利要求1所述的方法, 其中所述数据的所述部分对应于存储器单元。
7. 如权利要求6所述的方法, 其中所述存储器单元是非易失性存储器的存储器单元。
8. 如权利要求6所述的方法, 其中所述存储器单元是在差分读取存储器中使用的两个存储器单元的一部分。
9. 如权利要求8所述的方法, 其中所述存储器单元的未定义状态由显示相同逻辑状态的所述差分读取存储器的成 对的存储器单元确定。
10. 如权利要求8所述的方法,进一步包括 基于在所述差分读取存储器中产生不同比特的不同概率,解码数据的至少一个部分。
11. 如权利要求8所述的方法, 其中所述差分读取存储器包括以下项中的至少一种:浮置栅极单元、PCRAM、RRAM、 MRAM、MONOS器件、纳米晶体单元、RAM以及ROM。
12. 如权利要求1所述的方法, 其中解码包括基于所述开销信息并且基于所述数据的至少一个部分的所述未定义状 态检测错误。
13. 如权利要求12所述的方法,进一步包括 基于所述开销信息并且基于数据的显示未定义状态的所述部分的位置纠正错误。
14. 如权利要求1所述的方法, 其中读取包括读取具有n比特、k比特的有效载荷信息D和一比特的开销信息r(l的数 据Y, 其中确定包括确定所述数据Y的每个比特的状态,以及 其中解码包括: 如果Y的全部n比特具有["0","1"]中的值,则采用以下项: 如果!(! = Parity (D),则所述有效载荷信息D = (dfU被假定是正确的; 如果所述有效载荷信息的比特dfdH中的k-1比特加所述开销信息r(l是["0","1"] 中的值,并且如果一个比特4具有未定义状态"X",则设置df' = Parity (dfdn,rj |df = Q,并且经纠正的有效载荷信息被确定为D' = (dfd/…dg); 如果所述有效载荷信息dfdH中的全部比特均是["0","1"]中的值并且r(l具有未 定义状态"X",则所述有效载荷信息D= (d^dn)被假定是正确的。
15. 如权利要求1所述的方法,基于具有汉明码的生成矩阵A、所述汉明码的奇偶校验 矩阵H的所述汉明码,其中H= [A 1],1是单位矩阵, 其中读取包括读取具有n比特、k比特的有效载荷信息D和r比特的开销信息R= (IV- h)的数据Y, 其中确定包括确定所述数据Y的每个比特的状态,以及 其中解码包括: 如果Y的全部n比特具有["0","1"]中的值,则采用以下项: 如果校正子S满足条件 S = H YT == 0, 则所述有效载荷信息D = (d^dn)被假定是正确的; 否则:如果所述校正子S尹0等于H的列i,则单个已翻转比特被假定并且通过倒置Y 的比特i被纠正; 否则:作为选项,如果所述校正子S尹0不等于fl的任何列,则不可恢复的数据错误被 确定; 如果Y的n-1比特具有["0","1"]中的值,并且一个比特&具有所述未定义状态"X", 则采用以下项: 如果校正子S满足条件 S = H YT|yf = sv== 0,其中 sv = [ "0,,,"1,,] 则设置yf' = sv, 否则:如果所述校正子S关0等于H的列f,则设置yf' = l-sv ; 否则:作为选项,不可恢复的数据错误被确定; 如果Y的n-2比特具有["0","1"]中的值,并且两个比特yfl和yf2是未定义状态"X", 则采用以下项: 如果校正子S满足条件 s = H Y I yfl = svl ;yf2 = SV2 = = 〇,其中 svl 和 SV2 = [ " 0 "," 1,' ] 则设置 yfl' = svl 并且 yf2' = sv2 ; 否则:如果所述校正子S关0等于H的列fl,则设置yfl' = l-svl并且yf2' = sv2 ; 否则:如果所述校正子S关0等于H的列f2,则设置yfl' = svl并且yf2' = l-sv2 ; 否则:如果所述校正子S尹0等于H的所述列fl和所述列f2的模2总和,则设置yfl' =1-svl 并且 yf/ = 1-SV2 ; 否则:作为选项,不可恢复的数据错误被确定。
16. 如权利要求1所述的方法,基于具有扩展汉明码的生成矩阵A、所述扩展汉明码的 奇偶校验矩阵H的所述扩展汉明码,其中H= [A I],I是单位矩阵, 其中读取包括读取具有n比特、k比特的有效载荷信息D和r比特的开销信息R= Ov- h)的数据Y, 其中确定包括确定所述数据Y的每个比特的状态,以及 其中解码包括: 如果Y的全部n比特具有["0","1"]中的值,则采用以下项: 如果校正子S满足条件 S = H YT == 0, 则所述有效载荷信息D = (d^dn)被假定是正确的; 否则:如果所述校正子S尹0等于H的列i,则单个已翻转比特被假定并且通过倒置Y 的比特i被纠正; 否则:作为选项,如果所述校正子S尹0且不等于H的任何列,不可恢复的数据错误被 确定; 如果Y的n-1比特均是["0","1"]中的值,并且一个比特&具有所述未定义状态"X", 则采用以下项: 如果校正子S满足条件 S = H YT|yf = sv == 0, sv = [ "0,,,"1,,] 则设yf' = 〇, 否则:如果所述校正子S尹〇等于H的列f,则设yf' = l-sv ; 否则:如果所述校正子S尹〇等于H的列i,则设yf' = sv并且翻转Y的比特i ; 否则:如果所述校正子S尹0等于H的所述列f?