技术总结
本发明公开了一种FPGA系统的JTAG调试方法及系统，包括：将多片FPGA芯片通过JTAG信号直接或间接地连接至不同调试需求所需的JTAG调试插座；根据调试需求，连通FPGA芯片与该调试需求所需的JTAG调试插座。本发明提供的FPGA系统的JTAG调试方法及系统，能够实现在多FPGA系统支持单片或多片FPGA芯片的JTAG调试。
技术研发人员：陈华;刘如民;程海林
受保护的技术使用者：中兴通讯股份有限公司
文档号码：201510333355
技术研发日：2015.06.16
技术公布日：2017.01.11