1.一种现场可编程门阵列FPGA系统的联合测试行动组JTAG调试方法，其特征在于，包括：
将多片FPGA芯片通过JTAG信号直接或间接地连接至不同调试需求所需的JTAG调试插座；
根据调试需求，连通FPGA芯片与该调试需求所需的JTAG调试插座。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据调试需求，连通FPGA芯片与该调试需求所需的JTAG调试插座包括：
当进行单片FPGA芯片的JTAG调试时，连通各FPGA芯片与对应的JTAG单片调试插座；
当进行多片FPGA芯片的JTAG调试时，连通JTAG串行调试插座与多片串联的FPGA芯片，或者，连通系统级JTAG调试插座与多片串联的FPGA芯片。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当进行单片FPGA芯片的JTAG调试时，连通各FPGA芯片与对应的JTAG单片调试插座之后，还包括：将各JTAG单片调试插座分别连接至对应的单片调试调试机。
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于：所述当进行多片FPGA芯片的JTAG调试时，连通JTAG串行调试插座与多片串联的FPGA芯片之后，还包括：将JTAG串行调试插座连接至串行调试调试机；
所述连通系统级JTAG调试插座与多片串联的FPGA芯片之后，还包括：将系统级JTAG调试插座连接至系统级JTAG调试装置。
5.如权利要求2所述的方法，其特征在于：所述连通JTAG串行调试插座与多片串联的FPGA芯片包括：导通JTAG串行调试插座与多片串联的FPGA芯片之间的通断控制芯片；
所述连通系统级JTAG调试插座与多片串联的FPGA芯片包括：导通系统级JTAG调试插座与多片串联的FPGA芯片之间的通断控制芯片。
6.一种FPGA系统的JTAG调试系统，其特征在于，包括：
多个通断控制芯片以及不同调试需求所需的JTAG调试插座，
多片FPGA芯片与JTAG调试插座直接连接，或通过通断控制芯片连接，
当根据调试需求控制通断控制芯片断开或导通时，FPGA芯片与该调试需求所需的JTAG调试插座连通。
7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述不同调试需求所需的JTAG调试插座包括：JTAG单片调试插座，各JTAG单片调试插座与各FPGA芯片一一对应，还包括JTAG串行调试插座或系统级JTAG调试插座，所述多个通断控制芯片连接在JTAG串行调试插座或系统级JTAG调试插座以及不同的FPGA芯片之间；
当多个通断控制芯片均断开时，JTAG串行调试插座或系统级JTAG调试插座与多个FPGA芯片之间的连接断开，各FPGA芯片与对应的JTAG单片调试插座连通，用于进行单片FPGA芯片的JTAG调试；
当多个通断控制芯片均导通时，JTAG串行调试插座或系统级JTAG调试插座与多片串联FPGA芯片连通，用于进行多片FPGA芯片的JTAG调试。
8.如权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括：多个单片调试调试机，各单片调试调试机与各JTAG单片调试插座一一对应。
9.如权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括：串行调试调试机，与JTAG串行调试插座对应连接。
10.如权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括：系统级JTAG调试装置，与系统级JTAG调试插座对应连接。