和所述列i的模2总和,则设置yf' = 1-sv并且翻转Y的比特i ; 否则:作为选项,不可恢复的数据错误被确定; 如果Y的n-2比特具有["0","1"]中的值,并且两个比特yfl和yf2是未定义状态"X", 则采用以下项: 如果校正子S满足条件 s = H Y I yfl = svl ;yf2 = SV2 = = 〇,其中 svl 和 SV2 = [ " 0 "," 1,' ] 则设置 yfl' = svl 和 yf2' = sv2 ; 否则:如果所述校正子S关0等于H的列fl,则设置yfl' = l-svl和yf2' = sv2 ; 否则:如果所述校正子S关0等于H的列f2,则设置yfl' = svl和yf2' = l_sv2 ; 否则:如果所述校正子S尹0等于H的所述列fl和所述列f2的模2总和,则设置yfl' =l_svl 和 yf2' = l-sv2 ; 否则:作为选项,不可恢复的数据错误被确定; 如果Y中的n-3比特具有["0","1"]中的值,并且三个比特yfl、yf2和yf3是"X",则: 如果校正子S满足条件 S - H Y I yf 1 = svl ;yf2 = sv2 ;yf 3 = sv3 〇, 其中 svl、sv2 和 sv3 = [ "0","r'], 其中sva是sVi其中的一个,i = 1…3, 即svl、sv2和sv3其中的一个, 其中svb是SVi其中的一个,但不同于sva, 其中sv(7ta)指具有i尹a的其他sVi, 其中sv(7ta7tb)指具有i关a并且i关b的其他svp 则设置 yfl' = svl 且 yf2' = sv2 且 yf3' = sv3 ; 否则:如果所述校正子S尹0等于H的所述列fa(a= 1,2,3)中的一个,则设置yfa' = l_sva 且另外两个 yf(#a)' = sv(#a); 否则:如果所述校正子S尹0等于H的两个列fa和列fb的模2总和,则设置yfa' = l-sva 且 yfb' = l_svb 和另一个 yf(关 aVib),= sv(关 avib); 否则:如果所述校正子S尹0等于H的全部三个列f l、f2和f3的模2总和,则设置yfl' =1-svl 且 yf/ = l-sv2 JeL yf3,= l-sv3 ; 否则:作为选项,不可恢复的数据错误被确定。
17. 如权利要求1所述的方法, 其中所述数据的至少一个部分对应于通过总线线路传输的信号。
18. 如权利要求17所述的方法, 其中所述总线线路是总线系统的两个总线线路的一部分,所述总线系统利用所述两个 总线线路作为差分总线线路。
19. 如权利要求18所述的方法, 其中所述未定义状态对应于示出相同或者基本相同的逻辑信号值的总线线路对。
20. -种包括处理单元的、用于数据处理的装置,所述处理单元被配置为: 读取数据,所述数据包括开销信息和有效载荷信息; 确定所述数据的每个部分的状态,其中所述状态包括第一二进制状态、第二二进制状 态和未定义状态中的至少一种;以及 对具有未定义状态的数据的至少一个部分基于其位置并且基于所述开销信息进行解 码。
21. 如权利要求20所述的装置, 其中所述数据的每个部分由易失性或者非易失性存储器的比特或单元表示。
22. 如权利要求20所述的装置, 其中所述数据的每个部分由成对的易失性或者非易失性存储器的单元表示,其中所述 数据的一部分的所述未定义状态由示出相同逻辑状态的成对的所述存储器单元确定。
23. 如权利要求20所述的装置, 其中所述数据的每个部分由易失性或者非易失性存储器的至少两个单元表示,其中所 述数据的一部分的所述未定义状态由显示在无错误运行中未被使用的状态的所述存储器 单元确定。
24. 如权利要求21所述的装置, 其中所述存储器包括以下项中的至少一种:浮置栅极单元、PCRAM、RRAM、MRAM、MONOS 器件、纳米晶体单元、RAM以及ROM。
25. -种用于数据处理的设备,特别是用于错误检测和错误纠正的设备,所述设备包 括: 用于读取数据的装置,所述数据包括开销信息和有效载荷信息; 用于检测所述数据的每个部分的状态的装置,其中所述状态包括第一二进制状态、第 二二进制状态和未定义状态中的至少一种;以及 对具有未定义状态的数据的至少一个部分基于其位置并且基于所述开销信息进行解 码的装置。
【文档编号】G06F11/10GK104424046SQ201410449184
【公开日】2015年3月18日 申请日期:2014年9月4日 优先权日:2013年9月5日
【发明者】J·奥特斯泰特, R·戈伊特弗特 申请人:英飞凌科技股份有限公司
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